标准解读
《GB/T 29852-2013 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法》是一项国家标准,旨在规范光伏电池用硅材料中磷(P)、砷(As)和锑(Sb)这三种施主杂质元素含量的测定过程。该标准采用二次离子质谱技术作为主要分析手段,适用于单晶硅或多晶硅等光伏级硅材料的质量控制与评估。
标准详细规定了样品准备、仪器条件设定、数据采集及处理的具体步骤。首先,在样品制备阶段,要求选取代表性样本,并按照指定程序进行表面清洁或抛光处理,以确保测试结果准确反映材料的真实状况。接着,对实验所使用的二次离子质谱仪提出了一系列参数设置建议,包括但不限于初级离子束种类、能量范围以及检测器工作模式等,这些都是为了优化信号强度并减少背景噪声干扰,从而提高测量精度。
此外,该文件还强调了如何正确校准仪器以及选择合适的标准物质来进行定量分析的重要性。通过比较已知浓度的标准样品与待测样品之间的响应值差异,可以计算出目标杂质的实际浓度水平。同时,标准也指出了可能影响最终结果的各种因素,如样品表面状态、测试环境条件变化等,并给出了相应的解决策略或注意事项。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2013-11-12 颁布
- 2014-04-15 实施
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文档简介
ICS29045 H 82 . 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T298522013 光伏电池用硅材料中 P AsSb施主杂质 、 、 含量的二次离子质谱测量方法 Testmethodformeasurin hoshorus arsenicandantimon insiliconmaterials gp p , y usedforphotovoltaicapplicationsbysecondaryionmassspectrometry2013-11-12发布 2014-04-15实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准光伏电池用硅材料中 P AsSb施主杂质 、 、 含量的二次离子质谱测量方法 GB/T298522013 * 中 国 标 准 出 版 社 出 版 发 行 北京市朝阳区和平里西街甲 号 2 (100013) 北京市西城区三里河北街 号 16 (100045) 网址 : 服务热线 010-68522006 年 月第一版 2014 1 * 书号 :1550661-48020 版权专有 侵权必究 GB/T298522013 前 言 本标准按照 给出的规则起草 GB/T1.12009 。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 。 。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会 提出并归口 (SAC/TC203) 。 本标准起草单位 信息产业专用材料质量监督检验中心 中国电子技术标准化研究院 国家电子功 : 、 、能与辅助材料质量监督检验中心 天津市环欧半导体材料技术有限公司 、 。 本标准主要起草人 马农农 何友琴 王东雪 何秀坤 冯亚彬 裴会川 张雪囡 : 、 、 、 、 、 、 。 GB/T298522013 光伏电池用硅材料中 P AsSb施主杂质 、 、 含量的二次离子质谱测量方法1 范围 本标准规定了用二次离子质谱仪 测定光伏电池用硅材料中磷 砷和锑含量的方法 (SIMS) 、 。 本标准适用于光伏电池用硅材料中施主杂质磷 砷和锑含量的定量分析 其中磷 砷和锑的浓度均 、 , 、 大于 14 3 110 atoms/cm 。2 方法原理 在高真空条件下 铯离子源产生的一次离子 经过加速 纯化 聚焦后 轰击样品表面 溅射出多种粒 , , 、 、 , , 子 将其中的离子 即二次离子 引出 通过质谱仪将不同荷质比的离子分开 记录并计算样品中磷 砷 , ( ) , , 、 、 锑与硅的二次离子强度比 31 - 30 - 75 - 30 - 121 - 30 - 然后利用相对灵敏度因 (P )/(Si )、( As )/(Si )、( Sb )/(Si ), 子进行定量 。3 干扰因素 31 样品表面吸附的磷 砷 锑会干扰样品中磷 砷 锑的测量 . 、 、 、 、 。32 从 仪器样品室吸附到样品表面的硼和铝会干扰样品中磷 砷 锑的测量 . SIMS 、 、 。33 在样品架窗口范围内的样品表面应平整 以保证每个样品移动到分析位置时 其表面与离子收集 . , , 光学系统的倾斜度不变 否则测量的准确度和精度会降低 , 。34 测量的准确度和精度随着样品表面粗糙度的增大而显著降低 可通过对样品表面进行化学机械抛 . , 光予以消除 。35 标准样品中磷 砷 锑分布不均匀会影响测量精度 . 、 、 。36 标准样品中磷 砷 锑标称浓度的偏差会导致测量结果的偏差 . 、 、 。37 因仪器不同或者同一仪器的状态不同 检测限可能不同 . , 。38 因为二次离子质谱分析是破坏性的试验 所以应进行取样 且所取样品应能代表该批硅料的性质 . , , 。 本标准未规定统一的取样方法 因为大多数合适的取样计划根据样品情况不同而有区别 为了达到仲 , 。 裁目的 取样计划应在测试之前得到测试双方的认可 , 。4 仪器及设备 41 扇形磁场二次离子质谱仪 . 仪器需要装备铯一次离子源 能检测负二次离子的电子倍增器和法拉第杯检测器 质量分辨率优于 , , 4000。42 液氮或者液氦冷却低温板
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