材料测试分析答案汇总.doc

晶族晶系晶胞参数面间距低级正交单斜三斜，=90， =90，90，90中级三方四方六方a=b=c,=90，=90，=90，=120高级立方，=901.晶体如何分类？各晶系晶胞参数的特点？ 按晶胞的大小与形状可分为：2.四种基本类型的空间点阵的特点? 按质点再晶体种的分布:简单格子只有一个结点（0、0、0）体心格子含有两个结点（0、0、0）（1/2、1/2、1/2）面心格子含有四个结点（0、0、0）（1/2、0、1/2）（1/2、1/2、0）（0、1/2、1/2）底心格子含有两个结点（0、0、0）（1/2、0、1/2）或（1/2、1/2、0）（0、1/2、1/2）3倒易点阵的两条基本性质？a.倒易点阵矢量和相应的正点阵中同指数晶面相互垂直，长度等于该平面族的面间距倒数。b.倒易点阵矢量于正点阵矢量的标积必为整数。4何谓Ka射线？何谓Kb射线？这两种射线中哪种射线强度大？哪种射线波长短？X射线衍射用的是哪种射线？为什么Ka射线中包含Ka1 和Ka2？是L层电子跳入K层空位时发出的X射线；是M层电子跳入K层空位时发出的X射线。由于是L层电子比M层的跳入K层空位的几率大，因此射线比射线强度大；根据可知射线比射线波长长；X射线用的是射线。 实际上射线是由和组成的，它们分别是电子从能级跳入K层空位时产生的，由于的能量差很小，所以和线的波长很相近，都以代替.5.什么方向是晶体对X射线的衍射方向?即是相互干涉最大的加强方向，即光程差为波长整数倍的那几个特定的方向。6.带心点阵X射线系统消光规律？晶面间距d、衍射指标（hkl）与晶胞参数的关系式？点阵类型系统消光条件体心格子当h+k+1=奇数时，无衍射面心格子当h、k、1奇偶混杂时，无衍射底心格子C心A心B心当h+k=奇数时，无衍射当k+1=奇数时，无衍射当h+ 1=奇数时，无衍射7.布拉格方程的由来、表达、阐明的问题及所讨论的问题？由来：根据相邻原子面间反射线的光程差满足产生衍射的条件即为波长的整数倍，才使干涉加强形成衍射，得到布拉格方程；它阐明了产生衍射的条件。讨论的问题：1）属于选择反射，由于可得，所以一组晶面只能在有限的几个方向反射X射线，即衍射级数n是有限的；2）当把晶面族（hkl）n级看成是晶面族（nh nk nl）的一级衍射时，布拉格方程可写成；只有晶面间距大于的晶面才能产生衍射。3）由于，当减少时，增加了小晶面间距的衍射。8.X射线衍射束的相对积分强度与什么因素有关？X射线衍射束的相对积分强度的公式：即与多重因子P，结构因子F，角因子，温度因子等因素有关。9.衍射线的择优取向？原因？衍射线的择优取向是晶体中某一组晶面的定向排列，某一方向衍射线强度与其它衍射线强度之比不为1，反映的是定向排列的程度；是由于在制备、合成、加工处理等过程中，采用挤压、轧制、加压烧结、极化等工艺手段引起。10.X射线衍射物相定性鉴定需要哪些数据？粉晶X射线衍射卡片（JCPDS）检索手册的基本类型？编排方式？数据：各衍射线的衍射角、把它换算成晶面间距d，再测出各衍射线的相对强度。编排方式：哈那瓦特索引按强度递减;芬克索引按d值递减；字母索引按矿物的英文名称字母顺序。11.X射线衍射精测晶胞参数的基本思路？精测峰位的基本方法？思路：为获得晶胞参数，首先知道各衍射峰的角位置，由布拉格方程得出d，根据面间距公式可得出晶胞参数。为使晶胞参数精确测定，将布拉格方程式微分得：修正的方法有图形外推法、最小二乘法、内标法；测量时应注意1）选用高角度衍射线，使；2）尽量减小的测量误差，使尽量小。基本方法：峰顶法、半高宽法、中心线法、三点抛物线法以及质心法。12.透射电子显微图像包括哪几种类型？产生机制？图像包括：质厚衬度像、衍射衬度像和相位衬度像。产生机制：a.