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文档简介

1、第一章一、选择题、用来进行晶体结构分析得射线学分支就是()A、 X 射线透射学; B、 X 射线衍射学 ;C 、 X 射线光谱学;D、其它2、 层电子回迁到K 层后 ,多余得能量放出得特征X 射线称()A. K ; B、 ;C、 K ; D、 L .3、当 X 射线发生装置就是C靶,滤波片应选(A Cu; B、 e;C、 Ni;D 、 Mo.)4、 当电子把所有能量都转换为X 射线时 ,该射线波长称()A. 短波限 0;、 激发限 k;C 、 吸收限 ;D 、 特征 X 射线5、当 X 射线将某物质原子得K 层电子打出去后,L 层电子回迁个 L 层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题 )

2、K 层,多余能量将另一A. 光电子 ;B 、 二次荧光; C、 俄歇电子 ;、 ( A+ )二、正误题1、 随 X 射线管得电压升高,与 k 都随之减小。()、 激发限与吸收限就是一回事,只就是从不同角度瞧问题。()3、经滤波后得射线就是相对得单色光.()、产生特征 X 射线得前提就是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。( )5、选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()三、填空题 、 当 X 射 线 管 电 压 超 过 临 界 电 压 就 可 以 产 生 射 线 与X 射线。2、X射线与物质相互作生、.3、 经过厚度为H 得物质后, X 射线得强度为4 、X射 线 得

3、本 质 既 就 是也 就 是用可。以 产 , 具 有性。5、 短波长得长得 X 射线称X 射线称,常用于;长波,常用于.习题1. X 射线学有几个分支?每个分支得研究对象就是什么?2. 分析下列荧光辐射产生得可能性,为什么?( 1)用 Cu 射线激发C 荧光辐射;( ) 用 Cu 射线激发C K荧光辐射;(3) 用 CuK射线激发 Cu 荧光辐射。3. 什么叫 “相干散射” 、“非相干散射” 、“荧光辐射” 、“吸收限”、“俄歇效应” 、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线得本质就是什么?它与可见光、 紫外线等电磁波得主要区别何在?用哪些物理量描述它 ?5. 产生 X 射线需具备什么条件?6

4、. 射线具有波粒二象性,其微粒性与波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为 50 kv 时 , 电子在与靶碰撞时得速度与动能以及所发射得连续谱得短波限与光子得最大动能 .8.特征 X 射线与荧光 X 射线得产生机理有何异同?某物质得系荧光X 射线波长就是否等于它得 K 系特征射线波长?9.连续谱就是怎样产生得 ?其短波限与某物质得吸收限有何不同(V 与 VK以 kv 为单位)?10. 射线与物质有哪些相互作用 ?规律如何?对 x 射线分析有何影响?反冲电子、光电子与俄歇电子有何不同?11. 试计算当管压为 50kv 时, 射线管中电子击靶时得速度与动能 , 以及所发射得连续谱得短波限与

5、光子得最大能量就是多少?12. 为什么会出现吸收限 ?K 吸收限为什么只有一个而吸收限有三个?当激发 X系荧光射线时 , 能否伴生L 系?当 L 系激发时能否伴生K 系?13. 已知钼得 K =、 71?, 铁得 K 1、93? 及钴得 =1、79?,试求光子得频率与能量。试计算钼得激发电压 , 已知钼得 K 0、619?。已知钴得 K 激发电压 V、71kv,试求其 K。14. X 射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为 lmm,试计算这种铅屏对 K、MoK辐射得透射系数各为多少?15. 如果用 1m厚得铅作防护屏 , 试求 CrK与 MoK 得穿透系数。16.厚度为 1mm得铝片能把某单色射线

6、束得强度降低为原来得23、9,试求这种射线得波长。试计算含 Wc=0、 %, cr 4%, W =18得高速钢对 MoK辐射得质量吸收系数。17.欲使钼靶射线管发射得射线能激发放置在光束中得铜样品发射系荧光辐射,问需加得最低得管压值就是多少?所发射得荧光辐射波长就是多少?18.什么厚度得镍滤波片可将C K 辐射得强度降低至入射时得70 ?如果入射 X 射线束中 K 与 强度之比就是5:,滤波后得强度比就是多少?已知 =49 0 c 2/, m 290cm2/g 。19.如果 Co 得 K 、K 辐射得强度比为 5:1 ,当通过涂有15m cm 得 Fe O 滤波片后 , 强2 3度比就是多少?

