探伤仪及探头测试方法.doc

钢轨探伤仪及探头测试方法（根据TB/T2340-2012）1、 斜探头入射点和探头的前沿长度测试1、 将斜探头置于CSK-1A试块的B面上，使斜探头在R100圆弧圆心上，前后移动探头使圆弧回波达到最大值（控制在80%波幅）。此时斜探头底面与试块圆心的相交点即为探头入射点。用钢尺量出探头距R100圆弧的距离，记录下数据M2、 探头入射点据探头的前沿长度: L=100-M.2、 折射角的测试1、 将70斜探头置于CSK-1A试块的B面上，使斜探头在R50圆弧面上，前后移动探头使波高达到80%，用钢尺量出探头到试块端面B面的距离，记下数据X。2、 根据折射角公式，得K1=（X。+L-35）/30 1=arctanK1， 标准规定70探头误差范围：-30为合格。3、 将37斜探头置于CSK-1A试块A面上，前后移动探头使R50的圆弧面的波高达到80%，用钢尺量出探头到试块A面端面的距离，记录下数据X2，4、 根据折射角公式，得：K2=（X2+L-35）/70 2=arctanK2 标准规定37斜探头误差范围03为合格。3、 水平线性的测试1、 将0直探头置于csk-1A试块的厚度为25mm的探测面上，使厚度为25mm的十次底波显示在示波屏的10格上，调整衰减器，使第十次回波到达50%。2、 计算偏差值：a=实测值-理论值3、 取最大偏差值的绝对值代入公式，通用/焊缝 L=|Amax|100%/b 水平线性误差2%为合格母材 L=|Amax|100%/0.8b 根据 TB/T2340-2012标准规定应L2%，为合格。4、 垂直线性的测试1、 将0直探头置于cs-1-5试块上探测2平底孔，移动探头使2平底孔的波高达到100%。2、 待反射波稳定后，以每次2dB逐次衰减，并记下 每次衰减的波高实测值，计算出实测值与理论值的偏差值d。3、 取最大正偏差和最大负偏差，带入公式，得d=【|d(+)|+|d(-)|】% 标准规定垂直线性误差：1、母材探伤仪15%为合格。2、焊缝和通用探伤仪8%为合格。5、 动态范围的测试1、 将仪器抑制置于“小”，使0直探头置于CS-1-5试块上，使2平底孔的回波达到100%，记下dB1.然后调整衰减器使2平底孔的回波达到0，记下dB。,将后计算。dB。-dB116dB为合格。2、 将仪器抑制置于“大”，使0直探头置于cs-1-5试块上，使使2平底孔的回波达到100%，记下dB1，调整衰减器使2平底孔的回波达到0，记下dB.，将后计算dB.-dB1 结果为2-6dB为合格。6、 盲区的测试*1、 利用CSK-1A试块上50孔距两侧边缘5mm和10mm的边距测盲区大小，分别将探头放在CSK-1A试块A面上测5mm的盲区，在侧面上测10mm盲区，分别看孔波与始波间是否有波谷且波谷在时基线上，若谷底不在时基线上则不能分辨孔波，一般先探10mm边距，若能分辨则盲区小于10mm，可再探5mm边距，若不能分辨则至少5mm是盲区。7、 分辨力的测定1、 将0探头放在csk-1A试块槽口上，左右移动探头并调节衰减器使85和91两反射面波高相等并达到波高的100%，读出波谷的高度h，代入公式计算：R=20lg（100/h)。 标准规定 0探头分辨力R18dB为合格;2、 将斜探头置于csk-1A试块上，前后移动探头并调节仪器找到50和44两个台阶孔的最高波，再横向移动探头使50和44两孔波峰等高并调节仪器使其达到100%波高，读出波谷的高度h，代入公式计算：R=20lg（100/h)。 标准规定 斜探头分辨力R14dB为合格3、 若h=0 则取R30dB.八，钢轨探伤仪灵敏度余量的测试探伤仪的测量通道的灵敏度置最高状态，抑制置最小，若仪器的电噪声（不接探头）电平较高。则降低增益，使电噪声电平降至满刻度的10%，设此时的衰减器读数为S01、0探头置于WGT-3试块110mm底面上，70和37探头置于WGT-3试块深65mm处3mm横孔作为基准。2、 保证耦合良好，且与试块侧面保持平行，前后移动探头，调节仪器衰减器，使各基反射体波高达到80%，此时读出衰减器的读数S1，代入公式：S=S1-S0标准规定：0、37和70灵敏度余量40dB。9、 钢轨探伤仪缺陷检出能力测试在GTS-60或GTS-75试块上，将钢轨探伤仪调整到实际钢轨探伤状态，在某一固定的探伤灵敏度和无误报的情况下，应能检出GTS-60试块上除15倾斜下裂以外的各种人工缺陷，并能正常报警。10、 零点调试（通用探伤仪，9008焊缝探伤仪）1、 将斜探头置于CSK-1A试块的B面上，前后移动探头使R100圆弧回波达到80%，此时出波的声程不在100上，调整细调使100圆弧的回波平移到100上，此时始波进入荧光屏的左侧。目的是消除工件表面到晶片的误差。