GBT 17554.7-2010 识别卡 测试方法 第7部分：邻近式卡.pdf

l C S3 5 2 4 0 1 5 L6 4 圆雪 中华人民共和国国家标准 G B T1 7 5 5 4 7 2 0 1 0 2 0 1 0 1 2 0 1 发布 识别卡测试方法 第7 部分：邻近式卡 I d e n t i f i c a t i o nc a r d s T e s tm e t h O d s P a r t7 ：V i c i n i t yc a r d s ( I S O I E C1 0 3 7 3 7 ：2 0 0 8 ，M O D ) 2 0 11 0 4 0 1 实施 宰瞀徽紫瓣警糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会议1 ” G B T1 7 5 5 4 7 2 0 1 0目次前言1 范围“2 规范性引用文件3 术语和定义、缩略语和符号4 适用于测试方法的默认条款-5 静电测试6 测试装置和测试电路7V I c c 的功能测试8V c D 的功能测试-9V I C C 的工作场强测试附录A ( 规范性附录) 测试V C D 天线附录B ( 资料性附录) 测试V C D 天线调谐附录c ( 规范性附录) 传感线圈一附录D ( 规范性附录)用于V c D 功率测试的参考V I c c附录E ( 资料性附录)用于负载调制测试的参考V I c c附录F ( 资料性附录) 频谱计算程序I1112236789u ”“ 标准分享网 w w w .b z f x w .c o m 免费下载 w w w . b z f x w . c o m 刖置 G B T1 7 5 5 4 7 2 0 1 0 G B T1 7 5 5 4 在识别卡测试方法总标题下，目前分为如下7 个部分： 第1 部分：一般特性测试； 第2 部分：磁条卡； 第3 部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备； 第4 部分：无触点集成电路卡； 第5 部分：光记忆卡； 第6 部分：接近式卡； 第7 部分：邻近式卡。 本部分为G B T1 7 5 5 4 的第7 部分。本部分使用重新起草法，修改采用国际标准I s 0 I E c1 0 3 7 3 7 ：2 0 0 8 识别卡测试方法第7 部分：邻近式卡( 英文版) 。 本部分与I s o I E c1 0 3 7 3 7 ：2 0 0 8 相比，增加和修改了下列内容，并在相应条款的外侧页边空白处 用单垂线标示： a ) 为了使标准更加清晰易懂，增加了缩略语P c B ； b ) 为了便于引用，8 1 2 做了编辑性修改； c ) 为了避免实际应用中可能出现在规定的工作区域内V I c c 不能正常工作的情况，增加第9 章 工作场强测试。 本部分的附录A 、附录c 和附录D 是规范性附录。 本部分的附录B 、附录E 和附录F 是资料性附录。 本部分由全国信息技术标准化技术委员会( s A c T c2 8 ) 提出并归口。 本部分起草单位：中国电子技术标准化研究所、东信和平智能卡股份有限公司。 本部分主要起草人：冯敬、高林、袁理、金倩、黄小鹏、耿力、赵子渊。 w w w . b z f x w . c o m 1 范围识别卡测试方法第7 部分：邻近式卡G B T1 7 5 5 4 7 2 0 1 0G B T1 7 5 5 4 规定了符合G B T1 4 9 1 6 识别卡特性的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准，这些基础标准可以是G B T1 4 9 1 6 或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。注l ：接收准则不包含在本部分中，而是在以上提及的国家标准中。注2 ：G B T1 7 5 5 4 描述的若干测试方法可单独实施。规定的卡不要求顺序地通过所有测试。G B T1 7 5 5 4 的本部分规定了无触点集成电路卡技术( 邻近式卡) 的测试方法。第1 部分规定了为一种或多种卡技术所共用的测试方法；其他部分则规定了各个专项技术的测试方法。除非另有规定，本部分中的测试仅适用于G B T2 2 3 5 1 1 和G B T2 2 3 5 1 2 中定义的邻近式卡。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过G B T1 7 5 5 4 的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单( 不包括勘误的内容) 或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。G B T1 4 9 1 6识别卡物理特性( G B T1 4 9 1 62 0 0 6 ，I S O I E c7 8 1 0 ：2 0 0 3 ，I D T )G B T1 7 6 2 6 2电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验( G B T1 7 6 2 6 2 2 0 0 6 ，I E C6 1 0 0 042 ：2 0 0 1 ，I D T )G B T2 2 3 5 1 1 识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第1 部分：物理特性( G B T2 2 3 5 1 1 2 0 0 8 ，I S O I E C1 5 6 9 3 1 ：2 0 0 0 ，I D T )G B T2 2 3 5 1 2 2 0 1 0 识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第2 部分：空中接口和初始化( I S O I E C1 5 6 9 3 2 ：2 0 0 0 ，I D T )G B T2 2 3 5 1 3识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第3 部分：防冲突和传输协议( G B T2 2 3 5 1 32 0 0 8 ，I S 0 I E C1 5 6 9 3 3 ：2 0 0 1 ，I D T )I s B N9 2 6 7 1 0 1 8 8 9 对度量不确定性表达的指南，I S O ，1 9 9 3 版3 术语和定义、缩略语和符号3 1 术语和定义下列术语和定义适用于本部分。