量测系统分析程序.doc

XXXXXX实业有限公司量测系统分析程序文件编号：XX-QP-25页 次： 41.目的: 应用统计方法对测量系统进行重复性和再现性、稳定性及偏性分析，以评价量测质量的优劣.2.范围: 适用于每一种形式量测设备及检具的统计变异分析.3.职责:3.1品保部:负责定期对量测系统的重复性和再现性、偏性、稳定性进行研究及收集数据进行统计分析.3.2检验工程师:负责对该量测系统所收集的数据及分析统计结果进行评估,当量具分析结果GR&R偏允收下限时须通知品保部部长.3.3品保部部长:确保本程序的完整,并将量具分析结果GR&R偏允收下限的情况通知质量策划小组.3.4质量策划小组:负责重新对量测分析结果GR&R偏允收下限的量具适用性再进行评估,决定该量测系统所测量出来产品处理方式.4.定义:4.1量具:任何用来产生数据的设备和工具.4.2测量系统:操作程序、操作环境、量具、软件与人员等用以测量质量特性的数据的组合。4.3重复性：测量设备由同一作业人员经多次测量同一物品时，其测量的数值再现的能力。4.4再现性:指由不同的作业人员,使用相同的测量设备,测量同一物品,其测量值相互之间的差异.4.5稳定性:指同一测量设备在不同时间内由相同人员测量时发生的变异.4.6偏倚:又称偏性,指特性的真值与一群测量数据平均值之间的差异.5.内容:5.1测量系统分析时机:5.1.1在“控制计划”中所有使用于控制特性的量测设备都应作测量系统分析。 5.1.2新购入测量设备:5.1.3经维修校验后的测量设备.5.2测量系统分析频率:5.2.1测量分析人员应根据现场测量设备使用频率及设备的精确度来确定测量分析系统频率.5.2.2每日用于生产中影响质量且容易造成磨损的量具，应每半年作一次测量系统分析.5.2.3生产中属每日必用但在使用过程中不易造成磨损的量具可以同型号每年作一次分析.5.2.4虽属于生产中使用的量具设备,但只用在测量确定可疑产品的测量设备可两年作一次测量系统分析.5.2.5建立所有测量系统分析于测量系统分析总览表.5.3量具重复性和再现性分析:5.3.1测量仪器、测量物及人员选择:5.3.1.1测量仪器的选择： a.使用量具的精度，必须为被测量物公差的1/10以上； b.测量仪器必须经校验合格； c.量具的读值，其最小刻度必须读至量具精度1/2，以避免量具的鉴别能力不足.5.3.1.2人员选择: a.随机选取几个使用量具的操作员,这可以让我们评估量具对不同操作员的敏感度. b.量具操作员必须按人力资源规划与培训管理程序审查合格者.5.3.1.3测量物的选择:测量物由过程中随机抽样.5.3.2变异值执行方法研究:使用极差及平均值方法研究:5.3.2.1将作业者分为A、B、C三者,选取零件10个,并顺序编号.5.3.2.2三位作业者依次顺序测量10个零件,但不使他们看到其它人测量值,将测量值分别记录.5.3.2.3计算: 量具重复性及再现性数据表为整个研究的数据表,量具重复性及再现性报告为个别项目的记录和规定的计算公式(参考MSA手册表7、表8),量具重复性及再现性控制图以图示反映测量系统的检测能力。5.3.2.4使用时机： a初期产品开发时，若客户要求时，必须使用测量系统分析研究及记录，若发生不 合格时应追查原因，对开发品进行改善。 b.新购入的仪器，必须使用测量系统分析研究及记录，若发生不合格时应追查原因， 并随即对已测量的产品追溯全检.5.3.3结果分析:以量具重复性与再现性控制图与量具重复性及再现性报告进行 分析.5.3.3.1如重复性(EV)变异值大于再现性(AV)时: a.量具的结构需再设计增强: b.量具的夹紧或零件定位方式需加以改善; c.量具加以保养; d.零件内变异有极值.5.3.3.2如再现性变异值(AV)大于重复性(EV)时: a.作业者对量具的操作方法及数据读取方式需加强,及检验规范需明确订定或修改. b.量具的校验不完整及仪表盘的校准的刻度需更加明确标示; c.可能需某些夹具协助作业者, 使用更具一致性的量具. d.量具与夹具校验频率于入厂及送修校正后需再作量测系统分析,并做记录.5.3.4重复性和再现性评估结果判断基准:5.3.4.1误差在10%以下表示测量系统可接受;5.3.4.2误差在10%-30%表示测量系统视情况接受(依其应用的重要性,量具费用及修理费用而定);5.3.4.3误差超过30%表示测量系统需加以改进,包括产品是否再加工使用或重新再测试.5.3.4.4另外,由测量系统对过程进行划分的区别分类数(ndc)要能大于或等于5.5.3.5 GO-NO GO检具测量系统分析(定性测量系统分析): 使用短期法形容.5.3.5.1将作业者分为A、B二者,应选择原使用量具的作业者(或目视检测者).5.3.5.2零件20个,零件中适当选择适量的不合格件.将结果填入GO-NO-GO目视量测系统分析记录表5.3.5.3若所有测量判定均相同,则量具被接受;若测量判定不同,则量具须改善及再评价.若量具不能改善,应寻求替代的测量系统.5.4量具稳定性的分析:5.4.1选取一个样品,并建立可追溯标准的基准值或参考值,若无样品则可从生产线中选一个落在中心值域的零件,当成标准值,且应针对预期测试的高中低端各取得样品或标准件并对每个样品或标准件分别绘制控制图.(参考MSA手册图8)5.4.2定时对标准件或样品量测3-5次取一个样品,将结果记录于量具稳定性分析报告。5.4.3将测量值标示在X-RCHART或X-SCHART上.5.4.4计算控制界限,并对失控或不稳定作评估.5.4.5计算标准差,并与生产过程标准差相比较,以评估量测系统的稳定性.5.4.6稳定性评估结果判断基准:5.4.6.1 5.15过程变差合格5.4.6.2 5.15过程变差不合格5.5量具偏性分析:5.5.1独立取样法:5.5.1.1选取一个样品,并建立可追溯标准的基准值或参考值,若无样品则可从生产线中取一个落在中间值域的零件,当成标准值,且应针对预期测试的高低端各取得样品或标准件,并对每个样品或标准件测量10次,计算其平均值,并将其当成参考值。5.5.1.3计算偏性:5.5.1.2由一位作业者以常规方式对每个样品或标准件测量10次,记录于量具偏性分析报告，并计算平均值,此值为“观测平均值”(参照MSA手册表6)偏性=观测平均值-参考值 偏性%=偏性/过程变差 过程变差=65.5.2图表法:用以评估稳定性的X-RCHART或X-SCHART也可以用来评估偏差:5.5.2.1选取一个样品,并建立可追溯标准的基准值或参考值,若无样品则可从生产线中取个落在中间值域的零件,当成标准值,且应针对预期测试的高中低端各取得样品或标准件,并对每个样品或标准件测量10次,计算其平均值,并将其当成参考值;5.5.2.2由控制图中计算出X;5.5.2.3计算偏性: 偏性=X-参考值 偏性%=偏性/过程变差 过程变差=65.5.3偏性评估结果判断基准:5.5.3.1 |偏性%|15%合格5.5.3.2 |偏性%|15%不合格5.6各项分析与数据等资料记录于相应记录表中,经计算将结果记录于测量系统评估研究结果报告，并作出评价。记录的保存期限按记录管理程序办理.6.相关文件:6.1记录管理程序 ST-QP-026.2人力资源规划与培训管理程序 ST-QP-077.