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文档简介
CCS
34 DB34/T
of
solid
technology
前 言
本文件由安徽省国盛量子科技有限公司提出。本文件起草单位:安徽省国盛量子科技有限公司、中国科学技术大学。本文件主要起草人:赵博文、孙方稳、张少春、陈向东、范永胜、陈英。
测量
稳定理,采用激光或者射频探测其电子自旋共振频率,通过测量出共振峰随磁场的变化,测算出外磁场的大小。-2-9T/√Hz
固态自旋量子磁力测量技术原理
-10
10
10
×
×10
-8-10
-6
标准磁力仪其允许误差不超过待测量子磁力测量装置最大允许误差绝对值的
1/3,在一年内的误-2
利用高精密可调电流源及磁场线圈产生待测磁场,通过量子磁力测量装置对该待测磁场进行测量,
控制高精密可调电流源,驱动磁场线圈产生均匀待测磁场;启动量子磁力测量装置与标准磁力仪,标定待测磁场,校正量子磁力测量装置参数。
控制高精密可调电流源,驱动线圈产生的磁场,量子磁力测量装置对待测磁场进行测量,记录测量输出结果。
7.1.3.2
子磁力测量装置无响应。
上位机对记录的数据绘制动态范围响应曲线,根据动态范围响应曲线确定磁场测量无响应的
进行测量,记录量子磁力测量装置测量输出数据,绘制功率谱密度曲线,得出灵敏度。
控制高精密可调电流源,驱动磁场线圈产生均匀待测磁场;启动量子磁力测量装置与标准磁力仪,标定待测磁场,校正量子磁力测量装置参数,设定量子磁力测量装置采样率和采集时间。
msin(2πft)
m
启动量子磁力测量装置对待测磁场进行测量,记录测量输出结果,连续采集一段时间后,记录一组测量数据。
Bx
Bm
Bm
α=
Bx
x
m
控制高精密可调电流源,驱动磁场线圈关闭均匀交变磁场;保持量子磁力测量装置采样率和间后,记录一组测量数据。
对量子磁力测量装置测量数据进行功率谱密度分析,绘制功率谱密度曲线,利用功率谱密度估计和校正系数,得出灵敏度。
利用高精密可调电流源及磁场线圈产生待测磁场,通过量子磁力测量装置对该待测磁场进行测量,
控制高精密可调电流源,驱动磁场线圈产生递增磁场和递减磁场,递增磁场和递减磁场的最置参数,设定量子磁力测量装置采样率和采集时间。
控制高精密可调电流源,驱动磁场线圈调节步进磁场,产生递增磁场,每调节一次,量子磁磁力测量装置的输出数据。
保持量子磁力测量装置采样率和采集时间设定不变,控制高精密可调电流源,驱动磁场线圈递增磁场达到最小值,完成递减磁场测量,记录量子磁力测量装置的输出数据。
重复进行测量,完成多次测量后,记录测量输出数据。
根据量子磁力测量装置的输出数据,进行拟合,绘制拟合曲线,得出线性偏差。
进行
控制高精密可调电流源,驱动磁场线圈产生均匀待测磁场
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