统计过程控制与持续改进概述(ppt 49页).ppt

JohnZ.Rao2001,1,SPC培训教程,一、持续改进及统计过程控制概述二、SPC基础三、计数型数据控制图,JohnZ.Rao2001,2,产品质量波动及其统计描述,产品质量特性,定性,定量,连续,离散,计量值,计数值,计件值,计数值,JohnZ.Rao2001,3,变异,误差=X-X0偶然性误差：误差大小和方向的变化是随机的。系统性误差：误差大小和方向的变化保持不变或按一定规律变化。过程控制中常用精度这个概念来反映质量的波动（变异）程度。,JohnZ.Rao2001,4,精度,精度又可分为：准确度(Accuracy)：反映系统误差的影响程度；精密度(Precision)：反映偶然误差的影响程度；精确度(Uncertainty)：反映系统误差和偶然误差综合的影响程度,JohnZ.Rao2001,5,精度的概念,准确度好精密度好系统误差小偶然误差小,准确度差精密度高系统误差大偶然误差小,准确度高精密度差系统误差小偶然误差大,准确度差精密度差系统误差大偶然误差大,JohnZ.Rao2001,6,持续改进及统计过程控制概述,预防与检测过程控制系统变差：普通原因及特殊原因局部措施和对系统采取措施过程控制和过程能力过程改进循环及过程控制控制图：过程控制工具控制图的益处,JohnZ.Rao2001,7,持续改进及统计过程控制概述之一检测与预防,过程控制的需要检测容忍浪费预防避免浪费,JohnZ.Rao2001,8,持续改进及统计过程控制概述之二过程控制系统,我们工作的方式资源的融合,产品或服务,顾客,识别不断变化的需求和期望,顾客的声音,人设备材料方法环境,输入,过程/系统,输出,过程的声音,统计方法,有反馈的过程控制系统模型,JohnZ.Rao2001,9,持续改进及统计过程控制概述之三变差的普通原因及特殊原因,JohnZ.Rao2001,10,SPC基础,SPC(StatisticalProcessControl)统计过程控制：利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而得到保证产品质量的目的。二十世纪二十年代美国休哈特(W.A.Shewhart)首创过程控制(ProcessControl)理论极其监控过程的工具控制图(ControlChart)形成SPC的基础，后扩展到任何可以应用的数理统计方法。控制图(ControlChart)：对过程质量特性记录评估，以监察过程是否处于受控状态的一种统计方法图。1924年5月6日休哈特提出的不合格样品率P控制图为世界第一张控制图。,JohnZ.Rao2001,11,产品质量的统计观点一,产品质量具有变异性影响产品质量的因素有6MMan:人Machine:机Material:料Method:法Mother-nature:环Measurement:测无论人类社会如何进步发展，产品质量不可能保持绝对恒定，一定具有变异性。,JohnZ.Rao2001,12,产品质量的统计观点二,产品质量的变异具有统计规律性确定性现象，确定性规律：在一定条件下，必然发生或不可能发生的事情。如一个大气压（760mm汞柱）下，H2O的变化规律。温度0固体状态温度0100个单值读数，25个子组,JohnZ.Rao2001,42,JohnZ.Rao2001,43,A2建立控制图及记录原始数据,X-R图通常是将X图画在R图之上方，下面再接一个数据栏。X和R的值为纵坐标，按时间先后的子组为横坐标。数据值以及极差和均值点应纵向对齐。数据栏应包括每个读数的空间。同时还应包括记录读数的和、均值（X）、极差（R）以及日期/时间或其他识别子组的代码的空间。,JohnZ.Rao2001,44,A3计算每个子组的极差和均值,画在控制图上的特性量是每个子组的样本均值（X）和样本极差（R），合在一起后它们分别反映整个过程的均值及其变差。对每个子组，计算：式中：X1，X2为子组内的每个测量值。N为子组的样本容量。,JohnZ.Rao2001,45,JohnZ.Rao2001,46,A4选择控制图的刻度,两个控制图的纵坐标分别用于X和R的测量值。X图：坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值勤（X）的最大值与最小值差的2倍。R图：刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。,JohnZ.Rao2001,47,A5将均值和极差画到控制图上,将均值和极差分别画在其各自的图上。该工作在确定了刻度以后应尽快完成。将各点用直线联接起来从而得到可见的图形和趋势。简要地浏览一下所有