质厚衬度像：是由于非晶试样中各部分厚度和密度差别导致对入射电子的散射程度不同而产生的衬度。b.衍射衬度像：是基于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同而形成的衬度。c.相位衬度像：是通过引入附加相位差，使散射波改变 ，则透射波与合成波的振幅有较大差别，从而产生相位衬度。13.利用X射线衍射精测晶粒大小与点阵畸变的基本原理是什么？基本原理1：由于干涉函数的主峰角宽度反比于参加衍射的晶胞数N晶体尺寸较小，N就很小，衍射线会宽化。基本原理2：晶格中不均匀应变等晶体缺陷的存在也会使衍射线宽化，因为不均匀应变使晶体内各处的点阵常数有所变化，衍射角也就有微小差异。14.进行混合相的X射线衍射定兴分析时，应特别注意优先考虑的问题？1）d值比相对强度重要；2）低角度的d值比高角度的重要；3）强线比弱线重要；4）特征线很重要；5）只能判断存在某物质而不能判断不存在物质，当某相含量很少时，峰不出现。15.电子束与物质相互作用可以获得哪些信息？a.透射电子b.散射电子c.二次电子d.特征X射线e.俄歇电子f.阴极荧光g.吸收电子16.X射线衍射线形的宽度表示方法有哪几种？各自含义？被测试样衍射线的宽度包括哪几种宽度？近似函数法为何将这些宽度分离？宽度包括：仪器宽度、物理宽度、试样宽度。分离的原因：常见峰形为高斯、柯西两种，不同峰形下的仪器宽度、物理宽度、试样宽度的误差不相同，且近似函数法的特点使选用适当的已知函数对两种效应的模拟。17.为什么试样上质厚衬度大的地方图像上显得暗？而小的地方显的亮？公式：1） 2） 3)由上述公式可得电子束穿透试样后在入射方向的电子数，即散射角小于能通过光阑参与成像的电子数，随和的增加而衰减，而衬度，所以试样上质厚衬度大的地方图像上显得暗，而小的地方显的亮。18. X射线衍射定量分析时分析线如何选择？若掺标准相，标准相如何选择？分析线的选择：分析线只有一条，要求：1）不与其他物相峰重叠，即孤立峰；2）有足够强度，最好是强峰；3）无择优取向或强度失真。标准相的选择：1）纯样；2）有一个强峰与分析峰靠近，且不与其他峰重叠；3）化学性质稳定，不氧化、不吸水、不受研磨影响。4）粒度性质与待测样类似。19.晶格畸变引起衍射线形宽化与微晶引起衍射线形宽化各自遵循的规律？1）晶格畸变的测定：微晶大小的测定：2）微晶宽化与畸变宽化的区别：A.用不同的波长辐射测试，若线宽随波长变化，则为微晶细化引起；B.用不同衍射级的线宽观察各线宽随的变化，若为常数，则由微晶细化引起；若或为常数，则由畸变、应力宽化引起。20.透射电子显微图像包括哪几种类型？产生机制？图像包括：质厚衬度像、衍射衬度像和相位衬度像。产生机制：a.质厚衬度像：是由于非晶试样中各部分的厚度和密度差别导致对入射电子的散射程度不同而产生的衬度。b.衍射衬度像：是基于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同而形成的衬度。c.相位衬度像：是通过引入附加相位差，使散射波改变 ，则透射波与合成波的振幅有较大差别，从而产生相位衬度。21.电子束与物质相互作用可以获得哪些信息？a.透射电子b.散射电子c.二次电子d.特征X射线e.俄歇电子f.阴极荧光g.吸收电子22.电子衍射斑点花样几何图形？粉晶花样图形？电子衍射1）正方形立方、四方晶系2）正六边形六方、三方、立方晶系3）有心矩形除三斜以外的晶系4）矩形除三斜以外的晶系5）平行四边形七大晶系粉晶为一系列不同半径的同心圆组成的圆环。23.散射衬度与什么因素有关？这种图像主要用来观察什么？散射衬度与物质的原子序数、组成、厚度等因素有关，主要用来观察非晶体形貌和分布。24.衍衬像的衬度是怎么形成的？