光纤测试与故障排除PPT演示课件

date/time,光纤测试与故障排除,TE企业网络部,议程,光纤损耗机制光纤测试标准光纤链路损耗测试方法光损耗测试仪（OLTS)光时域反射仪(OTDR)光纤链路测试故障分析光纤连接器清洁,page2/,date/time,光纤测试标准,内部损耗:光在沿光纤传输过程中随着距离的增大,光功率的输出会发生减少吸收(Absorption)：光纤制造过程中产生的杂质如HO原子会吸收部分光信号散射(Scattering)：光纤制造过程中产生的杂质,光纤本身损耗,page4/,宏弯曲微弯曲,光纤弯曲损耗,page5/,光纤连接器耦合损耗,耦合器衰减：0.75dB连接器衰减：0.3dB机械拼接衰减：0.3dB,page6/,光纤连接器污染损耗,(2)表面液体污染,(3)表面固体污染,(1)理想状态,page7/,date/time,光纤测试标准,光缆链路的测试标准,光纤元器件标准与应用无关的安装光缆的标准基于电缆长度，适配器以及接合的可变标准例如：TIA/EIA-568-B.3,ISO11801,EN50173LAN应用标准特定应用的标准每种应用的测试标准是固定的例如：10BASE-FL，TokenRing，100BASE-FX,1000BASE-SX，1000BASE-LX，ATM，FiberChannel,page9/,光缆链路测试,对于光缆测试，有两种情况：水平光缆从设备间到工作区的光缆最大长度:90mANSI/EIA/TIA568B.1标准的要求:“需要在一个波长一个方向进行测试”主干光缆设备间到设备间的光缆ANSI/EIA/TIA568B.1标准的要求：“需要在一个方向和两个波长上进行测试”,page10/,光缆链路测试指标,插入损耗(dB)值越小越好回波损耗(dB)值越大越好长度(m)测试结果通过/失败,page11/,IEEE以太网技术标准,page12/,ISO/IEC11801光纤信道标准,page13/,光纤测试等级,2004年2月TIA批准TIATSB140标准，定义了两个级别的光缆测试：Tier1：光纤损耗测试设备(OLTS)兼容TIA-526-14A及TIA-526-7使用光损耗测试仪(OLTS)或VFL验证极性Tier2：Tier1再加上OTDR曲线证明光缆的安装没有造成性能下降的事件(例如弯曲，连接头，熔接),page14/,光纤测试方法,EIA/TIA-526-14A(IEC61280-4-1)采用光纤损耗测试仪器(OLTS)显示光纤是否满足光纤设备功率预算适用于多模光纤测试包括三种方法MethodAMethodBMethodC,EIA/TIA-526-7(IEC61280-4-2)采用光纤损耗测试仪器(OLTS)和光时域反射仪(OTDR)显示光纤是否满足光纤设备功率预算显示光纤故障的准确位置(OTDR)适用于单模光纤测试包括两种方法光纤损耗测试仪器(OLTS，3种模式)光时域反射仪(OTDR),page15/,光纤测试方法ISO14763-3,于2006年5月批准,测试方法提供更可靠，更准确、可重复三根基准(Reference)跳线,链路或信道中允许不同类型的连接器建议使用卷轴,优化光源模式测试前确定耦合功率比(CoupledPowerRatio)，以保证光源稳定可靠采用更严格的基准(Reference)跳线，衰减最大(0.3dB)测试前确定模式功率分布(MPD)确保测试的可靠性，可重复性,page16/,耦合功率比（CoupledPowerRatio,CPR）,为了了解光源的功率发射(ModalLaunchCondition)情况，多模光纤测试前，首先进行CPR测试定义:光纤信号进入多模光纤和单模光纤耦合功率的比值，用来衡量多模光纤中不同模式光信号功率的分布(ModalDistribution),数值越小越好光源一端采用大约2米长的同规格的MMF跳线功率计(powermeter)一端采用大约2米长的SMF跳线,page17/,测试所得的CPR值与表格1极限值比较.如果CPR不符合表格1所规定的极限值，在发射跳线（launchcord）端增加一个卷轴(mandrel).