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文档简介

微电子技术前沿复习提纲2011.121. 请给出下列英文缩写的英文全文,并译出中文:CPLD、FPGA、GAL、LUT、IP、SoC。 CPLD:Complex Programmable Logic Device(复杂可编程逻辑器件) FPGA:Field Programmable Gate Array(现场可编程门阵列) GAL:Generic Array Logic(通用阵列逻辑) LUT:Look Up Table(查找表) IP:Intellectual Property(知识产权) SoC:System on Chip(片上系统)2. 试述AGC BJT器件实现AGC特性的工作原理; 试说明为什么AGC BJT的工作频率范围受限。当输入增加时,输出也增加,我们只要衰减增益,使放大系数降低,就达到了稳定输出的目的。AGC要求基区扩展,而f反比于基区宽度的平方。3. 为什么双栅MOSFET具有良好的超高频(UHF)特性?在双栅MOSFET中G2屏蔽了G1/D之间的耦合,大幅减小了密勒效应,从而有良好的超高频特性。4. 为什么硅栅、耐熔金属栅能实现源漏自对准,而铝栅不行?实现源漏自对准的目的是什么?Al熔点约450C。工艺步骤先做扩散或注入形成漏源沟道,退火,再做金属铝栅,是套刻工艺,工艺难度随器件缩小越难至无法实现采用该技术即可减小其中MOSFET的寄生电容,大大提高工作频率和速度。是利用栅极本身作为掩模来进行n源区和漏区的离子注入,使得其间的重叠部分几乎减小到了0;5. 试用“深掏滩,低垒堰”的思想说明“在IC中利用密勒效应来获得大电容”的发明的聪明之处。IC中利用密勒效应来获得大电容的目的是什么?利用密勒效应可以避免在IC上直接制造大电容,这可以减小芯 片面积。6. 试举4个以上例子说明:在模拟IC或模拟电路中,电容通常所起的作用。隔直通交,调谐选频,对信号微积分,退耦7. 为什么说“BJT的开启电压固定,MOS的开启电压难于精确控制”?因为MOS管的阈值电压UTH对工艺过程和器件尺寸非常敏感,而BJT器件的开启电压UBE比UTH更容易精确控制,所以BJT器件更容易得到性能良好的匹配对管。8. 在相同工艺水平条件下,例如同为1um工艺,BJT与CMOS 相比较,BJT的工作频率更高, 其原因是什么?由此, 能否说明“少子器件不一定比多子器件慢”?这主要是受迁移率的影响,BJT中的迁移率是体迁移率,远大于 MOSFET的表面迁移率,因此跨导更大,速度更快。不能,但是随着集成度的提高,CMOS工艺的晶体管速度已经快于BJT9. 试说明ECL电路速度快,但功耗大的原因。ECL其基本门电路工作在非饱和状态,逻辑摆幅很小,当电路从 一个状态过渡到另一个状态时对寄生电容的充放电很快,因此电路速度快。但是单元门的开关管是轮流导通的,因此功耗大。10. BJT频率特性的提高受到什么因素限制?为什么HBT可以解决此 问题? 对于BJT想提高频率特性就要减小基区宽度,而这将导致击穿电压和厄利电压下降。而对于注入效率足够高的HBT,可以保证减小基区宽度的同时不导致穿通,提高高频特性。11. 试画出npn BJT、宽禁带发射区npn HBT的能带图和窄禁带发射区npn HBT的能带图。12. 为什么宽禁带发射区HBT能够改善BJT的噪音特性? 宽禁带发射区HBT的发射区掺杂浓度在不降低放大系数情况下可以很低,这减小了发射区电容,从而器件噪声也降低13. 由于宽禁带发射区HBT具有良好噪音特性,它常被用作电子系统的前置放大。试说明“前置放大级噪音特性决定了整个电子系统的噪音特性”。后级放大会将噪声和信号一起放大,因此前置放大级决定了系统的噪声特性14. 什么叫BiCMOS,它与CMOS相比有何优缺点?BiCMOS是将CMOS和双极器件集成在同一芯片上的技术。与CMOS相比,其既有CMOS电路高集成度低功耗的特点,又有双极性电路高速强电流驱动的优势,但是要完全实现这一点,制造成本很高。15. 什么叫IGBT它与功率MOS相比有何优缺点?IGBT即是绝缘栅双极性晶体管,其导电损耗小,但开关速度慢。16. IGBT导通电阻小的器件物理本质是什么?IGBT在正向工作条件下,在注入少子时,高阻厚外延的n-区产生电导调制效应,降低了外延层的电阻率,从而减小了器件的导通电阻。17. 试画出IGBT和BiCMOS倒相器的等效电路图,并对IGBT和BiCMOS的工作原理作比较分析。18. 试说明闭锁效应在CMOS、BiCMOS、IGBT中的危害和在可控硅中的好处。闭锁效应时,栅极只能控制导通,但不能控制关断,是造成IC实效的一种重要原因。但在可控硅导通时,发生闭锁,产生强烈的BJT基区电导调制效应,从而使得其正向导通电阻极小。19. 试说明热载流子效应在微电子器件中的危害,及其在EEPROM和Flash存储器中应用的原理。危害:寄生晶体管效应,热载流子退化。同时,热电子注入是对Flash EEPROM编程的一种手段,它利用高电场加速得到的热电子注入浮栅区来实现电子的移动。

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