EMC电磁兼容测试报告

NO.检验记录

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锁CHD1200M托付静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌〔冲击〕抗扰度SHENZHENELECTRONICPRODUCTQUALITYTESTINGCENTER报告编号：2811068 第 页共 页检验记录样品名称智能读卡锁

商 标 /

2页共页制造厂商深圳市纽贝尔电子型号规格CHD1200M托付单位深圳市纽贝尔电子取样方式托付人送样抽样单位/抽样母数1抽样地点/样品数量1生产日期-- 抽样日期 /

送检20231114日期检验日期2023年11月14日--2023年12月4日 检验环境 15～35℃45～75%RH样品说明:11#，检测前后样品外观完好，功能正常。测试时供电电压：DC12V检验工程:静电放电抗扰度、浪涌〔冲击〕抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度检测依据:IEC61000-4-5:2023、IEC61000-4-2：2023、IEC61000-4-4-2023、企业要求检验概况:依据标准和企业要求对1〔冲击抗扰度、3检验结论:33检验负责人： 职务：年 月 日 年 月 日 年 月 日抗扰度试验判据说明：检验日期：校核日期：检验日期：校核日期：报告编号：2811068 第 页共 页序号判定准则类别说明1判据A试验中EUT在标准极限值内性能正常2判据B试验中EUT功能或性能临时降低或丧失，但能自行恢复3判据C试验中EUT功能或性能临时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据D试验中EUT因装置(或元件)损坏而不行恢复的功能降低或丧失检验工程：浪涌〔冲击〕抗扰度试验依据标准：IEC61000-4-5:2023、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：CHD1200M 样品编号：1#试验条件：温度： 23 ℃，湿度：52 %RH，正常大气压。电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。EUTRS485态。试验等级：在受试设备的DC电源和信号线端口：正-2kV1.2/50µs〔8/20µs〕，2Ω内阻正〔或负〕-2kV1.2/50µs〔8/20µs〕，12Ω内阻信号线对线：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50µs〔短路电流波形8/20µs〕，15Ω内阻信号线对地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50µs〔短路电流波形8/20µs〕，15Ω内阻要求符合性能判据B。试验布置：严格按标准要求。试验过程：：浪涌〔冲击〕电压施加在EUT的DC电源和信号线端口，60秒钟一次，正、负极性各做5次。试验电压由低等级增加到规定的试验等级，较低等级均应满足要求。EUT表现：在整个试验过程中没有消灭危急或担忧全的后果，试验中及试验后，EUT工作正常，表现出抗扰力量。符合性能判据 A 。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后EUT工作正常。符合性能判据要求。检验人： 校核人：报告编号： 第 页共 页抗扰度试验判据说明：序号判定准则类别说明1判据A试验中EUT在标准极限值内性能正常2判据B试验中EUT功能或性能临时降低或丧失，但能自行恢复3判据C试验中EUT功能或性能临时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据D试验中EUT因装置(或元件)损坏而不行恢复的功能降低或丧失检验工程：静电放电抗扰度试验依据标准：IEC61000-4-2：2023、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：CHD1200M 样品编号：1#试验条件：温度 24 ℃，湿度： 52％RH ，正常大气压。电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。EUT状态：RS485状态。试验等级：a)6kV。b)空气放电：试验电压8kV。要求符合性能判据B 。试验布置：严格按标准要求。试验过程：a)EUT可接触的导电外表、螺钉、端口等金属体进展接触放电，分别选择4个以上试验点进展〔每点至少50次，正负极性各25次〕，其中一个试验点承受水平耦合板前边缘中心距EUT0.1m50次间接〔接触〕放电。试验电压4kV，用尖端接触放电枪头，最大放电重1次/s。试验电压应从最小值渐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。b)对EUT可接触的壳体外表，按键、指示灯、显示屏、壳体等的缝隙进展空气放电，分别选3个以上试验点，每点进展至少20次单次放电，正负极性各108kV，用圆形空气放电枪头。试验电压应从最小值渐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。EUT表现：在整个试验过程中没有消灭危急或担忧全的后果，表现出抗扰力量，符合性能判据B。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。符合性能判据要求。检验人： 校核人：检验日期： 校核日期：检验日期：校核日期：检验日期：校核日期：报告编号： 第 页共 页抗扰度试验判据说明：序号判定准则类别说明1判据A试验中EUT在标准极限值内性能正常2判据B试验中EUT功能或性能临时降低或丧失，但能自行恢复3判据C试验中EUT功能或性能临时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据D试验中EUT因装置(或元件)损坏而不行恢复的功能降低或丧失依据标准：IEC61000-4-4-2023、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：CHD1200M 样品编号：1#试验条件：温度：23 ℃，湿度： 52 %RH，正常大气压。电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。EUT状态：RS485状态。试验等级：在EUT供电电源端口：线对线和线对地：2kV2.5kHz，5/50nsTr/Td15ms，300ms。要求符合性能判据B。在信号线端口，通过电容耦合钳耦合：2kV5kHz，5/50nsTr/Td15ms，300ms。要求符合性能判据B。试验布置：严格按标准要求。试验过程：EUT的电源插入电快速瞬变脉冲群发生器的EUT插座端口，加峰值为2kV的试验电压，分别加在+、-和+/-线、地线上，每根线上的试验持续时间为1EUT的信号线放入电快速瞬变脉冲群发生器的电容耦合钳里，通过耦合，加峰值为2kV的试验电1EUT表现：在整个试验过程中没有消灭危急或担忧全的后果，试验中及试验后，EUT工作完全正常，表现出抗扰力量。符合性能判据 B 。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。符合性能判据要求。检验人： 校核人：试验仪器设备清单23电容耦合钳IP4AA01032082023.06.1025雷击测试仪TSS500M10A07125112023.11.1926浪涌脉冲发生器VCS500M10A07125092023.11.1927浪涌耦合网络CNV503S9A07125102023.11.19序号名称序号名称型号编号有效日期本次使用21静电放电测试仪PESD1600A01031082023.06.1022电快速瞬变测试仪PEFTJUNIORA01031102023.06.10检查人：

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