调制度测量轮廓术

调制度测量轮廓术篇一：轮廓测量仪操作说明书第 1章 产品概述 SJ5700 轮廓测量仪广泛应用于机械加工、汽车、轴承、机床、摸具、精密五金、光学加工等行业。该仪器可测量各种精密机械零件的粗糙度和轮廓形状参数。用拟合法来评定圆弧和直线等。从而可测量圆弧半径、直线度、凸度、沟心距、倾斜度、垂直距离、水平距离、台阶等形状参数。该仪器还可对各种零件表面的粗糙度进行测试；可对平面、斜面、外圆柱面、内孔表面、深槽表面、圆弧面和球面的粗糙度进行测试,并实现多种参数测量。本仪器依据GB/T3505-XX、GB/T6062-XX、GB/T10610-XX 国家标准及ISO5436、ISO11562 国际标准制造。 第 2章 性能特点及技术参数主要性能特点 ? 高精度、高稳定性、高重复性：完全满足被测件测量精度要求。 1) 选用国际领先的高精度光栅测量系统和高精度电感测量系统，测量精度高； 2) 自主研发高精度研磨导轨系统，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作； 3) 高性能直线电机驱动系统，保证测量稳定性高、重复性好； ? 智能化管理与检测软件系统： 仪器操作界面友好，操作者很容易即可基本掌握仪器操作，使用十分简便。 1) 10多年积累的实用检定软件设计经验，向客户提供简洁、实用、快速的操作体验； 2) 功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检定报告，自动显示、打印、保存、查询测量记录； 3) 测量范围广，可满足绝大多数类型的工件粗糙度轮廓测量； 4) 可自动和手动选取被测段进行评定，可依据客户要求进行软件功能的定制； 5) 纯中文操作软件系统，更好的为国内用户服务； 6) 打印格式正规、美观。检定数据可存档，或集中打印，不占用检定操作时间； 7) 本仪器采用计算机大容量数据库储存，可自动记录保存所有检定结果。 ? 可进行多参数测量 粗糙度自动评价，包括 Ra,Rz,Rp,Rt等 ? 测量力系统：采用音圈电机测力系统，测力可实现从 10150mN 连续可调，测力分辨力可达；避免了老式砝码加载因周围环境振动带来的测力误差，降低了测力变化引起的测量误差。? 智能保护系统： 一旦出现主机与被测工件或夹具相撞、或测针在扫描过程中出现拉力过大，仪器会停止扫描保护测量系统和测针。 ? 灵活手动控制： 仪器配置了操作杆，可在测量工件前对测针进行粗定位；在脱离电脑的情况下，让测针左右、上下快速移动。 技术参数 粗糙度测量: 基本参数： 测量范围：X 轴 200mm，Z1 轴80m / 40m / 20m 直线度误差: m/20mm，m/200mm 示值误差：5% 分辨率：Z1 轴 m(80m), m(40m), m(20m) 测量速度： mm/s 和 mm/s 可调 硬件结构： 测针：标准型(高度小于 8mm) 1支，触针半径 2m，静态测力； 大理石平台：尺寸750450mm； 电动立柱：高度450mm； 测量软件 依照 ISO3274等国际标准, 能自动选取截止波长； 测量参数 R 粗糙度：Ra,Rq, Rz,Rmax,Rpc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,R3z,RSm,Rs，Rsk,Rku, Rdq, Rlq,Rdc,RHSC,Rmr,Rz-L,Rp-L,R3z-L,Rdc-L,RMr-L,Pdc-L,PMr-L 核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,VoP 轮廓参数： Pa,Pq,Pt,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Plq,Pdc,PHSC,PPc,PMr, W 波度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdg,Wdc,WMr Motif 参数：R,Ar,W,Aw,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL