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测控技术与仪器专业实验指导书实验一 一阶系统的时域性能指标的研究一、预习内容：掌握一阶系统的数学模型和阶跃响应的特点，熟练计算一阶系统的性能指标和结构参数，特别是一阶系统由阶跃响应曲线来读取性能指标。二、实验目的：1、 学习一阶系统中比例、积分和惯性环节的模拟方法和参数测定的方法。2、 通过仿真观察上述三个典型环节阶跃响应曲线，了解参数变化对系统动态特性的影响。三、基本原理：一阶系统的单位阶跃响应曲线是一条由零开始的，按指数规律上升并最终趋于1的曲线。其响应曲线具有非振荡的特征，又称为非周期响应。由于一阶系统的阶跃响应没有超调，所以其性能指标主要是调节时间，它表示系统过渡过程的快慢。四、实验设备：PC机一台（含Windows98操作系统）、EWB仿真软件一套。五、实验内容：1、 比例环节：微分方程：C(t)=Kr(t)传递函数：C(s)/R(s)=K模拟线路如图1所示。由于输入信号r(t)是从运算放大器的反向端输入，输出信号与输入信号在相位上正好相反，传递函数中出现了负号。从输入端加入阶跃信号，改变电阻R2观测不同的比例系数K时输出的波形并记录。2、 积分环节：微分方程：传递函数：模拟线路如图2所示。改变电阻R1和电容C的大小，可得到不同的积分时间常数T，输入阶跃信号，观测T=1s、0.1s时的输出波形，并记录结果。3、惯性环节：微分方程：传递函数：模拟线路如图3所示。从输入端加入阶跃信号，保持K= R2/ R1不变，分别观测T= R2C=1s、0.1s时的输出波形并记录。保持T=1s不变，分别观测K=1、2时输出的波形并记录。六、实验步骤：1、 比例环节：1） 进入EWB界面按图1连接好实验电路图。2） 将输入的阶跃信号设为1V，依次改变R2为50K、100 K、200 K、500 K，观测系统的响应曲线，分别记录响应曲线的形状。2、 积分环节：1） 进入EWB界面按图2连接好实验电路图，取R0= R1=100 K。2） 观测C=1F和C=10F时的输出波形。3） 记录在不同积分时间下的波形，求出夹角及T。3、 惯性环节：1） 进入EWB界面按图3连接好实验电路图，取R0= R1=100 K，K= R2/ R1，T= R2C2） 保持K=1不变，分别测出T=0.1s和T=1s时输出波形。3） 保持T=1s不变，分别测出K=1、2 时的波形。4） 数据处理及分析。七、实验报告要求：1、 画出实验线路记录原始数据、测试数据及输出响应曲线。2、 对实验中出现的现象进行讨论，对内容3从绘制的阶跃响应曲线上求出K、T，并与理论计算值比较。实验二 一阶系统的阶跃响应分析实验性质：验证性实验学时：2每组人数：1开出要求：必做一、实验目的：1、 掌握有源网络典型环节的结构形式。2、 观察分析一阶系统在阶跃输入信号作用下的输出响应。3、 加强对控制系统瞬态过程的认识。4、 进一步了解典型环节参数变化时对系统阶跃响应性能指标的影响。二、实验原理：1、 利用运算放大器和各种电子元件，模拟一阶系统的典型环节。2、 模拟一阶系统中惯性环节的电路原理图，如图1所示。三、实验设备：PC机一台（含Windows98操作系统）、EWB仿真软件一套。四、实验步骤：1、 进入EWB界面按图1连接好实验电路图，电阻元件的取值按图中标示值选取。2、 将阶跃信号发生器的输出端与模拟电路的输入端相连。3、 将模拟信号的输出端连接到示波器上观察输出曲线。4、 按实验报告记录表上的要求，对电容元件选取不同的值，测量不同的系统参数下系统的输出响应在各时间点上的输出值。五、实验报告要求；1、 实验记录：把实验结果记录到表1中。 表1 一阶系统阶跃响应曲线在各时间点上的输出值实验参数时间/msT2T3T4T5TR1=200KC=1F输出/VR1=200KC=2F输出/V2、 实验结果分析：对测量结果进行分析，总结一阶系统在不同参数下阶跃响应曲线的变化规律。六、思考题：1、 由运算放大器组成的典型环节是在什么条件下得到的？2、 惯性环节在什么条件下可近似为比例环节？在什么条件下可近似为积分环节？3、 如何在惯性环节、积分环节的阶跃响应曲线上求各自的时间常数？实验二 二阶系统的时域性能指标的研究一、预习内容：掌握二阶系统的数学模型和阶跃响应的特点，熟练计算二阶系统在欠阻尼情况下的性能指标和结构参数，特别是二阶系统在欠阻尼情况下由阶跃响应曲线来读取性能指标。二、实验目的：1、 熟悉EWB软件的使用方法。