TR-6020实用手册1.doc

TR-6020 实用手册 60 1. 前言2. 测试波形格式3. 测试功能说明4. 测试信道动作说明5. IC测试程序制作6. 连接Prober或Handler量产测试7. 测试统计报表分析8. 测试问题与讨论1. 前言非常感谢您采用TR-6020 IC测试机，本IC测试机随货附有”TR-6020硬件使用手册”及”TR-6020软件使用手册”，但为了让您加快对TR-6020 IC测试机的学习及应用脚步，特别编写了”TR-6020实用手册”，本手册将会针对1.测试波形2.测试机测试原理3.测试机测试信道4.测试程序的编写及除错5.测试相关问题的讨论等内容，由浅入深的介绍给您。本手册的内容将会陆续增加，我们会将有关IC测试的一些测试原理、技巧及经验加入本手册，同时也欢迎IC测试界的先进们，也能提供您宝贵的测试经验加入本手册，让我们相互分享IC测试的乐趣。本手册的内容将会放进本公司的网站内，欢迎Download。我们的连络资料：Http:/.twE-Mail：S.twTel：886-2-28328918Fax：886-2-28310567德律科技股份有限公司2. 测试波形格式2.1. TR-6020 IC测试机提供NF(No-Format)，RTZ(Return to Zero)， RTO(Return to One)，SBC (Surround By Complement)4种波形格式，其详细波形格式如图(一)所示：11100PatternTP11000nsTP21000nsTP31000nsTP41000nsTP51000nsVihNFRTZRTOSBCVilVihVilVihVilVihVilSTART STOPSTART STOPSTART STOPSTART STOPSTART STOP200ns200ns200ns200ns200ns800ns800ns800ns800ns800ns图(一)2.2. 一个实际的测试波形，除了NF，RTZ，RTO，SBC波形格式的设定，还需要设定该波形Test Period值，Timing Generator的Start及Stop值，Vih值及Vil值。2.2.1. Test Period：即是测试周期(Test Cycle/Data Rate)。例如：SETTP(1000)表示是每一个周期时间为1000ns。2.2.2. Start：在使用RTO，RTZ，SBC波形格式时，当Start设定时间满足时，测试波形的电位会依照测试Pattern的Pattern Symbol有所改变。当测试Pattern Symbol为”1”时，测试波形的电位将变成Vih设定值，当测试Pattern Symbol为”0”时，测试波形的电位将变成Vil设定值。例如： SETTSTART(“1”,200) 表示在一个周期时间内，当周期时间至200ns 时，测试波形的高低电位将会依照测试Pattern的Symbol及Vih/Vil 设定值内容而变化。2.2.3. Stop：在使用RTO，RTZ，SBC波形格式时，当Stop设定时间满足时，测试波形电位的变化将会依照RTO，RTZ，SBC的设定值而改变。2.3. TR-6020 IC测试机的Timing Generator 的Resolution是5ns，故Start，Stop及Strobe的最小设定时间单位为5ns ，Test Period最小设定时间单位为10ns。请注意:当Start设定值为0ns15ns，Strobe设定值为 (Test Period值-10ns)到Test Period值范围时，IC测试机将无法保证可以在此设定时间值做Start，Stop，Strobe的正常动作，故使用者在设定Start，Stop及Strobe值时，请避免使用该设定值。3. 测试功能说明：3.1. Function测试功能说明3.1.1. 测试Pattern输出至IC的动作：当IC 测试机将测试Pattern输出至IC Input Pin时，IC测试机首先会至Local Memory读取测试Pattern的资料，由于贮放Local Memory的测试Pattern资料是一些0与1的资料，故IC测试机会使用Test Period设定值，Timing Generator的Start及Stop设定值，Formator 的NF(No Formater)，RTO(Return To One)，RTZ(Return To Zero)及SBC(Surround By Complement)其中之一的设定值，及Driver的Vih或Vil的设定值将讯号产生出来，最后IC测试机会再依照测试Pattern的Symbol设定值决定是否要将此讯号输出至IC Input Pin上，当测试Pattern的Symbol设定值为0，1时，IC测试机会输出测试Pattern到IC Input Pin，若不是时，则IC测试机不会输出测试Pattern。3.1.2. IC输出讯号的测试比较：当被测试IC的Output Pin有讯号输出时，IC测试机将依照Voh或Vol的设定值将IC的输出讯号变换成0或1的数字讯号，同时再从Local Memory 读取测试Pattern，再依照测试Pattern的Symbol设定值决定是否要做测试比较。