SPC知识-控制图2.ppt

SPC基础知识 控制图 日期 2008年7月31日 密级 无 杭州华三通信技术有限公司 质量管理部 沈明政 1 SPC的慨念 2 控制图的制作 3 控制图的判读 目录 SPC的定义 SPC StatisticalProcessControl统计制程控制 是由制程调查来改进制程能力 不断降低产品品质的变异性 而达到提升产品品质的一种方法 其主要工具为控制图 SPC的发展历史 1910年由费雪爵士 SirRonaldFisher 所发展出来的统计理论 1924年美国贝尔实验室休华特博士Dr W A Shewhart 为解决公差标准化制定问题 研究产品品质次数分配时发明了控制图 1940年二次大战期间 由于巨大军事需要 SPC正式引进制造业 统计性思考案例 统计性思考案例 统计性思考案例 统计性思考案例 何谓统计 先看以下几个例子 第一组数据 10 1510 2510 35第二组数据 10 1010 2510 40第三组数据 10 2010 2510 30第四组数据 10 0510 2510 45问题一 它们的平均值相等吗 问题二 若SPEC定在10 25 0 15 它们合格吗 问题三 哪一组数据比较好 统计学的定义 统计是数学的一个分支 是用来讨论如何进行数据的收集 分析 解析以及大量数字数据的系统化表示 推行统计学的意义 统计的意义是从本质上了解制程或样本 避开表面现象 更准确 有效 更迅速地进行改善或调整 为何产生变异 Variation 当我们从一过程中收集数据 会发现数据不会永远相同 因为变异 Variation 在过程中随时存在 品质变异原因的种类 1 机遇原因 Chancecause 不可避免的原因 非人为的原因 共同原因 偶然原因 一般原因 是属于非控制状态的变异 2 非机遇原因 Assignablecause 可避免的原因 人为原因 特殊原因 异常原因 局部原因等 此种原因 应采取行动 使制程恢复正常 进入控制状态 控制图的意义 控制图是一种以实际产品品质特性与根据过去经验所判明制程能力的控制界限比较 而以时间经过用图形表示者 控制图的种类 用途分类 1 控制用控制图 先有控制界限 后有数据 2 解析用控制图 先有数据 后才有控制界限 SPC的基本理论是常态分配如图 0 135 常态分配 0 135 3 2 1 1 2 3 95 45 68 27 99 73 控制图原理 旋转90 将直方图旋转90 即成控制图 3 规格下限 规格上限 控制上限 直方图 控制图 控制图的种类 性质分类 一 计量值控制图 ControlChartsForVariables a 平均值与全距控制图 X RChart 应用范围 计量值数据控制 b 中位值与全距控制图 X RChart 应用范围 同上 但检出力差 c 单值控制图 XChart 应用范围 同上 但检验时间应短于加工时间 d 单值 移动极差控制图 X RmChart 应用范围 同上 但用于一定时间内只能获取1个数据的控制 控制图的种类 性质分类 二 计数值控制图 ControlChartsForAttributes a 不良率控制图 PChart 应用范围 关键全检场合 b 不良数控制图 PnChartordChart 应用范围 半成品或零部件在一定样本容量n的场合 c 缺点数控制图 CChart 应用范围 要求每次检验样本容量为n的场合 d 单位缺点数控制图 UChart 应用范围 全数检验单位缺陷数场合 数据类型范例 计数数据 类别 是 否 通过 不通过 合格 不合格 好的 有缺点的 金额 计量数据 重量 时间 长 宽 厚度 一 平均值与全距控制图 X RChart X R控制图的定义 在计量值控制图中 X R控制图系最常用的一种 所谓平均值与全距控制图 系平均值控制图 XChart 与全距控制图 RChart 二者合并使用 平均值控制系控制平均值的变化 即分配的集中趋势变化 全距控制图则控制变异的程度 即分配的离散趋势的状况 X R控制图的意义 控制图是一种品质的图解记录 在图上有中心线 规格值 及二条控制界限 中心线是一种规格值 二条控制界限是容许产品的品质特性在其间变动的范围 在制造过程中用抽查的方式 将样本的统计量 点绘于图上 用以判断品质的变异是否显著 规格上限 控制上限 规格值 中心值 控制下限 规格下限 控制图界限的計算 X