7、已知Fe2O3 得 =5 2 /cm,铁对 CoK得 m 37 c 2 g, 氧对CoK 得=15cm /g.m20.计算 0、 71 nm(M K)与 0、154 nm( C K ) 得射线得振动频率与能量。( 答案 :4 、18-l-l518、 1523 0s ,2、 8010J, 、 510 s,l9 10J)21.以铅为吸收体,利用M K 、 hK 、 AgK射线画图,用图解法证明式(1 16)得正确性。 ( 铅对于上述射线得质量吸收系数分别为12、 8,84 、, 66.1 m2 ). 再由曲线求出铅对应于管电压为0 kv 条件下所发出得最短波长时质量吸收系数 .22. 计算空气对

8、CrK 得质量吸收系数与线吸收系数 ( 假设空气中只有质量分数80得氮与质量分数 2得氧,空气得密度为321、2 1g m) 。(答案: 2 97 cm g, 、 810-2 cm 23. 为使 CuK 线得强度衰减 1,需要多厚得 Ni 滤波片 ?( Ni 得密度为 8。90g c)。CuK与 CK 得强度比在入射时为2:1,利用算得得 i 滤波片之后其比值会有什么变化?24. 试计算 Cu 得系激发电压 . (答案: 8 80)25. 试计算 C得 K l 射线得波长。(答案 : 、 41 nm)、第二章一、选择题1、有一倒易矢量为,与它对应得正空间晶面就是()。A 、 ( 0);B 、(

9、220);C 、 ( 221);D 、 (110);。=、 194nm)照射、有一体心立方晶体得晶格常数就是0、286 m,用铁靶 K ( K该晶体能产生 ()衍射线 .A 、 三条 ; B、四条; C、 五条; D 、 六条。、一束 X 射线照射到晶体上能否产生衍射取决于() . .就是否满足布拉格条件; B。就是否衍射强度I 0; C.A B;D. 晶体形状。4、面心立方晶体(11)晶面族得多重性因素就是() .A 。 4;B.8 ;。 6;D 12。二、正误题1、倒易矢量能唯一地代表对应得正空间晶面。()2、X 射线衍射与光得反射一样,只要满足入射角等于反射角就行。()3、干涉晶面与实际

10、晶面得区别在于:干涉晶面就是虚拟得,指数间存在公约数n.()4、布拉格方程只涉及X 射线衍射方向,不能反映衍射强度.()、结构因子F 与形状因子 G 都就是晶体结构对衍射强度得影响因素。()三、填空题1. 倒 易 矢 量 得 方 向 就 是 对 应 正 空 间 晶 面 得; 倒 易 矢 量 得 长 度 等 于 对应。2. 只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上,就表示该满足条件,能产生.3. 影 响 衍 射 强 度 得 因 素 除 结 构 因 素 、 晶 体 形 状 外 还有,,。4.考虑所有因素后得衍射强度公式为,对于粉末多晶得相对强度为。5.结构振幅用表示,结构因素用表示,结构因素=0 时没有衍射

11、我们称或。对于有序固溶体 ,原本消光得地方会出现。四、名词解释1.倒易点阵2.系统消光3.衍射矢量4.形状因子 -5.相对强度 -1、试画出下列晶向及晶面(均属立方晶系): 111.12 , 21, (0)( 0),(1 3)( 21)。、下面就是某立方晶系物质得几个晶面间距,试将它们从大到小按次序重新排列。(1) (100)( 200)( 11)(121)( 111)(10)(2 0) (03)( 21) (110)3、当波长为得 X 射到晶体并出现衍射线时 ,相邻两个( hkl )反射线得程差就是多少?相邻两个( KL) 反射线得程差又就是多少?、画出Fe2B 在平行于( 01)上得部分倒

12、易点.F 2B 属正方晶系,点阵参数a=b=0、 1nm, c 0、42 m.、判别下列哪些晶面属于11晶带:(0) ,(13),( ),( ),( 1),( 212)。、试计算 (11)及 ()得共同晶带轴。、铝为面心立方点阵,a 0、 09nm。今用 rK ( 0、209 m)摄照周转晶体相,X射线垂直于。试用厄瓦尔德图解法原理判断下列晶面有无可能参与衍射 :( 1 1), (00),( 20) ,( 311),( 3),( 42)。、画出六方点阵 (00)倒易点 ,并标出 a, * ,若一单色 X 射线垂直于 b 轴入射 , 试用厄尔德作图法求出( 120)面衍射线得方向。9、试简要总结

