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文档简介

手机可靠性之标准评估计划 (MPSREP)1. 热力性评估1.1. 四角度:工作状态热力性测试(DST-0)l 目的:在工作温度范围内进行环境性应力验证,以及检测在对应温度湿度环境性应力下之系统临界值;l 参考:苹果公司文档#080-0854-E1l 设备:环境性实验舱l 样本:最小2PCS,推荐4PCSl 条件:DST-0: +40/95%RH环境下测试24小时;+60/5%RH环境下测试24小时;-15/随机相对湿度环境下测试24小时;n 温度波动斜率之选择应处于测试设备能力范围之内。测试设备应该提供不同测试等级间无冷凝过渡,即有能力在测试过程中维持无冷凝环境。通常温度间切换时间(即冷却时间)为两小时。n 样本固件应使用自动测试程序进行诊断。n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。必须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 连接被测件(使用火线)并放置在恒温恒湿实验舱中。n 从DQT部分查询得当前测试压力等级所对应之测试温度与匹配相对湿度,记为初始值,并将实验舱之设置调整为该初始值(DST)。n 确保所测样本在当前测试点(DST值)环境中放置24小时。n 每间隔24小时,检查一遍所有功能是否工作正常,并准确清晰地将所观察之异常记录在案。n 重复以上四个步骤,确保所有DST值均得到测试。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。n 不影响用户体验度之外观损伤可让步接受(对于DST-0)。n 所有测试完结前,须至少进行两个周期之完整诊断测试。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。1.1.1. 四角度:工作状态热力性测试(DMT-1)l 目的:在工作温度范围内进行环境性压力验证,以及检测在对应温度湿度环境性压力下之系统临界值;l 参考:苹果公司文档#080-0854-E1l 设备:环境性实验舱l 样本:最小2PCS,推荐4PCSl 条件:DMT-1: +50/95%RH环境下测试24小时;+75/5%RH环境下测试24小时;-25/随机相对湿度环境下测试24小时;n 温度波动斜率之选择应处于测试设备能力范围之内。测试设备应该提供不同测试等级间无冷凝过渡,即有能力在测试过程中维持无冷凝环境。通常温度间切换时间(即冷却时间)为两小时。n 样本固件应使用自动测试程序进行诊断。n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 连接被测件(使用火线)并放置在恒温恒湿实验舱中。n 从DQT章节查询得当前测试压力等级所对应之测试温度与匹配相对湿度,记为初始值,并将实验舱之设置调整为该初始值(DST)。n 确保所测样本在当前测试点(DST-1值)环境中放置24小时。n 每间隔24小时(DMT-1),检查一遍所有功能是否工作正常,并清晰准确地将所观察之异常记录在案。n 重复以上四个步骤,确保所有DMT值均得到测试。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。n 不影响用户体验度之外观损伤可让步接受(对于DMT-1)。n 所有测试完结前,须至少进行两个周期之完整诊断测试。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。1.2. 存储状态热力性概要(非工作状态)l 目的:确保产品在指定环境临界值之下进行存放,不出现任何可察觉之外观、功能或性能损伤或退化;l 参考:苹果公司文档#080-0854-E1l 设备:环境性实验舱l 样本:4PCSl 条件:n 第一测试点: +65/随机相对湿度;第二测试点:+40/90%RH;第三测试点:-40/随机相对湿度;n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 将样本关机(确保非工作状态)。n 将实验舱参数设置为条件测试参数30分钟后(已在1.2条件章节中指定),置入待测样本。n 确保所测样本在当前测试点环境中放置72小时。当每个测试点均已进行72小时测试后,在运行诊断模式下检查所有样本之功能(在每个测试点所指定温湿度临界值之下),并准确清晰地将所发生之失效细节记录在案。n 将实验舱恢复常温两小时,并使所测样本持续放置在该常温环境中两小时。n 准确清晰地将对应功能诊断下所发现之功能失效情况记录在案。在每个条件测试完结时,进行针对模块之功能检查。n 对于所有待测点,重复上述二至六步。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。n 不影响用户体验度之外观损伤可让步接受(对于DST-0)。