2、 通过仿真，观测二阶系统在欠阻尼情况下阶跃响应曲线，研究参数变化对动态特性的影响。三、实验原理：二阶系统的单位阶跃响应曲线呈衰减振荡，。其响应曲线具有振荡的特征，又称为振荡环节。其性能指标主要是调节时间和超调量，调节时间表示系统过渡过程持续的时间，是系统快速性的一个指标，超调量反映系统响应过程的平稳性。四、实验设备：PC机一台（含Windows98操作系统）、EWB仿真软件一套。五、实验内容：标准二阶系统的微分方程：传递函数：模拟电路图如图1所示。图1与二阶系统标准形式相比：=1/2K= R1/ 2R2，n=1/T=1/ R1C 1同时改变C 1和C 2的大小，可改变无阻尼自然振荡的角频率n的大小，改变R2的大小可改变阻尼比的大小。1、 令T=0.1s（R1= R3=100 K。C 1= C 2=1F）分别设置阻尼比=0.1、0.5、0.7、1，观测输入同样的幅度的阶跃信号时的输出波形，读出并记录各阻尼比时的超调量和调节时间（取误差带为0.05）并绘制阻尼比=0.5、0.7、1三种情况的输出响应曲线的波形。2、 令T=1s（R1= R3=100 K。C 1= C 2=10F），重复上述测试。六、实验步骤：1、 进入EWB界面按图1连接好实验电路图。2、令T=0.1s（R1= R3=100 K。C 1= C 2=1F）分别设置阻尼比=0.1、0.5、0.7、1，即R2=500 K、100 K、71 K、50 K时，观测记录各阻尼比时的超调量和调节时间（取误差带为0.05）并绘制阻尼比=0.5、0.7、1三种情况的输出响应曲线的波形。3、 令T=1s（R1= R3=100 K。C 1= C 2=10F），重复上述测试。七、实验报告要求：1、 画出实验线路图及波形图。2、 实验记录：将测量得到的不同系统参数下二阶系统的响应曲线各性能指标的值记录在下面的表格中。 表1 T=0.1s时二阶系统阶跃响应曲线各性能指标值tpp%ts（5%误差带）0.10.50.71表2 T=1s时二阶系统阶跃响应曲线各性能指标值tpp%ts（5%误差带）0.10.50.713、 实验结果分析：对测量结果进行分析，总结出二阶系统在不同系统参数下阶跃响应曲线的变化规律。4、 根据实验结果，分析二阶系统的调节时间和超调量与、n之间的关系。实验三 典型环节的频率特性的测试实验性质：综合性实验学时：2每组人数：1开出要求：本科必做、专科选做一、预习内容： 典型环节的频率响应曲线的绘制方法。二、实验目的：1、巩固频率特性的概念。2、 根据频率响应结果绘制Bode图。三、实验原理：系统的正弦稳态响应具有和正弦输入信号的幅值比(j)和相位差(j)随角频率（由0变到）变化的特性。而幅值比(j)和相位差(j)恰好是(j)函数的模和幅角。所以只要把系统的传递函数(s)，令s= j，即可得到(j)。我们把(j)称为系统的频率特性或频率传递函数。当由0到变化时，(j)随频率的变化特性成为幅频特性，(j)随频率的变化特性称为相频特性。幅频特性和相频特性结合在一起时称为频率特性。四、实验设备：PC机一台（含Windows98操作系统）、EWB仿真软件一套。五、实验步骤：（一）比例环节1、 在模拟工作平台上按图1连接比例环节的模拟电路图。2、 函数信号发生器作为输入信号，并设函数信号发生器输入信号的类型为“正弦波”，幅值为5V，频率为0.16Hz，此时角频率=2f=1rad/s。3、 确定要分析的节点，这里选择输出节点，设置电路节点标志。4、 选好待分析节点后点击Simulate（仿真）按钮，即可显示已选节点的频率特性。按Esc键，将停止仿真的运行。（二）积分环节1、 在模拟工作平台上按图2连接积分环节的模拟电路图。2、 重复上述2、3、4步（三）惯性环节1、 在模拟工作平台上按图3连接惯性环节的模拟电路图。2、重复上述2、3、4步（四）二阶振荡环节1、 在模拟工作平台上按图4连接二阶振荡环节的模拟电路图。2、重复上述2、3、4步六、实验报告要求：观察自己所设计的系统在正弦信号作用下的稳态响应，画出系统开环对数幅频率特性和相频特性曲线。实验四 系统的稳定性分析一、预习内容：系统的稳定性分析的方法。二、实验目的：1、 掌握高阶系统的稳定性分析的方法。2、 在开环增益变化时研究高阶系统的阶跃响应。3、 加强对控制系统稳定性概念的认识。4、 进一步掌握系统稳定性分析的方法。三、实验原理：1、 利用运算放大器及各种电子元器件，模拟三阶系统，在系统参数变化的情况下，研究牲畜的阶跃响应。2、 模拟三阶系统的电路原理如图所示。