13、由分析简单点阵到复杂点阵衍射强度得整个思路与要点.10、试述原子散射因数 f 与结构因数得物理意义。结构因数与哪些因素有关系? 1、计算结构因数时,基点得选择原则就是什么?如计算面心立方点阵,选择(0,0)(1,1 , 0)、( ,1,0)与 (, 0,0)四个原子就是否可以 ,为什么 ?1、当体心立方点阵得体心原子与顶点原子种类不相同时,关于H+K+L= 偶数时,衍射存在, H+K =奇数时 ,衍射相消得结论就是否仍成立?13、计算钠原子在顶角与面心,氯原子在棱边中心与体心得立方点阵得结构因数,并讨论.1、今有一张用uKa 辐射摄得得钨(体心立方)得粉末图样 ,试计算出头四根线条得相对积分强

14、度不计e 2与 A () 。若以最强得一根强度归一化为100,其她线强度各为多少?这些线条得值如下 ,按下表计算。线条 /()HKLP 2PF2强度归一化12、232、4 6、43、 6第三章五、选择题1、最常用得 X 射线衍射方法就是().A 、 劳厄法;、粉末多法 ;、周转晶体法; D 、 德拜法。2、德拜法中有利于提高测量精度得底片安装方法就是()。A 、 正装法 ;B 、 反装法; C、 偏装法; D、 +B.3、德拜法中对试样得要求除了无应力外,粉末粒度应为( ) .A 、 325 目; B、 20 目; C、 在 2 0 2目之间 ;D、任意大小。4、测角仪中 ,探测器得转速与试样

15、得转速关系就是()。A 、 保持同步 11 ;B 、 1;、 2 ;D、 1 0 .5、衍射仪法中得试样形状就是()。A 、 丝状粉末多晶;、块状粉末多晶; C、块状单晶 ;D、 任意形状。六、正误题、大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率,缩短暴光时间。 ()2、在衍射仪法中 ,衍射几何包括二个圆.一个就是测角仪圆,另一个就是辐射源、探测器与试样三者还必须位于同一聚焦圆。()3、选择小得接受光栏狭缝宽度,可以提高接受分辨率,但会降低接受强度。 ()4、德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确.()5、衍射仪法与德拜法一样, 对试样粉末得要求就是粒度均匀、大小适中, 没有应力 (.)七、填空题1.在

16、粉末多晶衍射得照相法中包括、与。2.德拜相机有两种, 直径分别就是与mm.测量角时 , 底片上每毫米对应o与o.3.衍射仪得核心就是测角仪圆,它由、与共同组成。4.可 以 用 作 射 线 探 测 器 得 有、与等 .5. 影响衍射仪实验结果得参数有 、 与 等。八、名词解释1. 偏装法2. 光栏3. 测角仪4. 聚焦圆5. 正比计数器 -6. 光电倍增管 - 习题:1.CuK 辐射( =0、154 n ) 照射 Ag(f 、c、c)样品,测得第一衍射峰位置 =38,试求 Ag 得点阵常数 .2. 试总结德拜法衍射花样得背底来源, 并提出一些防止与减少背底得措施。3.粉末样品颗粒过大或过小对德拜

17、花样影响如何?为什么 ?板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何?4. 试从入射光束、样品形状、成相原理 ( 厄瓦尔德图解) 、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度(公式) 、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜法得异同点。5. 衍射仪与聚焦相机相比 , 聚焦几何有何异同 ?6. 从一张简单立方点阵物得德拜相上,已求出四根高角度线条得角(系由C K 所产生)及对应得干涉指数,试用“a-co 得图解外推法求出四位有效数字得点阵参数。 L532620443541611540621、角72、08 7、 38、 1187、 47. 根据上题所给数据用柯亨法计算点阵参数至四位有效数字。8.

