《无损检测》超声波课件教学课件

第2章 超声波检测,本章提要： 超声检测（UT）是利用其在物质中传播、界面反射、折射(产生波型转换)和衰减等物理性质来发现缺陷的一种无损检测方法，应用较为广泛。 按其工作原理不同分为：共振法、穿透法、脉冲反射法超声检测； 按显示缺陷方式不同分为： A型、B型、C型、3D型超声检测； 按选用超声波波型不同分为：纵波法、横波法、表面波法超声检测；,按声耦和方式不同分为： 直接接触法、液浸法超声检测； 本章将重点介绍： 脉冲反射法原理、 直接接触法、 A型显示方式、 纵波法、横波法 超声检测技术。,2.1 超声波检测技术基础,2.1.1 超声波的物理本质 它是频率大于2万赫兹的机械振动在弹性介质中的转播行为。 即超声频率的机械波。 一般地说，超声波频率越高，其能量越大，探伤灵敏度也越高。 超声检测常用频率在 0.510 MHZ。,2.1.2 超声波的产生（发射）与接收 (1) 超声波的产生机理利用了压电材 料的压电效应。 试验发现，某些晶体材料（如石英晶体）做成的晶体薄片，当其受到拉伸或压缩时，表面就会产生电荷；此现象称为正压电效应； 反之，当对此晶片施加交变电场时，晶体内部的质点就会产生机械振动，此现象称为逆压电效应。 具有压电效应的晶体材料就称为压电材料。,压电效应,压电效应图解,(2) 超声波的发射与接收 发射在压电晶片制成的探头中，对压电晶片施以超声频率的交变电压，由于逆压电效应，晶片中就会产生超声频率的机械振动产生超声波； 若此机械振动与被检测的工件较好地耦合，超声波就会传入工件这就是超声波的发射。,接收若发射出去的超声波遇到界面被反射回来，又会对探头的压电晶片产生机械振动，由于正压电效应，在晶片的上下电极之间就会产生交变的电信号。 将此电信号采集、检波、放大并显示出来，就完成了对超声波信号的接收。 可见，探头是一种声电换能元件，是一种特殊的传感器，在探伤过程中发挥重要的作用。,2.1 超声波检测技术基础,2.1.3 超声波波型的分类 按质点的振动方向与声波的传播方向之间的关系分为： （1）纵波 L 介质质点的振动方向与波的传播方向一致；,（2）横波 S 介质质点的振动方向与波的传播方向垂直；,2.1 超声波检测技术基础,（3）表面波 R介质质点沿介质表面做椭圆运动；又称瑞利波；,2.1 超声波检测技术基础,（4）板波 板厚与波长相当的薄板中传播的超声波，板的两表面介质质点沿介质表面做椭圆运动，板中间也有超声波传播。又称兰姆波；a)对称型 b)非对称型,2.1 超声波检测技术基础,注意！ 液体和气体介质（不能传递切向力） 中，所以只能传播纵波！ 同一介质中，声速的关系有： CL CS CR 同一介质中，声速、波长、频率之间 的关系为： C = f = 常数。,按超声波振动持续时间分为： (1)连续波在有效作用时间内声波不间 断地发射； (2)脉冲波在有效作用时间内声波以脉 冲方式间歇地发射。 注意: 超声波检测过程常采用脉冲波。,2.1.4 超声波的基本性质 (1)具有良好的指向性： 直线传播，符合几何光学定律；象光波一样，方向性好； 束射性，象手电筒的光束一样，能集中在超声场内定向辐射。 声束的扩散角满足如下关系： = arcsin 1.22(/D) (2-1) 可见： 波长越短，扩散角越小， 声能越集中。,2.1 超声波检测技术基础,(2)具有较强的穿透性，但有衰减； 穿透性来自于它的高能量，因为声强正比于频率的平方； 所以，超声波的能量比普通声波大100万倍！可穿透金属达数米！ 衰减性源于三个方面： 扩散、散射、吸收；,(1)扩散衰减 声波在介质中传播时，因其波前在逐渐扩展， 从而导致声波能量逐渐减弱的现象叫做超声波的 扩散衰减。 它主要取决于波阵面的几何形状， 而与传播介质无关。,2.1 超声波检测技术基础,(2)散射衰减 散射是物质不均匀性产生的。 不均匀材料含有声阻抗急剧变化的界面， 在这两种物质的界面上， 会产生声波的反射、折射和波型转换现象， 必然导致声能的降低。