实验一集成门电路逻辑功能测试实验报告.doc

数字电子技术实验报告实验名称：集成门电路逻辑功能测试一、 实验目的：1、 验证常用集成门电路的逻辑功能；2、 熟悉各种逻辑门电路的逻辑符号；3、 熟悉TTL集成电路的特点、使用规则和使用方法。二、 实验设备及器件：1、 数字电路实验箱2、 74LS00四2输入与非门1片74LS86四2输入异或门1片74LS11三3输入与门1片74LS32四2输入异或门1片74LS04反相器1片三、 实验原理：集成逻辑门电路是最简单、最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高、输出幅度大、种类多、不易损坏等特点而广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较适合，因此这里使用了74LS系列的TTL电路，它的电源电压为5V+10%，逻辑电平“1”时2.4V，低电平“0”时0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标识凹口朝左，右下角第一脚为一脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。四、 实验步骤：（一）、根据接线图连接，测试各门电路逻辑功能1、与门逻辑功能测试被测试器件为74LS11三3输入与门，其引脚图见实验教材P6。（1） 按图1-1（见实验教材P6）接线，门的三输入端节逻辑开关输出插口，以供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，先下输出逻辑“0”。门的输入端接LED发光二极管。（实验时，利用DSWPK开关其电路图如下）（2） 按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C的状态，借助指示灯观测个相应输出端F的状态，当电平指示灯亮时记为“1”，灭时记为“0”，把测试结果填入表1-1中。表1-174LS11逻辑功能表输入状态输出状态ABCY0000001001000110100101011001111悬空111悬空0002、 或门逻辑功能测试（1） 按图1-2接线(见实验教材P6)，按表1-2要求用开关改变输入端A、B的状态，借助指示灯各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1-2中。（其实验电路图如下）表1-274LS32逻辑功能表输入状态输出状态ABY0000111011110111悬空1悬空01悬空11悬空悬空03、 非门逻辑功能测试输入输出状态0110悬空0（1） 按图1-3接线（见实验教材P7），按表1-3要求用开关改变输入端A的状态，借助指示灯各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1-3中。表1-374LS04逻辑表（二）、根据管脚功能图连接，测试各门电路逻辑功能1、与非门逻辑测试74LS00四2输入与非门管脚功能如图1-4所示，用其中一个门测试其逻辑功能。（其实验电路连接如下）表1-474LS00逻辑功能表输入状态输出状态UAUBY0010111011100111悬空0悬空01悬空10悬空悬空02、 用74LS86检测异或门的逻辑功74LS86四2输入异或门管脚功能如图1-5所示，用其中一个门测试其逻辑功能。（其实验电路连接如下）图 1-4图1-5 表1-574LS86逻辑功能ABY000011101110五、 实验结论与心得：1、 实验器材的使用应在可行状态下越精简越好，在与门试验中，发现利用一下方法布线复杂，并且输出端没有接地。2