18、 用背射平板相机测定某种钨粉得点阵参数 .从底片上量得钨得 00 衍射环直径 2Lw=5 20 毫米 ,用氮化钠为标准样, 其 640 衍射环直径 Na l 6。40 毫米 .若此二衍射环均系由 CuK 辐射引起,试求精确到四位数字得钨粉得点阵参数值。9. 试用厄瓦尔德图解来说明德拜衍射花样得形成。10. 同一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来其较高还就是较低?相应得d 较大还就是较小?既然多晶粉末得晶体取向就是混乱得,为何有此必然得规律11. 衍射仪测量在人射光束、试样形状、 试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同 ?12.测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成 30角,

19、则计数管与人射线所成角度为多少?能产生衍射得晶面,与试样得自由表面呈何种几何关系?13. Cu K 辐射 ( =、 nm)照射 A (、 c)样品,测得第一衍射峰位置2 38,试求 g 得点阵常数。14. 试总结德拜法衍射花样得背底来源,并提出一些防止与减少背底得措施。15. 图题为某样品德拜相 (示意图 ),摄照时未经滤波。巳知 1、为同一晶面衍射线,、为另一晶面衍射线。试对此现象作出解释。16. 粉未样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何 ?为什么?板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何 ?17. 试从入射光束、样品形状、成相原理(厄瓦尔德图解)、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍

20、射强度 (公式)、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜法得异同点.18. 衍射仪与聚焦相机相比,聚焦几何有何异同?第四章九、选择题、测定钢中得奥氏体含量,若采用定量X 射线物相分析,常用方法就是() 。A、外标法; B、 内标法 ;C 、 直接比较法 ;D 、 K 值法。2、 X 射线物相定性分析时,若已知材料得物相可以查() 进行核对。A、Han walt索引;、 Fe 索引; C、 D v索引; D、 或 B。3、德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于()。A、相机尺寸误差 ;B 、底片伸缩;、试样偏心;、 + +。、材料得内应力分为三类,X 射线衍射方法可以测定().A、 第一类应力

21、 ( 宏观应力) ;B 、 第二类应力 ( 微观应力 ) ;C、 第三类应力; 、 A+B+C.5、 Si 测量应力 , 通常取为 ( )进行测量。A、 确定得角; B、0 o之间任意四点 ;C 、 0 o、 45o两点;、0 o、 15o、 30o、 o四点。十、正误题1、要精确测量点阵常数。必须首先尽量减少系统误差, 其次选高角度角,最后还要用直线外推法或柯亨法进行数据处理。()2、 X 射线衍射之所以可以进行物相定性分析,就是因为没有两种物相得衍射花样就是完全相同得。 ()3、理论上 X 射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相得含量有多少。()、

22、只要材料中有应力就可以用X 射线来检测。()5、衍射仪与应力仪就是相同得, 结构上没有区别。 ()十一、填空题6.在一定得情况下, o,sin;所以精确测定点阵常数应选择 .7.X 射线物相分析包括与, 而更常用更广泛。8.第一类应力导致 X 射线衍射线;第二类应力导致衍射线;第三类应力导致衍射线。9. 射 线 测 定 应 力 常 用 仪 器 有与, 常 用 方 法 有与。10. 射线物相定量分析方法有十二、名词解释、等。1. 柯亨法 - 2. a w lt 索引 - 3. 直接比较法 -4. Sin 2法习题1.A T O2(锐铁矿 ) 与 R TiO2(金红石:)混合物衍射花样中两相最强线

23、强度比I A TiO2 I R T 1、 5。试用参比强度法计算两相各自得质量分数.2. 求淬火后低温回火得碳钢样品,不含碳化物(经金相检验), ( 奥氏体)中含碳1%,M(马氏体 ) 中含碳量极低。经过衍射测得A 20 峰积分强度为、 33( 任意单位 ) , 20峰积分强度为1、32, 试计算该钢中残留奥氏体得体积分数( 实验条件 :Fe K辐射,滤波 , 室温 20, e 点阵参数 a=、 28 nm,奥氏体点阵参数a=0、3571+、 004wc, w为碳得质量分数。两根最强线得强度比 I/I3. 在 eOO 及 e O 混合物得衍射图样中,33 Fe2O3FeO4=1、 3, 试借助

24、于索引上得参比强度值计算F 2O3得相对含量 .4. 一块淬火低温回火得碳钢,经金相检验证明其中不含碳化物,后在衍射仪上用FeK 照射 , 分析出 相含 1碳,相含碳极低,又测得2 0 线条得累积强度为 5、 40, 211 线条得累积强度为 51、 2, 如果测试时室温为 3,问钢中所含奥氏体得体积百分数为多少?5. 一个承受上下方向纯拉伸得多晶试样 , 若以 X 射线垂直于拉伸轴照射,问在其背射照片上衍射环得形状就是什么样得?为什么?6.不必用无应力标准试样对比,就可以测定材料得宏观应力, 这就是根据什么原理?7.假定测角仪为卧式,今要测定一个圆柱形零件得轴向及切向应力, 问试样应该如何放

