SPC 管理程序.doc

深 圳 山 源 电 器 有 限 公 司Shenzhen Shan Yuan Electronic CO., Ltd受控文件章文件编号：SY-QAD/GP-007制订日期：2006/01-15二 阶 文 件生效日期：2006/02-15SPC （数据分析）管 理 程 序版 本ISO9001：2000 ISO14000：20041.0共 9 页第 9 页1. 目的1.1确定正确使用统计技术，通过收集和分析适当的数据资料，明确产品的质量及环境的控制重点，以便持续改善各项质量及环境的管理活动;1.2提供SPC的使用准则及步骤，并说明使用方法，以便在运用管制图时能够正确地决定、检讨管制界限与进行管制图的判读; 1.3通过正确使用统计技术，发现本公司生产作业过程和产品的潜在趋势和趋势，以便能达到早期预防或及时提出纠正措施并得以及时改善。2.范围2.1 涵盖整个产品实现过程及涉及的原材料、外加工品及半成品,成品的的各项统计分析活动.2.2适用于客户特别指定的产品特性统计分析活动。5.3 X-R管制图、P管制图、Cpk（制程能力指数）的运用管理。5. 参考文件31 品质记录管理程序 SY-QAD/GP-00232 纠正及预防措施控制程序 SY-QAD/GP-00833 进料IQC检验控制程序 SY-QAD/QP-01034 例行IPQC检验控制程序 SY-QAD/QP-01133 最终QA检验控制程序 SY-QAD/QP-0124. 定义4.1 SPC：统计过程控制,利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而达到保证产品质量的目的。4.2 计量值特性：凡产品的品质特性以实际量测方式取得的特性称为计量特性，例如重长等。4.3 计数值特性：凡产品的品质特性不连续，不易或不能以实际量测方式取得，只能间断取值的特性，例如不合格数、不良品率等。4.4 控制图:对过程质量加以测定、记录并进行控制管理的一种用统计方法设计的图。5.权责51 品保部：5.1.1 负责对整个产品实现过程及涉及的原材料、外加工品及半成品,成品的品质状况及客户投诉进行统计分析。5.1.3 负责对供方品质状况进行统计分析。5.1.4 执行统计技术，监督公司统计技术的运行。52 生产部(包括GEM、PTS、PTC)：5.2.1 负责对整个产品实现过程能力进行统计分析。5.2.2执行量产后的统计分析并对产品不良及过程不良制定对策。5.2.3进行初期过程能力统计以及数据分析。53 研发部：负责对研发部资料及样品的制作状况进行统计分析。文控中心：负责对文件发放、资料使用情况及发放准确率进行统计分析。5. 4 管理部：5.3.1 负责员工教育训练情况（员工培训合格率）的统计分析。5.3.2 负责ISO14001：2004环境目标达成情况进行数据分析.55 资材部：5.6.1 负责对供方品质状况及本部门采购质量进行统计分析。5.6.2 负责对采购交期率等达成情况进行数据分析。5.6 市场部：5.6.1 负责对客户满意度的测量及分析.6.程序 6.1 统计技术的应用范围6.1.1 部门质量及环境目标达成与实施情况分析；a) ROHS物料的使用率100% （品保部）b) 出货产品合格率99% （品保部）c) 客户抱怨:5次/月 （品保部）d) 交期达成:98% （生产部：GEM/PTS/PTC）e) 制程不良率5% （生产部：GEM/PTS/PTC）f) 送样合格率90% （研发部）g) 进料检验批合格率92% （资材部）h) 采购交期达成率95% （资材部）i) 员工培训上岗合格率100% （管理部）j) 客户调查不满意数0 （市场部）k) 文件、资料发放正确率100% （研发部）l) 环境指标达成情况分析 （管理部）6.1.2 针对产品或工序有影响的各种因素定量分析和质量改进。6.1.3 产品的检验。6.1.4 产品过程能力分析。6.1.5 其他数据的分析。6.2 公司各部门根据使用需要选用统计技术,常用的统计技术有:6.2.1 柏拉图（排列图）6.2.2 统计抽样6.2.4 X- R管制图6.2.5 P管制图 6.2.8 CpKPpK分析6.2.6 层别法6.2.7 直方图6.2.8 分布图6.2.9 推移图 6.3 统计技术的使用方法6.3.1 柏拉图：柏拉图的使用以层别法的项目类别为依据，依照排列位次后的统计表制成柏拉图，以便直观的看出存在的关键问题，从而采取必要的措施，其步骤为：a) 将要处理的事物现象、状况或原因加以层别。b) 确定收集资料的时间间隔，应尽可能定期。c) 计算出各项目类别所产生的数据及所占的比例。d) 依照数据所占的比例的大小顺序排列。e) 计算出数据所占的比例的累计值。f) 以项目类别为横轴，以累计值为纵轴，绘出柱状图。g) 连接累计曲线。从柏拉图中可清楚的找出关键问题，针对关键问题，制定纠正和预防措施，具体按纠正和预防措施程序执行。6.3.2 统计抽样a) 本公司产品抽样检验标准依据MIL-STD-105E (捷普产品依据C=0)抽样计划。b) 具体的抽样检验作业按相关检验标准及QC工程图进行.6.3.3 管制图a) 管制图使用规划及选择原则1. 