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QDD-406-00-2013201 年新采购检测设备验收记录表 编号：新采购检测设备名称透射电子显微镜规格及型号JEM-2100F生产厂家/供应商日本电子株式会社验收记录一、 外观情况设备完好，无任何损坏二、配件：场发射透射电子显微镜主机（1套，JEM2100F，日本JEOL）能谱仪（EDS）(1套，EX-24261M1G5T，日本JEOL)CCD相机 (1套，832 ORIUSTM SC1000，美国Gatan)超声波切片机 (1台，Model 170，美国FISCHIONE)圆片打孔机 (1台，Model 130，美国FISCHIONE)楔形三脚抛光器 (1台，69-42000，美国ALLIED)样品固定加热台 (1台，623.40002，美国Gatan)带冷台的新型离子减薄仪 (1台，MODEL 695.C，美国Gatan)电解双喷减薄仪(1台，TenuPol-5，丹麦司特Struers)二、 说明书等资料情况：已提供设备使用操作说明书三、 技术指标：点分辨率：0.19nm , 晶格分辨率：0.10nm扫描透射分辨率：0.20nm , 束斑尺寸：0.5nm样品漂移：1.0nm/min, 放大倍数误差： 10%真空度：优于2x10-5pa, 样品倾斜角
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