标准解读

《GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法》是中国国家标准之一，旨在规范电子元器件中使用的结构陶瓷材料进行气密性检测的具体操作流程和技术要求。该标准适用于评估陶瓷材料或由其制成的密封件在特定条件下防止气体渗透的能力。

根据该标准，气密性测试主要通过将待测样品置于一定压力差下的环境中来实施，观察一段时间内是否有气体泄漏现象发生。具体来说，它包括了准备阶段、加压过程以及泄漏检测等步骤。其中，准备阶段涉及选择合适的测试设备和确保被测样品表面清洁无损；加压过程中需按照规定设置内部与外部之间的压力差异，并保持稳定状态足够长的时间以便准确测量；最后，在泄漏检测环节，则是利用精密仪器如氦质谱仪等工具对可能存在的微小泄露路径进行定位与定量分析。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1985-11-27 颁布
  • 1986-12-01 实施
©正版授权
GB-T5594.1-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法.pdf_第1页
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