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半导体物理第2章习题1. 实际半导体与理想半导体间的主要区别是什么? 答:(1)理想半导体:假设晶格原子严格按周期性排列并静止在格点位置上,实际半导体中原子不是静止的,而是在其平衡位置附近振动。 (2)理想半导体是纯净不含杂质的,实际半导体含有若干杂质。 (3)理想半导体的晶格结构是完整的,实际半导体中存在点缺陷,线缺陷和面缺陷等。2. 以As掺入Ge中为例,说明什么是施主杂质、施主杂质电离过程和n型半导体。 As有5个价电子,其中的四个价电子与周围的四个Ge原子形成共价键,还剩余一个电子,同时As原子所在处也多余一个正电荷,称为正离子中心,所以,一个As原子取代一个Ge原子,其效果是形成一个正电中心和一个多余的电子.多余的电子束缚在正电中心,但这种束缚很弱,很小的能量就可使电子摆脱束缚,成为在晶格中导电的自由电子,而As原子形成一个不能移动的正电中心。这个过程叫做施主杂质的电离过程。能够施放电子而在导带中产生电子并形成正电中心,称为施主杂质或N型杂质,掺有施主杂质的半导体叫N型半导体。3. 以Ga掺入Ge中为例,说明什么是受主杂质、受主杂质电离过程和p型半导体。Ga有3个价电子,它与周围的四个Ge原子形成共价键,还缺少一个电子,于是在Ge晶体的共价键中产生了一个空穴,而Ga原子接受一个电子后所在处形成一个负离子中心,所以,一个Ga原子取代一个Ge原子,其效果是形成一个负电中心和一个空穴,空穴束缚在Ga原子附近,但这种束缚很弱,很小的能量就可使空穴摆脱束缚,成为在晶格中自由运动的导电空穴,而Ga原子形成一个不能移动的负电中心。这个过程叫做受主杂质的电离过程,能够接受电子而在价带中产生空穴,并形成负电中心的杂质,称为受主杂质,掺有受主型杂质的半导体叫P型半导体。4. 以Si在GaAs中的行为为例,说明IV族杂质在III-V族化合物中可能出现的双性行为。Si取代GaAs中的Ga原子则起施主作用; Si取代GaAs中的As原子则起受主作用。导带中电子浓度随硅杂质浓度的增加而增加,当硅杂质浓度增加到一定程度时趋于饱和。硅先取代Ga原子起施主作用,随着硅浓度的增加,硅取代As原子起受主作用。5. 举例说明杂质补偿作用。当半导体中同时存在施主和受主杂质时, 若(1) NDNA因为受主能级低于施主能级,所以施主杂质的电子首先跃迁到NA个受主能级上,还有ND-NA个电子在施主能级上,杂质全部电离时,跃迁到导带中的导电电子的浓度为n= ND-NA。即则有效受主浓度为NAeff ND-NA(2)NAND 施主能级上的全部电子跃迁到受主能级上,受主能级上还有NA-ND个空穴,它们可接受价带上的NA-ND个电子,在价带中形成的空穴浓度p= NA-ND. 即有效受主浓度为NAeff NA-ND(3)NAND时,不能向导带和价带提供电子和空穴, 称为杂质的高度补偿6. 说明类氢模型的优点和不足。优点:基本上能够解释浅能级杂质电离能的小的差异,计算简单缺点:只有电子轨道半径较大时,该模型才较适用,如Ge.相反,对电子轨道半径较小的,如Si,简单的库仑势场不能计入引入杂质中心带来的全部影响。第三章习题和答案7. 在室温下,锗的有效态密度Nc=1.051019cm-3,NV=3.91018cm-3,试求锗的载流子有效质量m*n m*p。计算77K时的NC 和NV。 已知300K时,Eg=0.67eV。77k时Eg=0.76eV。求这两个温度时锗的本征载流子浓度。77K时,锗的电子浓度为1017cm-3 ,假定受主浓度为零,而Ec-ED=0.01eV,求锗中施主浓度ED为多少?9.计算施主杂质浓度分别为1016cm3,,1018 cm-3,1019cm-3的硅在室.计算时,取施主能级在导带底下的面的0.05eV。14. 计算含有施主杂质浓度为ND=91015cm-3,及受主杂质浓度为1.11016cm3,的硅在33K时的电子和空穴浓度以及费米能级的位置。15. 掺有浓度为每立方米为1022硼原子的硅材料,分别计算300K;600K时费米能级的位置及多子和少子浓度(本征载流子浓度数值查图3-7)。 18. 掺磷的n型硅,已知磷的电离能为.eV,求室温下杂质一半电离时费米能级的位置和浓度。第四章习题及答案2. 试计算本征Si在室温时的电导率,设电子和空穴迁移率分别为1350cm2/( V.S)和500cm2/( V.S)。当掺入百万分之一的As后,设杂质全部电离,试计算其电导率。比本征Si的电导率增大了多少倍?4. 0.1kg的Ge单晶,掺有3.210-9kg的Sb,设杂质全部电离,试求该材料的电阻率mn=0.38m2/( V.S),Ge的单晶密度为5.32g/cm3,Sb原子量为121.8。6. 设电子迁移率0.1m2/( VS),Si 的电导有效质量mc=0.26m0, 加以强度为104V/m的电场,试求平均自由时间和平均自由程。13.掺有1.11016硼原子cm-3和91015磷原子cm-3的S i样品,试计算室温时多数载流子和少数载流子浓度及样品的电阻率。解:室温下,Si的本征载流子浓度有效杂质浓度为:,属强电离区多数载流子浓度少数载流子浓度总的杂质浓度,查图4-14(a)知, 电阻率为3. 有一块n型硅样品,寿命是1us,无光照时电阻率是10Wcm。的产生率是1022cm-3s-1,试计算光照下样品的电阻率,并求电导中少数在流子的贡献占多大比例? 5. n型硅中,掺杂浓度ND=1016cm-3, 光注入的非平衡载流子浓度Dn=Dp=1014cm-3。计算无光照和有光照的电导率。13. 室温下,p型半导体中的电子寿命为t=350us,电子的迁移率un=3600cm-2/(Vs)。试求电子的扩散长度。12. 在掺杂浓度ND=1016cm-3,少数载

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