2025年公路工程无损检测人员资质考试问题与解答集锦

1.射线可分为哪几类，对于工业探伤的射线有哪几种？

答：射线可分为如下几类：

（l）x射线和Y射线。它们都是波长很短的电磁波，按波粒二相性观点，也可以看

作是能量很高的光子流。X射线是高速运动的电子撞击金属产生的；丫射线是放射

性同位素在Y衰变过程中从原子核内发出的。

（2）电子射线和B射线。它们都是高速电子流。电子射线是通过加速器加速电子得到

的；B射线是放射性同位素在B衰变过程中从原子核内发出的。

（3）质子射线、笊核射线和a射线。它们都是带正电的粒子流，质子是一般氢原子核

笊核是氢同位素气2Hl的原子核，由1个质子与1个中子构成；a粒子是氢原子

核We2,由2个质子与2个中子构成。质子射线与笊核射线可运用回旋加速器或静电

加速器得到，a射线是放射性同位素在a衰变过程中从原子核内发出的。

（4）中子射线。它是高速中子流，可从原子反应堆中获得，也可通过加速器获得，或

从放射性同位素-252中获得。

目前用于探伤的重要是X射线、y射线和中子射线。其中X射线和丫射线广泛用

于工业探伤，中子射线用于特种检查。

2.什么叫持续X射线的有效能量？为何持续X射线穿透物质后有效能量会增大？

答：假如某一单能射线的吸取系数与持续X射线在特定厚度范围内平均吸取系数相

等，便可用此单能射线的能量来表达持续X射线的平均能量，称作有效能量。持续

X射线包具有能量不一样的光子，在穿透物质过程中，能量较低的光子较轻易被物

质吸取，因此，在射线透过物质后，不一样能量射线所占的强度比率发生变化，低能

量射线所占比率减少，从而使透过射线的平均能量或有效能量增大。

3.放射性同位素衰变过程中的辐射有哪几种形式？答：放射性同位素的衰变幅射重要

有如下几种形式：（1）仅幅射a粒子，（2）仅幅射B粒子，（3）既幅射a粒子又幅射

Y射线，（4）既幅射B粒子又幅射y射线

4.射线防护有哪几种基本措施？每种防护措施的基本原理是什么？

［提醒］:射线防护措施有三种，即距离防护、时间防护、屏蔽防护，距离防护一射线

剂量率与离射线源的距离平方成反比，因此尽量在距离射线源远的地方从事射线探伤

工作；时间防护一人体接受射线剂量与时间成正比，尽量缩短接受时间以减少对人体

的危害；屏蔽防护一射线穿过屏蔽材料时，其能量会衰减，尽量在有安全屏蔽的条件

下进行工作

5.影响摄影质量的散射线是怎样产生的？答：射线穿过物质时，与物质发生多种互相

作用，其成果是除了一部分直接前进的透射线外，尚有向各个方向射出的散乱射线以

及光电子，反跳电子等。光电子和反跳电子穿透力极弱，大多数被物体自身吸取，虽

然射到物体外，也很轻易被空气吸取，对探伤质量不产生影响。散乱射线中的一部分

是由光电效应引起的荧光X射线，这部分射线能量远不不小于透射线。例如铁的KBi

荧光X射线能量约7keV,很轻易被物体和增感屏吸取，对探伤质量也不产生什么影

响。因此影响探伤质量的散射线重要是由康普顿效应和汤姆逊效应产生的，在射线能

量很低（不不小于50keV）范围内，散射线重要由于汤姆逊效应产生，在射线能量较

高范围内，散射线重要由康普顿效应产生。

6.简述X射线管的构造和各部分作用

答：X射

线管

阴极灯丝：发射电子阴极头：灯丝支座，聚焦电子

阳极盘蠹电子’发阳极体：支承靶，传递靶热量

阳极罩：吸取二次电子，减少管壁电荷，提高工作稳定性

连接两极，保持真

管壳

空度

7.绘出能工作的X射线机的最基本

电路图，并标明各部分名称

答:如右图所示。

8.用于X射线检测用的X射线管有

哪些类型和种类？答：就焦点大小

辨别，可分为大焦点、小焦点和微X射线机基本电路

焦点；就构造形式辨别有玻璃壳6

1调压器

管、金属陶瓷管和波纹陶瓷管：就2.千伏电压表

辐射形式辨别有定向曝光和周向曝3.逆电压降低器

4.匐宝变由器

光(有平靶和锥靶两种)，软X射5.亳安表

线管，棒阳极等6.X射线管

7.亳安调节器

\88.灯丝加热变压器

9.试比较射线检测与超音波检测两

种措施的合用范围和局限性

［提醒］:应从两种措施的敏捷度高

下、检测厚度范围、易发现的缺陷

形状以及安全防护和经济性等方面

进行比较

10.何谓互易定律失效？它对射线摄影有何影响？答：互易定律是光化学反应的一条

定律，该定律指出，决定光化学反应产物质量的条件，只与总曝光量有关，即取决于

照度和时间的乘积，而与这两个原因的单独作用无关，由于它指出了时间和照度的互

易关系，因此称为互易定律，假如与这一定律结论有偏离，则称为互易定律失效。假

如不考虑光解银对感光乳剂显影的引起作用的差异，互易定律可引伸为显影黑度只与

总曝光量有关，而与照度和时间分别无关。在射线摄影中，当采用铅箔增感和无增感

时，遵守互易定律。设产生一定显影黑度的曝光量E=I-t,当射线强度I和时间t

对应变化时，只要两者乘积E值不变，底片黑度不变。当采用荧光增感时，互易定律

将会失效。I与t发生变化忖，尽管I与t的乘积不变，底片黑度仍会变化。用公式

描述保证底片黑度不变的前提下，曝光量E与射线强度I,时间t的关系，其形式为