当测试Pattern的Symbol为L，H，Z设定值时，IC测试机则会做测试比较(Comparison)动作，若不是时，则IC测试机不会做测试比较动作。当要测试比较时，IC测试机会依照Timing Generator的Strobe设定值， IC的输出讯号将在Strobe时间点和测试Pattern做 ”XOR” 逻辑运算，若运算结果全部为 ”0”， 则测试结果为” Pass ”，Comparator会输出一个 ”Pass” 讯号给Sequencer，若运算结果有出现 ”1”，则测试结果为” Fail ”，Comparator会输出一个 ”Fail” 讯号给Sequencer。3.1.3. TR-6020 IC测试机每一个测试信道都具有输入或输出测试(Bi-Direction)设定功能，至于该测试信道何时是输入或输出测试则依照测试Pattern的设定值而定。请注意:有关测试Pattern详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester软件使用手册的附录二”。3.2. PMU测试功能说明：PMU是一个可提供电流源及电压源的电源供应器，同时也是一个具有可量测电压值及电流值的量测设备。PMU具有电流及电压限制值(Clamping)功能，让PMU所施予(Force)电流及电压限值不会超过该电流及电压限制值的设定值。PMU使用方式有2种：一种为施予(Force)电压，量测(Measure)电流值。另一种为施予电流，量测电压值。有关PMU量测详细规格，请参考”TR-6020硬件使用手册的系统规格”说明。3.3. HVPMU测试功能说明：其测试功能说明和PMU相同。有关HVPMU量测详细规格，请参考”TR-6020硬件使用手册的系统规格”说明。4. 测试信道动作说明：4.1. TR-6020 IC测试机的测试信道提供多种切换组合，可让使用者依照IC测试实际需要而做最适当的设定，进而提高IC测试效率。TR-6020 IC测试机有关PEB32板及HVPMU板的测试信道，如图(三)所示ITR-6020 IC测试机Relay的切换动作，将依照系统操作指令的设定值做切入(Close)或打开(Open)动作，有关Relay的操作设定及状态，如表(一)所示：4.1.1. PEB32板：Relay操作设定状态PMUTOANA Relay1. 刚开机2. 执行RESET( )指令3. 执行PMUTOANA(1,0)指令1-2导通执行PMUTOANA(1,1)指令1-3导通PMUTODUT Relay1. 刚开机2. 执行RESET( )指令3. 执行PMUTODUT(1,0)指令打开执行PMUTODUT(1,1)指令切入ANATOABUS1 Relay . . . ANATOABUS8 Relay1. 刚开机2. 执行RESET( )指令3. 执行ANATOABUS1(1,0)指令打开执行ANATOABUS1(1,1)指令切入ANATOAX Relay1. 刚开机2. 执行RESET( )指令3. 执行ANATOAX(1,0)指令打开执行ANATOAX(1,1)指令切入PMUR1-32 Relay1. 刚开机2. 执行RESET( )指令3. 执行SETPMUR(0,”1-32”)指令打开执行SETPMUR(1,”1-32”)指令切入DUT 1-32 Relay1. 刚开机2. 执行RESET( )指令3. 执行SETDUTR(0,”1-32”)指令打开执行SETDUTR(1,”1-32”)指令切入AR 1-32 Relay1. 刚开机2. 执行RESET( )指令3. 执行SETAR(0,”1-32”)指令打开执行SETAR(1,”1-32”)指令切入UR 1-8 Control Signal1. 刚开机2. 执行RESET( )指令3. 执行SETUR(0,”1-8”)指令Sequencer送出一个Active High 的控制讯号执行SETUR(1,”1-8”)指令Sequencer送出一个Active Low 的控制讯号4.1.2. HVPMU板：Relay操作设定状态HVPMUTOPMU Relay For HVPMU1 1.刚开机2.执行HVPMURESET( )指令3.执行HVPMUTODUT(1,0)指令打开执行HVPMUTODUT(1,1)指令切入HVPMUTOPMU RelayFor HVPMU2 1.刚开机2.执行HVPMURESET( )指令3.执行HVPMUTODUT(2,0)指令打开执行HVPMUTODUT(2,1)指令切入HVPMUTOABUS18 Relay For HVPMU1 1.刚开机2.执行HVPMURESET( )指令3. 执行HVPMUTOABUS18(1,0)指令打开执行HVPMUTOABUS18(1,1)指令切入HVPMUTOABUS18 Relay For HVPMU21.刚开机2.执行HVPMURESET( )指令3. 执行HVPMUTOABUS18(2,0)指令打开执行HVPMUTOABUS18(2,1)指令切入HVUR 1-8 Control Signal1.刚开机2.执行HVPMURESET( )指令3.