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文档简介

GB T6394 2002金属平均晶粒度测定法 适应范围和级别 主要适用于金属单相晶粒组织 也适用于晶粒形状和本标准系列评级图相似的非金属材料 本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量 也就是试样截面显试出的二维晶粒 依照标准分I II III IV个系列 平均晶粒度的平均尺寸分16个级别 术语定义和测量方法 显微晶粒度级别数 100倍下 645 16mm2 80mm 80mm 面积内的晶粒个数 宏观晶粒度级别数 1倍下 645 16mm2 80mm 80mm 面积内的晶粒个数 共有三种比较法 面积法 截点法 比较法 比较法不需要计算任何晶粒 截点 截距 与标准评级图 标准挂图 目镜插片 进行比较 比较法偏差 0 5级 R R 1级 比较法 当晶粒形貌与标准评级图的形貌完全相似时 评级误差最小 因此 本标准有下列四个系列的评级图A系列图片I 无孪晶晶粒 浅腐蚀 100倍B系列图片II 有孪晶晶粒 浅腐蚀 100倍C系列图片III 有孪晶晶粒 深腐蚀 75倍D系列图片IV 钢中奥氏体晶粒 渗碳法 100倍 比较法 面积法 面积法是计算已知面积内的晶粒个数 利用单位面积内晶粒数来确定晶粒度级别 精确度 0 25级 R R 0 5级 截点法 截点法是计算已知长度的试验线段 或网格 与晶粒界面相交截部分的截点数 截点法精确度 0 25级 R R 0 5级对于非均匀等轴晶粒的各种组
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