CPK制程能力介

1、Page12021/8/2 CPK 制程能力介紹制程能力介紹 Prepared by: PID-ENGBudd Page22021/8/2 Contents Page32021/8/2 CPK CPK 製程能力製程能力 C Capability apability P Process rocess I Indexndex製程能力指數製程能力指數( (綜合指數綜合指數) ) CPKCPK讓我知道什麼？讓我知道什麼？ -不良率可以量化不良率可以量化 -可以確認可改進的機會可以確認可改進的機會 -確認制程發生問題的本質確認制程發生問題的本質 CPKCPK是什麼？是什麼？ Page42021/8/2

2、CPKCPK的手工計算方式？的手工計算方式？ (1)CpK值之計算式有兩種 B. 單邊規格時: A. 雙邊規格時: % 規格容許差 規格中心實績中心 Ca% 2/ )( T X 63 規格公差規格容許差 Cp 雙邊 單邊 X-SL 3 只有規格下限:Cpl= 3 Su-X 只有規格上限:Cpu= CpCaCpK) 1 ( 3 )( , 3 )( LU SXXS MinCpK Page52021/8/2 1.当当USL与与LSL为为X 正负正负6，即，即USL=X+6 LSL=X-6 2.且（且（USL-LSL）/2时，时，即實際值即實際值=規格中心值規格中心值 3.Cp=Cpk。 4.這個能力

3、我們稱之為這個能力我們稱之為sigma水平水平,但实际上，但实际上，Cp=2 是可以做到是可以做到 的，而的，而CPK=2是基本上做不到的，因而人们普遍采用是基本上做不到的，因而人们普遍采用Cp- 0.5=Cpk的这一摩托罗拉公司的假设，既把的这一摩托罗拉公司的假设，既把Cp=2 且且Cpk=1.5 看看 作作6 Sigma. CPK是如下两个值中较小的一个 Page62021/8/2 CPK VS Defective Yield VS SigmaCPK VS Defective Yield VS Sigma 我們常用產品品質特性的常態分配 與規格相比較,以決定產品的不良率.如 右圖所示產品品

4、質特性的常態分配. 規格上限:USL (Upper Specification Limit) 規格下限:LSL (Lower Specification Limit) 落在規格上,下限外的斜線面積即為產品的不良率. -3 -2-1 +3+2+1 68.27% 95.45% 99.73% 0.135% 0.135% C C p pk k V V a al lu ue eD D e ef fe ec ct ti iv ve eY Y i ie el ld dD D i is st tr ri ib bu ut ti io on n 12700ppm99. 73%+/-3 Sigm a 1. 336

5、3ppm99. 9937%+/-4 Sigm a 1. 670. 57ppm99. 999943%+/-5 Sigm a 2. 000. 002ppm99. 9999998%+/-6 Sigm a 概率密度 區間寬度 LSLUSL Remark: 3*SigmaCPK Page72021/8/2 CPKCPK手工計算實例？手工計算實例？ Page82021/8/2 Cpk是總合Ca(k)和Cp二值之 指數，其計算式為: 當Ca =0時，Cpk =Cp 單邊規格時，Cpk即以Cp值計， 但需取絕對值。 CPKCPK的判斷基准是什麼？的判斷基准是什麼？ 等級 A 1.33 CpK1.67 B C

6、D CpK值 1.00 CpK1.33 0.67 CpK1.00 CpK0.05 證明此數據為常態分布，可用於計算CPK 如果P值小於0.05怎麼辦呢？ Page112021/8/2 MinitabMinitab計算方式計算方式22菜單操作菜單操作 Page122021/8/2 CPKCPK的操作步驟的操作步驟 Subgroup Size 該填什麼數據？ Subgroup Size是指對 據如何分組？ 如： 每次抽取8個數據，連續抽 10天，共有80個數據，此 值應該填多少？ 又如： 一個模具有四穴，每小時 抽一模，共取20小時數據 一共有多少數據？ 此值又填多少？ MinitabMinita

7、b計算方式計算方式33數據的輸入數據的輸入 Page132021/8/2 CPKCPK的圖示解說的圖示解說 99908172635445 LSLUB Process Data Sample?N200 StDev(Within)3.42122 StDev(Overall) 3.31891 LSL38 Target* UB100 Sample Mean55.1429 Potential (Within) Capability CCpk1.67 Overall Capability Pp* PPL1.72 PPU* Ppk Cp 1.72 Cpm* * CPL1.67 CPU* Cpk1.67 Ob

8、served Performance PPM?UB0.00 PPM?Total0.00 Exp. Within Performance PPM?UB* PPM?Total0.27 Exp. Overall Performance PPM?UB* PPM?Total0.12 Within Overall Process Capability of C1 標准差標准差 （Short Term) 規格上限規格上限 規格目標規格目標 值值 樣本均值樣本均值 樣本數樣本數 標准差標准差 （Long Term) 樣本樣本Yield母體母體Yield母體長期母體長期Yield 低于規格下低于規格下 限的不良

9、數限的不良數/ 百萬百萬 (USL-LSL)/6*StDev(O) (USL-Mean)/3*StDev(O) (Mean-LSL)/3*StDev(O) Min(PPU,PPL) (USL-LSL)/6*StDev(W) (USL-Mean)/3*StDev(W) (Mean-LSL)/3*StDev(W) Min(CPU,CPL) MinitabMinitab計算方式計算方式44圖示解說圖示解說 Page142021/8/2 注意事項注意事項數據常見問題數據常見問題1 1 7065605550 LSLLSL Process Capability Analysis for MTF PPM T