n 所有测试完结前,须至少进行两个周期之完整诊断测试。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。1.3. 高温密封与恢复(DST-0热力性加速老化)l 目的:此测试为非工作状态环境性压力测试,设计意图为进行高温高湿储存环境仿真。l 参考:苹果文件#080-1654l 设备:环境性实验舱l 样本:4PCSl 条件:n DST-0:+65/90%RH环境下测试72小时;n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 测试前须将样本关机,方可置入恒温恒湿实验舱;n 实验舱自常温至+65/90%RH条件(DST-0条件下)所需升温时间需至少3小时。相对湿度上升率不可超过每小时15% ,以防止冷凝。n 在指定温度下进行72小时实验后,将实验舱恢复常温并持续4小时。n 对所测样本进行诊断,以确保所有功能均可正常运行。准确清晰地将对应功能诊断下所发现之功能失效情况记录在案。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。n 不影响用户体验度之外观损伤可让步接受(对于DST-0)。n 所有测试完结前,须至少进行两个周期之完整诊断测试。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。1.3.1. 高温密封与恢复(DMT-1热力性加速老化)l 目的:此测试为非工作状态环境性压力测试,设计意图为进行高温高湿储存环境仿真。l 参考:苹果文件#080-1654l 设备:环境性实验舱l 样本:4PCSl 条件:n DMT-1:DST-0环境下测试300小时或直至样本失效;n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 测试前须将样本关机,方可置入恒温恒湿实验舱;n 实验舱自常温至+65/90%RH条件(DMT-1条件下)所需升温时间需至少3小时。相对湿度上升率不可超过每小时15% ,以防止冷凝。n 在指定温度下进行300小时实验后,将实验舱恢复常温并持续4小时。n 对所测样本进行诊断,以确保所有功能均可正常运行。准确清晰地将对应功能诊断下所发现之功能失效情况记录在案。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。n 不影响用户体验度之外观损伤可让步接受(对于DST-0)。n 所有测试完结前,须至少进行两个周期之完整诊断测试。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。1.3.2. 高温密封与恢复(DMT-2热力性加速老化)l 目的:确保环境性压力测试处于高温存放条件下。l 参考:苹果文件#080-1654l 设备:环境性实验舱l 样本:4PCSl 条件:n DMT-2:+95/90%RH环境下测试6小时;n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 测试前须将样本关机,方可置入恒温恒湿实验舱;n 实验舱自常温至+95/90%RH条件(DMT-2条件下)所需升温时间需至少3小时。相对湿度上升率不可超过每小时15% ,以防止冷凝。n 在指定温度下进行6小时实验后,将实验舱恢复常温并持续4小时。n 对所测样本进行诊断,以确保所有功能均可正常运行。准确清晰地将对应功能诊断下所发现之功能失效情况记录在案。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。n 不影响用户体验度之外观损伤可让步接受(对于DST-0)。n 所有测试完结前,须至少进行两个周期之完整诊断测试。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。1.4. 热力性循环测试1.4.1. 非工作状态热力性循环测试(DST-0)l 目的:确认所有问题点,包含但不限于脱胶、塑料老化、物料兼容性、壳离或间隙过大、漆层/涂层问题、焊点问题、以及破裂。l 参考:苹果文件#080-1656l 设备:可提供+65/90%RH以及-20/随机相对湿度条件之环境性实验舱l 样本:空l 条件:n 高温:+65/90%RH;低温:-20/随机相对湿度;六次循环;n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 检查样本是否已存在外观及机械损伤。n 将样本置入恒温恒湿实验舱。n 将实验舱设置为高温测试条件并持续4小时。n 确保样本置于该高温测试条件下持续2小时。n 将实验舱自高温条件调整至低温测试条件并持续4小时。n 确保样本置于该低温条件下持续2小时。n 重复上述第三至第六步骤5次(共6次循环)。n 最后一次循环完结后,将实验舱自低温条件恢复为常温并持续2小时。n 对样本外观及机械损伤进行重检。