执行HVSETUR(0,”1-8”)指令Controller送出一个Active High 的控制讯号执行HVSETUR(1,”1-8”)指令Controller送出一个Active Low 的控制讯号 表(一)4.2. PEB32板测试信道动作说明：4.2.1. Function测试信道动作说明. TR-6020 IC 测试机每一片PEB板提供32个测试信道(T1 T32)，将测试Pattern “1”,”0”输出至IC Input Pin，同时也将读取IC Output Pin的讯号和测试Pattern”L”,”H”做测试比较。其测试信道的导通与否是由DUT Relay来控制。. 测试Pattern输出至IC Input Pin： Local Memory贮放IC测试所需要的测试Pattern，当IC测试机要将测试Pattern送至IC Input Pin时，首先IC测试机会至Local Memory读取0或1的测试Pattern资料，同时再经由Timing Generator， Formator及Driver产生实际讯号输出至DUT Board 的IC Input Pin上。 . IC Output Pin输出讯号至IC测试机：IC测试机将从DUT Board 读取IC Output Pin的输出讯号，于Timing Generator的Strobe时间点与贮存在Local Memory的测试Pattern作比较。. IC测试机测试Pattern的输出与IC讯号的读取所使用的测试信道是否导通，将由DUT Relay来控制，当IC测试机执行SETDUTR(1，”1”)指令后，DUT1 Relay 切上(Close)，测试信道T1导通。当刚开机或执行RESET( )及SETDUTR(0，”1”)指令后，DUT1 Relay打开(Open) ，测试信道T1打开。如图(四)所示。. 有关SETDUTR( ) 指令详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester 软件使用手册”。4.2.2. PMU量测信道动作说明TR-6020 IC测试机每一片PEB板各提供2组PMU量测，而PMU除了量测本身PEB板测试信道所连接的IC Pin外，也可以经由ABUS连接到DUT Board或其它PEB板测试信道的IC Pin做量测。. 本身PEB32板的PMU量测信道：可经由三种不同测试信道切换做量测。请注意：此三种测试信道同时只能选择其中一种使用。.1. PMU经由PMUTODUT Relay测试信道量测：.2. 当IC测试机执行PMUTODUT(1,1)指令后，PMUTODUT Relay 会切入(Close)。当刚开机或执行RESET( )及PMUTODUT(1,0)指令后，PMUTODUT Relay会打开(Open)。.3. 当PMUTODUT Relay切入时，PMU的Force Pin及Sense Pin将分别连接到DUT Board的PMUF Pin及PMUS Pin上。.4. 有关PMUTODUT( )指令详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester软件使用手册。. PMU经由 PMUTOANA Relay及 PMUR Relay测试信道量测：.1. 当IC测试机执行PMUTOANA(1,0)及iSETPMUR(1,”1”)指令后，PMUTOANA Relay会将PMU连接到PMUFS Bus(即PMUTOANA Relay 1-2导通)，PMUR1 Relay会切入(Close)。当执行PMUTOANA(1,1)及SETPMUR(0,”1”)指令时，PMUTOANA Relay会将PMU连接到ANA BUS(即PMUTOANA Relay 1-3导通)，且PMUR1 Relay会打开(Open)。.2. 当PMU经由PMUTOANA Relay(PMUTOANA Relay 1-2导通)及PMUR Relay测试信道量测时，IC测试机会在PMUR Relay的测试信道将PMU的Force Pin及Sense Pin连接在一起，再经由T1T16的测试信道连接至DUT Board上。.3. 有关PMUTOANA( )，SETPMUR( )指令详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester软件使用手册”。. PMU经由 PMUTOANA Relay，ANATOAX Relay及 AR Relay测试信道量测：.1. 当IC测试机执行PMUTOANA(1,1)，ANATOAX(1,1)及SETAR(1,”1”)指令后，PMUTOANA Relay会将PMU连接至ANA Bus(即PMUTOANA Relay 1-3导通)，ANATOAX Relay会切入(Close)及AR Relay会切入(Close)。当刚开机或执行RESET( )，PMUTOANA(1,0)，ANATOAX(1,0)及SETAR(0,”1”)指令后，PMU将会连接至PMUFS Bus(即PMUTOANA Relay 1-2导通)上，且ANATOAX Relay及AR Relay将会打开(Open)。.2. 