- 现行
- 正在执行有效
- 2023-05-23 颁布
- 2023-12-01 实施
文档简介
ICS3108001
CCSL.40.
中华人民共和国国家标准
GB/T493727—2023/IEC60749-272012
.:
半导体器件机械和气候试验方法
第27部分静电放电ESD敏感度测试
:()
机器模型MM
()
Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—
Part27ElectrostaticdischareESDsensitivittestin—
:g()yg
MachinemodelMM
()
IEC60749-272012IDT
(:,)
2023-05-23发布2023-12-01实施
国家市场监督管理总局发布
国家标准化管理委员会
GB/T493727—2023/IEC60749-272012
.:
前言
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件是半导体器件机械和气候试验方法的第部分已经发布了
GB/T4937《》27。GB/T4937
以下部分
:
第部分总则
———1:;
第部分低气压
———2:;
第部分外部目检
———3:;
第部分强加速稳态湿热试验
———4:(HAST);
第部分快速温度变化双液槽法
———11:;
第部分扫频振动
———12:;
第部分盐雾
———13:;
第部分引出端强度引线牢固性
———14:();
第部分通孔安装器件的耐焊接热
———15:;
第部分中子辐照
———17:;
第部分电离辐射总剂量
———18:();
第部分芯片剪切强度
———19:;
第部分塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
———20:;
第部分对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作包装标志和运输
———20-1:、、;
第部分可焊性
———21:;
第部分键合强度
———22:;
第部分高温工作寿命
———23:;
第部分静电放电敏感度测试人体模型
———26:(ESD)(HBM);
第部分静电放电敏感度测试机器模型
———27:(ESD)(MM);
第部分非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
———30:;
第部分塑封器件的易燃性内部引起的
———31:();
第部分塑封器件的易燃性外部引起的
———32:();
第部分温湿度贮存
———42:。
本文件等同采用半导体器件机械和气候试验方法第部分静电放电
IEC60749-27:2012《27:
敏感度测试机器模型
(ESD)(MM)》。
本文件做了下列最小限度的编辑性改动
:
将图中的电气图形符号改为符合所有部分规定的电气图形符号
a)4.2.41GB/T4728();
第章表中的等级电压后面增加了电压符号U
b)51“”“”。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任
。。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出
。
本文件由全国半导体器件标准化技术委员会归口
(SAC/TC78)。
Ⅰ
GB/T493727—2023/IEC60749-272012
.:
本文件起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所河北北芯半导体科技有限公司安徽高芯
:、、
众科半导体有限公司武汉格物芯科技有限公司河北中电科航检测技术服务有限公司佛山市川东磁
、、、
电股份有限公司广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司
、。
本文件主要起草人迟雷高金环高蕾辛长林彭浩张瑞霞黄杰何黎赵鹏魏兵刘洪刚
:、、、、、、、、、、、
颜天宝王介
、。
Ⅱ
GB/T493727—2023/IEC60749-272012
.:
引言
半导体器件是电子行业产业链中的通用基础产品为电子系统中的最基本单元半导
,,GB/T4937《
体器件机械和气候试验方法是半导体器件进行试验的基础性和通用性标准对于评价和考核半导体
》,
器件的质量和可靠性起着重要作用拟由个部分构成
,44。
