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文档简介

塞曼效应预习汇报第1页目录一、背景知识;二、试验目标;三、试验原理;四、试验装置;五、试验内容。第2页背景知识

1896年,荷兰著名物理学家塞曼Zeeman将光源置于强磁场中,研究磁场对谱线影响发觉:原来一条光谱线分裂成几条光谱线,分裂谱线成份为偏振。

塞曼效应试验与斯特恩-盖拉赫试验还有碱金属光谱双线一样有力证实了电子含有自旋,能级分裂是因为电子轨道磁矩与自旋磁矩相互作用结果。

经过Zeeman效应试验,可由能级分裂个数知道能级J值,由能级裂距可知g因子;假如原子遵从LS耦合,则可由g值判断该能级L和S值。第3页试验目标一、深入了解塞曼效应理论原理;二、复习并熟悉标准具原理及使用;三、经过试验来观察塞曼分裂现象,并测量波数差及电子

荷质比。第4页试验原理一、谱线在磁场中分裂:有磁场B时能级E发生分裂,附加能

量;无磁场时电子跃迁,产生谱线有磁场时电子跃迁,产生新谱线此时,频率改变为对应波束差为

第5页本试验研究汞546.1nm塞曼分裂。汞绿线546.1nm是跃迁,两能级M值为和塞曼效应选择定则是故在外磁场作用下,546.1nm线分裂情况可由下列图显示,即第6页其中对应线与原谱线相同,各相邻分裂谱线波数差是L/2。当时,产生3条线。沿垂直磁场方向观察,线为振动方向平行于磁场线偏振光。沿磁场方向观察不到线。当时,产生6条线。沿垂直磁场方向观察,线为振动方向垂直于磁场线偏振光。沿磁场方向观察,线为圆偏振光。第7页二、用标准具测量波数差:法布里-波罗标准具分辨本事可达,故惯用标准具来观察塞曼效应。但因为标准具自由光谱区很小,通常要选取常规光谱仪分出一条条光谱线后,再用标准具深入分光。

在法布里-波罗标准具投射光中,相邻两光束光程差

为,在空气中n=1,所以

当光程差等于波长整数倍时,形成干涉环,即对于k极干涉环,满足

第8页对同一波长光产生相邻两级k和k-1线,干涉条纹直径平方之差表示为对同一级不一样波长和波长差用波数差表示为此式就是试验中用以计算波数差公式。第9页试验装置试验装置由磁场、光源、分光系统和观察系统等四大部分组成。其中O为光源;、为透镜;P为偏振片;F为干涉滤光片;F-P为标准具;1为磁场;2为激磁电源。第10页试验内容(一)调整光路,观察塞曼现象点亮汞灯。把透镜置于光源和标准具之间适当位置,让光充满标准具。因为标准具前已放置滤光片,水银光谱其它成份已被滤除。调整标准具。若标准具两反射面不平行,则眼睛在垂直于光轴平行平面内上、下、左、右移动时,将会看到干涉环缩冒现象,这时需调整标准具三个调整旋钮。在标准具后安置透镜和目镜,调整二者相对位置以看清各干涉环。注意整个光学系统应共轴,不然视场不够明亮。调整目镜位置使目镜叉丝大致与干涉环直径重合。

开启稳压电源电流为一定值,可看到干涉环。未加磁场时一个干涉环在磁场中分裂成9条干涉环,其中3条为成份,取相邻两级次成份进行测量,如图3-5-6所表示。第11页(二)测量并计算波长差

式中为同一干涉级相邻两干涉环直径平方差,即

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