l 准则:n 样本不允许出现任何外观损伤(包含褪色、间隙增大、塑胶破裂、脱胶、涂层问题,以及其他)。n 样本不允许出现任何机械损伤(包含扣件失效、显示屏损伤、锁键功能性问题、焊锡脱离等等)。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。1.4.2. 非工作状态热力性循环测试(DMT-1)l 目的:确认所有问题点,包含但不限于脱胶、塑料老化、物料兼容性、壳离或间隙过大、漆层/涂层问题、焊点问题、以及破裂。l 参考:苹果文件#080-1656l 设备:可提供+65/90%RH以及-20/随机相对湿度条件之环境性实验舱l 样本:空l 条件:n 高温:+65/90%RH;低温:-20/随机相对湿度;六次循环;n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 检查样本是否已存在外观及机械损伤。n 将样本置入恒温恒湿实验舱。n 将实验舱设置为高温测试条件并持续4小时。n 确保样本置于该高温测试条件下持续1小时。n 将实验舱自高温条件调整至低温测试条件并持续4小时。n 确保样本置于该低温条件下持续1小时。n 重复上述第三至第六步骤199次(共200次循环)。n 最后一次循环完结后,将实验舱自低温条件恢复为常温并持续2小时。n 对样本外观及机械损伤进行重检。l 准则:n 样本不允许出现任何外观损伤(包含褪色、间隙增大、塑胶破裂、脱胶、涂层问题,以及其他)。n 样本不允许出现任何机械损伤(包含扣件失效、显示屏损伤、锁键功能性问题、焊锡脱离等等)。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。1.5. 使用寿命测试无1.6. 短期生存能力测试无2. 机械性评估2.1. 随机振动(空气式、卡车式)(DST-0)l 目的:此测试为非工作状态机械性压力测试,设计意图为进行船舱环境各等级随机振动仿真。l 参考:苹果文件#080-0855,Rev R.l 设备:振动测试台及夹具l 样本:4PCSl 条件:n DST-0:对于货车式,以下每种轴向持续测试30分钟:u 5Hz,0.0010G2/Hz;u 12Hz,0.0100G2/Hz;u 18Hz,0.0100G2/Hz;u 42Hz,0.0010G2/Hz;u 80Hz,0.0010G2/Hz;u 200Hz,0.0001G2/Hz;n 对于空气式,以下每种轴向持续测试30分钟:u 5Hz,0.0001G2/Hz;u 18Hz,0.0100G2/Hz;u 100Hz,0.0100G2/Hz;u 200Hz,0.0010G2/Hz;n 测试时须置入SIM卡。n 须使用非破坏性、高传动性(高牢固性)夹具。样本须紧紧夹住,以防止夹具机械应力对之造成损伤,同时避免设备由于夹握不紧而发出震颤声。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 将样本关机,按如下顺序进行振动模式预置,首先测试货车式(参照配置文件附图(图在资料上,暂时无法复制),其次测试空气式。n 将样本固定在振动测试台上。n 对于样本,在每种振动模式下各种轴向均进行30分钟振动测试(3种轴向2种振动模式)。每个样本总测试时间为3小时。n 在各轴均测试完结后,将样本开机,并进行诊断。准确清晰地将所有功能性失效情况记录在案。l 准则:n 测试完结后,所有样本均须经过两个周期的诊断。准确清晰地将所有未通过诊断检测之结果项记录在案。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。l 报告:n 报告所有样本之原始状态数据。n 所有导致失效之基准值。n 失效模式。n 列表记录所有经过测试之样本,包含所有测试后可正常工作之样本。n 将所有失效情况显著地进行拍照。2.1.1. 随机振动(无规则式)(DMT-1)l 目的:此测试为非工作状态机械性应力测试,设计意图为进行船舱环境各等级随机振动仿真。l 参考:苹果文件#080-0855,Rev R.l 设备:振动测试台及夹具l 样本:4PCSl 条件:n DMT-1:随机式,3.0Grms(PSD=0.02G2/Hz)自5Hz至500Hz之平谱。此测试将X、Y、Z坐标轴中每轴进行30分钟测试;n 须使用裸机样本,测试时须置入SIM卡。n 须使用非破坏性、高传动性(高牢固性)夹具。样本须紧紧夹住,以防止夹具机械应力对之造成损伤,同时避免设备由于夹握不紧而发出震颤声。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 将样本关机。n 将样本固定在振动测试台上。n 对于样本,在每种振动模式下各种轴向均进行30分钟振动测试(3种轴向2种振动模式),参照配置文件附图(图在资料上,暂时无法复制)。n 在各轴均测试完结后,将样本开机,并进行诊断。准确清晰地将所有功能性失效情况记录在案。l 准则:n 测试完结后,所有样本均须经过两个周期的诊断。准确清晰地将所有未通过诊断检测之结果项记录在案。