标准解读

《GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法》作为一项国家标准,规定了使用带状线结构测量微波介质基片复介电常数的具体操作流程和要求。然而,您提供的对比信息不完整,没有明确指出要与哪个具体的标准或版本进行比较。因此,直接对比其与某个特定标准的变更点无法实现。但可以一般性地说明此类标准更新时可能包含的变动方向:

  1. 测量技术的更新:新版本的标准可能会引入更先进的测量技术和设备要求,以提高测试精度和效率,如采用更精密的网络分析仪或改进的校准方法。

  2. 参数定义和计算方法的修订:随着理论研究的深入,对复介电常数的物理理解可能会有所发展,导致参数定义更加准确或计算模型的优化,以更好地反映实际材料特性。

  3. 样品制备和处理流程的调整:为了确保测试结果的可重复性和可靠性,新标准可能会对样品的尺寸、边缘处理、表面光洁度等方面提出更严格的要求,或者引入新的样品制备技术。

  4. 测试环境和条件的规范:考虑到环境因素(如温度、湿度)对测试结果的影响,新标准可能会细化测试环境的控制要求,确保测试条件的一致性。

  5. 数据处理和误差分析的改进:更新的标准可能会引入更先进的数据分析方法和统计处理手段,以及更详细的误差来源分析和修正策略,帮助用户更准确地评估测试结果的不确定性。

  6. 适用范围的扩展或限定:根据技术进步和应用需求的变化,新标准可能会扩大测试频率范围、增加不同类型介质基片的适用性,或是对特定材料或应用场合做出更具体的限定。


如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1990-12-28 颁布
  • 1991-10-01 实施
©正版授权
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