标准解读
《GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理》这一标准文件,主要规定了半导体集成电路中微处理器及与其相连的外围接口电路在进行电参数测试时应遵循的基本理论、方法和要求。该标准旨在为相关产品的设计、生产、检验以及质量控制提供统一的测试指导原则,确保测试结果的准确性和可比性。以下是该标准内容的几个关键点概述:
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适用范围:标准适用于评估和测试微处理器(CPU)及其与之配套的外围接口电路(如存储器、输入输出控制器等)的电气性能参数。这些参数包括但不限于工作电压、电流消耗、信号时序、噪声容限、频率响应等。
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测试环境:详细说明了测试环境的条件,如温度、湿度、电源稳定性等,以保证测试结果的一致性和重复性。此外,还要求测试设备和仪器需满足一定的精度要求,以减少测量误差。
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测试方法:标准详述了各种电参数的具体测试方法。例如,通过使用逻辑分析仪、示波器、电源供应器等设备,对芯片的输入输出信号延迟时间、高/低电平电压、上升/下降时间等进行量化测量。同时,介绍了动态和静态测试的不同策略,以及如何在不同操作模式下进行测试。
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参数定义与计算:对测试中涉及的各种电气参数进行了明确的定义,并提供了计算公式或方法,帮助使用者正确理解和分析测试数据。这包括但不限于设置阈值电压、计算功耗、评估信号完整性等。
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数据分析与判断准则:标准还提供了对测试数据进行分析的方法和判据,用于判断被测集成电路是否符合其规格要求。这包括对测试偏差的允许范围设定,以及如何根据测试结果进行故障诊断和性能评估。
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安全与防护措施:强调在进行测试过程中应采取适当的安全措施,防止静电放电(ESD)等对集成电路造成损害,确保人员和设备安全。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
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- 废止
- 已被废除、停止使用,并不再更新
- 1991-04-28 颁布
- 1991-12-01 实施


文档简介
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