3 1 1基础标准b a s es t 蛆d a r d利用测试方法验证所要符合的标准。3 1 2预期操作o p e r a t e 嬲i n t e n d e d经受了某些潜在破坏性影响作用后，卡上的任何集成电路仍然继续保持了符合G B T2 2 3 5 1 3 基础标准的操作和响应1 。注：若同一张卡上存在其他的技术，则这些技术根据各自的标准也应具有可预期的操作。1 本部分并不定义集成电路卡的完整功能测试。这些测试方法仅要求验证最小功能。在适合的情况下，可以进步补充应用特定功能准则，这些准则在一般情况下是用不到的。 标准分享网 w w w .b z f x w .c o m 免费下载 w w w . b z f x w . c o m G B T1 7 5 5 4 7 2 0 1 0 3 1 3 测试方法 t e s tm e t h o d 为了验证识别卡符合标准而对其特征进行测试的方法。 3 2 缩略语和符号 D u T 被测设备 E s D 静电放电 ，。工作场频率 ，一 副载波频率 H 。最大V C D 场强 H 。最小V C D 场强 V c D 邻近式耦合设备 v I c c 邻近式卡 P C B 印制电路板 4 适用于测试方法的默认条款 4 1 测试环境 除非另有规定，测试应在温度为2 3 士3 和相对湿度为4 0 6 0 的环境下进行。 4 2 预处理 若测试方法要求预处理，在测试前应将待测试的识别卡在测试环境中放置2 4h 。 4 3 默认容差 除非另有规定，默认容差为士5 应适用于所给出的量值，以规定测试设备的特性( 例如，线性尺寸) 和测试方法规程( 例如，测试设备校准) 。 4 4 寄生电感 电阻器和电容器具有可以忽略的电感。 4 5 总度量的不确定性 测试方法所决定的每个量的总度量不确定性应在测试报告中予以说明。 I s B N9 2 6 7 1 0 1 8 8 9 ，I s 0 ，1 9 9 3 版中给出了对度量不确定性表达的基本信息。 5 静电测试 本测试的目的是检验经过E s D ( 静电放电) 测试后V I c c 的行为。被测v I c c 经受模拟的E s D ( 人 体模型) ，基本操作如图1 所示。 m m 厚的绝缘村垫 图1E s D 测试电路 木桌上水平放置耦合导电平板 木桌高度为o8m 并与地面 平行 w w w . b z f x w . c o m G B T1 7 5 5 4 7 2 0 1 05 1仪器见G B T1 7 6 2 6 2 。a )E S D 发生器的主要规格：储能电容器：1 5 0p F 士1 0 ；放电电阻器：3 3 0n 士1 0 ；充电电阻器：5 0M n 1 0 0M 0 之问；上升时间：O 7n s 1n s 。b ) 选定任选项的规范：设备的类型：台式设备；放电方法：直接空气放电到被测设备；E s D 发生器放电极：直径8m m 的圆头探针( 避免弄破卡的表面标记层) 。5 2 规程按照G B T1 7 6 2 6 2 的规定连接测试装置。将仪器的接地插针连接到放置V I c c 的导电平板上。以正极性对如图2 所示的2 0 个测试区的各个区依次放电。再以相反的极性重复此过程。允许至少1 0s 的连续脉冲问的冷却周期。警告：如果v I c c 带有触点，则该触点的正面朝上并且触点所在的区应不被放电。测试结束后检验V I C C 能否按预期操作。顶部基准边，、1561 61 92 0L图2v I C C 上E S D 测试区5 3 测试报告测试报告应说明V I c c 是否可以按预期操作。6 测试装置和测试电路6 0 综述本章定义了测试装置和测试电路，以便按照G B T2 2 3 5 1 2 验证v I C C 或者V c D 的操作。测试装置包括：a ) 校准线圈( 见6 1 ) ； 标准分享网 w w w .b z f x w .c o m 免费下载 w w w . b z f x w . c o m G B T1 7 5 5 4 7 2 0 1 0 b ) 测试V C D 装置( 见6 2 ) ； c ) 参考V I c c ( 见6 3 ) ； d ) 数字示波器( 见6 4 ) 。 6 1 校准线圈 本条定义了校准线圈的尺寸、厚度和特性。 6 1 1 校准线圈卡的尺寸 校准线圈卡应由具有G B T1 4 9 1 6 定义的I D l 型卡高度和宽度构成的一个区域组成，并包含了与 卡轮廓线同轴的单匝线圈( 见图3 ) 。 G B 仃1 4 9 1 6I D 1 型轮廓线 连接 图3 校准线圈 6 1 2 校准线圈卡的厚度和材料 校准线圈卡的厚度应为o 7 6m m 1 0 ，它应采用一种适合的绝缘材料。 6 1 3 线圈特性 校准线圈卡上的线圈应有1 匝。线圈的外尺寸应为7 2m m 4 2m m ，转角半径为5m m 。相对尺 寸容差应为土2 。 注1 ：线圈面积大约30 0 0m m 2 。 该线圈在P c B 上制作成印制线圈，铜线厚度为3 5 “m 。 印制线宽度应为5 0 0 “m ，相对容差为士2 0 。 连接焊点尺寸应为1 5m m 1 5m m 。 