YB3209-1982锻钢冷轧工作辊超声波探伤方法.pdf

丫ill中华人民共和国冶金工业部部标准-YB 3 209-8 2锻钢冷轧工作辊超声波探伤方法1 9 8 2一 0 8一1 3 发布1 9 8 3 一 0 7 一 0 1 实施中华人民 共和 国冶 金工业部批准中华人民共和国冶金工业部部标准YB 3 2 09 -9 2锻钢冷轧工 作辊超声波探伤方法 本标准适用于检验锻钢冷轧工作辊 ( 包括轧制有色金属薄板及箔材、光亮钢板及钢带、普通钢板及钢带用冷轧工作辊，平整机工作辊，有色金属冷开坯工作辊等)的锻件和成品。1 仪器装置 1 . 1 探伤所用仪器，应符合J B 1 8 3 4 -7 6 ( A型脉冲反射式超声波 探伤仪 技术条 件的要求。 1 . 2 采用单晶片直探头，工作频率 2 - - 2 . 5 MHz ， 必要时可采用 其它类型 探头或变换 探伤频率进行探测 。2 探伤方法 2 . 1 采用接触法探伤，以适当的机油作为祸合剂。 2 . 2 轧辊锻件探伤，应先将锻件加工成简单圆柱体 ( 各部位凹槽、 盘鼓状、 各段台阶过渡及内孔等，应在探伤后加工)，探伤表面的光洁度应不低于p5 . 2 . 3 探伤扫描速度不大于l 0 0 m m / s , 探头移动扫描时，晶片直径的覆盖应不 小于1 0 % , 2 . 4 探测面以圆柱面为主， 必要时应对端面进行探测， 鉴于低倍缺陷的方向性和探头超声场的特性，被 探轧辊 应放在使轧辊可以自由 转动的支架上，以 保证整个圆周面能 被扫 描。 2 . 5 起始灵敏度: 根 据D G S ( A V G )法，在工件 完好 部位， 按诱 2 m m 平 底孔当 量，将 底波调至2 0 %屏高。 2 . 6 对穿透性不良部位，允许重新退火后再探。验收条件 3 . 1 不允许有白 点、裂纹、缩管残 余及线性波形 与游 动性波型缺 陷。对无丙孔的 轧辊 允许有不大于辊身直径1 2 %的中心疏松。 3 . 2 第四次底反射应不小于7 0 %满屏高。 3 . 3 轧辊按图 1 和图2所示的部位分区，各区允许存在的缺陷不应超过表 1 的规定。图 1 D 2 5 0 mmI 表面区:S 二 。 . 3 D, S , 二 。 . 2 D ( 电渣钢)、 0 . 1 5 D ( 非电渣钢);11 中已 、 区:S2 二0 . 1 h;班 中间区;IV-辊颈非传 动端区，当两端 均为传 动端或两端辊颈 需表面淬火时，则 属111 区。 表 1区别辊身直径D，mm4 2 5 0夕 2 5 0允 许存 在的 缺陷I在规定的灵敏度 ，不允许有缺陷波0允许有零星分散的、小于功3.m当徽缺陷允许有零星分散的、不大于0Z mm当量的缺陷m 允许有单个零星分散的、娇2 一4 mm当量缺陷，其间距应不小于s o . m。在辊身部分，此种缺陷应不多于1 0 个I V 允许有单个零星分散的02 一6 mm当 ,.缺陷，其中0 9 一 6 m m 当 最 缺 陷 不 得 多 于 5 个 ， 且 其 间 距 应 不 小 于5 0 m m; 允许有不大于 02 -m 当员的缺陷密集区3 处，每个密集区的面积应不大于g c .2 ,各密集以问距应不， 、 于1 5 0 .-4 检验与报告 4 . 1 轧 辊 的 探 伤 应 由 制 造 厂 进 行 ， 用 户 可 以 复 验 ; 也 可 经 双 方 协 议 ， 由 用 户 进 行 ， 探 伤 结 果 如 不 合格，应由制造厂负责。 4 , 2 探伤报告应对存在的缺陷作详细记录，记录可用文字说明， 也可以用图形与数字或符号来表明缺陷的性质、大小和位置。对零星分散的小于功2 mm当量的缺陷可不作记录。Y B 32 0 9- 9 2 附录A缺 陷 的 测 定 ( 补充件)A. 1 单个 缺陷大小 缺陷尺寸小于探头晶片 直径时， 按DGS ( AV G)法 确定缺 陷当 量; 缺陷尺寸 大于 探头晶 片直径时， 采用半波高法 确定缺 陷大小。A. 2 密 集缺陷 缺陷数量在3 个以上，且其间距小于缺 陷平 均直径的3 倍 ( 对不大于砂 2 m m 缺陷， 其间距按不大于6 m m 计)，或在 探测方向上无法区 分缺陷大小的3 个以上缺 陷的区域， 称为密集缺陷，其面 积从 探头中 心算 起， 并通过几何计算所求得的实 际缺 陷面积。