SPC计算公式和判定准则.ppt

P 1 SPC统计过程控制 SPC统计量介绍与判定标准 P 2 常用统计量 Mean 平均值 Max 最大值 Min 最小值 Range Max Min最大跨距 StdDev标准差Cp 过程能力指数 Cr 过程能力比值 k 偏移系数 Cpu 上限过程能力指数 Cpl 下限过程能力指数 Cpk 过程能力指数 Cpm 目标能力指数 Zu Cap 规格上限SIGMA水平 Zl Cap 规格下限SIGMA水平 Fpu Cap 超出规格上限机率 P 3 常用统计量 Fpl Cap 超出规格下限机率 Fp Cap 超出规格限的机率 Pp 过程性能指数 Pr 过程性能比值 Ppu 上限过程性能指数 Ppl 下限过程性能指数 Ppk 过程性能指数 Ppm 目标过程性能指数 Zu Perf 规格上限SIGMA水平 Zl Perf 规格上限SIGMA水平 Fpu Perf 超出规格上限机率 Fpl Perf 超出规格下限机率 Fp Perf 超出规格界线的机率 Skewness 偏度 Kurtosis 峰度 P 4 计算公式 2 Max最大值 3 Min最小值 4 Range最大跨距 1 Mean均值 例 X1 2 X2 4 X3 6 X4 4 求Mean 2 4 6 4 4 4 例 X1 2 X2 4 X3 6 X4 4 求Max 2 4 6 4 6 例 X1 2 X2 4 X3 6 X4 4 求Min 2 4 6 4 2 例 X1 2 X2 4 X3 6 X4 4 求Range 2 4 6 4 6 2 4 P 5 计算公式 6 Cp 过程能力指数 7 Cr 过程能力比值 5 StdDev标准差 例 X1 2 X2 4 X3 6 X4 4 求 例 产品规格为 40 0 5 产品标准差为0 4 试计算CPCP 40 5 39 5 6 0 4 1 2 4 0 42 例 产品规格为 40 0 5 产品标准差为0 4 试计算CrCr 6 0 4 40 5 39 5 2 4 P 6 计算公式 8 k 偏移系数 例 产品规格为 40 0 5 产品均值为40 2 试计算KK 40 2 40 40 5 39 5 2 0 4 评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标 规格中心M 产品均值 规格宽度T K越大说明产品均值偏离中心值越远 P 7 计算公式 规格下限LSL 产品均值 规格上限USL 所有检验数据形成一个数据分布 而用可以衡量数据分布离散的大小 越小分布越好 数据越集中 9 Cpu 上限过程能力指数 例 产品规格为 40 0 5 产品均值为40 2 产品标准差为0 4试计算Cpu Cpu 40 5 40 2 0 4 3 0 3 1 2 0 25 Cpu越大 产品检验数据超出上限的概率就越小 也就是说产品超出上限的不合格品数量就越少 P 8 计算公式 10 Cpl 下限过程能力指数 例 产品规格为 40 0 5 产品均值为40 2 产品标准差为0 4试计算Cpl Cpl 40 2 39 5 0 4 3 0 7 1 2 0 58 规格下限LSL 产品均值 规格上限USL 所有检验数据形成一个数据分布 而用可以衡量数据分布离散的大小 越小分布越好 数据越集中 Cpl越大 产品检验数据超出下限的概率就越小 也就是说产品超出下限的不合格品数量就越少 P 9 计算公式 12 Cpm 目标能力指数 11 Cpk 修正的过程能力指数 Cpk Min Cpl Cpu Cp 1 k 例 产品规格为 40 0 5 产品均值为40 2 产品标准差为0 4试计算Cpk Cpk Min 0 25 0 58 0 25或Cpk 0 42 1 0 4 0 25 例 产品规格为 40 0 5 目标值为40 2 产品均值为40 2 产品标准差为0 4试计算Cpm Cpm 1 2 4 0 42 P 10 计算公式 产品均值 规格上限USL 13 Zu Cap 规格上限SIGMA水平 Zu Cap 表示产品均值离规格上限有多少倍标准差 也表示为几个SIGMA P 11 计算公式 产品均值 规格上限USL Zl Cap 表示产品均值离规格下限有多少倍标准差 也表示为几个SIGMA 14 Zl Cap 规格下限SIGMA水平 P 12 计算公式 Fpu Cap 表示产品检验结果超出规格上限的概率 15 Fpu Cap 超出规格上限概率 规格上限USL P 13 计算公式 Fpl Cap 表示产品检验结果超出规格下限的概率 规格上限USL 16 Fpl Cap 超出规格下限机率 P 14 计算公式 Fpl Cap 表示产品检验结果超出规格下限的概率 规格上限USL 规格上限LSL 17 Fp Cap 超出产品规格上下限的概率 P 15 计算公式 18 Pp 过程性能指数 19 Pr 过程性能比值 P 16 计算公式 20 Ppu 上限过程性能指数 21 Ppl 下限过程性能指数 22 Ppk 修正的过程性能指数 Ppk Min Ppl Ppu Pp 1 k P 17 计算公式 25 Zl Perf 规格上限SIGMA水平 23 Ppm 目标过程性能指数 24 Zu Perf 规格上限SIGMA水平 P 18 计算公式 28 Fp Perf 超出规格上下限的概率 26 Fpu Perf 超出规格上限概率 27 Fpl Perf 超出规格下限概率 P 19 计算公式 30 Kurtosis 峰度 29 Skewness 偏度 P 20 SPC判定标准 点出界就判异 界内点排列不随机判异 数据分层不够造成的异常 判异准则 三种类型 P 21 SPC判定标准 P 22 SPC判定标准 1 1个点落在A区以外OnepointbeyondzoneA P 23 SPC判定标准 2 连续9点落在中心线同一侧NinepointsinarowinzoneCorbeyondononesideofcentralline P 24 SPC判定标准 3 连续6点递增或递减Sixpointsinarowsteadilyincreasingordecreasing P 25 SPC判定标准 4 连续14点中相邻点交替上下Fourteenpointsinarowalternatingupanddown P 26 SPC判定标准 5 连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外TwoourofthreepointsinarowinzoneAorbeyond P 27 SPC判定标准 6 连续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外FouroutoffivepointsinarowinzoneBorbeyond P 28 SPC判定标准 7 连续15点落在中心线两侧的C区内FifteenpointsinarowinzoneCaboveandbelowcentralline P 29 SPC判定标准 8 连续8点落在中心线两侧且无一