E-I-tp(p^l)o互易定化是运用曝光因子公式和平方反比定律修正透照参数的基

础，假如互易定律失效，则不能运用曝光因子和平方反比定律修正透照参数，这将使

透照参数的选择复杂化。

11.何谓几何不清晰度？其重要影响原因有哪些？答：由于射线源都具有一定尺寸，

因此摄影时工件轮廓或缺陷边缘都会在底片上产生半影。这个半影宽度便是几何不清

晰度Ug,缺陷的几何不清晰度Ug值计算公式为：Ug=db/(F-b),式中：d一射源尺寸；

F-焦距；b一缺陷至胶片距离。技术原则中规定的几何不清晰度，一般是指透照中心

部位的最大几何不清晰度，计算公式为：Ua=dL2/L,式中：L一射线至工件表面距

离；L一工件表面至胶片距离；d一射源公称有效焦点尺寸。由以上公式可知，Ug值

与射源尺寸和工件厚度或工件表面至胶片距离成正比，与射源至工件表面距离或焦距

成反比。

12.AD=(-0.434uYoax)/(l+n)是计算什么的公式？从这个公式中可以阐明什么问

题？答：这是计算缺陷(或金属丝透度计的金属丝直径)对比度的完整公式。从这个

公式中可以看出影响射线检查敏捷度的重要原因，如：吸取系数U越大，△口就越

大，为此应选用尽量低的管电压；胶片衬度y越大，△口也越大，为此应选用衬度

(对比度)高的胶片和对应的暗室处理条件；几何修正系数。越大，△口也越大，

为此应选用焦点小的射线机和合适的焦距，并尽量使胶片与零件紧贴；△又越大（即

缺陷沿射线方向尺寸越大），△口也越大；散射比n越大，则△口就越小，因此应设

法减少散射线的影响，以将n减少到最低程度。

13.射线辐射防护检测的目的和种类有哪些？

答：辐射检测的目的是为了控制和鉴定电离辐射对人体的照射剂量，从而估计照射对

人体的影响，以便采用更完善的辐射防护措施，防患于未然，保证放射性工作人员及

周围群众的健康和安全，它包括场所辐射监测和个人剂量监测。

14.无损检测中常用的能量范围内的伽玛射线衰减是通过哪种方式产生的？答：光电

效应和康普顿散射

15.产生X射线的必备条件是什么？

答：要有一定数量的电子；这些电子沿一定方向作高速运动；在电子前进的途径上，

有制止电子运动的障碍物

16.X、Y射线具有哪些重要特性？答：直线传播的电磁波，速度为光速：不受电磁

场的影响；能使胶片感光；能使物质电离；能透过可见光不能透过的物质；具有反

射、折射、衍射、干涉等波的性质；有生物效应

17.论述射线穿过物质发生的三个效应与入射线能量之间的关系。答：低能射线以光

电效应为主；中等能量射线以康普顿效应为优势，以光电效应结束；能量不小于

1.022MeV者，以电子对生成效应为主

18.何谓中子射线？

答：中子射线即中子流，中子是原子核的基本粒子之一，在放射性物质裂变时，有时

会放射出中子而形成中子射线

19.对于实用的X射线，为了要用半值层公式，应以什么波长为计算半值层厚度的基

准？

答：在管电压一定期，X射线强度最大所对应的波长为计算基准

20.写出窄束射线穿过物质的衰减定律公式，并注明各符号的含义。

答：1=1。/列式中：I。一没有穿透物质某点的射线强度（又称为初始射线强度）；

I一穿过厚度为d的试件某点后的射线强度；d一射线穿透试件的厚度；口一线性减弱

系数或称衰减系数

21.何谓放射性同位素？答：在元素周期表上占据相似位置，具有不稳定性的元素,

它能自发蜕变成另一种原子核

22.X射线的能量取决于什么？答：X射线的能量大小取决于管电压

23.Y射线的能量取决于什么？答：Y射线的能量大小取决于射线源放射性同位素的

种类

24.X光管阳极靶材料由筲换成铝会产生什么成果？答：提高发射X射线的效率；耐

热性好

25.绘图阐明胶片特性曲线由哪五部分构成？底片黑度应控制

在胶片特性曲线的哪个区域？为何要控制在这个区域？答：

AB-迟钝区；BC-感光局限性区；CD-止常（适量）感光区：

DE-过感区；EF-负感区。底片黑度应限制在正常感光区内，

由于在这个区域内底片的对比度大（曝光量有小的差异就能

产生较大的黑度差），敏捷度高。

26.试述高能X射线的特殊性质。答：穿透力极强，可达

500mm；射线焦点小；能量转换高；散射线少，清晰度高；透

照幅度宽。

27.X射线管中为何选用筲靶？

答：高速运动的电子撞击阳极靶时，约有1-2%的动能转换为X射线，绝大部分均转

化为热能，使靶面温度升高，同步X射线的强度与阳极靶的原子序数有关，因此一般

工业用X射线管的阳极靶选用原子序数大、耐高温的鸨来制造

28.散乱射线是怎样产生的？它对底片有何影响？透照时怎样遮挡？答：散乱射线是

由射线与物质作用而产生的，假如来自工件内部，处在胶片前方，称为前方散射线，

射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等，均会产生散乱射线，由于它来自胶片背

面，故称背面散乱射线（包.括侧壁散乱射线）：散乱射线使底片产生附加黑度，严重

时所有变黑，影响底片的对比度和清晰度，减少底片的敏捷度；遮挡的措施有：采用

限光器（准直器）或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照的部位，从而减少散