,2.1 超声波检测技术基础,(3)吸收衰减： 超声波在介质中传播时， 由于介质质点间的内摩擦和热传导， 引起的声波能量减弱的现象， 叫做超声波的吸收衰减。,2.1 超声波检测技术基础,（3）只能在弹性介质中传播，不能在真空（空 气近似看成真空）中传播； 强调：横波不能在气体、液体中传播！表面波看作是纵波与横波的合成， 所以，也不能在气体、液体中传播！,2.1 超声波检测技术基础,（4）遇到界面将产生： 反射、折射和波型转换现象； （5）对人体无害优于射线的性质。,主声轴,N,近场区长度,N=D2 /4,超声场及 近场区,压电晶片,2.1 超声波检测技术基础,3.24?,2.2 超声波在介质中的传播,2.2.1 超声波在金属中的衰减定律 超声波在金属中主要的衰减原因是散射和扩散；在液体中主要是吸收。 研究表明，超声波在金属中的衰减规律可用下面的关系式表达： PX = P0 e-x (2-2) 衰减系数；dB/m x 声束传播的距离，即声程 m。,(2-2)式表明，超声波的声压在其传播的路径上，呈负指数规律衰减。 这里强调指出：衰减系数为频率f4和晶粒尺寸d3的函数。 所以，对粗晶检测时，应适当降低超声波频率，弥补能量的不足。 研究表明，声压p与超声波探伤仪示波屏上的波高h成正比关系： p1/p2 = h1/h2 (2-3) 实际探测时，超声波探伤仪示波屏上的波高h能够反映声波的衰减状况。,超声波探伤仪示波屏上 波高h的衰减状况,这里，B1 B6代表超声波在工件底面的 6次反射波。波高h依次递减。,T,B1,B2,B6,描述： 超声场的物理量 充满超声波的空间，或在介质中超声振动波所及的“质点占据的范围”叫超声场。 对超声场我们常用： 1.声压、 2.声强、 3.声阻抗、 4.质点振动位移和质点振动速度 等物理量,来描述超声波声场。,2.3 超声波在介质中的传播,(一)声压 超声场中某一点在某一瞬间所具有的压强 ,与没有超声场存在时，同一点的静态压强之差为该点的声压，用 表示。 单位为 帕,记作1Pa=1N/m2 。 若用 平面余弦波表达式： (2-1),2.3 超声波在介质中的传播,2.3 超声波在介质中的传播,式中： -介质的密度， C-介质中的波速， A-介质质点的振幅， -介质中质点振动的圆频率()， A -质点振动的速度振幅()， T -时间， x-至波源的距离。 且有关系式： 式中： -声压的极大值。,可见： 声压的绝对值，与波速、质点振动的速度振幅(或角频率)成正比。 因为超声波的频率高，所以超声波比声波的声压大。,2.3 超声波在介质中的传播,2.3.1.2 声强 在超声波传播的方向上，单位时间内 介质中单位截面上 的声能叫声强。用I表示；单位是 对纵波在均匀的各向同性的固体介质中的传播为例，可以证明平面波传播的声强计算式； (1-2) 注意：上式中有三个部分的概念。,2.3 超声波在介质中的传播,超声波的声强： 、正比于质点振动位移振幅的平方； 、正比于质点振动角频率的平方； 、正比于质点振动速度振幅的平方。 注意： 由于超声波的频率高，其强度(能量)是远远大于 可闻声波 的强度。 例如： 1MHz声波的能量等于100kHz声波能量的100倍，等于lkHz声波能量的100万倍。,2.3 超声波在介质中的传播,2.2 超声波在介质中的传播,2.2.2 超声波在异质界面处产生的各种现象 (1)垂直入射异质界面时的透射、反射及绕射 透射与反射 反射系数 K = W反/ W入100%,w入,常见材料之间的界面反射系数,反射现象的辩证分析 反射现象： 对发射超声波不利 ； 对脉冲反射法接收有利。 影响反射系数K的因素 反射系数K值的大小，决定于相邻介质的声阻抗之差： Z =| Z 2Z 1| Z 越大，K 值越大。 而与何者为第一介质无关。,(一)、在单一界面上 当超声波垂直入射到足够大的光滑平界面时： .在第一介质中产生一个与入射波方向相反的反射波。 .在第二介质中产生一个与入射波方向相同的透射波。 .反射波与透射波的声压(声强)是按一定比例分配。 .分比例由声压反射率(或声强反射率)， 和声压透射率(或声强透射率)来表示。,1、在单一界面上反射波声压与入射波声压之比，称为界面的 声压反射率： 用表示。 式中： Z1- 介质1的声阻抗， Z2-介质2的声阻抗。,2、在单一界面上透射波声压与入射波声压之比，称为界面的 声压透射率： 用t表示： 3、在界面上反射波声强与入射波声强之比，称为 声强反射率： 用R表示：,4、在界面上透射声强与入射声强之比，称为 声强透射率： 用T表示： 说明： 在声波垂直入射到平界面上时，声压和声强的分配比例，仅与界面两侧介质的声阻抗有关.,注意： 在垂直入射时， 介质两侧的声波必须满足两个边界条件： (1)、一侧总声压等于另一侧总声压。 否则界面两侧受力不等，将会发生界面运动。 (2)、两侧质点速度振幅相等，以保持波的连续性。,上述的是超声波纵波： 垂直入射到单一平界面上的，声压、声强与其反射率、透射率的计算公式，同样适用于横波入射的情况。,(二)、薄层界面 在进行超声检测时，经常遇到很薄的耦合层和缺陷薄层，可以归纳为超声波在薄层界面的反射和透射问题。 超声波是由声阻抗为Z1的第一介质，入射到Z1和Z2的交界面。 然后通过声阻抗为Z2的第二介质薄层射到Z2和Z3界面，最后进入声阻抗为Z3的第三介质等。 在有三层介质时，很多情况是： 第一介质和第三介质为同一种介质。,a)钢-水入射 b)水-钢入射,注意： 1、超声波通过一定厚度的异质薄层时，反射和透射情况与单一的平界面不同， 2、当异质薄层很薄，进入薄层内的超声波会在薄层两侧界面，引起多次反射和透射，形成一系列的反射和透射波。 3、当超声波脉冲宽度相对于薄层较窄时，薄层两侧的各次反射波、透射波就会互相干涉。 4、由于上述原因，声压反射率和透射率的计算比较复杂。,一般说来： 超声波通过异质薄层时： 声压反射率和透射率，不仅与介质声阻抗和薄层声阻抗有关，而且与薄层厚度同其波长之比( )有关。,(1)、当一、三介质为同一介质时，对均匀介质中的异质薄层有如下规律性： （反射） 2-21 （透射） 2-22,式中：d2-异质薄层的厚度， -异质薄层的波长， -两种介质的声阻抗之比， 由公式(2-21)(2-22)可知： 当 时(n为正整数)， 。 当 时(n为正整数)，r最高， 。 当 时，即 时，则薄层厚度愈小，透射率愈大，反射率愈小。,(2)、 ，即非均匀介质中的薄层有如下规律性： 例如：晶片保护薄膜工件，或晶片耦合剂工件等情况。 此时 声压往复透射率 为： （2-23）,由上式可知： 当 时(n为正整数)，则有： 即： 超声波垂直入射到两侧介质声阻抗不同的薄层， 若薄层厚度等于半波长的整数倍时，通过薄层的声压往复透射率与薄层的性质无关。,当 (n为正整数)，且 时， 则有： 上式表明： 超声波垂直入射到两侧介质声阻抗不同的薄层： 1、当 的奇数倍， Z2为 时，或 时，,其声压往复透射率等于1，此即为全透射的情况。 2、当 时，薄层愈薄，声压往复透射率愈大。,关于声阻抗,声阻抗Z表示声场中介质对质点振动的阻碍作用。 指超声波在介质中传播时，任一点的声压p与该点速度振幅V之比。 定义式: 声阻抗 Z = p/V (2-4) 数值表征 : Z = CL (2-5) 气体、液体、金属之间声阻抗之比约为： 1：3000：8000。, 绕射现象 当界面尺寸df/2 时，声波能绕过缺陷界面而继续向前传播的现象，叫作绕射。 因此，要想提高探伤灵敏度，必须提高频率f,以便发现更小的缺陷。,超声波的 绕射现象,(2)倾斜入射异质界面的反射、折射和波型转换 参考图,o,L入射纵波； 纵波入射角； L1反射纵波； L纵波L1反射角； S1反射横波； 横波S1反射角； L2 折射纵波； L纵波L2折射角； S2 折射横波； 横波S2折射角。