使用规划由QA及品管部根据各制造工序影响因素及质量影响因素，结合成 本及效益，全面规划需采取管制图控制的工序和产品特性。2. 选择原则u 计量值特性选用X-R管制图。u 计数值特性选用P管制图。b) 管制图绘制、使用步骤:1. 首次使用管制图的作业程序u 决定须管制的特性。u 搜集25组数据。u 计算中心线(平均值)及管制上、下限。u 绘制管制图。u 检查是否有超出管制界限的点。u 将这些超出管制界限的资料剔除并重新计算中心线(平均值)及管制上、下限。u 决定管制图的中心线(平均值)及管制上、下限。2. 现场使用管制图的作业程序u 在新的管制图纸划出管制图的中心线(平均值)及管制上、下限。u 依规定的抽样频率及抽样数，并将所得资料记录于管制图上，且依所使用的 管制图种类进行计算。u 将计算结果描点于管制图上。u 管制图判读及异常管制图矫正/预防措施。 u 检讨管制界限。u 当完成一张管制图时，根据管制图图纸上的资料重新计算中心线 （平均值）及管制上、下限。计算时须剔除超出管制界的资料。u 比较计算前后之中心线（平均值）及管制上、下限。u 若无重大差异时在新的管制图纸延用计算前的管心线（平均值）。u 若有明显的差异时，可在新的管制图纸使用计算后的管制中心线（平均值）及管制上、下限。 c) 管制图判读原则及异常管制图的矫正(预防)措施1. 正常之管制图其各点的动态u 多数的点集中在中心线附近。u 少数的点落在管制界限附近（但未超出管制界限）。u 各点的分布呈随机状态，无任何规则可循。2. 异常管制图的判读u 任何超出控制限的点u 连续7个点在中心线之上或之下u 连续7个点上升或下降u 任何其它明显的非随机图形，如2/3的描点应落在控制限1/3的中间区域，描点成规则形状。3. 异常之管制图的矫正/预防措施u 出现任何超出控制界限的点，都应提请相关单位进行原因分析，并采取矫正措施。u 对于连续7个点在中心线之上或之下，或连续7个点上升或下降，或其它明显非随机图形，都应提请相关部门分析原因，留意趋势采取相应预防措施。u 如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果, 必要时发出矫正/预防措施报告要求其改善。d) XR管制图的使用方法 XR管制图是以管制平均值（X管制图）与全距（R管制图）的方式达到管制的目的。1. 决定样本数u 使用XR管制图的样本数（n）以2 5个为适当，但不要超过10个为宜。u 样本数一经决定后必须在使用时固定不变。2. 平均值与全距的计算u 平均值（X）= 各组内数据的和样本数。u 全距（R）= 各组内的最大值最小值。3. X 管制图与R管制图之中心线与管制上、下限的计算公式。u X 管制图之中心线与管制上、下限的计算公式：u R 管制图之中心线与管制上、下限的计算公式：u XR管制图的系数表N2345678910A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31D21.131.692.062.332.532.702.852.973.08D30.080.140.180.22D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78e) P管制图的使用方法P 管制图是以管制不良率的方式达到管制的目的。1. 决定样本数u 使用P管制图的样本数（n）以能够发现1-5个不良品最为适当，样本数的决定公式为：u 6.5.1.2 若未决定样本数，导致管制下限小于0，则下限取0。 2. 管制图的管制界限必须依管制上、下限公式计算，若样本改变时，以实际样本数代入。3. 管制图之中心线及管制上、下限的计算公式： f) 制程能力指数 Cpk 使用规划1. 品管部根据各制造过程或工序影响以及质量特性，全面规划需进行制程能力控制的 制程或工序并明确相应的Cpk值。2. 制程能力指数 u 使用制程能力指数时，应依统计学的原则，同时衡量制程中的集中（平均）与分数（变异）状况，以确实掌握制程品质特性。u Cpk值、Cpk等级、不合格率及相应措施关系列表如下:衡量等级Cpk值Cpk等级不良率(P)相 应 措 施A2.0(含以上)6P0.000000002本公司的优势，需要时配合管制图管制。B1.672.05P0.00000057希望制程能够达到的水准，应考虑配合管制图进行管制C1.331.674P0.00006产品可免检，但应考虑配合管制图管制。D1.01.333P0.0027制程有改善空间，要改善并可采取抽样的方式检验产品E0.671.02P0.0455制程应进行专案改善并考虑设置检查站，确认唯有合格的批才可进入下一制程。F0.330.672P0.3174制程很差，应考虑实施全检3.制程能力指数运用的前提u 所使用的规格上下限依内部或客户要求。u 如客户另有特定制程指数值要求时，另和客户协商。u 指数计算的结果可能因抽样误差而有所差异，使用时掌握其等级，并采取适当措施即可。4.制程能力指数的计算 u 符号说明 USL：表示规格上限。 LSL：表示规格下限。 X ：表示所搜集或抽样资料的平均。 ：表示自所搜集或抽样资料中所推算(估计)的标准差。u 制程能力