Agilent 3070 系统介绍.ppt

Agilent3070系统介绍 软硬件综述 Presenter 王凯3070AEofiNETestCo 概要 Part13070系统介绍Part23070硬件综述Part33070软件综述Part4基本的测试原理 Part13070系统介绍 概要在线测试 ICT 在产线中的位置ICT基本测试原理Agilent3x7y系列测试界面 夹具安全事项测试程序开发流程测试工具 在线测试 ICT 在产线中的位置 目标 尽早的发现制造缺陷 降低PCB板的制造成本 Agilent3070基本测试原理 Agilent3070 Agilent3070基本测试原理 通常是PCB板安装完成后的第一次电学测试通过检测PCBA上的单个或多个元器件来验证器件值检查器件安放位置确认电路连接查找PCB制造中的缺陷 短路 开路 错件及零件错位等 常见制造缺陷 焊点短路 常见制造缺陷 焊点开路 常见制造缺陷 零件安装错位 常见制造缺陷 零件翘起 在线测试功能 Summary 模拟器件测试上电测试数字测试局部的功能测试精确测试特殊测试 验证PCB的安装过程在测试阶段尽快消除明显PCBA上的零件错误提供最佳的测试方案以取得最大的测试覆盖率 Agilent3x7y系列 5184nodes 2592nodes 1296nodes Agilent3x7y系列 Agilent3x7y系列 30703x71 unpowerorlimitedpowersystem3x72 ProcessTestSystem3x73 IncircuitTestSystem3x74 FunctionalTestSystem3x75 CombinationTestSystem3x79 TelecommunacationsTestSystem 测试界面 夹具 短线夹具的结构 为什么选用短线夹具 安全事项 测试程序开发流程 测试工具 Part23070硬件综述 OutlineAgilent3070的结构DUTPowerSupplyTestheadModuleDesignationsCardsinTestheadMotherCardModuleControlCardASRUCardPinCard AnatomyofAgilent3070 AnatomyofAgilent3070 Cont DUTPowerSupplies Testhead ModuleDesignations CardsintheTesthead MotherCardModuleControlCardAnalogStimulus ResponseUnit ASRU CardPinCards MotherCard 提供系统内部板卡的DC电源SuppliesDCpower分配电信号到指定的ModuleControlCard解析地址Decodesaddress MotherCard Cont MultiplexingtheASRUcardtopincardsbymothercard ModuleControlCard 控制实际的测试过程程序自动读取码 AutofileCode 带有8个通用开关 GPRelay 必须放在每个module的第6槽位四种类型 ControlCardControlPlusCardControlXTCardControlXTP ASRUCard 提供正确的激励信号Appliestheappropriatestimulus使用测量运算放大器进行电压信号的测量MakesavoltagemeasurementwithMOA MeasuringOperationalAmplifier 提供直流点信号和波形发生器ProvidesDCsourceandawaveformgenerator分配在1号槽Residesinslot1有A B C三个版本 PinCard HybridDoubleDensityCardHybrid32CardChannelPlusCard Nolongeravailable butstillsupported AccessPlusCardAnalogPlusCardSerialTestPlusCard STC HybridDoubleDensityCard Twosides SideA SideBMUXratio MINTpins D Rlines 9 216channelsx9pins 144MINTpins Hybrid32Card Part33070软件综述 概要标准测试流程软件综述BT Basic及相关命令3070操作步骤测试原理 标准测试流程 软件综述 BT Basic界面 Statusline Commandline Operatingmode ProcessIDnumber Workingspace Specialfunctionkeys 快捷键 F1 Edit CommandF2 RecallPlusF3 RecallMinusF4 ExecuteF5 Mark SecondMark ClearMarkF6 TestConsultantF7 PushbuttonQSTATSF8 StoreLineF9 InsertLineF10 DeleteLineF11 ClearLineF12 ClearDisplay 操作模式 常用BT Basic命令 catchangechange A to BA changemchangem cd to ab copytocopytocopyovercopyover createdirdeleteduplicate 常用BT Basic命令 editfind findnfind string1 findn string2 get loadmergemerge file1 file2 5 6 file3 movemsi msi numberscratchsave re savesave file1 操作步骤 打开系统的电源Turnonsystem用设定的用户名登陆Logonashp3070user打开BT BasicOpenBT Basic进入到待测板的目录Gettoboardtestdirectory输入 testheadpoweron testheadis1输入 load testplan 索紧夹具Fixturelock运行程式Run松开夹具Fixtureunlock输入 testheadpoweroff testheadis 退出BT Basic操作exit登出logoff关机shutdown Testhead操作命令 testheadpoweron offtestheadis1 fixturelock unlockfaon faoffexit Testhead Config file Testhead Config file Cont Thefilemustbelocatedinthe 3070 diagnostics th1 directoryThefilemustbecompiledwiththetestheadoptionThetestheadmaynotbootiftheconfigfileinincorrectThistestheadconfigfileisdefinedduringtheinitialsysteminstallationThetestheadconfigfilemaynotbeusedasaboardlevelconfigfile Board Config file Part4基本的测试原理 测试流程回顾 testplan 模拟测试的基本原理常用测试选项的介绍BoardConsultantPushbuttonDebugOtherIssue 标准测试流程 AnalogTest testplan Analogtest concept Analogtestbasic Shortstest Shortstest Cont Expectsshorts Jumpers Closedswitches Fuses Smallvalueresistors Etc Unexpectedshorts Highimpedancenodes Digitalpins Resistorsabove10k Unexpectedshorts Lowimpedancenodes Powernodes Resistorsbelow10k Shortstest Cont Pinstest Resistivetest CapacitororInductortest Statementsyntax Capacitorcapacitor Diodediode Resistorresistor Jumperjumper Measurementoptions BoardConsultant PushbuttonDebug BoardLevelDebug DeviceLevelDebug Deviceleveldebug AnalogDebug Gentleremind 对测试程序进行修改之前进行必要的备份Dobackupbeforeanymodification在修改的部分加入个人