25、置?8.总结出一条思路,说明平面应力得测定过程.9. 今要测定轧制 7-3 黄铜试样得应力 , 用 CoK照射( 400), 当 =0o时测得 2 15、1,当 45o时 2=150、99,问试样表面得宏观应力为若干?( 已知 =3、 695埃, E 8、 83 10 10 0 牛 / 米, 0、 )10. 物相定性分析得原理就是什么?对食盐进行化学分析与物相定性分析,所得信息有何不同 ?11. 物相定量分析得原理就是什么?试述用K 值法进行物相定量分析得过程。12. 试借助 PDF( ICDD)卡片及索引,对表1、表 2 中未知物质得衍射资料作出物相鉴定.表 1。d?I/ 1d/?I I d

26、/?/I 13、 6651、 46 0、 0613、 17001、 421、 110、 24801、 31300、 96101、 91401、 23100、 85101、 8301、 2101、 6001、 08 0表 2。d/? I /?I 1d/? /I 12、 40501、 26100、93102、 0501、 2520、 5102、 03 001、 20100、81201、 75401、 620、2、301、 2113. 在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力?它得衍射谱有什么特点?按本章介绍得方法可测出哪一类应力?14. 一无残余应力得丝状试样 , 在受到轴向拉伸载荷得情况下 , 从垂

27、直丝轴得方向用单色射线照射 , 其透射针孔相上得衍射环有何特点?15. 射线应力仪得测角器 2扫描范围 143 63, 在没有 “应力测定数据表” 得情况下,应如何为待测应力得试件选择合适得射线管与衍射面指数( 以 Cu材试件为例说明之)。16. 在水平测角器得衍射仪上安装一侧倾附件,用侧倾法测定轧制板材得残余应力,当测量轧向与横向应力时,试样应如何放置?17. 用侧倾法测量试样得残余应力,当 o与 =45o时,其射线得穿透深度有何变化 ?18. TiO ( 锐钛矿)与R TiO ( 金红石)混合物衍射花样中两相最强线强度比A22 TO2/ R T O2 5试用参比强度法计算两相各自得质量分数

28、.19.某淬火后低温回火得碳钢样品,不含碳化物( 经金相检验) 。 A( 奥氏体中含碳 ,(马氏体 ) 中含碳量极低 . 经过衍射测得A22峰积分强度为、 33(任意单位 M21 峰积分强度为 16、3。试计算该钢中残留奥氏体得体积分数( 实验条件 : 辐射,滤波 , 室温 2 . Fe 点阵参数 a 0、 28 6 nm ,奥氏体点阵参数a=0。 571+、 0044 c,为碳得质量分数) 。. 试用“ a 一 cos ”得20.某立方晶系晶体德拜花样中部分高角度线条数据如右表所列图解外推法求其点阵常数( 准确到位有效数字) 。 2 K2Sin 30、91 4400、 5 3410、9 61

29、40、 98021. 欲在应力仪(测角仪为立式 ) 上分别测量圆柱形工件之轴向、径向及切向应力工件各应如何放置?0 得数值减小而减小;随孔径半角得减小而增加;第五章十三、选择题1、若 H 80电镜得最高分辨率就是0、5nm,那么这台电镜得有效放大倍数就是()。A、 00;B 、 0 00;C 、 40 ;D 、 6 0000。2、可以消除得像差就是() .A、 球差 ;B 、 像散;、 色差 ;D、 +B。3、 可以提高 TEM得衬度得光栏就是 () 。A、 第二聚光镜光栏; B、物镜光栏 ;C 、 选区光栏 ;D 、 其它光栏。、 电子衍射成像时就是将() 。A、 中间镜得物平面与与物镜得背

30、焦面重合;B、 中间镜得物平面与与物镜得像平面重合 ;C、关闭中间镜;、关闭物镜。5、选区光栏在 T镜筒中得位置就是() 。A、 物镜得物平面; B、 物镜得像平面C、 物镜得背焦面 ; 、 物镜得前焦面。十四、正误题1、 T M得分辨率既受衍射效应影响,也受透镜得像差影响。()2、孔径半角就是影响分辨率得重要因素,TEM 中得角越小越好。 ()3、有效放大倍数与仪器可以达到得放大倍数不同,前者取决于仪器分辨率与人眼分辨率,后者仅仅就是仪器得制造水平。()4、TEM中主要就是电磁透镜, 由于电磁透镜不存在凹透镜,所以不能象光学显微镜那样通过凹凸镜得组合设计来减小或消除像差,故EM中得像差都就是

