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文档简介

实验一 实验箱及小规模集成电路的使用一 实验目的1 掌握实验箱的功能及使用方法2 学会测试芯片的逻辑功能二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74ls00 二输入端四与非门 1片74ls86 二输入端四异或门 1片74ls04 六非门 1片三 实验内容1 测试芯片74ls00和74ls86的逻辑功能并完成下列表格。 (1) 74ls00的14脚接5v电源,7脚接地;1、2、4、5、9、10、12、13脚接逻辑开关,3、6、8、11接发光二极管。(可以将1、4、9、12接到一个逻辑开关上,2、5、10、13接到一个逻辑开关上。)改变输入的状态,观察发光二极管。74ls86的接法74ls00基本一样。表1.1 74ls00的功能测试输入输入输出1、4、9、122、5、10、133681100011011表1.2 74ls86的功能测试输入输入输出1、4、9、122、5、10、133681100011011(2)分析74ls00和74ls86的四个门是否都是完好的。 2 用74ls00和74ls04组成异或门,要求画出逻辑图,列出异或关系的真值表。&123&456gnd7&1098&13121114vcc74ls0011231456gnd711098113121114vcc74ls86gnd7vcc1474ls044316512111213110111891(3)利用74ls00和74ls04设计一个异或门。画出设计电路图。实验二 译码器和数据选择器一 实验目的1继续熟悉实验箱的功能及使用方法2掌握译码器和数据选择器的逻辑功能二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74ls138 3线8线译码器 1片74ls151 八选一数据选择器 1片74ls20 四输入与非门 1片三 实验内容1 译码器功能测试(74ls138) 芯片管脚图如图2.1所示,按照表2.1连接电路,并完成表格。其中16脚接5v,8脚接地,16脚都接逻辑开关,7、9、10、11、12、13、14、15接发光二极管。表2.1输入输出使能端选择端a2a1a011111111110111111111000001000011000101000111001001001011001101001112 数据选择器的测试(74ls151)按照表2.2连接电路,并完成表格。其中16脚接5v,8脚接地;9、10、11,为地址输入端,接逻辑开关;4、3、2、1、12、13、14、15为8个数据输入端,接逻辑开关;为选通输入端,y为输出端,接发光二极管。 表2.2选通端地址输入端数据输入端输出a2a1a0d0d1d2d3d4d5d6d7y10000000111110001111000000010111100000011101011110100010100000101110011000110110011100111111100003 分别用74ls138(配合74ls20)和74ls151实现逻辑函数,要求画出逻辑图。gnd816vcc74ls1511d32d23d24d05y7g15d414d513d612d711a06y10a19a2gnd816vcc74ls1381a02a13a24s25s37y715y014y113y2612y311y46s110y59y6实验三 加法器和中规模集成电路的改造一 实验目的1掌握半加器和全加器的功能测试2掌握中规模集成电路的功能改造。二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74ls00 二输入端四与非门 1片 74ls151 八选一的数据选择器 1片74ls86 二输入端四异或门 1片74ls54 四组输入与或非门 1片三 实验内容1 测试用异或门(74ls86)和与非门(74ls00)组成的半加器的逻辑功能(1)按照图3.1进行连线,其中a、b接电平开关,y、z接发光二极管。(2)按表的要求改变a、b状态,填表。321=1321&654&abyz图 3.1表3.1输入端a0011b0101输出端yz2 测试全加器的逻辑功能(1)用异或门74ls86、与或非门74ls54、与非门74ls00组成全加器,按图3.2接线,其中a、b、ci接电平开关,s、co接发光二极管,74ls54的3、4、5、9、10、11均接地。(2)按表要求改变a、b、ci的状态,并填表。1321=1654=1 & 1321&21213abcisco图3.2表3.2abcicos0000010100111001011101113 测试以下电路的逻辑功能,要求写出真值表,得出逻辑表达式并化为最简与或式。11231456gnd711098113121114vcc74ls86&123&456gnd7&1098&13121114vcc74ls00gnd816vcc74ls1511d32d23d24d05y7g15d414d513d612d711a06y10a19a2gnd714vcc74ls541a2b3c4d5e6y13j12i11h10g9f8 74ls54逻辑表达式:实验四 中规模集成电路的改造一 实验目的掌握中规模集成电路的功能改造。