四、实验设备：PC机一台（含Windows98操作系统）、EWB仿真软件一套。五、实验步骤：1、 按图连好实验电路。2、 将阶跃信号信号发生器的输出端连到模拟信号的输入端。3、 将模拟信号的输出端连到示波器上。4、 按实验报告记录表上的要求，对电阻元件R7取不同的值，观测不同参数下三阶系统阶跃响应曲线的各性能指标和稳定性。六、实验报告要求：1、 实验记录：将测量得到的不同系统参数下的三阶系统阶跃响应曲线的各性能指标和稳定性记录到表中。表 模拟三阶系统阶跃响应曲线各性能指标值及稳定性实验参数K系统稳定状态p%ts（5%误差带）KKgR7=3018.33-8.809-3.71R7=4711.700.470.19R7=1005.5017.426.75R7=2002.7534.612.772、根据测量得到的各性能指标，做出电阻R7取不同值时的阶跃响应曲线。3、 验结果分析：对测量结果进行分析，总结三阶系统在不同系统参数下，阶跃响应曲线的变化规律及其对系统稳定性的影响。实验五 三阶系统的串联校正一、预习内容：了解三阶系统的典型结构以及串联校正的基本形式，并掌握串联超前校正、串联滞后校正的原理和结构图。二、实验目的：1、通过对模拟控制系统的调整，了解控制系统中校正装置的作用。2、了解系统开环放大倍数对系统稳定性的影响。三、实验基本原理：系统的校正就是给系统附加一些具有某种典型环节的传递函数，靠这些环节的参数配置和系统增益的调节来有效的改善整个系统的控制性能，以达到要求的指标。串联超前校正环节所对应的系统的结构如图4所示。超前校正主要用于展宽系统的频带和提高稳定裕度，以改善系统的快速性和振荡性，但它会使高频增益增大，不利于提高系统的抗高频干扰的能力。串联滞后校正环节所对应的系统的结构如图5所示。加入滞后校正主要利用其高频衰减特性，以解决提高系统增益和要求一定稳定裕度之间的矛盾。又由于它会使高频增益减小，有利于提高系统的抗高频干扰的能力。四、实验设备：PC机一台（含Windows98操作系统）、EWB仿真软件一套。五、实验内容：三阶系统的串联超前校正以及串联滞后校正。设一单位负反馈系统的结构图如图1所示，图中Gc(s)为串联校正环节。Gc(s)RC图1原系统的模拟图如图2所示，其响应曲线如图3所示。图3 三阶系统响应曲线由图3可知，原来的系统不稳定，必须加以校正，才能满足要求。六、实验步骤：一、 先将Gc(s)接成放大系数为1的比例环节。1、调节开环放大系数k，使%=25%,测试此时的k,ts=？以及阶跃响应曲线。2、增加k，直到系统出现临界振荡，记录k1(临界放大系数)二、在原系统中加入串联超前校正，如图4所示。1、 保证k1(3.7)不变，测试并记录此时的%、,ts=？及响应曲线。2、 调节k，使%=25%,测试此时的k,ts=？以及阶跃响应曲线。三、 在原系统中加入串联滞后校正，如图5所示。重复步骤二。图4 超前校正七、实验报告要求：1、 分别画出接入串联超前校正、串联滞后校正环节后系统的响应曲线的形状并整理记录的有关参数。2、 对实验结果加以讨论： 在开环放大系数等于临界放大系数时，采用哪种校正方案使此系统的动态性能最好？ 在%=25%时，采用哪种校正方案可使系统在斜坡信号作用时，稳态误差最小？微机原理及应用实验一 清零程序一 实验目的掌握8088汇编语言程序设计和调试方法，熟悉键盘操作。二 实验内容 把RAM区内4000H-40FFH单元的内容清零 。 三 程序框图四 实验步骤 用连续或单步方式运行程序，检查4000-40FFH内容 执行程序前后的变化。五 思考假使把4000H-40FFH中的内容改成FF，如何修改程序。六 参考程序CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 3000HS1: MOV BX,4000H MOV AX,0000H MOV CX,0080HL1: MOV BX,AX INC BX INC BX LOOP L1 JMP $CODE ENDS END S1实验二 数据区移动一 实验目的掌握RAM中的数据操作二 实验内容把4100H源RAM区首址内的16字节数据传送到4200H目标RAM区 。 三 设计思想 程序要求把内存中一数据区(称为源数据块)传送到另一存储区(称为目的数据块)。源数据块和目的数据块在存储器中可能有三种情况，如下图：对于两个数据块分离的情况，如图(a)，数据的传送从数据块的首址开始，或者从数据块的末址开始均可。但对于有部分重叠的情况，则要加以分析，否则重叠部分会因“搬移”而遭破坏。 