在卷轴上绕一圈，重复前面CPR测试步骤如果CPR仍然很高,在卷轴上绕一圈，重复前面CPR测试步骤如果CPR无法符合表格1的极限值,或者没有卷轴，放弃使用该光源（lightsource).,CPR测试方法,表格1:CPR极限值,page18/,date/time,光损耗测试仪器(OLTS),2020年5月18日星期一,page20/,光功率计算,光网络设备预估损耗计算:设备动态损耗范围=发送端功率接收端功率,光纤损耗极限值,耦合器衰减=0.75dB熔接/机械拼接衰减=0.3dB说明:OM1,OM2和OM3光缆在850nm/km和1300nm/km波长时的衰减值相同,page21/,2020年5月18日星期一,page22/,链路损耗预估计算,例如:,步骤1：计算不同工作波长下光缆本身的损耗,2020年5月18日星期一,page23/,例如:,链路损耗预估计算,步骤2：连接损耗计算,连接器最大允许损耗为0.75dB;熔接点最大允许损耗为0.3dB。,2020年5月18日星期一,page24/,例如:,链路损耗预估计算,步骤3：计算整个光缆链路损耗极限值。光缆信道链路损耗=光缆本身损耗+连接器损耗+端接损耗总链路损耗850nm=7+1.5+0.6=9.1dB总链路损耗1300nm=3+1.5+0.6=6.1dB,2020年5月18日星期一,page25/,例如:,动态损耗=15dB总链路损耗=9.1dB850nm链路余量=5.9dB850nm,如果总链路损耗加上链路安全余量小于设备的动态损耗值，那么这个链路是合格的。一般来说,链路损耗余量应该远远高于3dB，这样可以用来抵消光缆长时间使用过程中的自然损耗。,链路损耗预估计算,光纤损耗极限值,耦合器衰减=0.75dB熔接/机械拼接衰减=0.3dB说明:OM1,OM2和OM3光缆在850nm/km和1300nm/km波长时的衰减值相同,page26/,光纤链路损耗极限值的计算,光纤链路损耗极限值=光缆损耗(3.5*0.5=1.75)+连接器耦合损耗(0.75*2=1.5)+拼接损耗(0.3)=3.55dB,500m,page27/,多模光纤跳线卷轴(Mandrel),LED光源发出的光信号中的高次模信号容易发散到涂覆层并且容易受到宏弯曲的影响卷轴能够优化和稳定光源信号,过滤高次模信号的数量,保证测试的一致性和可重复性TIA及IEC要求测试多模光纤如光源为LED时在光源发射一端采用卷轴无重叠缠绕圈卷轴直径大小取决于光纤纤芯直径和外部护套直径,page28/,光纤跳线卷轴的应用,page29/,光纤测试方法A,适用于室外远距离光纤测试,光纤链路的损耗主要取决于光纤本身的损耗方法A用来测试长距离的光纤,测试结果包含两根基准(Reference)跳线和一个适配器,方法A设置基准(Reference)值,page30/,光纤测试方法A,方法A测试结果包括待测试的光纤和一个耦合器的衰减由于长距离光纤衰减主要由光纤决定的,耦合器的衰减可以忽略,方法A测试光纤链路(蓝色表示实际测试结果),卷轴,page31/,适用于室内短距离光纤测试,光纤链路的损耗主要取决于光纤连接器的损耗方法B基准(Reference)设置采用一根基准(Reference)跳线,方法B设置基准(Reference)值,光纤测试方法B,LED光源需采用卷轴,page32/,方法B测试结果包括待测试的光纤和一段跳线衰减室内光纤的衰减主要取决于连接器的衰减,由于光纤跳线长度非常短,跳线衰减可以忽略增加的跳线长度尽可能短,光纤测试方法B,方法B测试光纤链路(蓝色表示实际测试结果),LED光源需采用卷轴,page33/,光纤测试方法B的缺点,1.当从参考设置转换到测试设置时,需要将测试仪一端的光纤连接断开,注意这时千万不要断开输出(Output)或光源一端,如果断开该连接,原来设置的基准值(Reference)就丢失了，需重新设置基准值2.尽管从测试仪输入(Input)端断开连接,仍然需要特别小心,避免连接器拔出受到污染或检测器受到损坏.3.对于发送(Tx)和接收(Rx)在同一端的双工小型(SFF)光纤连接器,不得不从输出(Output)或光源端断开连接,从而违反了正确的基准值(Reference)和测试步骤.4.使用方法B要求测试仪器的连接器类型必须和待测试光纤的连接器类型相同.,page34/,改进的测试方法B基准(Reference)设置采用两根基准(Reference)跳线和一个测试适配器,改进的光纤测试方法B,page35/,设置完基准值之后，把跳线从适配器上断开，增加一段经过测试合格的短跳线由于跳线长度相对较短，长度可以忽略不计增加的短跳线长度尽可能短,改进的光纤测试方法B,改进的方法B测试光纤链路(蓝色表示实际测试结果),LED光源需采用卷轴,短跳线,page36/,光纤测试方法C,方法C测试适用于测试试光纤本身损耗方法C基准(Reference)设置采用三根基准(Reference)跳线和两个连接适配器中间的基准跳线尽可能短,方法C设置基准(Reference)值,LED光源需采用卷轴,page37/,光纤测试方法C,跳线长度非常短,可以忽略不计,方法A测试光纤链路(蓝色表示实际测试结果),LED光源需采用卷轴,page38/,date/time,光时域反射仪(OTDR),OTDR技术,Rayleigh散射Fresnel反射,page40/,Rayleigh散射,page41/,这一部分是光缆，表示的是逆向散射的结果,Rayleigh散射,page42/,耦合损耗空隙造成传输中的光缆损耗,Fresnel反射当光在不同密度的介质中传输时产生的（例如光缆链路中遇有空隙空气）。