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。l 报告:n 报告所有样本之原始状态数据。n 所有导致失效之基准值。n 失效模式。n 列表记录所有经过测试之样本,包含所有测试后可正常工作之样本。n 将所有失效情况显著地进行拍照。2.2. 裸机跌落测试(1.0米,未包装状态)l 目的:确保产品可承受标称跌落应力。l 参考:苹果文件#080-0855l 设备:自动跌落测试机(DT-202型,参照2.2-1附图)l 样本:10PCSl 条件:n DST-0:裸机普通跌落:非工作状态跌落至抛光花岗岩地面,高度1米整,方位6面12边.n 确保测试前无任何外观损伤。n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 将样本关机(测试前设置成睡眠模式),将锁键置为有效。n 每个样本均应以6面12边(参照2.2-2,3附图)冲击方位从指定高度(1米整)垂直跌落至抛光花岗岩表面。以2.2-1表格所列顺序进行跌落。对于角跌落(跌落种类7-10),将待测角垂直置于样本最高角之下。(参照2.2-4附图)对于所有其他跌落,样本待测边/角水平面应与花岗岩表面保持平行。n 每经过一种跌落测试,将被测样本开机,运行诊断程序对官能度进行检查。清晰准确地将所有测试完结之失败结果及物理损伤记录在案。n 将所有物理损伤及功能性失效情况记录在案。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何结构性或功能性失效。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。l 报告:n 列表记录所有经过测试之样本,包含所有测试后可正常工作之样本。n 对于各种测试条件,将每次跌落进行编号,直至出现失败情况。n 失效模式。n 将所有失效情况显著地进行拍照。2.2.1. 裸机跌落测试(1.25米,未包装状态)l 目的:确保产品可承受标称跌落应力。l 参考:苹果文件#080-0855l 设备:自动跌落测试机(DT-202型,参照2.2-1附图)l 样本:10PCSl 条件:n DMT-1:裸机普通跌落:非工作状态跌落至抛光花岗岩地面,高度1.25米整,方位6面12边.n 确保测试前无任何外观损伤。n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 将样本关机(测试前设置成睡眠模式),将锁键置为有效。n 每个样本均应以6面12边(参照2.2-2附表)冲击方位从指定高度(1米整)垂直跌落至抛光花岗岩表面。以2.2-1表格所列顺序进行跌落。对于角跌落(跌落种类7-10),将待测角垂直置于样本最高角之下。(参照2.2-4附图)对于所有其他跌落,样本待测边/角水平面应与花岗岩表面保持平行。n 每经过一种跌落测试,将被测样本开机,运行诊断程序对官能度进行检查。清晰准确地将所有测试完结之失败结果及物理损伤记录在案。n 将所有物理损伤及功能性失效情况记录在案。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何结构性或功能性失效。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。l 报告:n 列表记录所有经过测试之样本,包含所有测试后可正常工作之样本。n 对于各种测试条件,将每次跌落进行编号,直至出现失败情况。n 失效模式。n 将所有失效情况显著地进行拍照。跌落次序跌落方位1表面2底面3顶部4底部5左侧面6右侧面7右上棱8左上棱9左下棱10右下棱11上表棱12上底棱13下表棱14下底棱15左底棱16右底棱17左表棱18右表棱表2.2-1 跌落次序(可能因关键条件改变而改变)2.2.2. 裸机跌落测试(1.5米,未包装状态)l 目的:确保产品可承受标称跌落应力。l 参考:苹果文件#080-0855l 设备:自动跌落测试机(DT-202型,参照2.2-1附图)l 样本:10PCSl 条件:n DST-0:裸机普通跌落:非工作状态跌落,抛光花岗岩地面,高度1.5米整,方位6面12边.n 确保测试前无任何外观损伤。n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 将样本关机(测试前设置成睡眠模式),将锁键置为有效。n 每个样本均应以6面12边(参照2.2-2,3附图)冲击方位从指定高度(1米整)垂直跌落至抛光花岗岩表面。以2.2-1表格所列顺序进行跌落。对于角跌落(跌落种类7-10),将待测角垂直置于样本最高角之下。(参照2.2-4附图)对于所有其他跌落,样本待测边/角水平面应与花岗岩表面保持平行。n 每经过一种跌落测试,将被测样本开机,运行诊断程序对官能度进行检查。清晰准确地将所有测试完结之失败结果及物理损伤记录在案。n 将所有物理损伤及功能性失效情况记录在案。