可以得出以下结论：当源数据首址目的块首址时，从数据块首址开始传送数据。 当源数据块首址目的块首址时，从数据块末地址开始传送数据。四 程序框图五 实验步骤 调试运行3060程序，检查4100-410FH中内容是否和4200-420FH中内容完全一致。六 参考程序CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 3060HS4: MOV CX,0010H MOV SI,4100H MOV DI,4200H CMP SI,DI JA A42 ADD SI,CX ADD DI,CXA41: DEC SI DEC DI MOV AL,SI MOV DI,AL LOOP A41 JMP $A42: MOV AL,SI MOV DI,AL INC SI INC DI LOOP A42 JMP $CODE ENDS END S4实验三 拆字程序一 实验目的掌握汇编语言 设计和调试方法。 二 实验内容 把4000H单元的内容拆开，高位送4001H低位，低位送4002H低位，4001H、4002H 的高位清零，一般本程序用于把数据送显示缓冲区时用。 三 程序框图四 实验步骤 用连续或单步方式运行程序，检查4000H-4002H中内容变化情况。五 思考如何用断点方式调试本程序。六 参考程序CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 3020HS2: MOV BX,4000H MOV AL,BX MOV AH,AL MOV CL,4 SHR AH,CL INC BX MOV BX,AH AND AL,0FH INC BX MOV BX,AL JMP $CODE ENDS END S2实验四 拼字程序一 实验目的 进一步掌握汇编语言设计和调试方法 。二 实验内容 把4000H、4001H的低位分别送入4002H高低位，一般本程序用于把显示缓冲区的数 据取出拼装成一个字节。 三 程序框图四 实验步骤 单步或用断点方式运行程序，检查4002H内容变化情况。五 参考程序CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 3040HS3: MOV BX,4000H MOV AX,BX AND AL,0FH MOV CL,4 SHL AL,CL AND AH,0FH OR AL,AH ADD BX,2 MOV BX,AL JMP $CODE ENDS END S3实验五 找“零”个数一 实验目的 熟悉汇编语言编程，掌握串操作指令的使用。二 实验内容在4000H-400FH中查出有几个字节是零，把计数个数放在4100H中。三 程序框图四 实验步骤 在4000-400FH的几个单元中输入零，运行本程序后检查4100H中是几个单元数。五 思考 修改程序，查找其它内容。六 参考程序CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 30B0HS6: MOV BX,4100H ;COUNT MOV AX,0000 MOV BX,AX MOV CX,0010H MOV DI,4000H CLDA62: SCASB JZ A61A63: LOOP A62 JMP $A61: INC BYTE PTR BX JMP A63CODE ENDS END S6实验六 8255A并行口实验(一)方波一 实验目的 掌握可编程I/O接口芯片8255的接口原理使用，熟悉对8255初始化编程和输入、输出软件的设计方法。二 实验内容在8255ABC口用示波器测出波形。三 程序框图四 实验步骤 1 在系统处于“P.”状态时，输入32C0，按EXEC键，系统显示执行提示符“”。2 用示波器观察8255ABC口波形。 3 按复位键RESET返回“P”或按暂停键STOP+MON键返回“P.”。五 参考程序CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 32C0HH1: JMP STARTP1PA EQU 0FFD8HPB EQU 0FFD9HPC EQU 0FFDAHPCTL EQU 0FFDBHSTARTP1:MOV DX,PCTL MOV AL,80H OUT DX,AL MOV AL,55HP11: MOV DX,PA OUT DX,AL INC DX OUT DX,AL INC DX NOT AL OUT DX,AL JMP P11 MOV CX,0800H CODE ENDS LOOP $ END H1实验七 8255A并行口实验（二）PA输入，PB输出一 实验目的 1 掌握8255A和微机接口方法。