,1超声波在无限大介质中传播时，将一直向前传播，不改变方向。 2遇到异质界面(声阻抗差异较大的异质界面)时，会产生反射和透射现象。 3一部分超声波在界面上被反射回第一介质，另一部分透过介质交界面进入第二介质。,2.2 超声波在介质中的传播,(一)、在单一界面上 当超声波垂直入射到足够大的光滑平界面时： 在第一介质中产生一个与入射波方向相反的反射波。 在第二介质中产生一个与入射波方向相同的透射波。 反射波与透射波的声压(声强)是按一定比例分配。 分比例由声压反射率(或声强反射率)， 和声压透射率(或声强透射率)来表示。,2.2 超声波在介质中的传播,(二)薄层界面 在进行超声检测时，经常遇到很薄的耦合层和缺陷薄层，可以归纳为超声波在薄层界面的反射和透射问题。,2.2 超声波在介质中的传播,斯涅耳定律：,（26),(2)临界角的讨论及其应用意义 因 CL = CL1 ;=L ;由（2-6）式可推知: （2-7） （2-8） 临界角的讨论 ：当取有机玻璃为第一介质，钢为第二介质时，即有： CL1CL2 , CL1 CS2 CL2 , 必有 SL ；且 ，S ，L ；,故当L = 90时，第二介质中只有横波。此时对应的纵波入射角； 叫作第一临界角，记为1m。 这时，1m = 27.6。 当 ，使s = 90时，第二介质中只有表面波。此时对应的纵波入射角； 叫作第二临界角，记为2m = 57.6 。 临界角的应用： 斜探头设计时，应保证声波的入射角介于第一临界角、第二临界角之间。,第三临界角：（入射角，折射角） 当超声波横波倾斜入射到界面时，在第一介质中产生反射纵波和反射横波。 由于在同一介质中， 恒大于 ，所以 恒大于 。 随着 增加，当 时，介质中只存在反射横波。 当 ，则有； 注意：只有第一介质为固体时，才会有第三临界角。,2.4.2.3倾斜入射到平界面上时声压反射率与透射率 注意：斯涅尔反射、折射定律只讨论了： 超声波倾斜入射到界面上时，各种类型反射波和折射波的传播方向，没有涉及它们的声压反射率和透射率。 实际上：在斜入射情况下，各种类型的反射波和折射波的声压反射率和透射率，是与： 与界面两侧介质的声阻抗有关， 与入射波的类型以及入射角的大小有关。,其理论计算公式复杂，借助于由公式或实验： 得到的几种，常见界面的声压反射率和透射率图来确定检测方案。,2.4.2.4声压往复透射率 超声波倾斜入射时，声压往复透射率等于两次相反方向，通过同一界面的声压透射率的乘积。 表达式： 2-25 -入射波声压， -透射波声压， -回波声压,2.3 超声波检测原理,本节重点讲解: A型脉冲反射法超声波检测原理。 在实际应用中以该法为主。 2.3.1 A型脉冲反射法超声波检测原理 (1)原理： A型脉冲反射法超声波检测就是利用超声波在传播过程中，遇到声阻抗较大的异质界面时，将产生反射的原理来实现对内部缺陷检测的。,(2)实现方法： 该法采用单一探头既作发射器件，又作接收元件，以脉冲方式间歇地向工件发射超声波；接受到的回波信号经功能电路放大、检波后，在探伤仪的示波屏上，以脉冲信号显示出来。 (3)信号的解读： 根据探伤仪示波屏上，始波T、伤波F、底波B的有无、大小及其在时基轴上的位置可判断工件内部缺陷的有无、大小和位置。见下图：,示例,直探头缺陷显示,a.无缺陷 b.小缺陷 c. 大缺陷,T,B,T,T,B,F,F,示波屏特征小结,（a）无缺陷 示波屏上只有始波T和底波B， 而且底波较高； （b）有小缺陷示波屏上不仅有始波T 和底波B；而其间还有伤波F; 相对（a）无缺陷的情况， 底波变矮； （c）有大缺陷示波屏上只有始波T和伤波F, 没有底波B。 相对（b）而言，伤波变高。,2.4 脉冲反射法超声波检测技术要点,内容提要： 从根本上说，超声波检测技术的基本任务就是： 通过调节探伤系统的灵敏度和调整操作手法， 有效的发现缺陷； 发现缺陷后，能够准确的给缺陷定性、定量、 定位； 根据工艺要求, 提出返修建议及相关的探伤工艺； 按规定格式，出据检测报告。 