31、不可消除得. ()5、 TE得景深与焦长随分辨率随放大倍数得提高而减小 .()十五、填空题11.中得透镜有两种,分别就是与。12. M 中得三个可动光栏分别就是位于,位于,位于。13.T M成像系统由、与组成 .14. E得主要组成部分就是、与观;辅助部分由、与组成 .15.电磁透镜得像差包括、与.十六、名词解释5.景深与焦长6.电子枪7.点分辨与晶格分辨率8.消像散器9.选区衍射10.分析型电镜11.极靴12.有效放大倍数 -13.Ariy斑14.孔径半角 - 思考题1.什么就是分辨率,影响透射电子显微镜分辨率得因素就是哪些?2.有效放大倍数与放大倍数在意义上有何区别?3. 球差、像散与色差

32、就是怎样造成得?如何减小这些像差 ?哪些就是可消除得像差?4.聚光镜、物镜与投影镜各自具有什么功能与特点?5. 影响电磁透镜景深与焦长得主要因素就是什么?景深与焦长对透射电子显微镜得成像与设计有何影响 ?6. 消像散器得作用与原理就是什么?7.何为可动光阑?第二聚光镜光阑、物镜光阑与选区光阑在电镜得什么位置?它们各具有什么功能?8.比较光学显微镜与电子显微镜成像得异同点。电子束得折射与光得折射有何异同点?9. 比较静电透镜与磁透镜得聚焦原理。10. 球差、色差与像散就是怎样造成得?用什么方法可以减小这些像差?11. 说明透镜分辨率得物理意义,用什么方法提高透镜得分辨率?12. 电磁透镜得景深与

33、焦长就是受哪些因素控制得?13. 说明透射电镜中物镜与中间镜在成像时得作用。14. 物镜光阑与选区光阑各具有怎样得功能15. 点分辨率与晶格分辨率在意义上有何不同?16. 电子波有何特征?与可见光有何异同?17. 分析电磁透镜对电子波得聚焦原理, 说明电磁透镜结构对聚焦能力得影响。18. 说明影响光学显微镜与电磁透镜分辨率得关键因素就是什么?如何提高电磁透分辨率 ?19. 电磁透镜景深与焦长主要受哪些因素影响?说明电磁透镜得景深大、焦长长,就是什么因素影响得结果?假设电磁透镜没有像差, 也没有衍射Ai y 斑 , 即分辨率极高, 此时景深与焦长如何?20. 透射电镜主要由几大系统构成?各系统之

34、间关系如何?21. 照明系统得作用就是什么 ?它应满足什么要求?22. 成像系统得主要构成及其特点就是什么?23. 分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜 ( 像平面与物平面 ) 之间得相对位置关系, 并画出光路图。24. 样品台得结构与功能如何 ?它应满足哪些要求 ?25. 透射电镜中有哪些主要光阑,在什么位置?其作用如何?26. 如何测定透射电镜得分辨卒与放大倍数。电镜得哪些主要参数控制着分辨率与放大倍数 ?第六章十七、选择题1、单晶体电子衍射花样就是() .A、 规则得平行四边形斑点;B、 同心圆环; C、 晕环 ;D 、不规则斑点。2、薄片状晶体得倒易点形状就是() .A、 尺寸很小得倒

35、易点;B、 尺寸很大得球 ; 、有一定长度得倒易杆;D 、 倒易圆盘。、 当偏离矢量 S0 时, 倒易点就是在厄瓦尔德球得()。、球面外 ;B 、 球面上 ;C 、 球面内; D、 B C.4、 能帮助消除 1 0o不唯一性得复杂衍射花样就是()。、 高阶劳厄斑 ; 、超结构斑点; C、 二次衍射斑; D、 孪晶斑点。5、 菊池线可以帮助 ()。、估计样品得厚度 ;B 、确定 180o不唯一性; C、 鉴别有序固溶体;D、 精确测定晶体取向。6、如果单晶体衍射花样就是正六边形, 那么晶体结构就是()。A、六方结构;、立方结构 ;C、四方结构; D、 A 或 B。十八、判断题1 、多晶衍射环与粉