当PMU经由PMUTOANA Relay(PMUTOANA Relay 1-3导通)，ANATOAX Relay及AR Relay测试信道量测时，IC测试机会在AR Relay的测试信道将PMU的Force Pin及Sense Pin连接在一起，再经由T1T16的测试信道连接到DUT Board上。.3. 有关PMUTOANA( )，ANATOAX( )及SETAR( )指令详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester软件使用手册”。4.2.3. PMU经由ABUS连接到DUT Board或其它PEB板的测试信道：PMU经由PMUTOANA Relay及ANATOABUS1.8 其中之一Relay测试信道 注 : *表示 ABUS1 ABUS8均可. 当IC测试机执行PMUTOANA(1,1)及ANATOABUS1(1,1)指令后，PMUTOANA会将PMU连接至ANA Bus(即PMUTOANA Relay 1-3导通)，ANATOABUS1 Relay会切入(Close)。当刚开机或执行RESET( )，PMUTOANA(1,0)及ANATOABUS1(1,0)指令后，PMU将会连接至PMUFS Bus(即PMUTOANA Relay 1-2导通)上，ANATOABUS1 Relay会打开(Open)。. 当PMU连接至ANA Bus(即PMUTOANA Relay 1-3导通)及ANATOABUS1 Relay切入时，PMU将会有二种量测方式可以使用。第一种方式:PMU的Force Pin及Sense Pin可以经由ABUS1 Bus直接连接到DUT Board的ABUSF1 Pin及ABUSS1 Pin上。另一种方式:PMU的Force Pin及Sense Pin可以经由ABUS1 Bus连接到另一片PEB板的PMU测试信道上，此种连接方式，可以利用此PMU和另一组PMU同时平行量测(Parallel Test)IC DC参数值，提高IC测试机的测试速度。. 有关ANATOABUS1( )指令详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester软件使用手册”。4.2.4. User Relay控制讯号动作说明：. TR-6020 IC测试机每一片PEB32板各提供8组User Relay控制讯号，给使用者作为控制触发讯号使用，当IC测试机刚开机或执行RESET( )及SETUR(0，”1”)指令后，Sequencer 上的UR Pin号输出电位为5V，当IC测试机执行SETUR(1，”1”)指令后，Sequencer会将UR1 Pin的讯号输出电位变为0V，当测试机执行刚开机或SETUR(0，”1”)指令后，Sequencer会将UR1的讯号输出电位恢复为5V。如图(十一)所示. 有关SETUR( )指令详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester 软件使用手册”。1Reed RelayUR8UR17PEB32BoardSequencerUR1+5V35SETUR(1,”1”)UR1-16UR1UR8DUT Board图(十一)DBUS1-4DBUS5-8DBUS1-4SequencerDBUS5DBUS6DBUS7DBUS8DBUS1DBUS2DBUS3DBUS4DBUS5-8DUT BoardSETLMSYN(2,200,2)图(十二)4.2.5. DBUS同步控制讯号动作说明：. TR-6020 IC测试机于每一片PEB板各提供8组DBUS同步控制讯号输出。. 当IC测试机刚开机或执行RESET( )指令后，Sequencer上的DBUS18其输出电位为5V，当IC测试机执行SETLMSYN(2，200，2)指令后，Sequencer执行至Local Memory 地址200时，Sequencer会由DBUS2信道输出一个电位0V的同步控制讯号至DUT Board 的DBUS2 Pin上。此0V的同步控制讯号会一直保持到Sequencer执行至Local Memory地址201时才会停止输出，此时DBUS2的讯号输出电位又将会恢复至5V。如图(廿)所示。. 有关SETLMSYN( )指令详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester 软件使用手册”。4.3. HVPMU4板量测信道动作说明：TR-6020 IC测试机最多可安装八片HVPMU4板(High Voltage PMU)，每一片HVPMU4板提供四组HVPMU，其序号分别为HVPMU1至HVPMU4，及提供8组HVUser Relay控制讯号，给使用者作为控制触发讯号使用。HVPMU1.HVPMU4 可经由 ABUS1-8量测信道，HVPMU1经由 HVPMU1FS量测信道及HVPMU2经由HVPMU2FS量测信道作为量测使用。4.3.1. HVPMU14 经由HVPMUTOABUS* Relay 及ABUS* 测试信道:F23ABUSS*?ABUSF*?PMUR1-16 RelayAR1-16 RelayHVPMUTOABUS*?3RelayABUSS*?