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何结构性或功能性失效。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。l 报告:n 列表记录所有经过测试之样本,包含所有测试后可正常工作之样本。n 对于各种测试条件,将每次跌落进行编号,直至出现失败情况。n 失效模式。n 将所有失效情况显著地进行拍照。2.3. 挤压与压力测试(6.5kgf,5毫米直径探头)(DST-0)l 目的:此测试为对手指/小物件按压应力进行仿真,以及检查关键部件(譬如LCD)是否损坏,包含对电池附近温度进行监测。l 参考:苹果文件#080-1382,与080-1654l 设备:数字按压应力计量仪,覆着2.5毫米厚度橡胶垫之5.0毫米直径圆形平底之力度探头(参照2.3-1附图)l 样本:6PCSl 条件:n 设备条件:u 对样本进行诊断检测,以确保各功能工作正常。准确清晰地将所有不良记录在案。u 将样本充满电。n 夹具设置:u 简要支撑长边固定(最长边)。u 平整光滑表面(平面)。u 简要支撑宽边固定(最短边)。n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。注意:iPod面壳及底壳均覆盖着1.0厘米1.0厘米对称网格。譬如,若iPod尺寸为53毫米103毫米,则应在各面各底上均匀覆盖50个网格点,该网格点须包含LCD中部及四角各点,若有必要,须校准。(参照2.3-3附图)l 流程:n 将覆着2.5毫米厚度橡胶垫之5毫米直径圆形平底之力度探头安装在数字按压应力计量仪上。n 按照以下顺序进行测试:u 第一,平面支撑条件,5毫米直径探头,6.5kgf施力于样本;u 第二,长边支撑条件,5毫米直径探头,6.5kgf施力于样本;u 第三,宽边支撑条件,5毫米直径探头,6.5kgf施力于样本;u 第四,M68所有侧面,5毫米直径探头,6.5kgf施力于样本;拉伸强度试验机速度应置为75毫米每分钟。n 按照2.3-3附图所示测试点顺序,使用5毫米直径橡胶垫,对样本作6.5kgf施力动作,网格中每个测试点所受施力须持续2秒。n 准确清晰地将任何物理损伤或测试点失效情况记录在案(测试点退化或白点)。n 针对所有条件、表面重复以上第三、第四步骤。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何故障或物理损伤;不允许在5毫米橡胶垫6.5kgf施力下出现任何退化点或白点;不允许出现任何影响用户体验之外观损伤。n 无任何非典型性热损。n 将所有异常进行报告,并确保对失效进行分析。准确清晰地将测试过程中产生的所有损伤记录在案。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。2.3.1. 挤压与压力测试(25kgf,100毫米直径探头)(DMT-1)l 目的:此测试为对M68被坐压进行仿真,以及检查关键部件(譬如LCD)是否损坏,包含对电池附近温度进行监测。l 参考:苹果文件#080-1382,与080-1654l 设备:数字按压应力计量仪,覆着2.5毫米厚度橡胶垫之100毫米直径圆形平底之力度探头(参照2.3-1)l 样本:6PCSl 条件:n 设备条件:u 对样本进行诊断检测,以确保各功能工作正常。准确清晰地将所有不良记录在案。u 将样本充满电。n 夹具设置:u 简要支撑长边固定(最长边)。(参照2.3-2支撑条件附图)u 平整光滑表面(平面)。u 简要支撑宽边固定(最短边)。n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。注意:iPod面壳及底壳均覆盖着1.0厘米1.0厘米对称网格。譬如,若iPod尺寸为53毫米103毫米,则应在各面各底上均匀覆盖50个网格点,该网格点须包含LCD中部及四角各点,若有必要,须校准。(参照2.3-3附图)l 流程:n 将覆着2.5毫米厚度橡胶垫之100毫米直径圆形平底之力度探头安装在数字按压应力计量仪上。n 使用100毫米直径探头对样本背面XY坐标中心进行25kgf持续2秒施力测试。n 重复上述第二步骤60次。n 对于LCD面(表面)重复上述第二及第三步骤。n 准确清晰地将任何物理损伤或失效点记录在案(测试点退化或白点)。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何故障或物理损伤;不允许在100毫米橡胶垫25kgf施力下出现任何退化点或白点;不允许出现任何影响用户体验之外观损伤。n 无任何非典型性热损。n 将所有异常进行报告,并确保对失效进行分析。准确清晰地将测试过程中产生的所有损伤记录在案。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。2.3.2. 挤压与压力动态负荷测试(1.5kgf间隔施力,5毫米直径探头)(DMT-2)l 目的:此测试为对手指按压动作进行仿真,以及检查关键部件(譬如LCD)是否损坏,包含对电池附近温度进行监测。