利用这种图像可观察什么？产生：是由于晶体薄膜内部各部分满足衍射条件的程度不同从而使各晶面的衍射强度不同而产生衬度。利用此图像可观察晶体种的位错、层错、空位团等晶体缺陷。25.何谓背散射电子？扫描电镜中背散射电子像的衬度的影响因素？最适宜观察什么？背散射电子电子入射试样后，受到原子的弹性和非弹性散射，由一部分电子的总散射角大于90度，重新从试样表面逸出，这部分电子称为背散射电子。背散射电子衬度与试样的表面形貌以及原子系数有关，因为背散射电子的发射系数随原子序数的增大而增大；而当试样表面倾角增加时，作用体积改变，背散射电子的发射系数也随之增打。背散射电子像是用来研究样品的表面形貌和成分分布。26.何谓明场像？何谓暗场像？明场像指用光阑挡住衍射束，让透射束成像，有衍射处暗，无衍射处亮。暗场像指用光阑挡住透射束，让衍射束成像，有衍射处亮，无衍射处暗。27.电子衍射与X衍射相比有何特点？电子衍射布拉格方程说明的问题？电子衍射的方法？特点：1）电子束波长短2）电子衍射强度大3）电子透射能力低4）倒易点阵变成倒易杆5）试样要求很薄6)电子束反射球的半径大布拉格方程：它说明了若已知，则可由衍射斑点的R值计算出对应该衍射斑点的晶面族（hkl）的d值。方法：a.选区电子衍射b.微束电子衍射c.高分辨电子衍射d.高分散性电子衍射e.会聚束电子衍射28布拉格方程的由来、表达、阐明的问题及所讨论的问题？由来：根据相邻原子面间反射线的光程差，满足产生衍射的条件即为波长的整数倍，才使干涉加强形成衍射，得到布拉格方程；它阐明了产生衍射的条件。讨论的问题：1）属于选择反射，由于可得，所以一组晶面只能在有限的几个方向反射X射线，即衍射级数n是有限的；2）当把晶面族（hkl）n级看成是晶面族（nh nk nl）的一级衍射时，布拉格方程可写成；只有晶面间距大于的晶面才能产生衍射。3）由于，当减少时，增加了小晶面间距的衍射。29.电子探针X射线显微分析有哪两类？具体分析方法？波谱分析和能谱分析两大类,方法：定点分析（定性、定量），线分布分析，面分布分析。30.电子衍射斑点花样几何图形？粉晶花样图形？电子衍射1）正方形立方、四方晶系2）正六边形六方、三方、立方晶系3）有心矩形除三斜以外的晶系4）矩形除三斜以外的晶系5）平行四边形七大晶系粉晶为一系列不同半径的同心圆组成的圆环。31.电子衍射物相分析与X射线物相分析有何异同？1）.电子衍射物相分析微区分析A.分析灵敏度高B.可以得到有关晶体取向关系的资料C.电子衍射物相分析可与形貌结合进行得到相关物相的大小、形态何分布.2）X射线物相分析统计的A.d值由晶体结构决定，与实验条件无关B.可直接鉴定物相C.只对晶体有效32.扫描电镜中为什么二次电子像比背散射电子像的分辨率高？原因：背散射电子的能量大，运动方向基本不受弱电场的影响，沿直线前进，因而成像时有较重的阴影效应。而二次电子能量小，加上一各弱电场可以把二次电子吸过来，所以二次电子没有明显的阴影效应。33.比较X射线波谱分析与能谱分析的异同？1）分析范围：波谱 能谱2）分辨率：用谱峰半高宽表示，波谱 能谱所以波谱分析比能谱分析分辨率高。3）探测极限 波谱 能谱 4）X光子的收集效率 波谱的探测效率低，样品要求磨平，表面光滑。能谱的探测效率高，样品无要求5）典型数据收集时间 波谱 能谱6）定量准确度 波谱高于能谱34.根据电子衍射的强度公式解释厚度条纹和弯曲消光条纹？电子衍射强度公式：a.厚度条纹是由于试样的非均匀减薄引起的，同一厚度处等衬度。同一条纹处对应相同厚度，每一亮暗周期代表一各消光距离；当试样厚度一定时，衍射强度随偏移矢量呈周期性变化。振动周期为：b.弯曲消光条纹是由于电子束打在试样上，试样受热变形产生的；若偏移矢量不变，衍射强度随试样厚度呈周期性变化，周期为：35.