乱射线对底片的影响；采用金属增感屏，前屏吸取一部分前方散乱射线，后屏减少背

面散乱射线的影响；透照较厚工件时，暗盒背面用薄铅板（铅垫板）遮挡背面散乱射

线；被透照工件周围尽量保障有一定的空间，防止寄存与透强无关的杂物以防止侧壁

散乱射线影响。

29.高能X射线设备的重要原理是什么？答：运用超高压、强磁场、微波等技术对射

线管的电子进行加速，从而获得能量强大的电子束，轰击靶面而获得高能X射线

30.X射线管焦点的尺寸大小与什么有关？

答：重要取决于X射线管阴极灯丝的形状和大小，使用的管电压和管电流对焦点大小

也有一定影响。

31.周向辐射X射线管有哪两种阳极靶？答：平面阳极和锥体阳极两种形式

32.用于狭窄部位摄片的X射线管阳极是什么样的？答：棒状阳极

33.X射线荧光屏法的优缺陷是什么？答：长处是：检查速度快，检查成果可即时性

观测；操作简朴，检测成本低；无胶片处理过程；可变化照射角度来全面观测工件内

部质量。缺陷是：检查成果较难做全面的永久性记录；工作人员轻易疲劳：检查敏捷

度较低；受穿透力限制，一般只合用于较薄的工件。

34.辐射场限制区是怎样测量的？答：X射线机的辐射场尺寸是指从X射线管焦点上

发出的X射线在规定距离d处，垂直于输出窗轴线的平面上，X射线辐射场的大小可

用曝光拍片法测量，胶片获得足够大，可将辐射场的限制区拍摄下来，以底片最大黑

度减少20%构成的边界为辐射场的尺寸

35.伽玛射线探伤装置重要由哪四部分构成？答：射源、保护罐（用铅或贫化铀制

成）、操作机构和支撑装置

36.中子探伤设备包括哪几部分？答：中子源、慢化剂、准直器和像探测器

37.射线防护的基本原则是什么？答：采用某些措施，把射线工作人员以及周围其他

工作人员所受的射线剂量减少到最高容许剂量（也叫安全剂量）如下，保证人身安

全。

38.工业电视应配什么样的X射线机？包括哪些重要部件？答：应配置小焦点、恒电

位的X射线机，包括的部件有图像增强器、摄像管及电视显示屏，最新的工业电视则

采用了CCD（电荷耦合器件）或CMOS来接受X射线并转换成电信号送入电脑进行信号

处理及重构图像，在电脑屏幕上显示射线透视的成果

39.什么是软射线技术？答：使用软X射线管，产生的X射线束直接从被窗口射出，

防止了一般X射线管的固有流波，能基本保持原有波长且能量较低的X射线，称为软

X射线，运用其进行透照的技术，即是软射线技术，多用于人体软组织、轻金属和非

金属的射线检测

40.选购X光机时，应考虑哪些条件？答：应考虑如下条件：①首先要选择穿透能力

能满足工作厚度的规定；②能量相似时，尽量选小焦点的；③要考虑工作量的大小，

持续生产还是断续生产；④要考虑工件的材质和形状，即是有色金属还是重金属，轴

类、板材还是筒类等去选择对应的X射线探伤机种。

41.X射线机的常见故障有哪些？答：常见故障有：①X射线管松动；②保险丝溶

断；③电流表没指示或指示数很小；④电缆断线；⑤自耦变压器老化、高压指数达不

到额定值；⑥发生器保护罩漏油，高压跳火；⑦X射线管失效；⑧阳极过热，毫安表

针摆动较严重；⑨马达不转，发生器局部发热；⑩X射线管灯丝预热时间不够，而使

灯丝老化损坏。

42.绝缘油绝缘强度低劣时有何现象？

答：绝缘油绝缘强度低时，送高压后，电流值不规则的波动，一般不至到达跳闸程

度。

43.什么是绝缘油的绝缘强度？答：油样在油杯内2.5mm间隙时的击穿电压的多次平

均值，就是该油的绝缘强度。

44.X射线机规定什么样的绝缘油，有哪些详细规定？

答：X射线机多用45.变压器油、绝缘强度要在50kv以上，还规定有燃点高、凝固点

低、挥发性低、粘度适中等。

45.常常熔断电源保险丝的故障原因也许有哪些?答:X射线管真空度不良,绝缘油里有

气泡或绝缘强度减少,高压电路元件损坏,导致对地放电或短路,调压器等低压电路元

件绝缘减少,导致对地短路,电源接错等

46.高压可接通,但无管电流的故障原因也许有哪些?答:X射线管或高压整流管灯丝断

或接触不良,高压变压器断线或接触不良,高压电缆与插座接触不良,亳安表损坏无指

示,毫安调整器断路等

47.试述底片影象颗粒度及影响原因答：底片影像是由许多形状大小不一的颗粒构成

的，人们观测影像时在感觉上产生的不均一或不均匀的印象称为颗粒性，用仪器测定

由于影像不均匀引起的透射光强变化，其测定成果称为颗粒度。由于颗粒大小的分布

是随机的，因此颗粒度一般是采用均方根离差。来度量。目前较通用的措施是用直

径2411m的扫描孔测定颗粒度。肉眼所观测到的颗粒团实际上是许多颗粒交互重迭生

成的影像。影像颗粒与胶片卤化银颗粒是不一样的概念，影像颗粒大小取决于如下原

因：①胶片卤化银粒度；②曝光光子能量：③显影条件。

48.试推导射线摄影主因对比度(物件对比度)的体现式

答：已知宽束射线透过厚度为T的试件,其透过射线强度I产(1+n)1心-“一(1),当试

件中某一局部区域厚度有变化,射线穿过的厚度差为该区域透过射线的强度也会

发生变化,其强度增量为△】,则有：

△l=Ioe-p(T-AT)-Ioe-uT=LeFJ"。一(2),(2)+⑴得:

7pATl，T

△I/IP=[Ioe-'(e-l)]/[(l+n)Ioe-]=(eM,—l)/(l+n)—(3),而可展为级数

e^T=l+uAT+(PAT)72!……+(uAT)7n!……一(4),近似取级数前两项代入

⑶，得：

△I/Ip-[(l+uAT)-l]/(l+n)-PAT/Cl+n)—(5)

49.写出透照厚度差为AT的平板底片对比度公式和象质计金属丝底片对比度公式，

阐明公式中各符号的含义，并指出两个公式的差异答：厚度差为AT的平板底片对

比度公式：△1)=-0.434uPyAT/Cl+n)—(1)

象质计金属丝底片对比度公式：△!)=-0.434%Y。-d/(l+n)一(2),式中：〜一考

虑胶片速度系数的射线吸取系数；Y一胶片反差系数；。一几何修正系数；平

板透照厚度差；d-象质计金属丝直径；n一散射比。

两个公式的差异在于几何修正系数。，由于透度计金属丝直径d远不不小于焦点尺

寸，在一定透照几何条件下，焦点尺寸会影响金属丝影像对比度，因此公式(2)引入

。对底片对比度进行修正。当缺陷尺寸不小于焦点尺寸时，焦点尺寸对底片对比度

的影响可忽视不计，因此公式(1)中，没有几何修正系数。

50.什么是几何修正系数，写出其计算式并阐明其实用意义

答：几何修正系数。是考虑射源

焦点尺寸在一定的透照几何条件

下,会对小缺陷影像对比度产生影

响而提出的,其公式是按透度计金

属丝的状况推导的。

对金属丝透度计按左图中表达的状

况进行透照,抵达胶片上P点的射

线将通过金属丝截面的abed部分，

焦点

E焦点尺寸近似认为射线通过的是abed部

L焦距

1金属丝直径分,并认为在焦点尺寸f范围内射

1透度计金属丝中心至线强度无变化。

胶片的距离

设金属丝直径为d,金属丝截面圆为

0,在距圆心x的一点上,射线穿过

金属丝b2d2两点，设其穿透厚度为

d",则有

d〃=02-4X2)0

连接胶片上P点与焦点两端,设两

直线与以0为原点的直线的横轴分

别交于X1和X2,则XI和X2之间的距

离d'可用下式表达：d'=f・l/L,式

透度计中：1一金属丝中心至胶片距离；

L一焦点至胶片距离。

底片上P点所产生的黑度差△口是

试件

由于焦点上各点发出的射线穿过

!鼎abed金属丝截面,强度减小而产

生的,而焦点上各点发出的射线穿

X光胶片

P过金属丝的厚度不一样样，因此穿

透厚度d”是一种变量,设&为d”的

平均值,则有：

d'=/J：(d2-4x2)—

号卜子-x2)，+亨sin-I蓍2

当d'Vd时,积分上下限为Xi=-d'/2,X2=d'/2代入，得：d*={[r(d'/d)2：r+(d'/d)-

'sin1(d*/d)}•(d/2)