l 参考:苹果文件#080-1382,与080-1654l 设备:数字按压应力计量仪,覆着2.5毫米厚度橡胶垫之5.0毫米直径圆形平底之力度探头(参照2.3-1)l 样本:6PCSl 条件:n 设备条件:u 对样本进行诊断检测,以确保各功能工作正常。准确清晰地将所有不良记录在案。u 将样本充满电。n 夹具设置:u 简要支撑长边固定(最长边)。(参照2.3-2支撑条件附图)u 平整光滑表面(平面)。u 简要支撑宽边固定(最短边)。n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。注意:iPod面壳及底壳均覆盖着1.0厘米1.0厘米对称网格。譬如,若iPod尺寸为53毫米103毫米,则应在各面各底上均匀覆盖50个网格点,该网格点须包含LCD中部及四角各点,若有必要,须校准。(参照2.3-3附图)l 流程:n 将覆着2.5毫米厚度橡胶垫之5毫米直径圆形平底之力度探头安装在数字按压应力计量仪上。n 按照以下顺序进行测试:u 第一,平面支撑条件,5毫米直径探头,6.5kgf施力于样本;u 第二,长边支撑条件,5毫米直径探头,6.5kgf施力于样本;u 第三,宽边支撑条件,5毫米直径探头,6.5kgf施力于样本;u 第四,M68所有侧面,5毫米直径探头,6.5kgf施力于样本;确保所有测试点均采用75毫米每分钟(近似地)参数进行测试。n 按照2.3-3附图所示测试点顺序,使用5毫米直径橡胶垫,对样本作6.5kgf施力动作,网格中每个测试点所受施力须持续2秒。n 增加1.5kgf施力并重复测试所有测试点,直至失效。n 准确清晰地将任何物理损伤或测试点失效情况记录在案(测试点退化或白点)。n 针对所有条件及表面重复以上第三、第四步骤。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何故障或物理损伤;不允许在100毫米橡胶垫25kgf施力下出现任何退化点或白点;不允许出现任何影响用户体验之外观损伤。n 无任何非典型性热损。n 将所有异常进行报告,并确保对失效进行分析。准确清晰地将测试过程中产生的所有损伤记录在案。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。2.4. 球体碰撞无2.5. 重复性重力跌落(7.5厘米)l 目的:此测试为确保产品可承受小距离跌落应力。l 参考:空l 设备:颗粒表面测试板l 样本:4PCSl 条件:n 颗粒表面测试板上5500次跌落。n 以7.5厘米高度手动跌落。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。n 测试时须置入SIM卡。l 流程:n 以7.5厘米高度将样本表面手动随机跌落至颗粒表面测试板上1250次,每隔250次检查一次。n 对样本底面重复步骤1动作。n 以7.5厘米高度将样本左侧面手动随机跌落至颗粒表面测试板上750次,每隔250次检查一次。n 对样本右侧面、底部及顶部重复步骤3动作。所有表面跌落次数共计5500次。n 将任何功能性或机械性损伤记录在案。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。n 不允许出现影响用户体验之外观损伤。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。2.6. 转盘键按压寿命周期测试l 目的:此测试为对转盘键盘使用寿命仿真。l 参考:苹果文件#080-1654l 设备:环境性实验舱l 样本:4PCSl 条件:n DST-0:+65/90%RH环境下测试72小时;n 测试时须置入SIM卡。n 此测试应优先进行,所有样本应至少进行两个周期之完整诊断测试。须将所有样本之原始诊断结果记录在案。l 流程:n 将样本固定在测试床上。n 启动计数诊断程序。n 对1号方位之5个测试点以250gf进行5千次施力测试。n 对2号方位之4个测试点重复第3步骤动作。n 重复第3及第4步骤动作,直至各测试点共测8万次。n 对1号方位之5个测试点以500gf进行5千次施力测试。n 对2号方位之4个测试点重复第6步骤动作。n 重复第6及第7步骤动作,直至各测试点共测8万次。1l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。n 不允许出现影响用户体验之外观损伤。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。2.7. 锁键寿命测试l 目的:验证锁键之可靠性。l 参考:苹果文件#080-0969&元器件技术指标l 设备:锁键测试夹具,施力计量仪l 样本:4PCSl 条件:n 施力力度:450gf(1磅力)。n 寿命:1万次。n 须保证至少手动完成理论次数一半数量之测试。l 流程:n 将样本固定在测试床上,对锁键进行450gf之开关测试(激活与去激活)。