ODC缺陷分类法

1、领测技术（EzTester）简介,正交缺陷分类法,Approved by WAYNE Work StudioAt 2007/05/18,1,ODC方法的发展历史,1990年,由IBM的T.J.Watson研究发明,1997年,完成基本理论体系建设,1998年后,在IBM内部和业界推行，产生数亿美元的质量成本收益,ODC : Orthogonal Defect Classification 正交缺陷分类法,2,理解ODC,ODC : Orthogonal Defect Classification 正交缺陷分类法,软件缺陷：指的是软件工作产品的不足或不完美之处。 软件工作产品：指的是软件过程所创

2、造的一切产物，包括计算机程序、计划、流程、及所有相关的文档和数据。 软件过程：是人们用以开发和维护软件工作产品的一系列活动、方法、实践和转换。 软件故障：指的是软件缺陷在一定的输入条件下被激活的结果，它在无适当容错措施的情况下造成失效。 软件失效：指的是软件执行过程中系统行为与用户需求的偏离。 何谓正交？,0 x,X,Y,Y,X,Z,3,ODC分类方法,触发因素,问题发现活动,验证,开发,开发,验证,结果影响,严重程度,原因,结果,定位,责任来源,问题位置,缺陷年龄,缺陷类型,内容类型,缺陷界定,问题根源对象,4,什么是ODC？,ODC技术： 结合了根原因分析和统计建模(Statistical

3、 Modeling) 两种软件缺陷分析技术的优势。 提供了一套用于捕获缺陷数据关键特性的方案，并给出对分类的缺陷数据集进行分析的指导。 可以帮助我们全面了解缺陷，从而采取最有效的措施来改进软件开发过程中的不足，不断地提高软件产品质量。 ODC统计分析可以： 准确确定产品主要质量问题区域 识别缺陷引入和去除过程的重点改进对象 实现对过程和产品的精确改进指导,5,ODC数据分析,通过数据分析，以便知道应该怎么样 和 进行什么样的改进,6,ODC的好处,7,ODC使用模型,8,ODC属性分配,9,ODC缺陷分析方法,检视发现的主要是一般问题,压力测试发现一个致命问题,10,ODC缺陷分析方法,11,

4、ODC参考资源,ODC官方网站： Improving software testing via ODC: Three case studies. M. Butcher, H. Munro, T. Kratschmer. IBM SYSTEMS JOURNAL, VOL 41, NO 1, 2002 A Comparison of IBMs Orthogonal Defect Classification to Hewlett Packards Defect Origins, Types, and Modes. Jon T. Huber, 1999 ODC(Orthogonal Defect Classification)简介，冯涛，2005.11 采用ODC改善软件质量：一个案例研究，YangGu，2006.10 Orthogonal Defect Classification: A Concept for In-Process Measurements. Ram Chillarege,etc.