耦合器检验标准

1、1目的为了确保所检验的全光纤型分支器件产品符合YD/T1117-2001产品要求，严格禁止不合格产品出厂。2 范围本标准规定了全光纤型分支器件的所有检验项目和测试方法以及产品的抽样规则等。3 职责3.1技品部对确保正确执行本标准全权负责，检验人员应严格按照本标准进行检验，对产品质量负责，并 记录其数据与现象，交由技品部处理。3.2包装人员对产品包装负责。4 引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成本标准的条文。YD/T1117-2001全光纤型分支器件技术条件5 检验项目5.1过程检验序号工艺步骤名称检验标准各分步检验方法目测光特性1拉锥、上基体1）光纤在基体中央；2）点胶长度为

2、45mm ；3）标识清晰明了；4）打圈直径65 5mm ；5）光纤长度为客户要求 + （40 5） mm ；6）分光比为A。1)2)3)4)5)6)2割头（11）回波损耗60dB；（ 12）所切光纤余量w 2mm。2)1)3封热缩套管1）热缩管应完全包住热融管；2）热缩管应平直顺滑、无气泡；3） 带宽隔离度15dB ；带宽隔离度18dB ；4） 带宽插入损耗w 0.5dB ；（2）带宽插入损耗w 0.4dB。（ 3）1)2)3)4)4封不锈钢管 高温（-40+80 C,24h）1）密封胶表面光滑、具有一定的弧度；2）光纤在正中间；（4 ）3） 分光比为A 5% ;附加损耗应w 0.2dB ；4

3、） 带宽隔离度15dB ；（）带宽隔离度18dB;（）5） 带宽插入损耗w 0.5dB ；（2）带宽插入损耗w 0.4dB。（ 3）6）按该标准5.2产品分级标准进行产品检验，并分级。1)2)3)4)5)6)注:（1）该步工艺只对 1480/1550&980/1550波分复用器作要求；（2）该项检验标准只对1480/1550波分复用器作要求；（3）该项检验标准只对 980/1550波分复用器作要求；（4）其中的分光比是以1工艺步骤中的A为基数；A为实际分光比。5.2产品分级标准5.2.11X 3或3X 3、1 X 4或4X 4耦合器分级表一耦合器的分级性能指标P级1 X 3 或 3X 31 X

4、 4 或 4 X 4工作带宽（nm） 10 20 40 10 20 40插入损耗（dB） 5.4 5.6 5.8 6.8 7.0 7.4附加损耗（dB） 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2均匀性（dB） 0.9 0.9 1.0 1.0 1.0 1.0偏振损耗（dB） 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2性能指标A级1 X 3 或 3X 31 X 4 或 4 X 4工作带宽（nm） 10 20 40 10 20 40插入损耗（dB） 5.7 6.0 6.2 7.2 7.2 7.6附加损耗（dB） 0.3 0.3 0.3 0.3 0.3 0.3均匀性（dB） 1.2 1.3

5、1.4 1.3 1.4 1.6偏振损耗（dB） 0.3 0.3 0.3 0.3 0.3 0.35221480/1550nm波分复用耦合器的分级表二 1480/1550nm波分复用耦合器的分级指标要求注P级A级工作波长（nm）1480和 1550*1工作带宽（nm） 5插入损耗（dB） 0.5 15 11方向性（dB） 55 55回波损耗（dB） 55 55*3偏振相关损耗（dB） 0.15 0.25工作温度（C）-40+855.2.3980/1550nm波分复用耦合器的分级表三 980/1550nm波分复用耦合器的分级指标要求注P级A级工作波长（nm）980和 1550*1工作带宽（nm） 1

6、5插入损耗（dB） 0.3 20 18方向性（dB） 55 55回波损耗（dB） 45 40*3偏振相关损耗（dB） 0.15 0.25工作温度（C）-40+85*注：*1上述1480/1550nm&980/1550波分复用耦合器均为单级基本型器件，全光纤结构；*2插入损耗值为0.25mm尾纤型芯件指标，不包括连接器损耗；若包括还须加上 0.2dB的插入损耗（如:0.5+0.2=0.7dB ）。*3回波损耗指器件本身的指标。6 产品性能实验表四全光纤型分支器件环境性能实验序 号试验项目试验条件技术标准实验方法1高温实验温度+85 C温度变化率w 1C /min无变形、无损伤 插入损耗变化量w

7、0.2 分光比变化量w 3%YD/T1117-20012低温实验温度-40 C温度变化率w 1C /min无变形、无损伤 插入损耗变化量w 0.2 分光比变化量w 3%YD/T1117-20013温度循环实验温度-40 C +75 C10%80%相对湿度21个循环，7天无变形、无损伤 插入损耗变化量w 0.2 分光比变化量w 3%YD/T1117-20014温湿老化实验温度+85 C85%相对湿度7天无变形、无损伤 插入损耗变化量w 0.1分光比变化量w 3%GB2423.35温湿循环实验温度-40 C +75 C,相对湿度在温度为2C 32C 时为 80% , 75 C 时为10%，温度变化

8、率为 0.95C/min无变形、无损伤 插入损耗变化量w 0.1分光比变化量w 3%YD/T1117-20016浸水实验温度+43 CPH5.57天无变形、无损伤 插入损耗变化量w 0.1分光比变化量w 3%YD/T1117-2001表五全光纤型分支器件机械性能实验序 号试验项目试验条件技术标准实验方法1振动实验振幅1.52mm，频率10Hz55Hz , X , Y, Z三个方向个2小时无变形、无损伤插入损耗变化量w 0.1 分光比变化量w 0.5%YD/T1117-20012冲击实验1.8m 高X、Y、Z三个方向每方向8次无变形、无损伤插入损耗变化量w 0.1 分光比变化量w 0.5%YD/

9、T1117-20013光缆扭转实验1.5kg负载25次10 次 /min无变形、无损伤插入损耗变化量w 0.1 分光比变化量w 0.5%YD/T1117-20014光缆抗拉实验90N负载2min无变形、无损伤插入损耗变化量w 0.1 分光比变化量w 0.5%YD/T1117-20017 工作需求分支器件的测量和试验应在YD/T1117-2001中规定的正常大气条件下进行，即：温度：15C 31C湿度：30%70%测量所用仪器、仪表的精度均应符合要求，并进行定期计量。8 产品检验被检验样品应是整件的全光纤型分支器件产品。我公司对全部产品进行日常检验，有特殊情况进行型 式检验。8.1日常检验该检验

10、是对全部产品进行的检验，由公司内部专职检验员负责，按表一、二、三确定产品的等级。对合格产品记录其检验数据，随同产品提交给客户；对不合格产品，记录其数据与现象，交由品质部处 理。检验员对所检验的产品加盖专人质量印章，并对其所检验的产品质量负责。8.2型式检验光分支器件有下列情况之一时，一般进行型式检验，型式检验按YD/T1117-2001质量评定程序中的8.2.2周期检验进行。a）新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定；b）正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时；c）产品长期停产后，恢复生产时；d）出厂检验结果与上次型式检验有较大差别时；e）国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。9 包装、标志、运输和贮存9.1标志产品上位置允许时应标有产品名称、型号规格、编号、生产厂家、生产日期9.2包装产品应用盒子包装好，包装盒内应有产品性能指标测试数据，包装盒上应标有产品名称、规格型号、 生产厂家。9.3运输当产品需要长途运输时