n 每隔2000次对锁键功能进行检查。n 每隔2000次对锁键激活所需施力力度进行测量并将3次测量之平均值记录在案。n 建议施力频率为2赫兹(即每秒2次)。l 准则:n 测试过程中,不允许出现任何功能性失效。2.8. 菜单键测试l 目的:验证菜单键之可靠性。l 参考:空l 设备:空l 样本:空l 条件:n 将样本开机并进行输入输出(数据吞吐)诊断。n 测试次数为34万次。n 施力力度为450gf。l 流程:n 将样本固定在测试床上。n 对功能进行检查并每隔1万次对菜单键动作力度进行测量。l 准则:n 测试过程中,不允许出现任何功能性失效。2.9. 连接线插拔测试l 目的:对连接线插拔寿命进行仿真。l 参考:空l 设备:空l 样本:空l 条件:空l 流程:n 对样本外观进行检查,排查所有破裂、变形及异常状况。n 重复地将插头插入插座继而拔出,按照随后附录之3.3,1-1列表,对插头进行功能检查,并每隔2000次对插拔力度进行测量。检查时应轻柔扭动或旋动插头,将所有PIN脚功能全检。n 至少完成插头手动插拔测试要求测试次数50%。n 重复此测试达1万次。n 将磨损、破裂、碎屑及其他状况显著地标示出来,并清晰地拍照留案。l 准则:空2.10. 耳机测试(10k)l 目的:验证耳机插座及连接线使用寿命是否可接受。l 参考:苹果文件#080-0969&元器件技术指标l 设备:连接器需已经过手动测试,用于连接器老化测试之热冲击实验舱l 样本:4PCSl 条件:n 常规实验室环境,连接器老化测试另计。n 1万次(7至10次每分钟),插力最大为2.5kgf,拔力最小为0.2kgf。l 流程:n 对样本外观进行检查,排查所有破裂、变形及异常状况。n 对于耳机插孔,在插拔测试开始之前及完结之后优先运行OPAS(优化音频套件)。n 将插头插入插座继而拔出;连接器进行功能检查,并每隔2000次对插拔力度进行测量,检查时应轻柔扭动或旋动插头;耳机插孔测试项目应委派多位测试员进行手动插拔测试。n 至少完成插头手动插拔测试要求测试次数50%。n 重复此测试,直至次数满足表2.2.1-1所示数据。n 将磨损、破裂、碎屑及其他状况显著地标示出来,并拍照留案。l 准则:n 测试完结后,样本主机及其配件均不允许出现任何功能性或机械性失效。n 插拔力度应符合表格2.8-1所示要求。n 测试之前及之后OPAS测量数据之差异须小于或等于TBD。n 所有测试完结前,须至少进行两个周期之完整诊断测试。n 须使用FATP自动测试设备检测后,结果正常,才可判定为通过。测试项目次数插入应力(kgf)拔出应力(kgf)建议测试速度(每分钟次数)连接线5,000最大2.5最小0.27至10次耳机10,000最大2.5最小0.27至10次插头10,000最大2.0最小0.51至2次接口坞,插头支撑座10,000最大2.0最小0.51至2次接口坞,插头背部10,000最大2.0最小0.51至2次接口坞,音频输出5,000最小0.4,最大1.0最小0.4,最大1.07至10次火线,6脚5,000最大4.0最小1.0,最大4.07至10次电源适配器,交流插头5,000TBDTBD7至10次其他插头(S端子等)2,000TBDTBD7至10次表 2.8-12.11. 接口坞插拔测试(2k)l 目的:验证接口插拔之可靠性。l 参考:无l 设备:手动测试l 样本:2PCS主机及匹配配件l 条件:测试2000次(每分钟1至2次)。l 流程:n 对各样本进行2000次插拔测试(各样本间每隔100次交换测试),分别在第1次、第100次、第200次、第300次、第500次、第1000次、第2000次测试完结时,对拔出应力进行测量。n 仔细对过度磨损及破损迹象进行观察。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。插拔应力应遵从技术指标。2.12. 音量键测试l 目的:验证上下音量键之可靠性。l 参考:空l 设备:空l 样本:4PCSl 条件:n 力度为450gf(1磅力)。n 测试次数为7000。n 将样本置于输入输出诊断模式(数据吞吐测试模式)。l 流程:n 按“上”键1000次后按“下”键1000次。n 将测试力度记录在案。n 重复上述第1至第2步骤,直至测试次数共达7000次。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。2.13. 机体翻倒测试无2.14. LCD振动白点测试无2.15. 插拔侧力测试l 目的:本测试项目之设计意图为,对插头以一定距离歪斜插入插座之应力进行测试,并对造成此现象之用户使用情景进行重复性模拟仿真。l 参考:无l 设备:本测试需最大精度可达0.1kg且十字头移动速率可达350mm/min之拉伸测试仪(拉伸强度测试机或等同功能设备),或可对本测试需求进行循环测试且可对累计周期进行计数之相关仪器。l 样本:TBDl 监测:本测试项目预期通过在进行插头侧力插拔测试时对所有功能进行检查,以便捕捉到信号之间断状况。