2 掌握8255A的工作方式和编程原理。 二 实验内容用8255 PA作开关量输入口，PB作输出口。三 程序框图四 实验电路五 编程提示8255A芯片简介 8255A可编程外围接口芯片是Intel公司生产的通用并行接口芯片，它具有A、B、C 三个并行接口，用+5V单电源供电，能在以下三种方式下工作：方式0：基本输入/输出方式方式1：选通输入/输出方式 方式2：双向选通工作方式使8255A端口A工作在方式0并作为输入口，读取K1-K8八个开关量，送PB口显示。 PB口工作在方式0作为输出口。六 实验步骤 1 按实验电路图连接线路： 8255A芯片A口的PA0PA7依次和开关量输入插孔K1-K8相连。8255A芯片B口的PB0PB7依次接L1-L8 2 运行实验程序。在系统处于“P”状态时，输入32E0，按EXEC键， 系统显示执行提示符“”,拨动K1-K8，L1-L8会跟着亮灭。3 按复位键RESET返回“P”或按暂停键STOP+MON键返回“P”。七 参考程序CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 32E0HPA EQU 0FFD8HPB EQU 0FFD9HPC EQU 0FFDAHPCTL EQU 0FFDBHH2: MOV DX,PCTL MOV AL,90H OUT DX,ALP2: MOV DX,PA IN AL,DX INC DX OUT DX,AL JMP P2CODE ENDS END H2实验八 简单I/O口扩展一 实验目的 1 学习单片机系统中扩展简单I/O口的方法。2 学习数据输入输出程序的编制方法。 二 实验内容利用74LS244作为输入口，读取开关状态，并将此状态，通过74LS273再驱动发光二极管显示出来。 三 程序框图四 实验电路五 实验步骤 1 Y0-Y7接K1-K8，Q0-Q7接L1-L8，244CS接FFE0孔，273CS接FFE4孔。 2 输入3380，按EXEC键，系统显示执行符“”，按动K1-K8，观察L1-L8是否对应点亮。3 按复位键RESET返回“P”或按暂停键STOP+MON键返回“P”。 六 思考 可否用273输入，244作输出。 七 参考程序CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 3380H ;273,244PIO1 EQU 0FFE0HPIO2 EQU 0FFE4HP4: MOV DX,PIO1 IN AL,DX MOV DX,PIO2 OUT DX,AL JMP P4CODE ENDS END P4实验九 D/A转换实验-方波一 实验目的 了解数模转换的基本原理，掌握DAC0832芯片的使用方法。二 实验内容 编制程序，利用0832芯片输出方波。三 程序框图四 实验电路五 编程提示1 首先须由CS片选信号确定DAC寄存器的端口地址，然后锁存一个数据通过0832输出，典型程序如下： MOV DX，DAPORT ；0832口地址 MOV AL，DATA ；输出数据到0832 OUT DX，AL2 产生方波信号的周期由延时间常数确定。 六 实验步骤 1 按实验电路图连接线路：将0832片选信号0832CS插孔和译码输出FFE0插孔相连。 2 运行实验程序在系统处于“P”状态时，输入33E0，按EXEC键，显示执行符“”。3 用示波器测量0832左侧0UT插孔，应有方波输出。 4 按复位键RESET返回“P”或按暂停键STOP+MON返回“P”实验十 8259单级中断控制器实验一 实验目的 1 掌握8259中断控制器的接口方法。 2 掌握8259中断控制器的应用编程。二 实验内容 编制程序，利用8259芯片的IR7作为中断源，产生单一中断，系统显示中断号”7”。三 程序框图IR7中断服务程序四 实验电路五 编程提示 (1)8259芯片介绍 中断控制器8259A是专为控制优先级中断而设计的芯片。它将中断源优先级排队， 辨别中断源以及提供中断矢量的电路集于一片中。因此无需附加任何电路，只需对8259A进行编程，就可以管理8级中断，并选择优先模式和中断请求方式，即中断结构可以由用户编程来设定。