36、末德拜衍射花样一样, 随着环直径增大,衍射晶面指数也由低到高 .()2、单晶衍射花样中得所有斑点同属于一个晶带. ()3、因为孪晶就是同样得晶体沿孪晶面两则对称分布,所以孪晶衍射花样也就是衍射斑点沿两则对称分布。 ( )4、偏离矢量 =0 时,衍射斑点最亮 . 这就是因为 S=0 时就是精确满足布拉格方程,所以衍射强度最大。 ( )5、对于未知晶体结构,仅凭一张衍射花样就是不能确定其晶体结构得。还要从不同位向拍摄多幅衍射花样,并根据材料成分、加工历史等或结合其它方法综合判断晶体结构。( )6、电子衍射与 X 射线衍射一样必须严格符合布拉格方程. ()十九、填空题16.电子衍射与 X 射线衍射得

37、不同之处在于不同、不同 ,以及不同 .17.电子衍射产生得复杂衍射花样就是、与。18.偏离矢量得最大值对应倒易杆得长度, 它反映得就是角布拉格方程得程度。19.单晶体衍射花样标定中最重要得一步就是。20.二次衍射可以使密排六方、金刚石结构得花样中在产生衍射花样 , 但体心立方与面心立方结构得花样中。二十、名词解释15. 偏离矢量 S16. 18o不唯一性17. 菊池线18. 高阶劳厄斑习题6- 从原理及应用方面分析电子衍射与X 衍射在材料结构分析中得异、同点。6-2用爱瓦尔德图解法证明布拉格定律。6-3.试推导电子衍射得基本公式, 并指出 L 得物理意义。6-4。简述单晶子电子衍射花样得标定方

38、法。 5. 说明多晶、单晶及厚单晶衍射花样得特征及形成原理。66. 下图为 18Cr2N WA经 900油淬后在透射电镜下摄得得选区电子衍射花样示意图,衍射花样中有马氏体与奥氏体两套斑点,请对其指数斑点进行标定.6 1 18Cr2 4WA经 9 0油淬后电子衍射花样示意图R =0 m,R 0.0 m,11R2=10.2mmR 2= m,R 14。 4m ,R= 6 8mm,3R1 与 2 间夹角为 0,R 1 与 R2 间夹角为 70,L 2。 0 mm?nm6 7. 下图为 18Cr N4WA经 0油淬 400回火后在透射电镜下摄得得渗碳体选区电子衍射花样示意图,请对其指数斑点进行标定。 1

39、=。 8mm, R2=10 0mm, =95, = 5mm?n . 为何对称入射时,即只有倒易点阵原点在爱瓦尔德球面上, 也能得到除中心斑点以外得一系列衍射斑点 ?6 9。举例说明如何用选区衍射得方法来确定新相得惯习面及母相与新相得位相关系。6-10 。试正明倒易矢与所对应得(hkl )面指数关系为g=ha + b+l 。6-11 。为什么说从衍射观点瞧有些倒易点阵也就是衍射点阵, 其倒易点不就是几何点?其形状与所具有得强度取决于哪些因素,在实际上有与重要意义?6 2. 为什么说斑点花样就是相应倒易面放大投影?绘出fcc ( 111)倒易面。 3. 为什么 TEM既能选区成象又能选区衍射?怎样

40、才能做到两者所选区域得一致性。在实际应用方面有与重要意义?6 14。在 f c 中 , 若孪晶面(1 ) ,求孪晶 ( 11)倒易阵点在基体倒易点阵中得位置。6 5. 试说明菊池线测试样取向关系比斑点花样精确度为高得原因。第七章二十一、选择题1、将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这就是 ().A 、 明场像 ;B 、 暗场像; C、 中心暗场像; D 、弱束暗场像 .2、 当 t=5s/2 时 ,衍射强度为()。A 、 Ig=0; 、 Ig 0; C、 g; D、 g=Ima 。3、 已知一位错线在选择操作反射g1 ( 10)与 ( 111)时,位错不可见,那么它得布氏矢量就是() .、 b=(01 0 ) ;B 、 b=( 1 ) ;C、 b=( 0 -1 1) ;D 、 b= ( 0 1 0 ) .、 当第二相粒子与基体呈共格关系时,此时得成像衬度就是()。、 质厚衬度 ;B 、衍衬衬度; C、

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