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文档简介

JR25便携式三维表面轮廓仪（美国NANOVEA品牌介绍： 美国NANOVEA是一家全球公认的三维表面形貌测试技术的领导者，生产的三维表面形貌仪测试系统是目前国际上在科学研究和工业领域最先进设备之一，公司在光学设计、精密机械和科学软件算法方面，拥有长期不断发展的专利技术，由于这些专门技术的应用，NANOVEA为生产和质量控制的研究和发展提供精密准确的全方位解决方案。产品介绍： JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。JR25便携式三维表面轮廓仪是野外操作或不可拆卸部件的理想选择 。结构紧凑，性价比高 替代探针式轮廓仪和干涉式轮廓仪 测量范围：25mm25mm 产品图片：产品特性:1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率2，测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿)；4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面5，不受样品反射率的影响6，不受环境光的影响7，测量简单，样品无需特殊处理8，Z方向,测量范围大：为27mm主要技术参数：1，扫描范围：2525（mm）2， 扫描步长：0.1m3，扫描速度：20mm/s4， Z方向测量范围：27mm4， Z方向测量分辨率：3nm产品应用：MEMS、半导体材
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