同时，在不需要增加其它电路的情况下，通过多片8259A的级联， 能构成多达64级的矢量中断系统(2)本实验中使用7号中断源IR7，插孔和IR7相连，中断方式为边沿触发方式，每按二次AN按钮产生一次中断，编写程序，使系统每次响应外部中断IR7时，显示1 个字符“7”，满7次后显示“P”继续等待中断。 六 实验步骤 (1)按实验电路图连接线路：“”插扎和8259 7号中断IR7插孔相连，“”端初始为低电平8259的CS端连138译码器的FFE0孔 (2)运行实验程序 在系统处于命令提示符“P”状态下， 输入3400，按EXEC键，系统显示“P” (3)按AN按钮，每按2次，LED数码管从最高位开始依次显示1个“7”，按满14次后显示 “P”继续等待中断。 (4)按复位键RESET返回“P”或按暂停键STOP+MON键返回“P.”。七 参考程序CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 3400HH8: JMP P8259ZXK EQU 0FFDCHZWK EQU 0FFDDHLED DB 0C0H,0F9H,0A4H,0B0H,99H,92H,82H,0F8H,80H,90H DB 88H,83H,0C6H,0A1H,86H,8EH,0FFH,0CH,0DEH,0F3HBUF DB ?,?,?,?,?,?Port0 EQU 0FFE0HPort1 EQU 0FFE1HP8259: CLI CALL WP ;初始化显示“P.” MOV AX,OFFSET INT8259 MOV BX,003CH MOV BX,AX MOV BX,003EH MOV AX,0000H MOV BX,AX CALL FOR8259 mov si,0000h STICON8: CALL DIS JMP CON8;-INT8259:cli MOV BX,OFFSET BUF MOV BYTE PTR BX+SI,07H INC SI CMP SI,0007H JZ X59XX59: MOV AL,20H MOV DX,Port0 OUT DX,AL mov cx,0050hxxx59: push cx call dis pop cx loop xxx59 pop cx mov cx,3438h push cx STI IRETX59: MOV SI,0000H CALL WP JMP XX59;=FOR8259:MOV AL,13H MOV DX,Port0 OUT DX,AL MOV AL,08H MOV DX,Port1 OUT DX,AL MOV AL,09H OUT DX,AL MOV AL,7FH ;IRQ7 OUT DX,AL RET;-WP: MOV BUF,11H ;初始化显示“P.” MOV BUF+1,10H MOV BUF+2,10H MOV BUF+3,10H MOV BUF+4,10H MOV BUF+5,10H RET;-DIS: MOV CL,20H MOV BX,OFFSET BUFDIS1: MOV AL,BX PUSH BX MOV BX,OFFSET LED XLAT POP BX MOV DX,ZXK OUT DX,AL MOV AL,CL MOV DX,ZWK OUT DX,AL PUSH CX MOV CX,0100HDELAY: LOOP $ POP CX CMP CL,01H JZ EXIT INC BX SHR CL,1 JMP DIS1EXIT: MOV AL,00H MOV DX,ZWK OUT DX,AL RET;-CODE ENDS END H8实验十一 8251串口实验-自发自收一 实验目的1 了解串行通信的实现方法； 2 掌握8251芯片的工作方式和编程方法。二 实验内容利用本实验系统内的8251接口芯片，采用自发自收的方法，实现数据收发通信实验。发送的数据为4000H开始的16个源RAM区单元内容，接收到的数据放在5000H开始的目标RAM单元中，核对接收的数据是否和发送的数据一致。三 程序框图主程序流程四 实验电路五 编程提示 (1)数据发送、接收字节均采用查询方式(2)8251接口芯片的口地址己确定如下：8251命令状态口地址为FFElH；8251数据口地址为FFE0H。(3)设置方式字，异步方式，字符8位，1位起始位，1位停止位，波特率因子为16。(4)TXC、RXC时钟速率一致，可选速率F：38.4KHz、76.8KHz、153.6KHz、307.2KHz。波特率bpsTXC16，相应可选bps:2400、4800、9600、19200。