A. 3 线性缺 陷 按半波 高法测定长 度不小于3 0 m m 的连 续线性缺陷;或将探头 移动3 0 m m，在同一 深度上 断续出现3 个以 上缺陷信号，且间距小于缺陷平均尺寸3 倍的断续线性缺 陷。A. 4 游 动信号 随着探头的 移动， 在示波 屏上出 现明显游动的缺 陷信号。A. 5 中心疏松在探伤扫描的灵敏度下，中心出现的草状波 ( 必要时以较低频率核对)，这些缺陷信号 按D G S ( A V G )法衰减至 该位置价 2 m m当 量波 高为2 0 %屏高时，反射 信号应在屏上消失或少于5 %满屏高。A. 6 穿透性不良区底反射的次数和高度小于标准规定值的区域。V B 3 2 0. 一 日 2 附录B探伤报告的缺陷记录 ( 补充件) 当 采用符号与数 字来记 录缺 陷时.为 使记录 能为 双方所确认，推荐下述的记录方法。B. 1 缺陷记录B. 1 . 1 缺陷记录方法，采用三段记录形式: 第一 段一 第二段一 第三 段 第一 段记录缺陷在轴向剖面上投影的位置。 用D ; 表示 缺 陷所在的 轴段( 以打印端 的轴段为D , ) ,用数字表示缺陷与该轴段基准面 ( 近打印端方向的端面)的距 离 ( mm ) ,游 动信号则加上小 括号并以分子表示距离、分母表示深度。 第侧段 记录缺 陷在径向剖面上 投影 的位 置。 以 倪表 示4 个等分圆周的 基准点， 顺时针方 向排列( 其中: 与 “ 打印位置”方位相同) ， 用分数表示缺陷位置， 其中分子 表示距基准点周向距 离( m m )分母表示缺陷径向深度。游动信号则加上小括号，小括号的下角表示对应的轴向距离。 第三段记录缺陷大小及性质。 当 量缺陷以当 量值表示， 例如04。 线 性缺陷以当 量值和长度 ( m m )表示，例如娇 4 x 5 0 ; 大于探头晶片直径的缺陷以方括号内的面 积 ( m m 2 )表 示，例如 2 0 x 3 0 )。 密集缺陷用当 量大小及大括号内的面 积( cm, ) 表示， 例如0 4 3 x 4 ( 当缺陷当 量不大于 0 2 m m时， 缺陷当量符号可以省略)。B. 1之 记录示例，参看图B. 1 。 图 1 3 1 例1 D , 5 0 一 G Z 1 2 0 / 4 0 一 功4 表 示缺 陷A在第一 轴段，轴向 距端面 5 0 m m ， 周向FPG : 点1 2 0 m m ,径向深度4 0 m m ， 缺陷大小为0 4 mm当量。 例2 D 2 2 0 0 一( * , 1 0 0 , 1 5 0 一06 5 0 表 示缺 陷B在第二轴段，轴向 距基准端面 2 0 0 - I n , 19 1p 1 距G , 1 0 0 m m ,径向深 度5 0 m m ，缺陷为Y B32 0 9 - 8 2功 6 m m 当 员、 长S O m m 的线 性缺陷。 例3 D 2 ( 1 4 0 / 7 0 一 2 0 0 / 3 0 )一 G 3 ( 8 0 / 4 0 一1 6 0 / 3 0 ) 2 0 0 表 示缺 陷为游 动信号c在第二 轴段，轴向距离1 4 0 m m , 深度7 0 m m , 游动到轴向距离2 0 0 m m, 深度3 0 m m 。在轴向 距离2 0 0 m m 处该缺 陷从距G 3 8 0 m m, 深4 0 m m 游动至距G 3 1 6 0 m m, 深度为3 0 m m o 例4 D, 1 5 0 一 G 3 1 2 0 / 4 0 一 2 0 x 3 0 ) 表示缺陷在第一轴 段， 轴向距基准面1 5 0 mm ， 周向距G3 1 2 0 m m ,径向 深度4 0 m m，为大于 探头晶片直径的缺 陷，其尺寸为 2 0 x 3 0 _ _3 , 例5 D2 1 8 0 一 G 4 1 6 0 / 5 0 一 0 3 i 3 x 4 i 表 示该缺 陷为 功3 m m 密集缺陷， 缺陷轴向位置在第2 轴 段， 距 基准面 8 0 m m ， 周向距G 4 点1 6 0 m m,径向深 度5 0 m m ,缺 陷面 积为 3 x 4 c m “ 。B. 2 底反射次数记录B. 2 . 1 记录方法 D ;( x 一x ) / x 只 表示所在轴段， ( x 一x ) 表示起点与终