统计流程控制——控制图ppt课件

.,1,统计流程控制控制图,.,2,控制图基础,是用来区分引起CTQ或X变化的是普通偏差（由于系统内部原因的偏差）还是特殊原因偏差（由于系统外部因素原因的偏差）的一种工具。,.,3,控制图基础,根据检测数据类型，分为：-品质控制图-计量控制图,.,4,控制图基础,控制界限及说明,控制界限的获得过程的统计均值3（统计标准差）因此控制上限=统计均值+3（统计标准差）控制下限=统计均值-3（统计标准差）,.,5,控制图的种类,按统计量的分类计量型控制图:能连续测定的值(长度,温度,湿度)计数型控制图:离散型测定的值(不良品数,缺陷数)按使用目的分类工序解释用控制图:为确知工序处于什么样的状态？调查由什么原因而产生何种散布？工序管理用控制图:随着作业，通过控制图检查该结果，为找出异常及构成的原因，以利于及时采取对策。,.,6,控制图的种类,管理图的种类,计量型控制图,平均值&范围XR管理图(n3)典型的35个,平均值&标准偏差Xn10,变量&范围X&R(n10)典型性地取35个,开发&MovingRangeX&mRn=1,计数性控制图,不良率管理P管理图(n50)DPU/DPU追踪,不良管理np管理图(n50)不良数追踪,有确定单位欠点数C管理图C5,无确定单位欠点数U管理图n变数,为了使用恰当的管理图,应在事前确定其是连续型的还是离散型的。,.,7,控制图的选择,.,8,控制图的选择,.,9,均值,时间,UCL,CL,LCL,+2+3段,+1+2段,均值+1段,均值-1段,-1-2段,-2-3段,分层后的控制图，每段1个标准差宽度,.,10,判别过程不受控原则,有一个点落在上下界限外连续3个点中有2个点在2倍标准差界限内连续5个点中有4个点在1倍标准差界限内连续8个以上的点在中心线的一侧出现连续8个以上的点有上升或下降趋势一定数量的连续点在中心线附近集中13个连续的点落在中心线两端的C区域内,.,11,控制图解释,对于正常的走势的变化予以说明,概要的状况如下:许多点接近中心线少数点,很接近控制界限没有在控制界限以外的点(即使有,也很少)*连续35个点中,脱离管理界限的在1个以内时*连续100个点中,脱离管理界限的点在2个以内时,.,12,管理状态和安定状态:点散布在中心线的附近,并且不脱离控制界限下的状态,控制图解释,UCL,LCL,CL,.,13,接近管理界限:将中心线和管理界限间进行3等份,点处于最外部分2/3的状态。由于工序的散布增加,通过工序的点检及确认,采取必要的行动；,UCL,LCL,CL,控制图解释,.,14,识别移动:整体朝一个方向的变动。许多数据将出现在控制图的同一侧,控制图解释,典型原因：X-bar图：原料改变，新的操作者，轮班计划，新的工具/仪器，流程方法改变R图/mR图：新的操作者，降低或增加，原料不统一，流程方法改变,.,15,控制图解释,识别循环(Cycle):意味者在某种原因下,对流程产生周期性的影响，暗示特定原因存在,典型原因：X-bar图：设备磨损，季节性影响，测量器的差异，动力波动R图/mR图：维护时间，固定设备或计量仪，轮班差异,.,16,识别趋势(Trend):大量数据点始终朝一个方向延伸，意味者点显示为向某一方向连续变化,控制图解释,UCL,LCL,CL,典型原因：X-bar图：工具磨损，老化，季节性影响，操作者疲劳，不恰当维护，新原料R图/mR图：机器松动，逐渐磨损，工具变钝，操作者技术逐渐改变，其他相关领域流程控制的效果,.,17,控制图解释,脱离管理:调查工序的异常原因,采取杜绝再发,UCL,LCL,CL,.,18,接近中心线:接近中心线的点,持续的连续出现显示,取样有问题或是由工序方法变更而引起,UCL,LCL,CL,控制图解释,.,19,控制图的判读原则（1）应视控制图上的点为一分配，而不是单纯之点，即应考虑到制程分配之变化情形。（2）不必过分顾虑界限内之点动向。虽然异常之原因，而制程顺利进时，其结果在界限内仍有差异之存在。（3）只要点在界限内，原则上可视为在控制状态下。（4）点子超出界限线外时，表示制程已发生异常原因，在界限上之点子亦应视为制程已发生异常之原因。此种状态称为不在控制状态不或非控制状态下。,.,20,特殊排列因而判定制程异常（1）点在中心线单侧连续出现7点以上时。这些点谓之连。（机率为0.8%）（2）点在中心线单侧出现较多时。连续11点中至少有10点连续14点中至少有12点连续17点中至少有14点连续20点中至少有16点,注意动态,调查原因,采取行动,.,21,采取矫正行动,（3）连续7点依次上升或下降,采取行动,调查原因,注意动态,.,22,（4）点接近界限，在2与3间。