重点介绍两种探伤方法。,2.4.1 垂直入射法（直探头，纵波法探伤技术） 定义：采用直探头将声束垂直入射工件的探伤方法； 该法利用的声波类型为纵波，故有纵波法之称。 简记：垂直入射法 = 直探头法 = 纵波法 缺陷显示方式：以回波在时基线上的位 置、脉冲大小反映缺陷的情况。 应用特点：能够发现与探测面平行或接近平行的面积型缺陷和体积型缺陷。 对体积型缺陷的检出率较高。,缺陷的定位： 缺陷就在探头的正下方！从三维定位的角度，需给出三个坐标：x, y, z； 其中，在探测面上的水平坐标x,y可直接用钢板尺量取； 而缺陷的埋藏深度坐标z（习惯上用h表示）可根据伤波可根据伤波F在时基线上的位置，按比例关系确定: h = (tf / tb) = n tf,式中: tf 伤波脉冲前沿在示波屏时基线上的刻度值； tb底波在示波屏时基线上的刻度值； 被检测试件的厚度值； n 比例系数; n= / tb 。,缺陷的定量 a.当缺陷尺寸大于声束直径时，采用移动测长法； 即半波高法 。图示如下：,b.缺陷尺寸小于声束直径时，采用当量法； 当量法的基本思想： 在一定的探伤灵敏度条件下，将已知形状、尺寸的人工反射体的回波与实际检测到的缺陷回波相对比，若二者的声程、回波高度相等，则这个已知人工反射体的相关尺寸可视为该实际缺陷的“缺陷当量”。 可见当量法应该选择恰当的对比试块。 设计适当的距离尺寸和人工反射体的尺寸； 得到“探测距离与波幅曲线” ；,当量法的距离波幅曲线示意图,对比试块,250,50,孔径可改变为： 2， 3， 4， 6；,探头,平底孔距探测面的距离为： 5，10，15，20，25，30，35，40，45,当量法的距离波幅曲线示意图,图例,波幅,距离mm,评定线,定量线,报废线,dB,缺陷的定性 对于A型显示的超声波检测来说，给缺陷定性是较复杂和困难的。 需要了解检测对象的材质、工艺、缺陷位置、空间位向、信号大小、特征等多方面的信息。 缺陷性质不同，其波形特征各异； 在探头移动时，也会表现出不同的特点。 要做动态分析！,举 例,点状缺陷的波幅较低，当探头作环绕扫查时，信号反映迟钝； 夹渣群则呈连串的波峰，而且波形杂乱； 裂纹和未焊透等平面缺陷的回波高而陡峭，对探头转角扫查反映敏感； 特别是回波信号往往随探头的扫查方式改变而发生不同的变化。 其变化规律需操作者积累丰富的经验。 各种现代超声检测技术的出现，大大提高了缺陷定性的准确性。,基本扫查方式,图示,2.4.2 斜角探伤法（斜探头，横波法） (1)定义：采用斜探头将声束倾斜入射工件探伤面进行检测的方法，简称斜射法。 在具体检测中，采用横波探伤， 因此，又称横波法。 (2)斜探头的主要参数: 横波折射角 ；简称折射角； 探头K值: K = tg.(反射系数K) 超声波频率:f.,(3)示波屏上的缺陷显示情况：,T,T,T,F,B,a. 无缺陷 b.有缺陷 c.端角波,(4)几何关系术语 入射点o ； 前沿长度b声波入射点至探头前端距离； 折射角； 探头K值，K=tg; 跨距 P1=2tg =2K; 半跨距 P0.5= K; 直射法声波未经发射直接对准缺陷； 一次反射法声波只经过一次反射就对准 了缺陷。,几何关系术语的图解,图例: 直射法一次波法；一次反射法二次波法,直射法图解,K= tg=L / h 缺陷水平距离 L=Ssin; 缺陷深度 h=Scos ；,一次反射法图解,L=Ssin =SK/1K2 h=2Scos = 2 L /K；,工件,缺陷,L,h,h,思考题：,一次反射法探伤时，怎样用声程S和折射角表示缺陷水平距离L与缺陷深度h？ 解： 已知，S, 或 K 时， 若先求出 h=2 Scos = 2 L /K； 则 L= (2h)K = Ssin 。,（5）常用的扫查方式 粗探锯齿型（W）扫查； 又称垂直水平扫查； 精探转角、环绕、垂直、水平。,（6）缺陷定位 斜探头定位的复杂性分析： 缺陷定位的目的，就是在发现缺陷后，如何给出它的三维坐标，并在图纸上表示清楚。 