第部分总则目的在于规定半导体器件机械和气候试验方法的通用准则
———1:。。
第部分低气压目的在于检测元器件和材料避免电击穿失效的能力
———2:。。
第部分外部目检目的在于检测半导体器件的材料设计结构标志和工艺质量是否符合
———3:。、、、
采购文件的要求
。
第部分强加速稳态湿热试验目的在于规定强加速稳态湿热试验以检
———4:(HAST)。(HAST),
测非气密封装半导体器件在潮湿环境下的可靠性
。
第部分稳态温湿度偏置寿命试验目的在于规定稳态温湿度偏置寿命试验以检测非气密
———5:。,
封装半导体器件在潮湿环境下的可靠性
。
第部分高温贮存目的在于在不施加电应力条件下检测高温贮存对半导体器件的影响
———6:。,。
第部分内部水汽测量和其他残余气体分析目的在于检测封装过程的质量并提供有关气
———7:。,
体在管壳内的长期化学稳定性的信息
。
第部分密封目的在于检测半导体器件的漏率
———8:。。
第部分标志耐久性目的在于检测半导体器件上的标志耐久性
———9:。。
第部分机械冲击目的在于检测半导体器件和印制板组件承受中等严酷程度冲击的适应
———10:。
能力
。
第部分快速温度变化双液槽法目的在于规定半导体器件的快速温度变化双液槽法
———11:。()
的试验程序失效判据等内容
、。
第部分扫频振动目的在于检测在规定频率范围内振动对半导体器件的影响
———12:。,。
第部分盐雾目的在于检测半导体器件耐腐蚀的能力
———13:。。
第部分引出端强度引线牢固性目的在于检测半导体器件引线封装界面和引线的牢
———14:()。/
固性
。
第部分通孔安装器件的耐焊接热目的在于检测通孔安装的固态封装半导体器件承受波
———15:。
峰焊或烙铁焊接引线产生的热应力的能力
。
第部分粒子碰撞噪声检测目的在于规定空腔器件内存在自由粒子的检测方法
———16:(PIND)。。
第部分中子辐照目的在于检测半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性
———17:。。
第部分电离辐射总剂量目的在于规定评估低剂量率电离辐射对半导体器件作用的加
———18:()。
速退火试验方法
。
第部分芯片剪切强度目的在于检测半导体芯片安装在管座或基板上所使用的材料和工
———19:。
艺步骤的完整性
。
第部分塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响目的在于通过模拟贮存在仓库或干
———20:。
燥包装环境中塑封表面安装半导体器件吸收的潮气进而对其进行耐焊接热性能的评价
,。
第部分对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作包装标志和运输目的
———20-1:、、。
在于规定对潮湿和焊接热综合影响敏感的塑封表面安装半导体器件操作包装运输和使用的
、、
方法
。
第部分可焊性目的在于规定采用铅锡焊料或无铅焊料进行焊接的元器件封装引出端的
———21:。
可焊性试验程序
。
第部分键合强度目的在于检测半导体器件键合强度
———22:。。
Ⅲ
GB/T493727—2023/IEC60749-272012
.:
第部分高温工作寿命目的在于规定随时间的推移偏置条件和温度对固态器件影响的
———23:。,
试验方法
。
第部分加速耐湿无偏置强加速应力试验目的在于检测非气密封装固态器件在潮湿环
———24:。
境下的可靠性
。
第部分温度循环目的在于检测半导体器件元件及电路板组件承受由极限高温和极限
———25:。、
低温交变作用引发机械应力的能力
。
第部分静电放电敏感度测试人体模型目的在于规定可靠可重复的
———26:(ESD)(HBM)。、
测试方法
HBMESD。
第部分静电放电敏感度测试机器模型目的在于规定可靠可重复的
———27:(ESD)(MM)。、MM
测试方法
ESD。
第部分静电放电敏感度测试带电器件模型器件级目的在于规定可靠可
———28:(ESD)(CDM)。、
重复的测试方法
CDMESD。
第部分闩锁试验目的在于规定检测集成电路闩锁特性的方法和闩锁的失效判据
———29:。。
第部分非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理目的在于规定非密封表面安装器
———30:。
件在可靠性试验前预处理的标准程序
。
第部分塑封器件的易燃性内部引起的目的在于检测塑封器件是否由于过负荷引起内
———31:()。
