标准解读

《JJG 363-1984 半导体点温计》是中国计量检定规程，专门针对半导体点温计的检定方法和要求进行了规定。该标准适用于使用热敏电阻作为温度敏感元件的半导体点温计，其测量范围一般在-50℃至+200℃之间。根据标准内容，半导体点温计需要满足一定的技术指标，并且通过特定的方法来进行校准与检定，以确保其测量结果的准确性和可靠性。

对于半导体点温计的技术要求，包括但不限于测量误差、响应时间等关键参数。其中，测量误差是指仪器显示值与被测实际温度之间的差异；而响应时间则指的是从改变被测环境温度到仪器显示出稳定读数所需的时间长度。此外，还对半导体点温计的工作稳定性、重复性等方面提出了具体要求。

检定过程中，首先需按照规定条件准备标准器及辅助设备，然后将待检定的半导体点温计置于指定环境中预热至稳定状态。接着，在不同设定温度点下进行比对测试，记录各点处的示值偏差情况。依据这些数据来判断该半导体点温计是否符合标准所规定的各项性能指标。如果发现有任何一项不符合，则视为不合格产品，不能用于正式场合下的温度测量工作。

整个检定过程强调了操作规范性以及数据处理准确性的重要性，旨在保证每台经过检定合格后的半导体点温计都能为用户提供可靠的服务。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准JJF 1379-2012
  • 1984-12-07 颁布
  • 1985-12-01 实施
©正版授权
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