六 实验步骤注意：本实验所用的时钟信号均由硬件分频所得，如用户想用软件分频，只需把T/RXC孔与OUT1孔相连、8088CPU卡上PCLK短路块插上即可。按实验电路接线，粗实线为要连的线，其余实验线路己连。(1)8251片选端：8251CS与FFE0孔相连。(2)把CLK孔与T0(PCK)孔相连即可。(3)波特率选择2400，即把T/RXC孔与T6孔相连。 (4)通信选择开关J3拨向8251一侧，同时把MAX 232芯片第7、8脚的J0端用短路块或导线相联，即把TxD与RxD端相连，实现自发自收(注：当实验系统与PC机通信时，其开关必须拔向CPU一侧，且拆除其短路块或线)。(5)在4000H-400FH l6个单元中，用实验系统键盘输入16个不同字节的数据，在输入实验程序后，运行入口地址为35C0H的程序。(6)按复位键RESET返回“P.”或按暂停键STOP+MON键返回“P.”。 (7)检查RAM区5000H-500FH单元的数据，应和RAM区4000H-400FH相一致。 七 参考程序;本程序为8251串行通信自发自收实验CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 35C0H ;TX=RXH11: JMP STARTZ8251 EQU 0FFE1HD8251 EQU 0FFE0H_MOD EQU 04EH_ EQU 25HZXK EQU 0FFDCHZWK EQU 0FFDDHLED DB 0C0H,0F9H,0A4H,0B0H,99H,92H,82H,0F8H,80H,90H DB 88H,83H,0C6H,0A1H,86H,8EH,0FFH,0CH,0DEH,0F3HBUF DB ?,?,?,?,?,?START: MOV BX,0400H MOV AL,BX CMP AL,00H JNZ SR0SR8251: MOV DX,Z8251 MOV AL,_MOD OUT DX,AL MOV AL,_ OUT DX,AL MOV AL,01H MOV BX,0400H MOV BX,ALSR0: CALL WP MOV SI,4000H MOV DI,5000H MOV CX,0010HSR1: MOV AH,SI CALL SEND CALL RX MOV DI,AH INC SI INC DI LOOP SR1SR2: CALL DIS JMP SR2RX: MOV DX,Z8251RX1: IN AL,DX TEST AL,02H JZ RX1 MOV DX,D8251 IN AL,DX MOV AH,AL RET;-WP: MOV BUF,11H MOV BUF+1,10H MOV BUF+2,10H MOV BUF+3,10H MOV BUF+4,10H MOV BUF+5,10H RET;-SEND: MOV DX,Z8251W1: IN AL,DX TEST AL,01H JZ W1 MOV DX,D8251 MOV AL,AH OUT DX,AL RET;-DIS: MOV CL,20H MOV BX,OFFSET BUFDIS1: MOV AL,BX PUSH BX MOV BX,OFFSET LED XLAT POP BX MOV DX,ZXK OUT DX,AL MOV AL,CL MOV DX,ZWK OUT DX,AL PUSH CX MOV CX,0100HDELAY: LOOP $ POP CX CMP CL,01H JZ EXIT INC BX SHR CL,1 JMP DIS1EXIT: MOV AL,00H MOV DX,ZWK OUT DX,AL RETCODE ENDS END H11过程检测技术实验一 热电偶的校验一、预习内容：熟悉热电偶的测温原理及中间温度定律，掌握热电偶的校验方法。二、实验目的：1、 了解工业用热电偶的结构及测量端的形状、特征。2、 学会正确使用校验中的仪器仪表。3、 掌握热电偶校验及数据处理方法。三、实验基本原理：热电偶使用一段时间后，测量端由于氧化腐蚀和高温下的再结晶等原因，其热电特性会发生变化，因而产生测量误差，为了确保热电偶测温精确度，必须对热电偶进行校验。本实验采用比较法进行校验，将标准铂铑-铂热电偶与被校热电偶捆扎起来，放入管式加热炉中心，为了确保标准热电偶与被校热电偶的测量端的温度尽量相同，加热炉高温区域内放有钻孔的耐高温镍块套。双极性比较法实验装置如图1所示。此方法直接测量标准热电偶与被校热电偶的热电势，通过比较、换算，最后确定被校