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集成门电路功能测试实验报告姓名：肖思文 班级：物联1001 学号：20100810324基本知识点：1、 逻辑值与电压值的关系。2、 常用逻辑门电路功能及其测试方法。3、 硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。实验内容：1、 基本门电路的逻辑功能测试 输入输出Y74LS0874LS3274LS0474LS0074LS86ABYU/VYU/VYU/VYU/VYU/V0000.1913.5213.5013.490100.1900.2013.4913.501000.1913.5113.5000.201113.4900.2000.4700.20所测试的基本门电路的逻辑功能与预测实验结果相同。2、逻辑门的转换利用 74S00 与非门组成非门，2 输入与门,2 输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。非门：逻辑图：AY013.50V100.17V实验结论：所测数据与理论数据相同，验证了非门逻辑。与门：逻辑图：ABY0000.17V0100.17V1000.17V1113.49V实验结论：所测数据与理论数据相同，验证了与门逻辑。或门：逻辑图：ABY0000.17V0113.50V1013.49V1113.50V实验结论：所测数据与理论数据相同，验证了或门逻辑。3、门电路的基本应用测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能。根据半加器的逻辑表达式可知，半加器的输出的和数 S 是输入 A、B（二进制数）的“异或”，而进位数 C 是 A、B 的相“与”，故半加器可用一个集成“异或”门和二个“与非”门组成，如图 1.3.3 所示。 在实验箱上用“异或”门(74LS86)和“与非”门连接如图 1.3.3 所示逻辑电路。输入端A、 B接“逻辑电平”开关，输出端 S、C接“电平显示”发光二极管。 通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，列表记录。逻辑电路图：ABSC000（0.15V）0（0.11V）011（3.54V）0（0.11V）101（3.54V）0（0.11V）110（0.19V）1（3.54V）实验结论：实验验证了半加器的逻辑功能。实验总结：由于这次实验相对于比较简单，做起来也比较顺手，但是在测量数据的时候也会出现一些小问题，这次实验让自己了解了非门，与门，或
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