注2 ：在1 3 5 6 M H z 条件下，电感近似为2 0 0n H ，电阻近似为o 2 50 。 高阻抗示波器探针( 如： 1M 0 ， # 1 n c l u d e # 1 n c l u d e # i n c l u d e # d e f l n eM A xs A M P L E s5 0 0 0# d e f i n e L F s 叩3 2o F s l d e b a n d s ：1 39 8 3 8M H z 1 31 3 6 3 衄z # d e f i n eNF s 皿2 80 F s i d e b a n d s ：1 40 4 4 3M H z 1 30 7 5 7 皿z f l o a tp i ；口1 = 31 4 A r 。r a yf o rt i m ea n ds e n s ec 0 1 lv o l t a g ev d f l 。a tn l m e M A 】( 一s A 髓L E s ；t i ea r r a y f l o a tv d M A ) 【一s A 髓比s ；A r a yf o rd i f f e r e I l tc 。l lv o l t a g e G B T1 7 5 5 4 7 2 0 10士R e a dc s vF i l eF u n c t i o n 女卡D e s c r l p t i o n ：T h i sf u n c t i 叽r e a d st h et a b l eo ft l m ea n ds e n s ec o i l l t a g e f r o maF i l e i nc s vF o 珊a t i * * iI n p 吐：f i l e n a m e 丧iR e t l l r n ；N u m b e ro fs a p l e s ( s a m p l ec o u n t ) O1 fa ne r r o ro c c u r r e d 女女D 2 5 p l a ps t a t i s t l c s ： 七F 1 l e n a m e ，s a m p l e c o u n t ，S a m p l er a t e ，M a ) 【M i nv o l t a g e 士i n tr e a d c s v ( c h 盯f n a m e )f l o a ta b ：f l o a tm a xV d ，m l n v d ；I n t l ：F I L E 宕卸p l 电一f l l e ；士O p e nF 1 l e i f ( ! s t r c h r ( f n 锄e ，_ ，) ) s t r c a t ( f n a m e ，”c s v ”) ；i f ( ( s a m p h _ f i l e = f o p e n ( f r l a e ，”r ”) ) = = N u I L )P r i n t f ( ”c a n n o t 。p e ni n p u tf i l e s n ”，f n a m e ) ；r e t u r n0 ：)古女女R e a dc s 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( f l o a t ) c 。s ( w o v t 王皿e 1 ) ；c u i 4 a g = c u i m a g + v d i ( f l o a t ) s i n ( w o v t = 【m e i ) ；“一r e a l = “一r e a l + 州 i ( f l o a t ) c 。s ( w v t i 盘e i ) ；“一i 呻g = “一皿对+ v d i ( f l o a t ) s i n ( w u v t l m e 1 ) ；“一r e a l = “一r e a l + v d i ( f l o a t ) c 。s ( w l v t i m e 1 ) ；“一l a g ；“一= L m a g + v d 1 ( f l o a t ) s l n ( w l v t i 皿e 1 ) ；，D F Ts c a l e c u r e a l22o F c u r e a l ( f l o a t ) ( Nd a t a ) ；c u i m a g = 20 F c ui m a g ( f l o a t ) ( N _ d a t a ) ；“一r e a l = 2o F c l r e a l ( f l o a t ) ( N _ d a t a ) ；c 上一i g = 20 F “一l a g ( f l o a t ) ( N _ d a t a ) ；“一r e a l = 2O F “一r e a l ( f l o a t ) ( 虬d a t a ) ；“一l m 8 9 = 2o F “一i g ( f l o a t ) ( N _ d a t a ) ；G B T1 7 5 5 4 7 2 0 1 0a b s o l u t ef a u r l e rc o e f f l c i e n t 女c u a b s = ( f l o a t ) s q r t ( c u r e a l c u r e a l + c ui g c ul a g ) ；c 上a b s = ( f l o a t ) s q r t ( “一r e a l c 上一r e a l + “i 4 a g “一i m a g ) ；“一a b s = ( f l 。a t ) s q 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