二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片: 74ls151 八选一的数据选择器 1片74ls04 六非门 1片三 实验内容1 用74ls151和74ls04实现逻辑函数,并画出逻辑图gnd816vcc74ls1511d32d23d24d05y7g15d414d513d612d711a06y10a19a2gnd714vcc74ls0411312112134156111110198实验五 触发器及示波器的使用一 实验目的1 熟悉并掌握d,j-k触发器的构成工作原理和功能测试方法。2 学会正确使用触发器集成芯片。二 实验仪器及芯片1 双踪示波器2 器件: 74ls74 双d触发器 一片 74ls76 双jk触发器 一片三 实验内容边沿触发器的测试1在实验箱上将d触发器连接成t触发器2 用示波器ch1通道显示时钟cp信号;用ch1通道显示触发器输出信号q,观察q的变化发生在cp的什么状态?3 把d触发器换成jk触发器,并连接成t触发器,利用示波器观察q与cp的关系4 绘制时序图5 要求画出d和jk触发器改造成t触发器的连接图。74ls7421d31cp51qgnd714vcc122d112cp92q82q132rd102sd61q11rd41sd74ls7611cp41j5vcc151q161k13gnd122k112q92j21sd62cp31rd72sd82rd102q141qcprdsdqqjk图5.2 jk触发器的逻辑符号rdsdqqdcp图5.1 d触发器的逻辑符号实验六 集成移位寄存器一 实验目的 掌握集成双向移位寄存器74ls194的逻辑功能。二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74ls194 双向移位寄存器 1片三 实验内容1 并行输入并行输出寄存器逻辑功能的测试。接逻辑电平开关,接发光二极管,cp接按键脉冲。74ls194的状态功能如表6.1。按照表6.2的要求进行输入,观察输出,并在表中记录结果。74ls1941cr4d15d215q016vcc13q212q311cp9s02sr6d33d07sl8gnd10s114q1图6.1 74ls194的管脚图表6.1s1s0工作状态0置零100保持101右移110左移111并行输入2 右移逻辑功能的测试按照表6.2的要求进行输入,观察输出,并在表中记录结果。3左移逻辑功能的测试按照表6.3的要求进行输入,观察输出,并在表中记录结果。表6.2 并行输入输出功能测试输 入输 出cps1s0d0d1d2d3q0q1q2q3111111110000110011111100表6.3 右移功能测试输 入输 出cps1s0srd0d1d2d3q0q1q2q30111111011000001000110101100表6.4 左移功能测试输 入输 出cps1s0d0d1d2d3slq0q1q2q301111110100001010011001110004用74ls194和74ls04实现扭环形计数器,画出逻辑图和状态转换图。gnd714vcc74ls0411312112134156111110198实验七 集成计数器一 实验目的1 掌握集成计数器74ls161的逻辑功能。2 熟悉74ls161的管脚排列。二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74ls161 四位二进制计数器 一片三 实验内容1 并行预置输入芯片管脚如图7.1所示。接逻辑电平开关,接发光二极管,cp接按键脉冲,接地,接高电平(5v),p和t一起接高电平(5v)。按照表7.2的要求进行输入,观察输出,并在表中记录结果。74ls1614d15d215co16vcc13q112q211q32cp6d33d07p8gnd10t14q01cr9ld图7.1 74ls161的管脚图表7.1 74ls161的功能表cppt工作状态0置零10预置数1111计数表7.2 计数器预置输入逻辑功能测试输 入输 出cpd3d2d1d0q3q2q1q0011110000000011011002 计数功能的测试接逻辑电平开关,接发光二极管,cp接按键脉冲。要求计数器从1000开始计数,一直到1111。按照表的要求进行输入,观察输出,并在表7.3中记录结果。表7.3 计数器计数逻辑功能测试输 入输 出cpd3d2d1d0q3q2q1q0010001111113 用预置法实现七进制计数器,要求分别用发光二极管和七段数码管显示。使用74ls00和74ls161各一片,画出连线图。只需要画出原理图即可。实验八 用555定时器构成多谐振荡器一 实验目的1掌握555定时器的逻辑功能。2熟悉555定时器的管脚排

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