标准解读
《GB/T 29851-2013 光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法》是一项国家标准,旨在规范光伏电池生产过程中所使用的硅材料内硼(B)和铝(Al)两种主要受主型杂质元素含量的测定方法。该标准详细描述了如何使用二次离子质谱技术(SIMS, Secondary Ion Mass Spectrometry)对这些杂质进行精确测量。
根据此标准,首先需要准备待测样品,并确保其表面清洁无污染,以便获得准确可靠的测试结果。接下来,通过特定条件下的离子束轰击样品表面,使得样品中的原子或分子被激发出来形成二次离子。然后,利用质谱仪分析这些二次离子的质量与电荷比值,从而识别并定量分析出其中含有的硼和铝杂质的具体浓度。
整个过程包括但不限于样品制备、仪器校准、数据采集以及结果处理等多个步骤,每一步都有明确的操作指南和技术要求,以保证测量结果的一致性和可比性。此外,还特别强调了实验环境控制的重要性,比如温度、湿度等因素都可能影响到最终的数据准确性。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2013-11-12 颁布
- 2014-04-15 实施
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文档简介
ICS29045 H 82 . 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T298512013 光伏电池用硅材料中 B Al受主杂质 、 含量的二次离子质谱测量方法 Testmethodformeasuringboronandaluminiuminsiliconmaterialsusedfor photovoltaicapplicationsbysecondaryionmassspectrometry2013-11-12发布 2014-04-15实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准光伏电池用硅材料中 B Al受主杂质 、 含量的二次离子质谱测量方法 GB/T298512013 * 中 国 标 准 出 版 社 出 版 发 行北京市朝阳区和平里西街甲 号 2 (100013) 北京市西城区三里河北街 号 16 (100045) 网址 : 服务热线 010-68522006 年 月第一版 2014 1 * 书号 :1550661-48021 版权专有 侵权必究 GB/T298512013 前 言 本标准按照 给出的规则起草 GB/T1.12009 。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 。 。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会 提出并归口 (SAC/TC203) 。 本标准起草单位 信息产业专用材料质量监督检验中心 中国电子技术标准化研究院 国家电子功 : 、 、能与辅助材料质量监督检验中心 天津市环欧半导体材料技术有限公司 、 。 本标准主要起草人 何友琴 马农农 王东雪 何秀坤 裴会川 冯亚彬 张雪囡 : 、 、 、 、 、 、 。 GB/T298512013 光伏电池用硅材料中 B Al受主杂质 、 含量的二次离子质谱测量方法1 范围 本标准规定了用二次离子质谱仪 测定光伏电池用硅材料中硼和铝含量的方法 (SIMS) 。 本标准适用于光伏电池用硅材料中受主杂质硼和铝含量的定量分析 其中硼和铝 的 浓 度 均 大 于 , 13 3 其他受主杂质的测量也可参照本标准110 atoms/cm 。 。2 方法原理 在高真空条件下 氧离子源产生的一次离子 经过加速 纯化 聚焦后 轰击样品表面 溅射出多种粒 , , 、 、 , , 子 将其中的离子 即二次离子 引出 通过质谱仪将不同荷质比的离子分开 记录并计算样品中硼 铝分 , ( ) , , 、 别与硅的二次离子强度比 + + + + 然后利用其相对灵敏度因子进行定量 (B )/(Si )、(Al )/(Si ), 。3 干扰因素 31 样品表面吸附的硼和铝会干扰样品中硼和铝的测量 . 。32 从 仪器样品室吸附到样品表面的硼和铝会干扰样品中硼和铝的测量 . SIMS 。33 在样品架窗口范围内的样品表面应平整 以保证每个样品移动到分析位置时 其表面与离子收集 . , , 光学系统的倾斜度不变 否则测量的准确度和精度会降低 , 。34 测量的准确度和精度随着样品表面粗糙度的增大而显著降低 可通过对样品表面进行化学机械抛 . , 光予以消除 。35 标准样品中硼和铝分布不均匀会影响测量精度 . 。36 标准样品中硼和铝标称浓度的偏差会导致测量结果的偏差 . 。37 因仪器不同或者同一仪器的状态不同 检测限可能不同 . , 。38 因为二次离子质谱分析是破坏性的试验 所以应进行取样 且所取样品应能代表该批硅料的性质 . , , 。 本标准未规定统一的取样方法 因为大多数合适的取样计划根据样品情况不同而有区别 为了达到仲 , 。 裁目的 取样计划应在测试之前得到测试双方的认可 , 。4 仪器及设备 41 扇形磁场二次离子质谱仪 . 仪器需要装备氧一次离子源 能检测正二次离子的电子倍增器和法拉第杯检测器 质量分辨率应优 , , 于 1500。42 液氮或者液氦冷却低温板 . 如
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