ISO5436 参数：Pt,D 轮廓类型: 支持 D,P,W,R 滤波器： 高斯滤波器、RC 滤波器，相位修正滤波器 滤波波段可选择，也可任意设定； 支持自动选择符合标准的过滤方式和取样长度； 轮廓测量： （1）X 轴 测量范围：0200mm； 示值误差：(+2L/100)um，其中 L为水平测量长度，单位：mm； 分辨率：； 直线度：2um/200mm 测量速度：5mm/s； 移动速度：030mm/s （2）传感器 Z1轴： 测量范围：25mm； 示值误差：(+|2H|/100)um，其中 H为垂直测量高度，单位：mm； 分辨率：； （3）Z 轴： 测量范围：0450mm； 移动速度：030mm/s； (5) 测量力：10150mN； (6) 爬坡能力：上坡 77 o，下坡 83o； (7) 工作台：旋转角度：360 度，X、Y 移动 ：15mm。 3. 仪器尺寸：花岗岩平板 750450100mm 整机：8505001100mm； 仪器重量：150Kg4. 使用环境：无强磁场，无振动，无腐蚀气体 工作温度：20 2 相对湿度：40-60% 第 3章 工作原理 中图 SJ5700轮廓测量仪是一种两坐标测量仪器，仪器传感器相对被测工件表而作匀速滑行，传感器的触针感受到被测表而的几何变化，在 X和 Z方向分别采样，并转换成电信号，该电信号经放大和处理，再转换成数字信号储存在计算机系统的存储器中，计算机对原始表而轮廓进行数字滤波，分离掉表而粗糙度成分后再进行计算，测量结果为计算出的符介某种曲线的实际值及其离基准点的坐标，或放大的实际轮廓曲线，测量结果通过显示器输出，也可由打印机输出。 第 4章 操作规程 一准备工作 1 开启电源，确保电源的电压.频率，是否接地。 篇二：轮廓度的测量问题 有无高手可以解决以下轮廓度的测量问题。 1、GDT、GBT、MSI 方法都是怎么个意思？ 2、实际中我测量一个轴头处圆锥面轮廓度，在轴上建立的坐标系测量结果和在圆锥上建立的坐标系结果相差很大，为什么啊。而图纸上并没有标基准，是不是就能算作在圆锥上建立坐标得出的结果是正确的？图纸上标明要以轴线为基准呢？ 3、如果我在圆锥的不同高度处测得的截圆，和这个高度上截圆的理论值比较，是不是就是轮廓度呢？如果不是的话，这又是什么呢？ 期待 ing 就是右下角那个面轮廓度，如果没有基准呢？还有中间那个尺寸，怎么测好呢？多谢！ 首先你要理解图意。在本图上有如下几个要素需要给予考虑： 1.直径 80的方框尺寸。 2.角度度的方框尺寸。 3.基准 A-B 4.轮廓度要求： 根据上述要素，我们来确定理论轮廓度公差带的位置。它是一个以垂直于轴线 A-B，并且以轴线 A-B为圆心，直径为 80mm的圆，已此圆的上下顶点做与轴线 A-B成度的向轴线靠拢的两条理论轮廓线，以直径为，圆心在理论轴线上滑动相成的以理论轴线为中心的上下平行面的区域，就是实际轮廓面的合格区域。实际轮廓面在此区域内，零件轮廓度合格 否则 零件的轮廓度不合格。 所以在此要求下，使用轮廓度仪测量是不合适的。使用三坐标测量 如果基准建立不对，数据处理有误，或者没有采集到最合适的测量点，结果也有很大的差异 最佳测量的办法是以上述的要求制作一个测量模板，使用投影仪进行全方位的测量。得出的结果最好 看此图纸的轮廓度,是位置形状兼而有之.形状控制点在角度,位置控制点是与基准 A,B的同轴度. 篇三：stoilov 算法 PMP毕业设计开题报告本科毕业设计（论文）开题报告1.设计（论文）的选题意义及国内外研究现状 选题意义 光学三维成像就是指用光学的手段获得物体三维空间信息的方法和技术，目前主要指获得物体表面三维空间形状信息的方法和技术。随着计算机技术、信息技术的迅速发展，极大地改变了传统的光学计量技术。光学计量初期所采用的感光胶片记录方式已为固态摄像机技术所取代，高性能的微型计算机和图像处理系统使光学图像的计算机辅助分析技术迅速发展，这些信息的获取和处理技术上的进步又给光学传感和计量方法上的革新和发展以新的活力，使新的三维传感和计量方法不断涌现。