无论如何,尽管测试要求非常苛刻,但30pin插头所有功能与耳机插孔特别是耳机插孔输出及线路输出须在每500次测试之开始与结尾进行检查。在进行功能性检查时应轻柔扭动或旋动插头(对插头尾端施力应不大于500克力)以便分辨听觉上的异常是否由焊点开路、焊盘脱离或者通路断续引起。l 流程:n 将样本主机固定在30pin插头对面并且将保护塞打开。该保护塞由薄垫片支撑,故并不会紧压样本主机。(参照2.14.1-1附图)n 样本插孔与样本主机间应以正交距离7mm进行2.5kgf(5.5磅力)进行施力。n 共测2000次。(1000次上,1000次下)n 每隔500次,上下施力方位互相切换,对于本测试项目,一种施力效应对应一个周期。注意:十字头移动速率(或活塞移动速率)应设置为350mm/min (+10%,-30%)。拨片力度须控制,为保证可控性,在必要情况下,苹果MP3播放器可靠性可能会以更低速率进行确认。本设置可提供110次每分钟之周期速率。*=使用A34型系索或其他由苹果MP3播放器可靠性所指定之插头尾端对30pin插头进行测试。l 准则:n iPod标准必要条件为无受损状态下可承受测试次数共2000次。2.16. 音频输出插座(3.5毫米)不规则侧力测试l 目的:验证在异常方式下拔出插头时之样本可靠性。l 参考:苹果文档#080-1288,5.2章节l 设备:插拔测量仪l 样本:3PCSl 条件:n 推力:最大5kgf(11磅力)。n 测试次数:10次。n 测试对象:u 30pin插头(只做上下施力动作);u 音频插孔(上下左右四个方向),参考2.16-1附图;l 流程:n 依据测试条件之定义,进行2方位或4方式推力测试。n 对每个方位尝试实施最大5kgf(11lbf)施力测试,并在插头或插座出现任何异常征兆时进行检查。n 约距0.5mm时对样本进行施力。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性或电子性失效。n 对所有插或拔所导致之损伤标注清楚。n 测试完结后执行OPAS,并将结果记录在案。2.17. 扭矩测试无2.18. SIM插槽测试l 目的:验证SIM卡槽插拔可靠性。l 参考:无l 设备:无l 样本:2PCSl 条件:空l 流程:n 开关SIM卡槽并拔出插入SIM卡200次。n 每隔20次进行通话检查。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。n 不允许出现对用户体验产生重大影响之外观损伤。2.19. 静音切换测试l 目的:对静音切换使用寿命进行仿真验证。l 参考:无l 设备:手动测试l 样本:未指定l 条件:n 测试次数共计7000次。n 将样本充满电并且运行输入输出诊断模式(数据吞吐测试)。l 流程:n 对静音键进行自静音状态至非静音状态手动切换测试。重复步骤1直至共计7000次测试完成。l 准则:n 测试完结后,不允许出现任何功能性失效。n 不允许出现对用户体验产生重大影响之外观损伤。3. 环境性评估3.1. 盐水浸敷测试l 目的:确认海水对性能之负面影响。l 参考:无l 设备:盐水喷雾实验舱l 样本:4PCSl 条件:n 5%浓度盐水喷雾 per ASTM B117;n 35环境温度。n 持续性48小时测试。l 流程:n 在测试之前,各样本均需检查且确保无任何错误发生。n 执行硬盘全检,以确保测试之前无任何磁盘扇区坏道出现。n 将样本设置为工作状态(譬如播放歌曲),每隔1小时检查一次功能。n 将样本从实验舱中取出,并放置于常温中30分钟以上。对所有功能进行检查。l 准则:以时间-功能性失效对格式进行结果报告,然后开机检测所有功能响应,并将所有外观腐蚀特征进行50倍放大拍摄。3.2. 汗渍滴漏测试无3.3. 雨水测试无3.4. 灰尘测试无3.5. 水汽冷凝测试l 目的:此测试为对用户将产品自低温环境带至温暖潮湿环境之状态进行仿真,并对冷凝状况进行研究。l 参考:无l 设备:温度湿度实验舱l 样本:2PCSl 条件:将样本自0环境迁至高温高湿环境。操作模式:指定工作条件。l 流程:将处于工作状态之样本置入0环境实验舱达2小时后,立即将环境切换至45/90%相对湿度并监听工作状态30分钟。若有任何性能退化迹象,须标记之。l 准则:将所有失效发生时间或其他异常记录在案。3.6. 混合煤气流动测试无4. 涂层评估4.1. UV耐久度测试l 目的:此测试为对产品机械耐磨度进行评估,包含油漆表面、涂层、激光刻蚀等。l 参考:苹果文件#080-1780之产品涂层测试章节,#080-1479之UV测试章节,ASTM G 154-00AE1 UV 荧光设备操作常规,ASTM D4459l 设备:氙灯测试实验舱l 样本:3PCS(2PCS用于测试,1PCS用于基准参考)l 条件:n 0.80.05W/m2420nm 波长。n 黑色面板温度5

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