当d'>d时,积分上下限为X.=-d/2,X2=d/2代入，得；d〃尸(工d/4)(d'/d)工修正系数。=

d7/d,因此有：

d'Vd：o=(l/2){[l-CdVd)2]*72+(d,/d)Hsin-l(d,/d)}d'2d：a=(n/4)(d，/d)-1

。值随d'/d变化状况见图b,由图可见：当d'/d靠近1时，。值会急剧下降,也意味着小缺

陷的对比度会随之减小,在实际透照中，为保证小缺陷的对比度，应考虑采用

d'/d近0.5,a^l的几何布置,此时焦距L的计算公式推导如下：

已知：d'/dWO.5,贝ijd'WO.5c,又d'=f・1/L,；・f・1/LWO.5d,贝ijL22fl/d,式中：L-焦

距；f-焦点尺寸；1-透度计至胶片距离；d-规定可以识别的金属丝直径

51.固有不清晰度大小与哪些原因有关？答：固有不清晰度li值受如下原因影响：

(D射线的质。透照射线的光子能量越高，激发的电子在乳剂层中的行程就越长，固

有不清晰度也就越大。

(2)增感屏。据文献报道：在中低能量射线摄影中，使用铅增感屏的底片的固有不清

晰度不小于不使用铅增感屏的底片；增感屏厚度增长也会引起固有不清晰度增大；在

Y射线和高能量X射线摄影中，使用铜屏、留屏、鸽屏、钢屏的固有不清晰度均不

不小于铅屏。

(3)屏与胶片贴紧程度。透照时，如暗盒内增感屏和胶片贴合不紧，会使固有不清晰

度增大。为改善屏与胶片贴合状况，提出使用一种真空暗盒，

固有不清晰度与胶片的类型和粒度无关，与暗室处理条件无关。

52.实际摄影中，底片上各点的Ug值与否变化？有何规律？

答：实际摄影中，底片上不一样部位影像的Ug值是不一样的，但为了简化计算，便

于应用，有关技术原则仅以透照中心部位的最大Ug值作为控制指标。对不一样部位

Ug值的变化忽视不计。底片上不一样部位的Ug值变化规律如下：

(D焦点尺寸变化引起Ug值变化，由于X射线管的构造原因，沿射线管轴向不一样

位置焦点投影尺寸是变化的。阳极侧焦点小，阴极侧焦点大，因此底片上偏向阳极一

侧的部位Ug值小，偏向阴极一侧的部位Ug值大。

(2)Lz/L变化引起Ug值变化，透照纵缝时，被检区域各点的IVL值是定值，Ug值不

发生变化。但在透照环缝时，各点的Lz/Li值是变化的，因此Ug值也发生变化。例

如，环缝外透法和FHR的环缝内透法，端部的Lz/L值都比中心部位要大，因此端部

的Ug值也会增大。

53.试述Ug与Ui的关系以及对摄影质量的影响答：可简要归纳为如下几点：

(1)射线摄影中，一般重要考虑的是几何不清晰度Ug和固有不清晰度Ui,两者共同

作用形成总的不清晰度U,比较广泛应用的，体现U,Ug,Ui的关系式是：U2=Ug2+Ui2

(2)由于U是Ug和Ui的综合成果，因此在Ug值已不不小于Ui值的状况下，再深入

减小Ug值，以期望减小U,其效果是不显着的，从而是没故意义的。

(3)在X射线摄影中，Ui值很小，影响摄影清晰度的决定原因是Ug。

(4)在宽。，137cs及侬Iry射线摄影中，Ui值较大，对摄影清晰度有显着影响，为提

高清晰度，宜尽量减小Ug,使之不超过Ui值。

54.透照有焊冠的焊缝应注意哪些事项？

答：(1)由于焊缝焊冠的存在，底片上焊缝部位黑度》总是不不小于母材部位黑度

D2,摄影时应注意保证D1、灰均在原则容许的黑度范围内。(2)由于底片对比度

随黑度D的增长而增大，而识别界线对比度△Dw也随黑度D的增长而增大，因此透

照有焊冠焊缝时，通过控制合适的焊缝部位黑度口和母材部位黑度灰，可使母材部位

和焊缝部位能识别的透度计线径相等，此黑度称为有焊冠焊缝透照的最佳黑度。

(3)底片对比度随射线有效能量的减少而增大，但另首先，射线有效能量的减少会

使焊缝部位的透射线L与母材部位的透射线L的比值大大减小，从而使母材部位的

散射线对焊缝部位的影响更严重，其成果是减少了对比度，因此，透照有焊冠焊缝

时，焊缝部位的对比度不是单纯地随射线能量的减少而增大，而是在某一线质时，焊

缝部位的底片对比度到达最大值。此线质称为有焊冠焊缝透照的最佳线质。

55.指出小口径管对接焊缝射线摄影缺陷检出的不利原因，并提出改善措施。答：小

口径管焊缝射线摄影采用双壁双影法透照，对缺陷检出的不利原因和改善措施有如下

几点：(1)双壁双影法透照时，由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片的距离相差一

种管子直径，故射线源尺寸的几何影响较大，使几何模糊度增长，小缺陷对比度减

少，为减小射源尺寸对几何模糊度和对比度的影响，可选择焦点尺寸小的射线源，合

适增大焦距。(2)透照小口径管时射线的穿透厚度自中心向两端变化很大，易导致底

片上中心部位黑度过大，边缘部位黑度过小，为减少被检区域不一样部位的黑度差，

宜合适提高射线能量，采用“高电压，短时间”的透照工艺，（3）由于管子直径较

小，散射线引起“边蚀”效应比较严重。对应的措施是在射线机窗口处加滤板，或采

用铅罩屏蔽焊缝以外部分，以减少“边蚀”。（4）双壁双影透照时，焊缝被倾斜投影

到胶片上，缺陷影像会发生畸变。为减少畸变，应控制透照角度和椭圆开口间距，间

距一般为3〜10mm,最大不超过15mm。

56.试述编写射线检测程序书所应包括的内容？答：（1）工艺合用范围（试件种类、焊