为此，国际光学学会 1994年以信息光学的前沿为主题的年会上，首次将光学三维传感列为信息光学前沿七个主要领域和方向之一。 相位测量轮廓术(PMP)是一种基于条纹投影和位相测量的光学三维面形测量技术，由于其具有非接触、全场性、速度快、高精度、自动化程度高等特点，这种技术已在工业检测、机器视觉、逆向工程等领域获得广泛应用。 在实际应用中 PMP测量精度受到相移的准确性、投影光场的正弦性、探测器响应的非线性、相移算法选择的合理性、数码相机调焦误差等因素的影响。测量技术在工业生产中起着很大的作用,并且其重要性与日俱增。目前,尺寸精度测量已经由单纯的长度测量进入了综合的形状测量阶段,随着制品不断向高精度和高质量化发展,对测量技术提出了更严格的要求。汽车工业、航空航天领域、模具和零部件制造方面的迅速发展极大地推动着测量技术的进一步发展,多媒体技术、数字博物馆立体照相及虚拟现实等又为该技术开拓了更广阔的应用空间。Stoilov 算法是近几年提出的一种相移量任意的等步长相移算法,它无须知道相移量的大小,只要保证相移步长相等,就可以解算出物体表面的截断相位,因而在三维测量领域中倍受人们关注. 国内外研究现状 随着工业化进程的不断加快,光学、光电子等学科的研究不断深入及计算机技术的渗透,发展起来的三维传感技术备受人们关注.相位测量轮廓术(Phase Measuring Profilometry,PMP)以其准确度高、测量面积大、自动化程度高在工业检测、实物仿形、反求工程、生物医疗等领域受到了广泛的应用.它通过投影几帧正弦条纹到物体表面,由摄像系统获取变形条纹来获得物体的三维信息.它需要在测量过程中保证相邻两帧条纹的相移量相等,且总相移量为2 的整数倍,有一定的局限性.近年来在相移干涉术应用中出现的 Stoilov算法只要求相移步长相等,无需确定步距值和 2 整 数倍的相移总量,在相移干涉术中得到广泛应用,将其引入到 PMP中,使 PMP更具灵活性.但由于受到环境光、系统数字化误差和探测器的非线性的影响,传统的 Stoilov算法中相移量的计算方法可能会导致较大误差,位相展开时又会将误差传播开去,导致更大面积的解相误差,最后影响了相位提取和系统测量的准确度.光学三维传感具有广阔的应用前景,并且逐渐普及。采用结构照明的三维传感方法,包括相位测量轮廓术(PhaseMeasurementprofilomerty,简称 pMp)、傅立叶变换轮廓术(FourierTransofrmProfilometry,简称 FTP)、调制度测量轮廓术(Moudlation Meas11t,简称 MMP)等,近年来受到了极大的重视。 国内的研究现状 1、 高成勇 基于非定步长相移恢复算法的误差分析 给出了在非定步长算法中使相位测量误差达到最小的一个最佳的相移步长。匹配范围:180 2、许幸芬基于统计逼近的 stoilov算法光栅参数优化设计 基于 stoilov算法的相位测量轮廓术（PMP）三维测量过程中，由于其表达式中四种奇异现象的存在，致使用stoilov算法时出现解相错误!所以不能很好地重构三维物体。采用统计逼近的方法补偿 stoilov算法表达式中出现的异常点，弥补了 stoilov算法的缺陷，同时 stoilov算法对光栅周期及条纹对比度比较敏感。当光强变化较大时，相移图像对应的像素点发生突跳!影响测量精度。因此，提出一种基于统计逼近的 stoilov优化算法的光栅参数优化方法以提高测量精度$实验模拟不同的物体，发现存在重构三维物体时均方差最小的光栅周期和光栅条纹对比度。验证了光栅参数优化设计的可行性。 3、钱克矛 相移技术中五步等步长 Stoilov算法的性能分析 Stoilov 算法是近几年提出的一种五步等步长相移算法。有关文献中的误差分析表明,该算法的性能优于四步等步长 Carr算法。文中给出了 Stoilov算法的正确表达式,采用线性误差理论详细分析了算法的性能,尤其是算法性能对相移步长的依赖关系。分析表明,可以选择一个最佳的相移步长以有效减少位相测量误差:相移步长为 52时可有效抑制二次相移量误差的影响;相移步长为 90时可极大地减少光强误差的影响。最后给出了 Stoilov算法与 Carr算法和 Hariharan算法的比较。