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GB/T 14114-1993半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理_第1页
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UDC621.382L56中华人民共和国国家标准GB/T14114一93半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理GeneralprinciplesofmeasuringmethodsofV/Frintegratedcircuits1993-01-21发布1993-08-01实施国家技术监督局发布

(京)新登字023号中华人民共和国国家标准半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理GB/T14114-93中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邯政编码：10XX45电话：63787337637874471993年11月第一版204年12月电子版制作书号：155066·1-9972版权专有厂侵权必究举报电话：（010）68533533

中华人民共和国国家标准半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理GB/T14114-93GeneralprinciplesofmeasuringmethodsofV/FandF/Vconvertersforsemiconductorintegratedcircuits主题内客与适用范围本标准规定了半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器(以下简称器件)测试方法的基本原理本标准适用于半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器的电参数测试。引用标准GB3439华导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB3442半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理GB3834半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理总的要求3.1若无特殊说明,测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定.3.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响,测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。3.3测试期间，施于被测试器件的电参量应符合器件详细规范的规定3.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。3.5若有要求时,应按器件详细规范规定的顺序接通电源。3.6测试期间，被测器件应按器件详细规范的规定连接外接网络，3.7，测试期间，被测器件应避免出现自激现象。3.8若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时;这些测试的时间间隔应尽可能短4电压/频率转换器参数测试4.1失调误差Eo4.1.1目的测试器件输出频率为规定的起始值时实际输入电压与理想输入电压之

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