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基于于MCS51单片机的实验开发系统测控接口模块设计与实验改进论文[带图纸].doc基于于MCS51单片机的实验开发系统测控接口模块设计与实验改进论文[带图纸].doc -- 45 元

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西安文理学院机械电子工程系本科毕业设计(论文)题目基于于MCS51单片机的实验开发系统测控接口模块设计与实验改进专业班级机械设计制造及其自动化08级2班学号08102080227学生姓名韩兴指导教师吕建波、罗振元设计所在单位西安文理学院2012年5月基于MCS51单片机的实验开发系统测控接口模块设计与实验改进摘要本文进行了基于MCS51单片机的实验开发系统测控接口模块设计,并进行了相关实验改进。其中,在实验设计部分,模数转换模块采用ADC0809作为8通道模拟信号采集芯片,并通过此芯片将模拟信号转换成数字信号送80C51进行处理,再通过数码显示模块显示出实验结果。数模转换模块是将数字量由单片机输入DAC0832转换成模拟电压信号,通过电压表测出电压。系统中进行了精简的硬件电路设计,充分利用了软件资源,同时兼顾系统的性能指标,采用了四位数码管进行动态显示,分别显示模拟通道数以及采集到的模拟电压值。实验改进部分是在机械设计制造及其自动化本科专业单片机技术课程现有实验设备和相关实验方案的基础上,改进部分实验方案,便于更好的展现测控接口的实验原理和功能,使学生以主体的身份积极参与到实验设计过程中,以培养学生的自主解决问题能力和科技创新能力。此次实验设计部分调试达到了预期的设计要求,能够将采集到的电压信号清晰的显示出来毕业设计达到了教学实验系统和方案改进的目的,为单片机技术课程的实验教学改革提供了一种具有实用价值的改革思路。关键词MCS51单片机、测控接口、模数转换器ADC0809、数模转换器DAC0832、实验改进DesignofMeasurementandControlInterfaceModulebasedonMCS51SingleChipExperimentDevelopmentSystemandExperimentImprovementAbstractThispaperisbasedontheexperimentaldevelopmentsystemandcontrolinterfacefortemplatedesignofMCS51MCU,anditgoesonsomeimprovementaboutrelatedexperiment.Amongthem,inthesectionofexperimentaldesign,ananalogtodigitalconversionmoduleadoptsADC0809asthe8channelanalogsignalacquisitionchip,andthechipconvertstheanalogsignalsintodigitalsignalswhicharesentto80C51forprocessing,thenthedigitaldisplaymoduleshowstheexperimentalresults.TheanalogtodigitalconversionmoduleiscomposedofasinglechipmicrocomputerwhichinputsdigitalquantityintoDAC0832,andthedigitalquantityisconvertedintoananalogvoltagesignal,thenthevoltagemeterisdeterminedbythemeasuredvoltage.Thesystemtakesasimplifiedhardwarecircuitdesignandmakesfulluseofsoftwareresources.Atthesametime,ittakesintoaccounttheperformanceindexofthesystemandusesfourdigitaltubetodynamicallydisplaytheanalogchannelsandtheanalogvoltagevaluecollected.Theimprovementoftheexperimentinpartisonthebasisofthemechanicaldesignandmanufacturingautomationundergraduateprofessionalsinglechipmicrocomputertechnologycourseexistingtheexperimentalequipmentandrelatedexperimentalschemetoimprovethepartoftheexperimentalprograminordertobetterdisplaycontrolinterfaceoftheexperimentalprincipleandfunctiontoenablethestudenttoidentitythesubjectwhichareactivelyinvolvedinthedesignprocesstocultivatestudentsindependentproblemsolvingskillsandtheabilityofinnovationofscienceandtechnology.Thisexperimentaldesignpartiallyadjuststoachievingthedesireddesignrequirementsandmakestheacquisitionofthevoltagesignalshow.ThegraduationdesignachievestheexperimentalsystemofteachingandthesolutiontoimprovetheSCMtechnologywhichprovidesapracticalvalueonreformtrainofthoughtfortheexperimentalteachingreformoftheSCMtechnologycourses.KeywordsMCS51SingleChipMicrocomputer、ControlInterface、AnalogtoDigitalConverterADC0809、DigitaltoAnalogConverterDAC0832、ExperimentImprovement目录第1页目录第一章绪论....................................................................................................................11.1选题的目的与意义................................................................................................11.2本课题在国内外的研究状况及发展趋势............................................................11.3主要研究内容........................................................................................................2第二章基础理论和系统整体方案设计..........................................................................32.1单片机内部结构及系统组成................................................................................32.1.1单片机的封装引脚及功能........................................................................32.1.2单片机内部结构........................................................................................42.1.3单片机系统组成.........................................................................................52.2测控接口D/A数模转换器...................................................................................62.2.1DAC0832的主要性能和特点....................................................................62.2.2DAC0832的内部结构及引脚图................................................................62.2.3DAC0832的工作方式................................................................................82.3测控接口A/D模数转换器...................................................................................92.3.1ADC0809主要性能..................................................................................102.3.2DAC0832的内部结构和封装引脚..........................................................102.3.3ADC0809的工作方式..............................................................................112.4测控接口模块方案设计......................................................................................122.4.1单片机硬件系统设计的基本原则...........................................................132.4.2单片机软件系统设计的基本原则...........................................................142.4.3系统整体设计方案框图...........................................................................142.5本章小结..............................................................................................................14第三章硬件系统电路设计..............................................................................................163.1系统整体硬件设计结构框图..............................................................................163.2硬件芯片的选择和电路设计.............................................................................163.2.1单片机最小系统.......................................................................................163.2.2A/D转换器模块.......................................................................................173.2.374LS47芯片模块.....................................................................................193.2.4BCD7段数码管模块...............................................................................203.3测控接口模块整体电路设计..............................................................................213.3.1模块整合...................................................................................................21目录第2页3.3.2测控接口硬件系统电路图.......................................................................213.5本章小结..............................................................................................................22第四章软件系统程序设计..............................................................................................234.1keil编程软件介绍...............................................................................................234.1.1软件系统概述...........................................................................................234.1.2编程优势...................................................................................................234.2程序结构..............................................................................................................234.2.1C语言的结构特点...................................................................................234.2.2程序结构框图...........................................................................................244.2.3测控接口驱动程序...................................................................................244.3软件编程以及生成编译文件..............................................................................264.3.1C语言编程...............................................................................................264.3.2建立编译文件..........................................................................................264.4本章小结..............................................................................................................28第五章仿真与调试..........................................................................................................295.1proteus仿真软件.................................................................................................295.1.1仿真软件简介...........................................................................................295.1.2proteus的功能及特点..............................................................................295.2测控接口的proteus布线电路图........................................................................305.3仿真与调试..........................................................................................................305.3.1仿真...........................................................................................................305.3.2调试...........................................................................................................315.4本章小结..............................................................................................................33第六章数模转换实验方案改进......................................................................................346.1单片机实验教学现状和主要问题......................................................................346.1.1单片机实验教学现状...............................................................................346.1.2单片机实验教学的主要问题...................................................................346.2教学实验方案改进方法......................................................................................346.3实验方案改进案例..............................................................................................366.3.1DAC0832实验指导材料..........................................................................366.3.2数模转换器实验方案改进......................................................................386.4本章小结..............................................................................................................40第七章总结与展望..........................................................................................................42
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