简单电子衍射花样标定的基本方法和步骤?简单斑点花样：指一个晶带产生，只有一套斑点（最小基本平行四边形相同）。标定步骤：1.判断是否为简单斑点；2.围绕透射斑点（最亮最大工业选择基本平行四边形，原则a=最短边原则，b全定原则90）；3.测量各斑点到透射斑名距离R，并计算d，最少测平行四边形三个，最好多测；4.确定晶面族指数hbla用XRD指数标定的方法（多测斑点一张或两张）；b查卡XRD的PDF卡片确定hbl，根据物相d值相同或相近的原则；5.确定晶面指数（斑点或环指数）；6.其它指数：按一定的方向递增或递减；原点两则指数相同符号相反；不同方向矢量合成；7.按晶带定律计算晶节轴指数uvw，用逆时针法则计算。36.振动光谱有哪两种类型？价键或基团的振动有些类型？哪种振动的频率较高、较低？振动光谱有红外吸收光谱和拉曼散射光谱。价键或基团的振动的有：1）伸缩振动A.对称伸缩振动B.非对称伸缩振动2） 弯曲振动A.变形振动B.面内弯曲C.面外弯曲D.扭曲振动频率的高低：伸缩振动弯曲振动 非对称伸缩振动对称伸缩振动37.何谓红外光谱？红外光谱图的表示方法？红外光谱图的中轰外区在什么频率范围？这个区域适合研究什么类型的物质？红外光谱连续的红外光与分子相互作用时，若分子中原子的振动频率恰与红外光波段的某一频率相等时就引起共振吸收，形成吸收谱带，若用适当的方法把透过光按照波长及强度记录下来，就形成红外吸收光谱。红外光谱谱图的横坐标为波数（cm-1）,纵坐标为强度（以透过率表示）红外光谱的四个表征：1）谱带的数目2）吸收带的位置3）谱带的形状4）谱带的强度红外光谱的中红外区所处的频率范围为4004000 cm-1，大多数有机和无机化合物的分子振动频率处在这个区域内，因而适合研究结构基因、化合物纯度的鉴定以及无机物的聚合度、配位数等。38.影响有机物结构基团红外光谱谱带位移的因素？1）同一基团连接的原子越轻，振动频率越高2）聚合度的变化3）诱导效应4）共轭效应5)氢键效应6）物质状态的影响39.红外与拉曼的活性判断规则？红外与拉曼光谱分析比较？判断规则：a.查特征标表，含有平移振动的有红外活性，含有极化率张量的有拉曼光谱。b.相互排斥规则：凡是有对称中心的分子，如果拉曼是活性的则红外是非活性的，反之亦然。c.相互允许原则:没有对称中心的分子，其红外和拉曼都有活性。d.相互禁止规则：极少数分子的某些振动既无拉曼也无红外活性。红外和拉曼的比较：1）拉曼光谱可扩展（40005cm-1），适合研究晶格振动和转动，而红外为（4000400cm-1）低波数段不能做。2）拉曼光谱受水的干扰小，适合测含水晶体；而红外对水敏感。3）拉曼对骨架研究有效；而红外对骨架上的官能团很有效.4）拉曼带有拉曼探针，可进行气泡包裹气体等显微分析。5）拉曼谱倍频，组频少谱线简单。6）拉曼对样品为非破坏性分析，但对深色样品不好做。40.说明红外光谱的产生机理和条件？机理：红外光照射物质时，光与物质相互作用使分子吸收了红外光中与分子间振动能级差相当的能量，导致分子震动能级的跃迁产生的。条件：1）波尔频率条件（必要条件）2）分子在振动过程中有偶极矩的变化（充要条件）(22).利用红外光谱分析鉴定物质结构的依据是什么？优先考虑什么？依据：基团的特征频率与标准图谱对照。优先考虑的是：a.先观察基团频率，要同时顾及峰形和强度。b.基团频率只判断基团的存在，要鉴定何物时要基团频率和指纹频率同时存在。41.拉曼光谱？说明拉曼光谱产生机理和条件？拉曼光谱单色光照射在样品上时，光子与样品中的分子发生非弹性碰撞（能量交换），产生频率的变化，与其对应的正负拉曼位移线便构成了拉曼散射光谱。机理：作简正振动的分子在入射波的交变电磁场的激发作用下，产生分子能级的跃迁与退激从而改变光波的频率。