RChart绘制步驟 1 选定控件目2 收集数据100个以上 并予适当分组后记入数据记录表 样本大小 n 2 5 解析用 组数 k 20 253 计算各组平均值 X X 4 计算各组全距 R R Xmax Xmin 各组最大值 最小值 X1 X2 X3 XK n 建立解析用控制图 X RChart绘制步骤 5 计算总平均值 X X 6 计算全距之平均值 R R 7 计算控制界限及绘出X控制图中心线CLx X上限UCLx X A2R下限LCLx X A2R x1 x2 x3 xk k R1 R2 R3 RK k R控制图中心线CLR R上线UCLR D4R下线LCLR D3R A2 D4 D3由系数表查得8 点图将数据点绘控制图上 相邻两点用直线连接 9 控制界限检讨10 记入其它注意事项 控制图系数表 例题 用X R控制图来控制AGPGAP 尺寸单位为mm 请利用下列数据数据 计算其控制界限并绘图 制品名称 AGP机器号码 RK006品质特性 GAP操作者 55230测定单位 mm测定者 58664制造场所 A线抽样期间 03 10 99 03 12 99 1 收集数据並記入数据记录表2 计算各組X3 计算各組R值4 计算总平均 X X 0 63 0 64 0 68 0 66 0 68 0 68 0 68 0 66 0 66 0 65 0 62 0 62 0 63 0 64 0 67 0 67 0 63 0 69 0 67 0 62 20 0 66 x1 x2 x3 xk k 5 计算全距之平均值 R R 0 08 0 07 0 06 0 09 0 10 0 08 0 07 0 11 0 07 0 08 0 08 0 08 0 08 0 07 0 11 0 11 0 10 0 07 0 03 0 03 20 0 086 计算控制界限及绘出X控制图中心线 CLx X 0 66控制上限 UCLx X A2R 0 66 0 577 0 08 0 70控制下限 LCLx X A2R 0 66 0 577 0 08 0 61 R1 R2 R3 RK k R控制图中心线CLR R 0 08控制上限UCLR D4R 2 115 0 08 0 17控制下限LCLR D3R 0 0 08 0 7 将所求出之各X值及R值点入控制图上並将相邻两点用直线连接8 制程状态检讨9 记入其它注意事项 二 不良率控制图 PChart PChart常用的符號 ni 样本数 即样本所含的件数和个数 d 样本中的不良品数 p 样本的不良品率p d niP 样本不良率的平均值p d ni PChart 不良率控制图 PChart 不良率控制图 PChart控制线的计算 中心线 CLP P d ni控制界限 UCL P 3 LCL P 3 P 1 p ni p 1 p n i PChart 不良率控制图实例 PChart控制线的計算 PChart控制线的計算 中心线 CLP P 298 240 30 0 041 4 1 控制界限 UCL P 3 0 041 3 0 41 3 0 0128 0 0794 7 94 LCL P 3 0 41 3 0 0026 0 26 p 1 p n i 0 041 1 0 041 240 p 1 p n 0 041 1 0 041 240 i PChart 不良率控制图 PChart 不良率控制图 PChart制作过程 收集数据 在5M1E充分固定 并标准化的前提下 从生产过程中收集数据 计算样本中的不合格率求过程平均不合格率计算控制线制作控制图 描点分析生产过程是否处于统计控制状态 建立控制用控制图 1 记入必要事项如制品名称 控件目 测定单位 规格等 2 作控制界限将经解析后之控制图决定之控制界限绘入 3 点图由制程抽取样本 测定其特性值 记录数据 按时由顺序点入 4 安定状态之判定5 采取措施6 控制界限之重新计算 控制图的判讀 制程是否在控制状态可用下列原则判断 1 控制图上的点都出现在控制界限内侧 并没有特别排法时 原则上认为制程是正常 这种状态谓之控制状态 2 控制图上有点超出控制界限外时 就判断制程有了异常变化 这种状态谓之非控制状态 3 控制图上的点虽未超出控制界限 但点的出现有下列法时 就判断有异常原因发生 a 点在中心线的单侧连续出现7点以上时 b 出现的点连续11点中有10点 14点中有12点 17点中14点 20点中16点出