接措施和类型、厚度等）。（2）工艺编制根据（有关规程、规范、原则、设计规定等）。

（3）对探伤人员规定（资格、工作经历、学历、视力等）。（4）设备器材选择（射线机、

胶片、增感屏、透度计、暗盒、铅字等）。（5）对工件规定（工序、探伤时机、工件表

面状况）。（6）探伤技术规定（质量等级、比例、部位、合格级别）。（7）透照措施（源-

胶片相对位置、焦距、划线长度、编号措施、透度计、铅字摆放、散射线屏蔽等）。

（8）曝光参数（管电压、管电流、曝光时间等）。（9）暗室处理（配方、程序、条件、规

定等）。（10）底片评估（像质鉴定、级别评估、返修规定等）。（11）记录汇报（种类、内

容、签证、存档及发送规定等）。（12）安全管理规定。

57.散乱射线是怎样产生的？它对底片有何影响？透照时怎样遮挡？

答：散乱射线是由射线与物质作用而产生的，假如来自工件内部，处在胶片前方，称

为前方散射线，射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等，均会产生散乱射线，由

于它来自胶片背面，故称背面散乱射线（包括侧壁散乱射线）；散乱射线使底片产生

附加黑度，严重时所有变黑，影响底片的对比度和清晰度，减少底片的敏捷度：遮挡

的措施有：采用限光器（准直器）或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照的部

位，从而减少散乱射线对底片的影响；采用金属增感屏，前屏吸取一部分前方散乱射

线，后屏减少背面散乱射线的影响：透照较厚工件时，暗盒背面用薄铅板（铅垫板）

遮挡背面散乱射线；被透照工件周围尽量保障有一定的空间，防止寄存与透照无关的

杂物以防止侧壁散乱射线影响。

58.射线源和胶片处在工件两面，透照时的像质计应怎样放置？为何？

答：应放置在射线源侧工件的表面上，置于有效受检部分的一端，钢丝横跨且垂直于

焊缝，细丝向片子的端部；这样放置时的几何模糊度最大、敏捷度最低，若此敏捷度

符合规范原则的规定，则其他部位也能符合规定。

59.在某些压力容器安全监察规程中规定对于厚度较大的焊缝在进行射线摄影后还规

定进行超声波检测复:验，这是为何？

答：多种非破坏检测措施均有其局限性，射线照像伴随板厚的增长，发现小缺陷的能

力就越来越差，尤其是对于线状缺陷，例如轻微的未焊透（熔入局限性）及小裂纹等

难以发现，而超音波检测对于线状缺陷是敏感的，为提高检测可靠性，保证产品质

量，尤其是质量规定高的产品，超音波检测可以弥补射线照像检测的局限性。

60.简述判片的一般程序环节。［提醒］应按对应的规范原则规定进行，一般重要包

括：检查底片上的各标识符号与否齐全及摆放位置与否合乎规定；测定判片区域的黑

度与敏捷度要符合原则规定；评估缺陷的位置、性质、大小、分布状况，按评级原则

评出底片级别并作记录：发出汇报。

61.曝光条件重要包括哪些内容？答：对一定机器产生的X射线而言，曝光条件包括

管电压、管电流、曝光时间和焦距：对射源一定的伽玛射线而言，曝光条件包括曝光

时间和焦距。

62.对于水循环冷却油绝缘的X射线机，当高压切断后（己经没有X射线产生），与

否能立即关闭机器的油泵？为何？

答：不能立即关闭油泵，由于X射线产生的过程中有大量电子轰击阳极筲靶而产生很

高的热量，因此必须将冷却油泵继续运转10-15分钟，使X射线管的阳极充足冷却后

才能关闭总电源、关闭水源。

66.选择透照方式时必须确定的事项、几何参数和必须考虑的有关原因是什么？答：

选择透照方式时必须确定的事项是：射线源和胶片的位置、射线束照射的方向、透度

计和标识的放置、散射线的屏蔽和监测等；必须确定的几何参数是：焦距、一次透照

长度、环焊缝100%透照时至少曝光数：必须考虑的有关原因是：几何模糊度、透照

厚度比、横裂检出角、纵裂检出角、有效评估长度以及10州透照时相邻两片的搭接

长度。

67.射线探伤的组织管理工作重要包括哪几种方面？［提醒］①配置足够完毕本单位探

伤任务的人员，这些人员馥经考试合格并获得资格证书；②配置足够完毕本单位探伤

任务的设备及器材，加强设备维护，保证设备完好：③制定必要的各项规章制度，

如：检测程序书、设备维护、人员培训、检测汇报、审核及存档制度等；④储备足够

数量的探伤用消耗器材（胶片、增感屏、药物等），并认真迨收保管好；⑤监督本单

位全体人员各负其责，把好质量关。

68.最新的第二代«ey射线源有些什么特点？答：是在反应堆中激活的具有热稳定

性的金属硒化物，焦点呈准球形，和其他射源相比，在相似活度下其焦点尺寸更小，

更合用于小焦距曝光、管道爬行器和接触式射线摄影，影像几何不清晰度小，是Y

射线透照中等厚度（5-40mii钢），获取较高影像质量的一种新型同位素射源，较钺

192和钮169源的半衰期长（118天），与锹192相比，其发射能谱较软，Y射线照

射率常数较小，设定辐射防护禁区较小,对操作者安全等

69.评片时对底片的质量一般有哪些规定？答：底片上应无伪像、划伤、迹痕和其他

也许引起评片结论出现差错的影像；底片上应有识别工件的编号、拍片部位编号、定

位记号等标志并与工件相对应；底片上应有透度计的影像，透度计规格合适，底片敏

捷度符合原则规定；底片黑度应在规定范围内，反差合适。

钢板厚度（mm）f

72.以玻壳X射线管为例阐明其构造各部分名称及重要作用。