产生的条件：分子振动过程中有极化率的变化。42.X射线光电子能谱图（XPS）上除光电子主线外还有哪些伴线？如何识别？1）俄歇线：与激发源无关，可通过换靶来识别。2）X射线伴线：A.高能X射线伴线低结合能端，高动能端。B.杂质X射线伴线入射X电子能量的改变。3）能量损失线特征：a.在高结合能端521ev位置b.分子间距随原子序数的增大而增大。4）振激谱线：出现在XPS主峰的高结合能端机个电子伏特的位置。5）价电子线：在费米能级（0结合能）附近。6）多重分裂线：a.裂分间距随原子状态、元素、种类的不同而不同。b. 裂分间距随原子序数的增加而增加。43.红外与拉曼的活性判断规则？红外与拉曼光谱分析比较？判断规则：a.查特征标表，含有平移振动的有红外活性，含有极化率张量的有拉曼光谱。b.相互排斥规则：凡是有对称中心的分子，如果拉曼是活性的则红外是非活性的，反之亦然。c.相互允许原则:没有对称中心的分子，其红外和拉曼都有活性。d.相互禁止规则：极少数分子的某些振动既无拉曼也无红外活性。红外和拉曼的比较：1）拉曼光谱可扩展（40005cm-1），适合研究晶格振动和转动，而红外为（4000400cm-1）低波数段不能做。2）拉曼光谱受水的干扰小，适合测含水晶体；而红外对水敏感。3）拉曼对骨架研究有效；而红外对骨架上的官能团很有效.4）拉曼带有拉曼探针，可进行气泡包裹气体等显微分析。5）拉曼谱倍频，组频少谱线简单。6）拉曼对样品为非破坏性分析，但对深色样品不好做。44.X射线光电子能谱图上，若俄歇线和光电子主线不能区分时，用什么方法可以确诊？X射线光电子能谱图上，若俄歇线和光电子主线不能区分时，可以用改变靶材即改变激发源的办法确诊。因为俄歇线的动能只和电子跃迁的能级有关，与振激源无关，而光电子主线的动能与振激有关。所以：a.在动能坐标图中，光电子峰移动，俄歇峰不移动；b.在结合能坐标图中，光电子峰不移动，俄歇峰移动。取先后两次相同的坐标中图样比较即可分辨出光电子主线与俄歇线。45.根据离子型化合物模型，XPS谱线化学位移的规律？由于原子所处的化学环境的变化而引起的结合能位移称为化学位移。1）氧化还原与化学位移的规律 a.氧化作用使内层电子结合能上升，氧化失去电子越多，结合能上升幅度越大；b.还原作用使内层电子结合能下降，还原得到的电子越多，结合能下降的幅度越大；c.给定结构的原子，所有内层电子结合能的化学位移相同。2）化学位移的规律 a.原子内壳层电子结合能与和它成键的离子的电负性越大，电子结合能越大；b.化合物中有不同离子取代时，电子结合能发生化学位移，取代离子的电负性越大，位移越大。46.X射线光电子能谱分析的内容？是一种什么样的分析方法？适用什么样的试样？X射线光电子能谱分析的内容是元素的成分分析、元素的定量分析、元素的化学状态分析、固体表面相的研究以及结合物结构的鉴定。它是一种研究物质表面性质和状态的新型物理方法，适用固、液、气体样品。它测试主要是物质表面信息，要求试样处于高真空和超洁净条件下。47利用光电子能谱图进行元素分析的依据是什么？进行结构分析依据和分析方法？利用光电子能谱图进行元素分析的依据是谱线的电子结合能与谱线的强度进行结构分析（元素的化学状态分析）依据是电子结合能的化学位移。结构分析的具体分析方法有：a.光电子线位移法；b.俄歇线位移法；c.俄歇参数与二维状态图法；d.双线分裂距离法；e.振激线法。48.