*3ABUSF*?3131S2FANATOABUS*?RelayPMUDUT BoardHVPMU4BoardHVPMU14S图(十五). 当IC测试机执行HVPMUTOABUS*(1,1)指令后，HVPMUTOABUS* Relay会切入(Close)且将HVPMU14连接至ABUS* Bus。当刚开机或执行HVPMURESET( )，HVPMUTOABUS* (1, 0)指令后，HVPMUTOABUS* Relay会打开(Open)且将HVPMU1离开ABUS* Bus。. 当HVPMUTOABUS* Relay切入(Close)且将HVPMU14连接至ABUS* Bus时，HVPMU14将会有二种量测方式可以使用。第一种方式：HVPMU14的Force Pin及Sense Pin可以经由ABUS* Bus直接连接到DUT Board的ABUSF* Pin及ABUSS* Pin上。另一种方式:HVPMU14的Force Pin及Sense Pin可以经由ABUS* Bus连接到另一片PEB32板的PMU测试信道上，此种连接方式，可以利用此HVPMU和PEB板的PMU同时平行量测(Parallel Test)IC DC参数值，提高IC测试机的测试速度。. 有关HVPMUTOABUS*( )指令详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester软件使用手册”。 注： *表示 ABUS1 ABUS8均可使用4.3.2. HVPMU14经由HVPMUTODUT Relay测试信道量测：HVPMUTODUT RelayHVPMU BoardDUT BoardHVPMU1PMUFPMUSFS图(廿一). 当IC测试机执行HVPMUTODUT(1,1)指令后，HVPMUTODUT Relay 会切入(Close)。. 当刚开机或执行HVPMURESET( )及HVPMUPMUTODUT(1,0)指令后，HVPMUTODUT Relay会打开(Open)。. 当HVPMUTODUT Relay切入时，HVPMU1的Force Pin及Sense Pin将分别连接到DUT Board的PMUF Pin及PMUS Pin上。. 有关HVPMUTODUT( )指令详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester软件使用手册。4.3.3. HVPMU板User Relay控制讯号动作说明：. TR-6020 IC测试机每一片HVPMU板各提供8组User Relay控制讯号，给使用者作为控制触发讯号使用，当IC测试机刚开机或执行HVPMURESET( )及HVSETUR(0，”1”)指令后，HVPMU板Controller上的HVUR Pin的讯号输出电位为5V，当IC测试机执行HVSETUR(1，”1”)指令后，Controller 会将HVUR1 Pin的讯号输出电位变为0V，当测试机执行刚开机或HVSETUR(0，”1”)指令后，Controller 会将HVUR1的讯号输出电位恢复为5V。如图(廿三)所示. 有关HVSETUR( )指令详细说明，请参阅”TR-6020 IC Tester 软件使用手册”。HVUR11Reed RelayHVUR8HVUR17HVPMU4Controller+5V35HVSETUR(1,”2”)HVUR1-8UR1UR8DUT Board图(廿三)5. IC测试程序制作一个完善的测试工作，不但需将不良的IC检测出来，同时也能提供测试统计资料，协助管理者作为IC品质分析与管理。为能达成上述测试工作，除了需要一部功能完整的IC测试机及测试Pattern外，更重要是能有一个好的测试程序来配合使用，才能发挥其最高测试效益。有关测试程序的制作，可参照下列步骤：(以HD74HCT245P IC作为范例)5.1. 使用软硬件配备5.1.1. 硬件配备. TR-6020 IC测试机32pins PEB *22M Local Memory Baord*2256 pins DUT Board *. Pentium-III 计算机*. 518FR PCI Card *15.1.2. 软件配备. TR-6020系统软件. MS-DOS操作系统 Version .3. Borland Turbo C+ Compiler Version 3.05.2. 制定IC测试流程图依照实际IC测试需要，制定IC测试流程图，一般Logic IC大部份都会包含Continuity，Function，Idd，Voh，Vol，Ioh，Iol，Iih，Iil等测试项目。Continuity _Test( )failfailfailfailFunction _Test( )passIdd _Test( )passVoh _Test( )passVol_Test( )passIoh _Test( )passIol _Test( )passfailfailfailENDIih _Test( )passIil _Test( )passfailfail5.3. DUT Board制作5.3.1. 由于HP74HC245P IC接脚共有20PINS，且TR-6020 IC测试机共有2片PEB32板的硬件配备，故使用第一片PEB32板作为Function及DC参数测试使用，而第二片PEB32板的PMU则作为DPS供应电源至该IC VCC Pin。