答：玻壳X射线管的内部构造重要包括七个部分，即：铅玻璃罩-保持X射线管内的

真空度，吸取软射线：阳极罩-吸取二次电子和软射线；阳极体-支撑阳极靶和散热：

阴极头-聚焦电子；灯丝-产生热电子；阳极靶-发射X射线；镀窗-吸取软射线

73.X射线管的种类中，有一种旋转式阳极，它是怎样的？

答：它的阳极是装在一种小的感应电动机轴上，在X射线照射时旋转，这样阳极时刻

以“新的靶面”接受电子束的轰击，因此电子束的能量不至于像固定式阳极那样集中

于一点，它可把热量散布在阳极的相称大的面积上。由于阳极转动的非常平稳，焦点

可以保持形状和位置的稳定。用旋转阳极制成的X射线管不仅可以得到很小的焦点，

并且可以制成较大的功率，其阳极为一直径约76毫米具有斜边缘的铝盘构成，旋转

速度可到达每分钟数千转。

74.什么是X射线管的有效焦点？其焦点形状和尺寸于哪些原因有关？

答：在X射线管中，电子束轰击阳极靶上的实际面积为X射线管的实际焦点，实际焦

点在所激发的射线束中心方向（即垂直于X射线管轴线方向）的投影面积称为X射线

管的有效焦点，有效焦点的平面可认为在X射线管的轴线上，它是直接影响X射线检

查质量的原因，因此X射线机阐明书或检测规程上所说的焦点（或称作射源尺寸）都

是指有效焦点。X射线管焦点的形状和尺寸，决定于灯丝的形状、尺寸、安装位置以

及阳极靶面的倾斜角度。

75.什么是X射线管的容量？答：X射线管容许的最大负荷量就称为X射线管的容

量，它等于X射线管在使用时额定最高管电压和额定管电流的乘积（计算管电压时取

有效值：U柳R.707U”）,即容量P=U有效（千伏）1（亳安）/1000（千瓦），该容量是指

在使用中按规定的冷却方式工作，并且持续工作时间不能超过规定的持续工作时间的

状况下。

76.影响X射线管容量的原因有哪些？答：X射线管的负荷容量直接决定于X射线管

实际焦点处的工作温度，影响焦点处温度的原因有：实际焦点大小；使用管电压的高

下；管电流的大小；X射线管的持续使用时间；在实际焦点上电子束截面的电子密度

分布状况；阳极的构造及冷却方式。

77.X射线管为何要通过训练（老练硬化）处理？答：X射线管的质量优劣及使用寿命

都与管内的真空度亲密有关，尽管制造时已经到达规定的真空度（一般可达10-

7mmHg），不过管内的构造材料在第一次使用或者长期搁置，或者受到电子轰击或受热

时，均有也许从这些物体中逸出气体（“放气”）而减少真空度，导致X射线管不能

稳定工作甚至损坏。X射线管的训练实质上是通过从低端开始逐渐升高管电压和管电

流，使管内的气体分子电离并因被电离出来的质量较大的正离子高速冲向阴极，使得

阴极金属发生溅散，这些溅散的金属此时会吸取管内的气体，即“排气”，从而提高

管内真空度，保障X射线管稳定工作。因此对于新的或停止工作较长时间的X射线管

在正式使用前都必须进行训练处理。

78.为何在射线检测规范原则中对底片黑度的规定有越来越高的趋势，并且采用的观

片灯的亮度液越来越大？

答；伴,底片黑度的提高，其对比度也对应增长，这一关系直到黑度值为3-3.5左

右，底片对比度提高后。透照敏捷度也增长了，因此有倾向于规定较高的底片黑度，

而为了可以观测高黑度的底片，规定观片灯的亮度也要随之对应加大了。

79.X射线硬度对敏捷度有什么影响？

答：X射线的硬度决定于波长，波长越短，硬度越高。X射线检查的敏捷度重要取决

于底片的对比度和清晰度，对比度越高，越轻易发现缺陷，然而当其他条件固定期，

缺陷在底片上的对比度完全取决于主因对比度：£/1尸（式中I「透过缺陷处的射

线强度；透过缺陷附近材料的射线强度；e-自然对数的底，常数：U-吸取系数；

X-缺陷深度）当缺陷深度一定期，提高主因对比度的唯一途径是增大物质的吸取系数

口，由于口产CZ0人”（式中口「质量吸取系数：C-常数；Z-物质的原子序数；入-X射

线波长，m和n一般取3）,即质量吸取系数与被透物质原子序数的立方和入射X射

线波长的立方成正比。当被透物质固定期，吸取系数仅决定于X射线波长。采用较低

的管电压时可以得到波长较长的X射线，从而提高了主因对比度，亦即提高了敏捷

度，因此在也许的条件下尽量采用较低的管电压，也就是较软的X射线，对提高敏捷

度是有益的。

80.焦距对射线检查的敏捷度有何影响？答：重要表目前四个方面：①焦距的大小会

引起缺陷投影的畸变，焦距越小，缺陷投影畸变越大，因此从减小缺陷畸变考虑，选

用较大焦距为好；②焦距的大小会引起零件沿射线方向厚度的变化，这是由于射线束

成圆锥形扩散，引起零件边缘沿射线方向厚度增长，导致零件在底片上的黑度不均

匀，用K表达边缘部位与中间部位沿射线方向的厚度比，即K值越大，零件中间部位

与边缘部位沿射线方向的厚度差值越大，使底片黑度越不均匀，对射线检查敏捷度影

响越大，选用较大的焦距可有效地减小K值（一般规定K值越小越好，最佳不超过

1.1）,对敏捷度有利；③焦距大小队几何模糊度的影响，几何模糊度Ug的存在使缺

陷边缘轮廓模糊，减少了底片的清晰度和缺陷对比度，因此焦距越大则Ug越小，检

查敏捷度越高：④焦距大小对散射线的影响，焦距增大必然导致曝光量要增长，在管

电流一定的状况下只能增长曝光时间，除了减少工作效率外，也会使得散射线作用时

间增长而影响底片清晰度，减少了检查敏捷度。因此，从前三项而言，增大焦距对提