选择最合适的测试分析方法1）尺寸小于5的矿物的形貌观察分析扫描电镜二次电子像2）有机材料中化学键的物相分析鉴定红外光谱3）多晶材料中的物相分析鉴定X射线衍射分析4）相变温度的测定差热分析5）矿物中包裹或玻璃气泡中物质的鉴定分析拉曼光谱6）镀膜的物相分析鉴定X射线光电子能谱分析7）镀膜的厚度测定X射线衍射分析8）表面或界面元素化学状态分析X射线光电子能谱分析9）晶界上杂质的物相分析鉴定透射电镜电子衍射分析10）晶界上杂质的化学成分分析X射线光电子能谱分析11）晶界条纹或晶体缺陷（如位错）的观察分析透射电镜衍射衬度象12）粉晶物相的定量分析X射线衍射分析13）晶胞参数的测定和固熔体含量测定X射线衍射分析49.何谓二次电子？扫描电镜中二次电子像的衬度与什么因素有关？最适宜观察什么？二次电子是单电子激发中被入射电子轰出的试样原子核外电子。扫描电镜中二次电子的衬度是形貌衬度，主要取决于试样表面相对于入射电子束的倾角，即： 其中为时的二次电子发射系数，由此可得，随着试样表面倾角增加，二次电子发射系数增加。二次电子像适合观察粗糙表面和断口的形貌。50.何谓背散射电子？扫描电镜中背散射电子像的衬度的影响因素？最适宜观察什么？背散射电子电子入射试样后，受到原子的弹性和非弹性散射，由一部分电子的总散射角大于90度，重新从试样表面逸出，这部分电子称为背散射电子。背散射电子衬度与试样的表面形貌以及原子系数有关，因为背散射电子的发射系数随原子序数的增大而增大；而当试样表面倾角增加时，作用体积改变，背散射电子的发射系数也随之增打。背散射电子像是用来研究样品的表面形貌和成分分布。51.利用XPS（X射线光电子能谱）鉴别化学状态有哪些方法？元素定性：1）光电子主线；2）元素最尖锐俄歇动能与最强光电线结合能之和；3）X射线伴线；4）能量损失线；5）多重分裂线；6）振激谱线；7）价电子线。定量分析：测原子浓度。元素浓度分布分析：角分辨分析法。52.何谓隧道效应？影响隧道电流最关键的因素？电子在一定条件下能像火车穿过隧道一样穿越势垒，电子贯穿势垒参与导电的过程。53.简述原子显微镜中的恒力模式与恒高模式？恒力模式：扫描过程中保持针尖与样品间的作用力恒定，针尖上下移动的轨迹为表面形貌。恒高模式：保持针尖与样品的距离恒定，作用力变化微显臂的形貌即为表面形貌。54.原子力显微镜最常用的成象模式。AFM的成象模式：接触模式：针尖与样品始终接触，可恒力扫描稳定、分辨率高；非接触模式：针尖与样品始终不接触，分辨率低；轻敲模式：微悬臂在试样上振动、常用，适合生物大分子、聚合物。55.利用XPS（X射线光电子能谱）鉴别化学状态有哪些方法？元素定性：1）光电子主线；2）元素最尖锐俄歇动能与最强光电线结合能之和；3）X射线伴线；4）能量损失线；5）多重分裂线；6）振激谱线；7）价电子线。定量分析：测原子浓度。元素浓度分布分析：角分辨分析法。56.扫描电镜分析与透射电镜分析比较？扫描电镜分析：试样制备简单；图象的立体感，真实感强，可观察表现原始形状放大倍数变化范围大，且连续可调；具有相当高的分辨率分析功能多。透射电镜分析：能观察表面形貌及其分布对非晶试样要制备成粉末晶体要进行表面处理、复型处理。名词解释题答案：1 X射线连续谱：电子与阳极碰撞的时间和条件各不相同，而且有的电子还可能与阳极作多次碰撞而逐步转移其能量，情况复杂，从而使产生的X射线也就有各种不同的波长，构成连续谱。连续X射线又称白色射线，它由某一短波线0开始直到波长等于无穷大的一系列驳斥组成。2X射线特征谱，各线系由何种跃迁产生？：在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。只有当管压超过一定值时才能产生特征射线；特征X射线是叠加在连续X射线谱上的。3系统消光：在晶体的X射线衍射图中，常有不少衍射点有规律地不出现，这种现象称为系统消光。4. 二次电子Secondary electron（二次电子是单电子激发过程中被入射电子轰出的试样原子核外电子）入射电子与样品核外电子碰撞，使样品表面的核外电子被激发出来的电子，是作为SE