最高可有8%的光会向光源的方向反射。其余的继续传输。,Fresnel反射,page43/,这一部分是光缆间的连接，表示的是Fresnel反射的结果,Fresnel反射,page44/,OTDR工作原理,page45/,OTDR事件列表(EventTable),光传输过程中遇到的异常情况(如连接器或拼接)导致的信号反射称为“事件”。显示所有事件的位置显示事件性质：末端，反射，损耗，幻影及其他事件显示每个事件的状态其他详细的事件信息,page46/,典型的OTDR事件,page47/,不同类型的光纤熔接OTDR事件,同种类型的光纤，反向散射系数相同，OTDR显示真实的拼接损耗,高衰减的光纤拼接到低衰减的光纤上，反向散射系数相同，OTDR显示的拼接损耗高于实际损耗,低衰减的光纤拼接到高衰减的光纤上，反向散射系数相同，OTDR显示的拼接损耗低于实际损耗（增益）,page48/,OTDR-盲区(DeadZone),光纤信号在OTDR自身连接器上发生强烈反射,产生信号过载（饱和峰值），一旦产生信号过载，光电二极管需要一定的长度/时间回复，这段区域称为盲区。盲区分为事件盲区(EDZ)和衰减盲区(ADZ),解决办法：在发射端采用发射线缆(Launchcable)，在接收端采用接收线缆(TailCable)。多模光纤一般100m，单模光纤一般130米,page49/,衰减盲区(ADZ),衰减盲区表示反射事件之后，能够测试一个非反射事件，例如一个熔接点的最小距离。衰减盲区取决于脉冲宽度，脉宽越宽,盲区越大,反之则越小,page50/,事件盲区(EDZ),事件盲区是两个连续的反射事件仍然可以被区分的最小距离。事件盲区取决于脉冲宽度，可以通过采用更小的脉冲宽度来减小事件盲区。,page51/,采用发射线缆的OTDR图形,光标,发射光缆,发射光缆末端,page52/,OTDR-幻影（ghost）,连接器反射,幻影:当测试非常短的光纤连路，光信号传输到远端连接器后发生多重反射,看起来像是另外一个发射源继续发射信号,初始发射脉冲,幻影现象发生在第一个连接器反射的2倍距离处,幻影区域反射强度逐渐减少,幻影区域没有损耗,page53/,光缆末端OTDR图形,光缆末端,page54/,date/time,光纤链路测试故障分析,OLTS(光损耗测量仪),VFL（可视故障定位仪）,TorchLight(手电筒),光纤测试故障排查设备,光纤观测仪,视频显微镜,OTDR,page56/,光纤链路测试故障分析,光纤链路测试结果失败，即超过链路极限损耗值光纤连接器受污染,损坏,没有完全对准.清洁检查所有的连接器端面采用VFL能够发现光纤链路的通断.采用OTDR能够准确定位故障位置跳线或光纤发生扭结或者严重的弯曲光线/跳线断裂，采用VFL能够发现问题连接器或拼接/熔接数量与实际数量不符测试设置中光纤类型选择错误.基准值设置错误.多模光纤卷轴尺寸错误,直径小的卷轴容易产生急剧的弯曲，造成损耗跳线与光纤跳线类型不匹配.采用OTDR能够发现不匹配发生的位置.光纤链路熔接/机械拼接不够理想，或者弯曲过大，采用OTDR能够发现问题所在位置光纤跳线极性接反,page57/,光纤链路测试故障分析,光纤链路功率损耗值为负,重新设置基准值,重新测试设置基准值时光纤连接器端面太脏.设置基准值后,光纤连接被搞乱设置基准值时,跳线发生急剧的纽结设置基准值时,连接器没有完全对准设置基准值时,光纤模块温度低于光纤测试时的温度。（设置基准值前，尽量先开机预热5分钟，已达到稳定的光功率输出，因为光纤模块温度越高，发出的光功率值越大；测试环境温度越低，预热时间越长）设置基准值后跳线从光源一端拔掉（因为每一次光源与参考跳线连接器耦合效果不同）,page58/,光纤链路测试故障分析,测试出的长度过短或过长光纤设置时,光纤类型选择错误在光纤设置模式中,调整折射系数(indexofrefraction)大小，折射系数越大，测试出的长度越短,page59/,光纤链路测试故障分析,光功率计(Powermeter)