高检查敏捷度有利，但从散射线影响的原因来说，提高焦距对敏捷度是不利的，故在

确定焦距参数时应予以全面综合考虑，选择合适的焦距。

81.什么是增感和增感系数？

答：增感即是增长胶片的感光量，从而可以相对地缩短对胶片的曝光时间。增感系数

用于阐明增感屏的作用程度，也称增感原因，它是在所有条件不变的状况下，使底片

得到相似黑度时，不使用增感屏所需曝光时间七与使用增感屏所需曝光时间t2之

比；K=t/tz,不过此增感系数K并不是一种固定不变的值，它随使用的X射线波长和

所取底片黑度的不一样而变化的。

82.影响射线检测透照敏捷度的诸原因有哪些？

答：使用的X射线机性能；使用的X射线胶片性能质量与暗室处理条件；增感屏的选

用；散射线的防护措施；零件的材料、尺寸和形状，缺陷的性质、尺寸、形状和方

向；管电压、管电流、曝光时间与焦距的选用。

83.常见的曝光曲线有哪些形式？

答：常见的曝光曲线形式有：曝光量和管电压随材料厚度变化的曲线：管电压对材料

厚度变化的曝光曲线。

84.工业X射线电视的优缺陷怎样？

答：长处：可以直观地观澳物体动态或静态状况下的内部构造与缺陷；使用经济、简

便、效率高；可用于流水作业，便于实现X射线检查自动化。缺陷：其检测敏捷度一

般较X射线摄影法低；对形状复杂的零件检查有困难；初始投入较高。

85.工业CT的全称是什么？答：工业用计算机控制层析X射线摄影装置

86.用黑度计测定的底片黑度是一种综合的表观值，它包括了什么原因在内？答：包

括了工件对比度和胶片对比度

87.某钢板厚度30mm的对接焊缝射线摄

影，在射线底片上发现如右图显示的圆形

瑕疵分布，按（）原则，该焊缝应鉴定为

几级？

（按出题人确定的原则作答）

88.某钢板厚度30mm的对接焊缝射线摄

影，在射线底片上发现如右图显示的圆形

瑕疵和线形瑕疵，按（）原则，该焊缝应

鉴定为几级？

（按出题人确定的原则作答）

89.右图

为某合金

钢板对接

焊缝，V

型坡口，

焊接方

式：气体

保护焊一

筲极氢弧

焊，判断

影像中缺

陷的性

质。

答：横裂

纹

90.右图

为某钛合

金板对接

焊缝，V

型坡口，

焊接方

式：筲极

氨弧焊，

判断影像

中缺陷的

性质。

答：夹鸨

91.右图

为某钢板

对接焊

缝，V型

坡口，焊

接方式：

手工电弧

焊，判断

影像中缺

陷的性

质。

答：密集

气孔

92.右图

为某钢板

对接焊

缝，V型

坡口，焊

接方式：

手工电弧

焊，判断

影像中缺

陷的性

质。

答：局部

夹渣

93.右图

为某钢板

对接焊

缝，V型

坡口，焊

接方式；

手工电弧

焊，判断

影像中缺

陷的性

质。

未

智

焊

做

透

入

性

局}

94.右图

为某钢板

对接焊

缝，V型

坡口，焊

接方式：

手工电弧

焊，判断

影像中缺

陷的性

质。

答：线状

夹渣

95.右图

为某厚度

14mm低

合金钢板

对接焊

缝，X型

坡口，焊

接方式：

自动焊，

判断影像

中缺陷的

性质。

答：纵向

裂缝

96.右图

为某钢板

对接焊

缝，V型

坡口，焊

接方式：

手工电弧

焊，判断

影像中缺

陷的性

质。

答：树枝

状伪缺陷

97.右图

为某钢板

对接焊

缝，V型

坡口，焊

接方式：

手工电弧

焊，判断

影像中缺

陷的性

质。

答：蜘蛛

状伪缺陷

98.什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷的来源。

［提醒］:由于胶片自身质量、胶片保管、剪切、装取、暗室操作处理不妥，以及操作

者其他操作不慎等原因，在底片上留下可辨别的影像，但并非是被检查工件缺陷在底

片上留下的影像，称之为伪缺陷。伪缺陷的来源包括机械损伤或表面附着物形成（如

指纹、折痕、划伤、水印等），或者是由化学作用形成（如漏光、感光、药物玷污

等），大体上可以分为来源于胶片自身的制造质量与储运、保管，来源于增感屏制造

质量及损伤导致的增感不均匀或受过可见光线照射过的荧光增感屏的受激荧光影响

等，来源于胶片裁切、包装、摄影及冲洗过程中的漏光、手即、静电、划伤或局部折

伤等；来源于暗室处理中的玷污、处理不均匀、水迹、指纹、气泡、药水老化失效、

操作程序不妥等等

99.什么是“摄影灰雾（Photographicfog）”和“曝光灰雾（exposurefog）”？

［提醒］:摄影灰雾是由于乳剂和冲洗条件导致的灰雾，即是狡片固有灰雾与显影时的

化学灰雾的总和；曝光灰雾则是由于胶片受到不需要的电离辐射或可见光波的曝光而

导致的灰雾

100.什么是影响射线摄影影象质量的三要素？答：影响射线摄影影像质量的三个要素

是：对比度、清晰度、颗粒度。射线摄影对比度定义为底片影像中相邻区域的黑度

差。射线摄影清晰度定义为底片影像中不一样黑度区域间分界线的宽度。用来定量描

述清晰度的量是“不清晰度”。射线摄影颗粒度定义为对视觉产生影响的底片影像黑

度的不均匀程度。

101.什么叫主因对比度？什么叫胶片对比度？它们与射线摄影对比度的关系怎样？

答：由于不一样区域射线强度存在差异所产生的对比度称为主因对比度，其数学体现

式为：△1/1产（卜△T）/（l+n）