习惯上，采用直角坐标来表示。即给出X,Y,h.参见下图:,（6）缺陷定位 一种水平1:1定位法 即斜探头进行焊缝缺陷定位的方法。 首先完成水平1:1定位（借助标准试块） 由于已知探头K值，故可直接计算 L50和L100： 其中，L5050K/1K2 ; L100 =2 L50,CSK-1A标准试块,图例,CTS-22型超声波探伤仪,面板图,然后,利用CSK-1A标准试块上的同心圆弧R50，R100为人工反射体，将斜探头的入射点对准同心圆弧R50，R100的圆心（此时回波最高），并利用水平移位旋纽和深度调节旋纽使同心圆弧R50，R100的回波分别对准时基线上的L50和L100。 这样，就完成了水平1:1定位调节。 此后的探伤过程千万不要再动水平移位旋纽和深度调节旋纽。 否则，就会破坏刚刚调好的定位关系。,2.5 超声波探伤系统,2.5.1 超声波检测系统组成 (1) 超声波探头； (2) 超声波探伤仪； （3）测试线； （4）试块/工件； （5）耦合剂。,2.5 超声波探伤系统,(1)探头: 直探头,外壳,压电晶片,引线,阻尼块,斜探头,入射点,超声波探头,当入射角 AL 一定时, 探头的折射角 BS 是一个随透声斜楔材料、检测对象材质变化的, 即 K 值并非一定值,斜探头的参数选择,为了保证斜探头检测时，尽可能使用直射法或一次反射法探伤。应注意： a. 板厚较大时,选择K值较小的探头； 按深度1:1定位法进行初始定位。 b.板厚较薄时,选择K值较大的探头； 按水平1:1定位法进行初始定位。,（2）探伤仪,强调一点,超声波探伤仪在工作时，其始波T是不依赖探头而存在的！ 这时因为：始波作为一种标志信号，直接通过内部电路馈送而来的，它不是反射信号！ 直探头探伤时，要求始波前沿对准0刻度！ 斜探头探伤时，由于探头内部楔块已经有一段声程S0，因此不再要求始波对准0刻度！,（3）试块 超声波检测，离不开试块。 其作用比象质计还要大！ 试块分为：标准试块和对比试块两类。 它们都是超声波检测的辅助工具。 用来模拟各种工艺缺陷，对超声检测系统的灵敏度进行调整！ 试块中精心设计了各种人工反射体，并进行了科学布置。,标准试块与对比试块的定义,标准试块(standard test block) 指材质、形状和尺寸均经主管机关或权威机构鉴定的试块。也叫校准试块。 用于对超声检测装置或系统的性能测试及灵敏度调整。 对比试块（reference block） 用于调整超声检测系统灵敏度或比较缺陷大小的试块。也叫参考试块。一般采用与被检材料特性相似的材料制成。,标准试块示例,(1)CS1试块 尺寸参数：,高H=225mm； 直径70mm； 底部平底孔2mm； 孔深h=25mm.,作用：标定仪器灵敏度！,试块示例,（2)CSK-1A试块,CSK-1A 试块的作用,标定探头K值； 测试分辨力； 测试探伤仪的水平线性； 进行斜探头的垂直或水平1：1定位； 测试斜探头的入射点等等。 这些内容，将通过实验课来亲自体验。,2.5.2 超声波探伤仪基本性能简介 （1）垂直线性回波波高与放大系统的回波电压 信号成正比关系的程度。因此，又称为 放大线性或波幅线性。 它涉及对缺陷的定量。 合格仪器一般要求8%。 （2）水平线性探伤仪示波屏时基线上的伤波前 沿读数与实际声程成正比关系的程度。 又称时基线性、扫描线性或距离线性。 它涉及对缺陷的定位。 合格仪器一般要求2%。 （3）动态范围回波波高从100至完全消失，衰 减器db值的改变量。一般大于26db。,2.5.3 超声波检测系统的组合性能 相关标准GB/T 12604.1-90规定: 超声检测系统由超声检测仪器、探头和电缆组成的系统。 (1)组合灵敏度用灵敏度余量来表示。 指超声检测系统中，以一定电平（或波高）表示的标准缺陷探测灵敏度与最大探测灵敏度之间的差值。用db数表征。 该值越大，表明该系统的组合灵敏度越好。即灵敏度余量越