• 被代替
  • 已被新标准代替,建议下载现行标准GB/T 11030-2008
  • 2000-01-03 颁布
  • 2000-08-01 实施
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文档简介

1030 侣绪 阵83993(第四版)标称电压高于1 000 流系统用瓷或玻璃绝缘子元件定义、试验方法和验收准则制定的。按83标准主要增加了抽样试验中抽取三倍试品数量的重复试验程序和等效的电气、机械型式试验条件的内容。本标准与原行标 81801030 8180内容不变)相比,在产品分类方面取消了上帽管径为50 加了爬电距离为1 500 爬电距离为850 特性方面将人工污秽耐受电压由29 5 标准自实施之日起,同时代替 8180标准的附录录标准由国家机械工业局提出。本标准由全国绝缘子标准化技术委员会归口。本标准由西安电瓷研究所负责起草本标准主要起草人:丁京玲、蔡梅成。本标准委托西安电瓷研究所负责解释。 中华人民共和国国家标准:& 1030 一。一,。,。二,83994a. c. 下简称绝缘子)的分类与命名,技术要求,检验规则与试验方法,包装、标志、运翰与贮存。本标准适用于污秽地区交流工频单相25 缘子安装地点环境温度应在一40一40之间,海拔不超过1 000 m ,注:海拔超过1 000 标准不适用于对绝缘件和金属附件有严重腐蚀的环境下使用的绝缘子。2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。11. 11993)7233:1974) 般试验方法 气试验方法 775. 3械试验方法 71) 4585. 207:1975) 3384 4307 8177 9674 9673 位和腕臂支撑式三种。隧道用悬挂、定位式,区间,站场用腕臂支撑式。家质 1030一一一一一一一一一一一一一一氛6d, . d, l +凡 d,鹭几打一凡一 1图1图2d, 1 图3图4 1030 T,d,I H h D d, d2 hl h2 a b ;q*) 06M mg/ 1 21 56600 430 145 21 30 30 16 1000 205 105 - 402 2 1 21 690 510 145 21 30 30 16 1200 270 130 - - 404 2 - 1 21 56690 510 155 21 30 30 16 1500 310 150 45 - - 406 2 - D 660 410 165 1000 205 105 8 D 760 490 185 1200 270 130 - 4 403 62 21 90 30 - 169 D 780 520 200 1500 310 150 45 D 760 490 185 1200 x剗x mX|uzzz270 130 - 8 8011 D 740 410 170 1000/120 205 105 12 D 850 490 185 1200/145 270 130 - 4 404 62 21 90 30 - 1613 D 870 520 200 1500/14 310 150 45 D 850 490 185 1200/145 270 130 - 8 有秃偶胺藕口口口一口习口涣有褪!卣魇郑瓿频缪筴V/弯曲负荷kN)一一一一爬距级别一一一一一结构特征(包括单、双重绝缘子和上半导体釉)!耙唬皇褂贸一一一产品名称澹细瘛涣髑呗酚冒粜未删底樱B区间、站场腕份支撑,Z双重绝缘(单绝缘不表示), 1030附件安装为双孔(单孔不表示);D上附件安装为管径;1,2,3分别代表爬距为1 000 mm,l 200 00 72的规定。绝缘子瓷件外露表面应均匀地上一层瓷釉,釉色由供需双方商定。:士20 15 di,6:若mm,a:士1 :士;5 未注偏差的所有尺寸(包括爬电距离)为:当(0. 04E+1. 5) E300 (. 0) 为被检查的尺寸,a)绝缘子瓷件轴线直线度应不超过其长度的1%;b)悬挂、定位用绝缘子上、下金属附件安装面应在同一平面内,其平行度不超过5 mm;c)绝缘子上、导体釉层外观质量及其电阻的测量方法按附录孔隙性试验后不应有任何渗透现象。孔隙性试验的压力应不小于20 力与时间的乘积应不小于180 h 绝缘子瓷件在胶装前应逐只进行超声波探伤检查,瓷件内部不应有超声波能发现的缺陷(如生烧、氧化、开裂和气孔夹层等)。 4307规定的件端面与金属附件之间应垫以缓冲衬垫,瓷件及金属附件与水泥接触面应均匀地涂一层缓冲层,外露水泥表面应平整无裂纹,其平面度应不大于3 露砂层高度不大于10 锌层质量应符合 8177的规定。缘子应耐受三次温度循环试验而不损坏,试验温差为70 K,位式绝缘子应能耐受1 试验负荷为额定拉伸破坏负荷的60;对于腕臂支撑式绝缘子应耐受10 试验负荷为额定弯曲破坏负荷的60 0o保证出厂的绝缘子符合本标准的要求。批绝缘子的制造工艺及型号应完全相同,每批数量00只当绝缘子多于1 200只时,应将其均分成数1 200只绝缘子数批,分别进行试验和考核。