(每片PEB32 Board有两组PMU)。注：TR-6020 IC测试机可扩充HVPMU4板(Option)，若有加装HVPMU4板的硬件配备时，则可以使用HVPMU4板直接供应电源至该IC的VCC Pin，就不需要PEB3板的PMU作为DPS使用。 HD74HCT245P IC DUT Board接线图，如图(廿四)所示：PMUF31 DIRVCC202 A1OE 193 A2B1 184 A3B2 175 A4B3 166 A5B4 157 A6B5 148 A7B6 139 A8B7 1210 GND B8 11T1T2T3T4T5T6T7T8T9T19T18T17T16T15T14T13T12T11PMUS3GND SignalC 0.01F图(廿四)5.3.2. 将HD74HCT245P IC的GND Pin连接至DUT Board上的GND Signal接点，而VCC Pin则联机至DUT Board的PMUF3及PMUS3接点，请务必在HD74HCT245P IC 的VCC Pin及GND Pin上串接一个0.01uF电容作为滤除电源高频噪声使用。5.4. IC测试程序的编写IC测试程序的编写分为2部份：第1部份为测试Pattern的编写，另一部份为测试程序的编写5.4.1. 测试Pattern的编写：TR-6020 IC测试机测试Pattern是分别由Pattern Symbol及m-Instruction所组成，Pattern Symbol类型(type)分别为：类型功能1Driver Logic High to IC Input Pin0Driver Logic Low to IC Input PinHCompare Logic High from IC Output PinLCompare Logic Low from IC Output PinZCompare Tri-state from IC Output PinXDont Care Pin Statem-Instruction类型分别为：. SET FC N-number：该行测试Pattern执行N次Pattern测试，若每次的Pattern测试的执行结果都是Pass，则该行Pattern测试就视为测试Pass。若其中有一次Pattern测试的执行结果是Fail，则该行Pattern测试就视为测试Fail。. SET FC Match N-number：该行测试Pattern执行N次Pattern测试，若其中有一次Pattern测试的执行结果是Pass，则该行Pattern测试就视为测试Pass。若执行N次Pattern测试，都没有一次Pattern测试的执行结果是Pass，则该行Pattern测试就视为测试Fail。. SET FLOOP N-number：该行测试Pattern执行1次Pattern测试，必须配合FLEND指令执行。. N次循环，若每次的Pattern测试的执行结果都是Pass，则该行Pattern测试就视为测试Pass。. SET FLEND 1：该行测试Pattern执行1次Pattern测试，必须配合FLOOP指令执行。.1. TR-6020 IC测试机的编写测试Pattern为文字文件(Text)，且延伸档名设定为.tri，例如： Filename.tri，该文字文件是无法Down load至TR-6020 IC测试机使用，还需要经过 ”tri2ptn.exe 应用程序” 将该文字文件转换成二进码档(Binary Code)，才能Download至TR-6020 IC测试机使用。转换后其档名Filename.ptn。.2. 欲将测试Pattern Download至TR-6020 IC测试机使用时，只需要输入Filename.ptn檔名即可，例如：LMLOAD(1，”Filename.ptn”)。.3. 有关TR-6020 IC测试机测试Pattern详细说明，请参考”TR-6020 IC Tester 软件使用手册的附录二”说明。5.4.2. 测试程序的编写：TR-6020 IC测试机是一部专为消费性IC所设计的20MHZ IC测试机，具Function Pattern，AC，DC参数量测等功能，而一般消费性IC的测试大部份只针对Continuity，Function，Idd，Voh，Vol，Ioh，Iol，Iih，Iil等项目来作量产性的测试。今就上述项目的测试原理，测试步骤及测试程序说明如下：. Continuity测试：.1. Continuity测试原理：一般在设计IC时，都会在IC的Input Pin及Output Pin与VCC Pin及GND Pin之间多加入一个保护二极管(Protection Diode)作为保护IC使用。Continuity测试原理就是利用这些保护二极管来测试IC的Open及Short问题。当IC Open时，保护二极管的量测值会比正常值偏高，当IC Short时，保护二极管的量测值会比正常值偏低。FVMIVCCPMUPMUDPSFIMVFIMVNegative DiodePositive DiodeGND图(廿五).2. Continuity测试步骤：.2.1. DPS Force 0V的电压到IC的VCC Pin。.2.2. 