2、 将直探头置于csk-1A试块上的91mm的平台上，使91mm的出波达到80%，此时的出波声程不在100上，调整细调使91mm的回波平移到100上，此时始波进入荧光屏的左侧。目的是消除工件表面到晶片的误差。11、 信噪比的测试0探头：在GTS-60或GTS-75试块上探测底面回波，当波高达到80%时的静态灵敏度余量大于或等于24dB，信噪比不小于16dB。（意思是：底波高达到80%时的在将增益提高16dB底波不出杂波为合格）;37探头：在GTS-60或GTS-75试块上探测螺孔和37倾角的3mm的上裂使两波等高；并使波高达到80%时的静态灵敏度余量大于或等于22dB，信噪比不小于8dB。 （意思是：波高达到80%在将增益提高8dB伤波和孔波前不出杂波为合格）70探头：在GTS-60或GTS-75试块上，用二次波探测直径4mm平底孔，并使波高达到80%时的静态灵敏度余量大于或等于20dB，信噪比不小于10dB。; （意思是：直径4mm平底孔，波高达到80%在将增益提高10dB直径4mm平底孔前不出杂波为合格）12、 斜探头声轴偏角测试a）0探头：将0探头放在WGT-3试块上探测深度为80mm深的横孔，沿试块纵向前后移动探头，并注意保持探头与试块侧面平行，使横孔反射波最高，测量探头中心到试块端头的距离L，则声轴偏斜角用下式计算：=tg1（L-120/80）b）斜探头：将探头置于CSK-1A号标准试块25mm厚的表面上，37探头探测试块侧面的上菱角，70探头探测试块侧面的下菱角，前后移动和左右摆动探头，使试块菱角反射波最高，然后用量角器测量探头中心线与试块侧面法线之间的夹角，此夹角即为声轴偏斜角。13、 保护膜衰减值用带保护膜的70探头探测CSK-1A试块B面R100的圆弧面，前后移动探头并保持探头与试块侧面平行，调节灵敏度，使R100圆弧面最高反射波达到80%，记下此时衰减器读书W1，然后去掉保护膜，保护探测条件不变，重复上面的测试，使R100圆弧面最高反射波达到80%，记此时衰减器的度数W2.则：W1和W2之差即为保护膜的衰减度数W=W2-W1小于或等于8dB为合格。14、 钢轨探伤仪距离幅度特性测试1、抑制置“最大”，被测试探头须带保护膜。2、70探头测试：用WGT-3试块，仪器探测深度不小于100mm，调节衰减器，依次探测深度为10mm、20mm、30mm、40mm、50mm、65mm、70mm的横通孔，找到各孔的最高回波后在调节衰减器使波高达到80%，并记下相应的横通孔的衰减器读数，根据读数的dB值可绘制距离幅度特性曲线，测试点不少于6个点。根据读数得dB值可绘制距离幅度特性曲线。3、37探头测试：用WGT-3试块校验时，仪器探测深度不小于200mm，调节衰减器，依据探测 深度为20mm、40mm、65mm、80mm、100mm、120mm、150mm的横通孔，找到各孔的坐高波后使波高达到80%，并记下相应的孔的衰减器读数，根据读数得dB值可绘制距离幅度特性曲线。4、0探头测试：用阶梯试块测试，仪器探测深度不小于200mm，调节衰减器，依次探测深度为20mm、30mm、40mm、50mm、60mm、80mm、100mm、150mm的大平底面，使各底面回波达到80%，并记下衰减器的读数，根据衰减器读数可绘制距离幅度特性曲线。根据标准：TB/T2340-2012横波探头探测同孔径、不同声程的横通孔；0探头探测不同声程的大平底，其反射波高的差值W应满足以下要求：1、0探头：在深度20mm到距离幅度特性曲线最高点范围内，W小于或等于12dB，在距离幅度特性曲线最高点到深度150mm范围内，W小于或等于8dB.2、37探头：在深度20mm到距离幅度特性曲线最高点范围内，W小于或等于12dB，在距离幅度特性曲线最高点到深度150mm范围内，W小于或等于8dB.3、70探头：在相当于探头深度10-70mm范围内，W小于或等于12dB。十五、楔内回波幅度S0探头探测阶梯试块上反射幅度最高的波（即距离特性曲线幅度最高点所对应的或与其最接近的底面反射波）。斜探头则探测WGT-3试块上反射幅度最高的3mm横通孔反射波，调节衰减器，使上述反射波的最高幅度至满刻度的80%，记下此时衰减器的读书Sw。将探头置于空气中，擦去表面油层，调节衰减器，使其静噪回波幅度达到满刻度的80%，设此时衰减器的读数Ss。则探头的楔内回波幅度S为Ss-Sw。0探头：S-26dB37探头：S-30dB70探头：S-32dB十六，阻塞范围的测量测量通道连接一纵波直探头并置于阶梯试块50mm厚度处，耦合良好，调节仪器灵敏度，使该处底波为满幅度的80（相对测量通道的基线），然后将仪器灵敏度提高2dB其他旋钮调节器不变，探测阶梯试块上20mm处底面，使耦合良好