战略性矿产远景调查数据库建设内容与数据库成果提交要求与验收要求....doc

战略性矿产远景调查数据库建设内容与 数据库成果提交要求与验收要求 战略性矿产远景调查数据库建设内容与 数据库成果提交要求与验收要求 1.数据验收组织方式，2.数据库成果验收阶段性划分，数据库成果验收阶段 3.数据提交验收的基本条件4.数据质量检查、验收与评价方法 1.数据验收组织方式根据中国地质调查局关于矿产资源补偿战略性矿产远景调查项目野外验收和报告评审有关事项的通知， 成果应与战略性矿产远景调查项目成果验收同步。其数据 库验收方式与项目成果验收方式相同。具体验收初步意见 如下(1)在专家组中，增加2-3名数据库专家，对数据库成果进行验收，验收内容和评分标准参见 “战略性矿产远景调查 数据库建设内容与数据库成果提交要求”（技术要求文 档），并且数据库验收的分数做为战略性矿产远景调查项 目成果总体分数的一部分。(2)数据库专家由中国地质调查局发展中心和大区指定专 家组成(通过集体培训) 并参加所有项目的成果验收。 2. 数据库成果验收阶段 由于本次数据库建设过程中， 数据建库的技术路线和入口方式不同，特别是部分图幅的数据库采集没有与野外调查和工作同步 ， 导致数据的数字化工作集中而显得数据采集与数字化工作偏大。根据工作量测算，工作量大的工作主要是野外路线数据的录入（包括地质路线和地球化学数据采集）地质图空间数据库。根据实际工作的情况，数据库成果验收可分阶段提交，具体意见如下： （1）数据库成果应与战略性矿产远景调查项目成果的验收同步的数据库如下： PRB图幅库(最好能同时提交野外PRB数据)，剖面数据库 槽井坑钻数据库（可选）， 矿产地数据库 地质图空间数据库（与验收的地质矿产图一致）地球化学数据库（分析数据、成果数据）地球物理数据库（分析数据、成果数据） 遥感解译数据库 异常查证结果数据库 矿点检查结果数据库 成矿规律与矿产预测图数据库: 成矿规律与矿产预测图数据库: 综合地质构造图层、含矿地质建造图层、 综合地质构造图层、含矿地质建造图层、控矿构造图 矿产地图层、矿化信息及找矿标志图层、矿产地图层、矿化信息及找矿标志图层、蚀变带 信息、物、化、遥等综合异常图层、矿产预测远景区图层、找矿靶区图层、地质工作部署建议。 最终验收后，可在3个月内提交战略性矿产 远景调查项目成果的验收的数据库如下： 远景调查项目成果的验收的数据库如下： 地质路线数据库（含照片、素描）考虑录入工作量 地球化学数据库野外采样数据库 地球物理数据库， 地质图空间数据库（同修改后的报告一致），重砂野外数据采集与成果数据库 3、数据提交验收的基本条件 (1)数据种类与地质调查报告一致 ， (2)数据库路径与数字地质调查系统一致 ， (3)数据逻辑内容与空间数据拓扑一致性应100% 通 过数字地质调查系统提供的数据质量检查工具 (4)数据分图幅组织 ， (5)按地调局元数据标准填写提交的成果的元数据 ， (6)数据存储介质 光盘 。4.数据质量检查、验收与评价 (1) 数据质量检查 根据战略性矿产远景调查数据库建设内容与数据库成果提交要求，数据质量、验收与评价的具体 内容如下： (2) 数据质量检查、验收与评价 数据检查的基本要求 按三级检查要求进行。一级检查：作业组自查、互检。要求 100 的全面检查。 二级检查：由项目负责人或项目质检人员对作业组生产的数据进行100 的 全面检查。三级检查：三级检查由生产单位的质量管理部门或质检员负责，按抽样比例进行检查。对每级检查或验收发现的问题应进行全面修改，并经复检通过后 方可提交下一级检查或验收。 数据验收的基本要求一级验收指由数据的生产单位组织的验收。在抽样检查与评价的基础上给出 验收结论和质量报告。 验收结论和质量报告。 二级验收指由数据生产任务下达部门委托有关机构按照相关要求进行的验收。二级验收一般采用概查方式，只检查重点内容。在抽样检查与评价的基础上给出验收结论与质量报告。 检查指标 (4) 数据质量检查 质量等级的划分规则 采用优秀、良好、合格、不合格等四个级别表征地质数 据质量水平。按百分制的得分划分质量等级。S为得分， 数据质量等级的划分标准为：(1)优秀 S90分 (2) 良好 90S75分 (3) 合格 75S60分 (4)不合格 S60分 (5) 数据质量检查数据质量评分方法 如果在检查过程中，一旦发现致命缺陷，停止进一步检查，直接要求返工。不进行质量评分。评分计算方法如下： 首先计算总的检查项目个数，可以简单计算把数据的记录* （1）首先计算总的检查项目个数，可以简单计算把数据的记录*字段数作 为检查项目总个数用W表示；如果是抽查，则总项目数应为抽查的字段数* 为检查项目总个数用W表示；如果是抽查，则总项目数应为抽查的字段数* 抽查的记录数。 抽查的记录数。 统计缺陷数，把所有类型的缺陷数据转换为次轻缺陷数，记为E （2）统计缺陷数，把所有类型的缺陷数据转换为次轻缺陷数，记为E； E=严重缺陷数*16+重缺陷数* 次重缺陷数据库5 轻缺陷数* E=严重缺陷数*16+重缺陷数*9+次重缺陷数