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X-射线的强度是阳极电流和阳极电压的函数

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X-射线的强度是阳极电流和阳极电压的函数

X射线的强度是阳极电流和阳极电压的函数相关内容RELATEDTOPICSX射线特征辐射,能级,不喇格方程,X射线特征强度原理和任务PRINCIPLEANDTASK将阳极铜的多色X辐射直接和单晶LIF直接相对,根据不喇格方程来分析波长。决定阳极电流和阳极电压的KΑ和KΒ辐射特征的关系。实验设备EQUIPMENTX射线基本组件,35KV09058991X射线的角度计,35KV09058101铜X射线管的插入组件09058501计数管,B型090501锂氟化物晶体,裱好的09056051记录仪器XY记录仪11416971连接线缆,100CM,红色07363012连接线缆,100CM,兰色07363042或者X射线组件的软件,35KV14707611数据线,PLUG/SOCKET,9POLE14602001计算机课题PROBLEMS1。在单晶LIF的帮助下,记录X射线管发射的多色辐射光谱强度。2.确定KΑ和KΒ特征辐射的强度与是阳极电流和阳极电压两者的函数关系,并将它们被绘制成图。3.将测量的结果与理论公式计算的值相比较。实验设备组装和实验过程SETUPANDPROCEDURE按例图1组装实验设备。将直径为1MM的隔膜管固定在X射线的输出管。把X射线仪的开关关掉,在实验设备基板面的相应的套接口上连接好角度计和计数管,设置角度计和裱好的晶体分析仪在中间位置,设置计数管在右档板。记录光谱还需要以下的设置自动和手动模式门时2S;角步进宽度01为了记录整个光谱扫描范围355阳极电压UA35KV;阳极电流IA1MA为了确定特征线的强度扫描范围1924UA35KV=常数;IA1MA01MA以01MA递增IA1MA=常数;UA35KV11KV以3KV递增当用XY记录仪来记录光谱时,将Y轴连接在X射线基本组件的模拟输出(LMP/S),相应的,为了晶体的角度的定位,将X轴插入模拟输出口(设定按钮为输出,选定晶体角度的模拟信号)。当需要用计算机来记录时,可以通过一个SUBD套接口与X射线基本组件连接。理论和计算THEORYANDEVALUATION从阴极释放的电子,被朝着阳极加速,能使原子阳极物质的内层电子发生电离。当这些发生在K层时,产生的空穴将会被L或者K层的电子填充。从这些发射中获得的能量,就是所谓的KΑ和KΒX射线。K辐射特征的强度IK可以如下给51KAAKUUIBI⋅⋅2(其中,B是常数;IA是阳极电流;UA是阳极电压;UK是K层的电离能)电离电子进入阳极物质的深度和X射线产生的深度是有限的。当它们都达到它们的最大值时,根据经验所得的在(1)式中的关系式是无效的。利用不喇格方程2DSINΘ=N(2)已知LIF晶体(D=2041PM)的晶面间的距离,从观测角度可以计算出KΑ和KΒ特征线的波长。利用这些波长,用CΛF(光速C29979108M/S)可以得出线的频率,再用EHF(普朗克常数H662561034JS)可以得出它们的能量。例图2显示了第二能级(N=2)的铜X射线光谱。下表包含了从观测角Θ的光谱确定的值和从(2)式计算出的波长Λ值。在例图3中,显示了直线(线性最大)的强度和阳极电流IA(UA35KV=常数)。虚线曲线代表测量强度的过程,显示了一个与预期线性较大的偏离。根据(3)式,取计数管的死时间Τ90ΜM,从测量的强度(脉冲率N0)可以得到真实的强度(脉冲率N)N=001NN⋅−Τ(3)在例图3中校正的K线(连续直线)的强度,显示了从(1)式预料的线性过程。在高的计数率下,计数管的饱和行为产生了线性偏离。在例图4中再次显示了KΑ和KΒ线的强度和阳极电压UA(IA1MA=常数)的关系,还有虚线显示了测量值,连续曲线显示了为计数管的死时间校正的值。当绘制例图4中校正的强度值与(1)式中(UA-UK)15的关系时,两条曲线的线性过程都被显示出来了(例图5)。(UK8979KEV铜)例图1例图2铜底X射线光谱例图3显示了KΑ和KΒ线的强度(第一衍射级)和阳极电流IA(虚线显示了测量值,连续曲线显示了为计数管的死时间校正的值)的关系;UA35KV=常数例图4显示了KΑ和KΒ线的强度和阳极电压UA(虚线显示了测量值,连续曲线显示了为计数管的死时间校正的值)的关系;IA1MA=常数

注意事项

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