部发热而燃烧
。
第部分塑封器件的易燃性外部引起的目的在于检测塑封器件是否由于外部发热造成
———32:()。
燃烧
。
第部分加速耐湿无偏置高压蒸煮目的在于确认半导体器件封装内部失效机理
———33:。。
第部分功率循环目的在于通过对半导体器件内部芯片和连接器施加循环功率损耗来检
———34:。
测半导体器件耐热和机械应力能力
。
第部分塑封电子元器件的声学显微镜检查目的在于规定声学显微镜对塑封电子元器件
———35:。
进行缺陷分层裂纹空洞等检测的方法
(、、)。
第部分稳态加速度目的在于规定空腔半导体器件稳态加速度的试验方法以检测其结
———36:。,
构和机械类型的缺陷
。
第部分采用加速度计的板级跌落试验方法目的在于规定采用加速度计的板级跌落试验
———37:。
方法对表面安装器件跌落试验可重复检测同时复现产品级试验期间常见的失效模式
,,。
第部分带存储的半导体器件的软错误试验方法目的在于规定带存储的半导体器件工作
———38:。
在高能粒子环境下如阿尔法辐射的软错误敏感性的试验方法
()。
第部分半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量目的在于规定应用于半导
———39:。
体器件封装用有机材料的潮气扩散率和水溶解度的测量方法
。
第部分采用应变仪的板级跌落试验方法目的在于规定采用应变仪的板级跌落试验方
———40:。
法对表面安装器件跌落试验可重复检测同时复现产品级试验期间常见的失效模式
,,。
第部分非易失性存储器可靠性试验方法目的在于规定非易失性存储器有效耐久性数
———41:。、
据保持和温度循环试验的要求
。
第部分温湿度贮存目的在于规定检测半导体器件耐高温高湿环境能力的试验方法
———42:。。
第部分半导体器件的中子辐照单粒子效应试验方法目的在于规定检测高密度集
———44:(SEE)。
成电路单粒子效应的试验方法
(SEE)。
所有部分均为一一对应采用所有部分以保证半导体器件试验方法与国
GB/T4937()IEC60749(),
际标准一致实现半导体器件检验方法可靠性评价质量水平与国际接轨通过制定该系列标准确定
,、、。,
统一的试验方法及应力同时完善半导体器件标准体系
,。
Ⅳ
GB/T493727—2023/IEC60749-272012
.:
半导体器件机械和气候试验方法
第27部分静电放电ESD敏感度测试
:()
机器模型MM
()
1范围
本文件依据半导体器件对规定的机器模型静电放电所造成损伤或退化的敏感度建
(MM)(ESD),
立了半导体器件测试和分级的标准程序本文件相对于人体模型用作一种可选的测试方
ESD。ESD,
法目的是提供可靠可重复的测试结果以此进行准确分级
,、ESD,。
本文件适用于半导体器件属于破坏性试验
,。
半导体器件的测试从本文件人体模型见或
温馨提示
- 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等,侵权必究。
- 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本(可阅读打印),因数字商品的特殊性,一经售出,不提供退换货服务。
- 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致,所以下载的文档中可能包含空白页,非文档质量问题。
最新文档
- 2024年域名转让合同模板(二篇)
- 2024年知识产权共享协议标准范本(2篇)
- 2024年公寓房屋租赁合同范本(3篇)
- 2024年普通工业品买卖合同(二篇)
- 2024年绿化工程承包合同范例(2篇)
- 2024年知识产权委托合同范文(二篇)
- 2024年北京市劳动合同参考范本(三篇)
- 2024年二手房子购房协议(二篇)
- 2024年个人租车合同样本(2篇)
- 2024年联名活动合作协议(二篇)
- 哮喘治疗现状
- 光刻技术设计课件
- 公司二类障碍异常与严重未遂认定实施细则
- 中建公司劳动合同范本
- 部编版九年级道德与法治下册《第五课少年的担当》教案及教学反思
- 食品安全管理人员考试复习题库(必刷500题)
- 2023-2024学年福建省漳州市小学语文六年级期末提升试题详细参考答案解析
- 学习浙江《千万工程》经验全文PPT
- 电工电子技术与技能第3版配套课件
- 临床药物治疗学 药物相互作用
- 百万川军出川抗战ppt课件.ppt
评论
0/150
提交评论