10、otal PPM USL PPM USL PPM USL PPM 25 Page152021/8/2 注意事項注意事項數據常見問題數據常見問題2 2 -100102030 USLUSL Process Capability Analysis for Delta_C_15 USL Target LSL Mean Sample N StDev (Within) StDev (Overall) Cp CPU CPL Cpk Cpm Pp PPU PPL Ppk PPM USL PPM Total PPM USL PPM Total PPM USL PPM Total 30.0000 * * 4.95

11、13 128 4.01197 5.85232 * 2.08 * 2.08 * * 1.43 * 1.43 * 0.00 0.00 * 0.00 0.00 * 9.34 9.34 Process Data Potential (Within) Capability Overall CapabilityObserved PerformanceExp. Within PerformanceExp. Overall Performance Within Overall 右側圖表數據出現右側圖表數據出現 雙波峰雙波峰應該找到應該找到 Root Cause: 1. 物料不同批物料不同批 2. 不同測試站不

12、同測試站 3. 不同測試員不同測試員 4. 不同班別不同班別 5. Page162021/8/2 注意事項注意事項數據常見問題數據常見問題3 3 403020100 USLLB Process Capability Analysis of Current for MP+CIF PPM Total PPM USL PPM USL PPM USL PPM LB Ppk PPL PPU Pp Cpm Cpk CPL CPU Cp StDev (Overall) StDev (Within) Sample N Mean Lower Bound Target USL 83023.91 83023.91

13、* 67945.89 67945.89 * 0.00 0.00 0.00 0.46 * 0.46 * * 0.50 * 0.50 * 0.629018 0.584202 50 39.1288 0.0000 * 40.0000 Exp. Overall PerformanceExp. Within PerformanceObserved PerformanceOverall Capability Potential (Within) Capability Process Data Within Overall 右側圖表數據右側圖表數據 較集中較集中但偏但偏 向規格一邊向規格一邊 導致導致Cpk較

14、低。較低。 Page172021/8/2 注意事項注意事項數據常見問題數據常見問題4 4 260240220200180160140120100 USLLSL Process Capability Analysis for Red_15 PPM Total PPM USL PPM USL PPM USL PPM LSL Ppk PPL PPU Pp Cpm Cpk CPL CPU Cp StDev (Overall) StDev (Within) Sample N Mean LSL Target USL 22231.79 16484.75 5747.04 36676.64 26022.73 1

15、0653.91 0.00 0.00 0.00 0.71 0.84 0.71 0.78 * 0.65 0.77 0.65 0.71 25.7524 28.2669 50 185.084 120.000 * 240.000 Exp. Overall PerformanceExp. Within PerformanceObserved PerformanceOverall Capability Potential (Within) Capability Process Data Within Overall 右側圖表數據右側圖表數據 較分散較分散標准標准 差偏大差偏大導致導致 Cpk較低。較低。 P

16、age182021/8/2 注意事項注意事項工具應用常見問題工具應用常見問題1 1 0.850.800.750.700.650.600.550.50 LSLLSL Process Capability Analysis for MTF Center PPM Total PPM USL PPM USL PPM USL PPM LSL Ppk PPL PPU Pp Cpm Cpk CPL CPU Cp StDev (Overall) StDev (Within) Sample N Mean LSL Target USL 0.00 * 0.00 0.00 * 0.00 0.00 * 0.00 5.1

17、4 5.14 * * * 52.20 52.20 * * 0.0182331 0.0017966 50 0.781334 0.500000 * * Exp. Overall PerformanceExp. Within PerformanceObserved PerformanceOverall Capability Potential (Within) Capability Process Data Within Overall 右側圖表右側圖表Cpk 計算異常計算異常原原 因是數據經過因是數據經過 按大小排序后按大小排序后 才導入才導入MINTAB 分析。分析。 Page192021/8/

18、2 注意事項注意事項工具應用常見問題工具應用常見問題2 2 20151050 USLLSL Process Capability Analysis for Sleep Curren PPM Total PPM USL PPM USL PPM USL PPM LSL Ppk PPL PPU Pp Cpm Cpk CPL CPU Cp StDev (Overall) StDev (Within) Sample N Mean LSL Target USL 152140.18 0.00 152140.18 104690.36 0.00 104690.36 0.00 0.00 0.00 0.34 0.3

19、4 2.88 1.61 * 0.42 0.42 3.51 1.97 2.07145 1.69525 50 2.128 0.000 * 20.000 Exp. Overall PerformanceExp. Within PerformanceObserved PerformanceOverall Capability Potential (Within) Capability Process Data Within Overall 右側圖表右側圖表Cpk 很低很低與實際與實際 結果不符結果不符原原 因是因是0不應該作不應該作 為電流的下限為電流的下限 而是而是Low Boundary。 正確結果參閱正確結果參閱 下頁。下頁。 Page202021/8/2 注意事項注意事項工具應用常見問題工具應用常見問題2-22-2 20151050 USLLB Process Capability Analysis for Sleep Curren PPM Total PPM USL PPM USL PPM USL PPM LB Ppk PPL PPU Pp Cpm Cpk CPL CPU Cp StDev (Overall) StDev (Within) Sample N Mean Lower Bound Target USL 0.00 0.00