利用PMU逐次量测IC的保护二极管的电压值，即PMU每次只量测一个保护二极管，当该保护二极管量测完后，PMU又继续量测下一个保护二极管，一直到全部Input Pin及Output Pin都量测完成才结束。.2.3. 当PMU量测Negative保护二极管时，PMU则先Force - 100A电流再量测电压值，当PMU量测Positive保护二极管时，PMU则先Force 100A电流再量测电压值。 .3. Continuity测试程序范例：#include /* begin of continuity_test() test for diode */continuity_test()PMUTODUT(3,1);FVPMU(3,0,100,90,5,0);DLYMS(10);ASSIGNPIN(1-9,11-19);ASSIGNFI(1,2,0.1,3,2,0.2,10);/DEBUGMODE(continuity_test1() debug for positive diode );MESSAGE(continuity_test1() test for positive diode);FCHECKPMU(1,FB2);ASSIGNPIN(1-9,11-19);ASSIGNFI(1,2,-0.1,3,-0.2,-2,10);/DEBUGMODE(continuity_test2() debug for negative diode );MESSAGE(continuity_test2() test for negative diode );FCHECKPMU(1,FB2); return; /* end of continuity_test() test for diode */. Function测试：.1. Function测试原理：测试Pattern可用来测试IC逻辑动作是否正常，而测试Pattern的取得，可由EDA工具自动产生，再经过转换软件转换成IC测试机可接受的测试Pattern格式。完整的测试Pattern可提高IC的Fault converge， 故测试Pattern的完整性与否，将影响IC测试机的测试率(Testability)。IC测试机的Local Memory贮放着IC测试所需要的测试Pattern，而这些测试Pattern是一些0与1的资料，故当测试Pattern输出至IC Input Pin时，IC测试机需要将测试Pattern 经过Test Period，Formator，Timing Generator及Driver才能产生实际讯号输出至IC Input Pin，同时IC Output Pin输出的讯号也需要经过IC测试机的Receiver及Timing Generator处理，才能和Local Memory的测试Pattern”L”,”H作测试比较。Test PatternICDPSGNDVCC图(廿六).2. Function测试步骤：.2.1. DPS Force IC VCC工作电压到IC的VCC Pin。.2.2. 设定Test Period，Timing Generator的Start， Stop值(当NF Format时，可不需要设定Start， Stop值)，Formator，DUT Relay，DPS，Vih及Vil参数值后将测试Pattern 输出至IC Input Pin。.2.3. 设定Voh，Vol参数值及Timing Generator的strobe值，将IC Output Pin的讯号读取，并和测试Pattern作比较。.3. Function测试程序范例：#include /* begin of function_test() test */function_test() PMUTODUT(3,1); / power on FVPMU(3,5,100,90,5,0); SETTP(2000); / test period SETTSTART(1-9,11-19,800);/ timing generator SETTSTOP(1-9,11-19,1900); SETTSTROBE(1-9,11-19,1600); SETVIH(1,2,5.0); / dirver SETVIL(1,2,0.0); SETVOH(1,2,3.5); / comparater SETVOL(1,2,0.5); SETNF(1-9,11-19); / format SETDUTR(1,1-9,11-19); / dut relay DLYMS(10); /DEBUGMODE(function_test() debug); MESSAGE(function_test() test); FTEST(1,addr74245,FB3); / function test return; /* end of function_test() test */. Idd测试：.1. Idd测试原理：Idd测试最主要目的是在量测IC工作时所消耗的电流量，Idd测试方法分为2种，一种是静态(Stand By Current)量测:让IC执行一段初始化(Initial) 测试Patte