连续3点中有2点以上（机率为0.5%）连续7点中有3点以上连续10点中有4点以上,2,3,2,3,采取行动,采取措施,.,23,（5）点出现呈周期性变动,（6）连续15点以上出现在1间时。（机率为0.3%）（7）变幅突然变大或减小。,UCL,CL,LCL,.,24,控制图minitab实战,I-MR统计控制图单值的变量控制图I-MRX-R统计控制图子组的变量控制图X-RP图（NP图）统计控制图属性控制图P（NP）U图统计控制图属性控制图U（C）,.,25,I-MR,示例：作为石灰石采石场的渠道经理，您要监视每周向重要客户运送的45批石灰石的重量（磅）和变异。每一批的重量应近似为930磅。操作步骤：1打开工作表“质量控制示例.MTW”。2选择统计控制图单值的变量控制图I-MR。3在变量中，输入厚度。4单击I-MR选项，然后单击检验选项卡。5选择执行所有的特殊原因检验，然后在每个对话框中单击确定。,.,26,.,27,单值控制图显示控制限制范围之外有6个点，控制限制范围之内有22个点，表示有非随机模式，从而说明存在特殊原因。移动极差控制图显示有一个点高于控制上限。应该细检查采石场的生产流程，以改进对石灰石运送重量的控制。,.,28,X-R,1、收集数据（1）进行测量系统分析（2）确定子组样本容量：小于9，常规选5（3）确定子组频率（4）确定子组数2、建立控制图,.,29,X-R,示例：部件之一的凸轮轴的长度必须为600毫米+2毫米以满足工程规格。凸轮轴长度不符合规格是一个长期以来的问题，它引起装配时配合不良，导致废品率和返工率都居高不下。您的主管要绘制X和R控制图以监控此特征，于是您在一个月中从工厂使用的所有凸轮轴收集共100个观测值（20个样本，每个样本中5个凸轮轴），并从每个供应商处收集100个观测值。首先您将看到供应商2生产的凸轮轴。操作步骤：1打开工作表“凸轮轴.MTW”。2选择统计控制图子组的变量控制图Xbar-R。3选择图表的所有观测值均在一列中，然后输入供应商2。4在子组大小中，输入5。单击确定。,.,30,.,31,X控制图上的中心线在600.23处，表明您的过程落于规格限制范围内，但是有两点在控制限制以外，表明该过程不稳定。R控制图上的中心线在3.890处，也远远超出了允许的最大变异+2毫米。因此您的过程中可能存在非常大的变异。,.,32,X-S,1、收集数据（1）进行测量系统分析（2）确定子组样本容量：大于9（3）确定子组频率（4）确定子组数：25个以上2、建立控制图,.,33,X-S,示例：您正在对9位严格进行节食和日常锻炼的病人研究其血糖水平。要监视病人血糖水平的平均值和标准差，请创建X和S控制图。您在20天中每天采集每位病人的血糖读数。操作步骤：1打开工作表“血糖.MTW”。2选择统计控制图子组的变量控制图Xbar-S。3选择图表的所有观测值均在一列中，然后输入血糖水平。4在子组大小中，输入9。单击确定。,.,34,.,35,.,36,10天中的血糖水平平均值和标准差落于控制限制范围内。9位节食并进行日常锻炼的病人的血糖水平及其变异性均受控制。,.,37,P图,1、收集数据（1）进行测量系统分析（2）确定子组样本容量：大于50（3）确定子组频率（4）确定子组数：25个以上2、建立控制图,.,38,P图,示例：您在一家生产电视机显像管的工厂工作。对于每个批次，您都会抽取一些显像管并进行视像检验。如果显像管内侧有刮痕，您就会拒收它。如果某个批次的拒收数太多，您会对该批次进行100%的检验。P控制图可以定义何时需要检验整个批次。操作步骤：1打开工作表“质量控制示例.MTW”。2选择统计控制图属性控制图P。3在变量中，输入拒收数。4在子组大小中，输入取样数。单击确定。,.,39,.,40,样本6超出控制上限。请考虑检验该批次。,.,41,NP图,1、收集数据（1）进行测量系统分析（2）确定子组样本容量：大于50且每个子组的样本容量相同（3）确定子组频率（4）确定子组数：25个以上2、建立控制图,.,42,U图,1、收集数据（1）进行测量系统分析（2）确定子组样本容量：每个子组的样本容量可以不同（3）确定子组频率（4）确定子组数：25个以上2、建立控制图,.,43,U图,示例：作为玩具生产公司的生产经理，您需要监控被监控玩具车中每单位的缺陷数。请检验20单位的玩具并创建一个U控制图来检验每单位玩具的缺陷数。您希望U控制图提供直接控制限制，因此将子组大小固定为102（每单位的平均玩具数目）。,操作步骤：1打开工作表“玩具.MTW”。2选择统计控制图属性控制图U。3在变量中，输入缺陷数。4在子组大小中，输入样本。5单击U控制图选项，然后单击S限制选项卡。6在当子组大小不相等时，计算控制限下，选择假定所有子组大小，然后输入102。7在每个对话框中单击确定。,.,44,.,45,.,46,单位