样试验和型式试验,其试验方法按本标准的规定缘子应按表2规定逐个进行检验,如发现有不符合表2中规定的任何一项要求时, 10302绝缘子逐个试验项目一薰二一攀样试验应在逐个试验合格后的绝缘子中按表3规定试品数盆随机抽取试品,并按表3的程序进行试验。表3绝缘子抽样试验项目导M t 50 150N500 500N1200#*6) 4 (8) 5 (10)3 4 5 775. 13 4 5 81773 (6) 4 (8) 5 (10) 755. 13 4 5 775. 33 4 5 775. 3 *0* I 4 I 5 I 775. 1 曲破坏负荷试验采用计量二次抽样方案;锌层试验按 8177的规定,其余项目采用计件二次抽样方案。接收质量水平(为2. 50o,判定按 3384的规定。在第一轮试验时,如表3仅有一只(第1,3,6项)或仅有一项(第2,4,5项)被判为重复试验时,试验应继续做完。对第1,3,6项所缺试品应重新随机抽取一只进行补试,在继续第一次试验时,除第1项外,如在第3,6项中又有一只不合格,该批绝缘子不合格,但若仅第1项不合格,则仅对第1项进行加倍数量的重复试验,如重复试验仍不合格,则允许逐只精选如果在第一轮试验时,仅有一项(第2,4,5项)不合格或计量抽样方案被判为拒收时,则该批绝缘子不合格。在首轮全部试验做完后,如总计仅有一只试品不合格或仅有一项被判为重复试验时,则按以下三种情况进行加倍数量的重复试验:a)如若仅表3中第3,6项中任何一项不合格,仅对不合格项单独进行加倍数量的重复试验,如重复试验不合格,则该批绝缘子不合格b)如若仅表3中4,5项按照 3384被判为重复试验时,则应按该项加倍数量进行重复试验。重复试验时,应先进行温度循环试验。但如果在第一轮试验时纯属金属附件强度不合格,则可不进行温度循环试验,如重复试验不合格,则该批绝缘子不合格。c)如若仅表3中第2项在第一轮试验被判为重复试验时,应单独进行加倍数量的重复试验,其试验按 8177的规定,如重复试验不合格,则该批绝缘子不合格。 1030造厂可以在该批绝缘子中剔除具有这种缺陷的所有绝缘子(如一批绝缘子已分成较小批量,如果小批量中有一个绝缘子不合格,则应扩大到其他小批量)。然后精选后的各批量或部分绝缘子可重新提交试验。此时抽取试品的数量是第一次抽取试品数进行重复试验时,如有任何一个绝缘子不合格,则认为整批(包括已分成所有的小批)绝缘子不合格。产品试制定型或正常生产的产品修改结构,改变原材料配方及工艺方法时,必须按型式试验的全部项目或根据改变的性质涉及的型式试验项目进行试验。其中机械破坏负荷试验采用计量一次抽样方案,尺寸检查、半导体釉层电阻测量、温度循环试验和孔隙性试验采用计件一次抽样方案,接收质量水平(为2. 5 %,判定均按 3384相应的规定。锌层试验按 8177的规定,釉阻测量按本标准附录式试验应在逐个试验合格后,按表4规定进行。若某种绝缘子已进行过型式试验,并提供了有效的型式试验报告,则与其相比,能满足下述条件a)或(和)b)的绝缘子,即可认为其电气或(和)机械性能不低于该种绝缘子,可不必再进行相应项目的型式试验。但对供需双方另有协议的绝缘子除外。a)电气上等效的绝缘子是在同一工厂制造的,具有相同材料,采用相同工艺,且具有下列特征:公称杆体直径相同或略小;公称伞间距相同,差异在士5%之内。伞伸出相同,差异在士5之内,伞形相同。公称电弧距离相同,差异在士5之内。b)机械上等效的绝缘子是同一工厂制造的,采用相同工艺,且具有下列特征:公称杆体直径相同;强度等级相同或较小;绝缘件与金属附件之间连接结构及尺寸相同;公称电弧距离相同或较小。表4绝缘子型式试验项目不丁 验时将上帽孔套在试验夹具的芯棒上,并用后在下帽单耳孔内穿销钉,用钢丝绳套在销钉上施加弯曲负荷,加负荷方向应与上帽缺口的朝向相反,负荷方向应与试品的轴线垂直且和试品轴线在同一平面内,如图5所示,试验程序按 胭 腕臂支撑式绝缘子铁帽擂孔套在相应直径的芯棒上,芯棒应加工有适当尺寸的孔,紧固好压板的销钉应插在芯棒孔内)。然后在下铁帽单耳上配合适当的试验夹具,沿绝缘子轴线方向施加拉伸负荷,试验程序按 包装、标志、 9673的规定,在包装体上应标明:a)制造厂名称,b)绝缘子名称,型号,c)绝缘子数量;d)包装体总重量。e)“小心轻放”、“瓷件”等字样或指示标记。至因包装不良而使绝缘子损坏。燥的仓库或场地上,不宜放在潮湿或有腐蚀气体的附近,以防止附件镀锌层被腐蚀 1030准的附录)半导体釉层外现质1绝缘子瓷件全部上半导体釉,其表面缺釉总面积不超过1. 5 单个缺陷面积不超过0. 5 当釉层电阻值合格时,半导体釉瓷件允许有轻微的色调不均,其余应符合72的规定。量时周围环境温度应在40之间,相对湿度不超过85%,被测试品表面应干燥,且不允许有导电性的物质存在。测量引线应与绝缘子瓷件两端靠近金属附件的主体部位的釉面接

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