绝缘子标准规范文件：GB11030_2000

ICS 29.080.10K 48 GB 110302000 eqv IEC 383-1:1994交流牵引线路用棒形瓷绝缘子Rod porcelain insulators for a.c. system traction lines2000-01-03 发布2000-08-01 实施前 言GB 110302000本标准是等效采用IEC 383-1：1993（第四版）标称电压高于1000 V的架空线路绝缘子 第一部分：交流系统用瓷或玻璃绝缘子元件定义、试验方法和验收准则制定的。按IEC 383-1，本标准主要增加了抽样试验中抽取三倍试品数量的重复试验程序和等效的电气、机械型式试验条件的内容。 本标准与原行标JB/T 81801995（由GB 110301989降为JB/T 81801995，其内容不变）相比，在产品分类方面取消了上帽管径为50 mm类的产品，增加了爬电距离为1500 mm类和弯曲强度为8 kN类的产品，将爬电距离为850 mm类的产品作为过渡型产品列入本标准的附录B中；在特性方面将人工污秽耐受电压由29 kV提高到31.5 kV。本标准自实施之日起，同时代替JB/T 81801995。本标准的附录A是标准的附录，附录B是提示的附录。本标准由国家机械工业局提出。本标准由全国绝缘子标准化技术委员会归口。本标准由西安电瓷研究所负责起草。本标准主要起草人：丁京玲、蔡梅成。本标准委托西安电瓷研究所负责解释。IGB 110302000中华人民共和国国家标准 GB 110302000 交流牵引线路用棒形瓷绝缘子 eqv IEC 383-1:1994 Rod porcelain insulators for a.c. system traction lines国家质量技术监督局 2000-01-03 批准2000-08-01 实施101 范围本标准规定了交流牵引线路用棒形瓷绝缘子（以下简称绝缘子）的分类与命名，技术要求，检验规则与试验方法，包装、标志、运输与贮存。本标准适用于污秽地区交流工频单相25 kV牵引线路绝缘和固定导线用的绝缘子。绝缘子安装地点环境温度应在4040之间，海拔不超过1000 m。注：海拔超过1000 m时按GB 311.1判定其适用性。本标准不适用于对绝缘件和金属附件有严重腐蚀的环境下使用的绝缘子。2 引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB 311.11997 高压输变电设备的绝缘配合（neq IEC 71-1：1993）GB 7721987 高压绝缘子瓷件技术条件（neq IEC 233：1974）GB/T 775.11987 绝缘子试验方法 第1部分：一般试验方法GB/T 775.21987 绝缘子试验方法 第2部分：电气试验方法GB/T 775.31987 绝缘子试验方法 第3部分：机械试验方法GB/T 2900.81995 电工术语 绝缘子（eqv IEC 471）GB/T 4585.21991 交流系统用高压绝缘子人工污秽试验方法 固体层法（idt IEC 507：1975）JB/T 33841999 高压绝缘子抽样方案JB/T 43071986 绝缘子胶装用水泥胶合剂技术条件JB/T 81771999 绝缘子金属附件热镀锌层通用技术条件JB/T 96741999 超声波探测瓷件内部缺陷JB/T 96731999 绝缘子产品包装3 定义本标准所用术语的定义均按GB/T 2900.8的规定。4 分类与命名4.1 绝缘子按安装方式分为悬挂、定位和腕臂支撑式三种。隧道用悬挂、定位式，区间，站场用腕臂支撑式。4.2 绝缘子的主要尺寸与特性分别符合图1图4和表1的规定。Hh1bd1bd1h1hhHd2h2h2bbd1 图1 图2d1d1Hh1h1hHhh2d2h2bd2图3 图4表1 绝缘子主要尺寸与特性序号绝 缘 子 型 号图号主要尺寸，mm最小公称爬电距离(主绝缘/辅助绝缘)m m雷电全波冲击耐受电压kV(峰值)不小于工频湿耐受电压kV(有效值)不小于人工污秽耐受电压，kV不小于额定弯曲破坏负荷k N额定拉伸破坏负荷k NHhDd1d2h1h2ab盐密mg/cm20.10.31QE1-25A1600430145212130305616100020510531.5402QX1-2523QE2-25A1690510145212130305616120027013031.5404QX2-2525QE3-25A1690510155212130305616150031015045406QX3-2527QB1-25/4D36604101656221903016100020510531.54408QB2-25/4D760490185120027013031.59QB3-25/4D78052020015003101504510QB2-25/8D760490185120027013031.588011QBZ1-25/4D474041017062219030161000/12020510531.544012QBZ2-25/4D8504901851200513QBZ3-25/4D8705202001500/1403101504514QBZ2-25/8D850490185120058804.3 绝缘子型号及符号含义型号表示方法： 连接型式 特征数字（标称电压kV/弯曲负荷kN） 爬距级别 结构特征（包括单、双重绝缘子和上半导体釉） 使用场所 产品名称符号含义：Q交流牵引线路用棒形瓷绝缘子；X隧道悬挂； E隧道定位； B区间、站场腕臂支撑； Z双重绝缘（单绝缘不表示）； S上半导体釉； A下附件安装为双孔（单孔不表示）； D上附件安装为管径； 1、2、3分别代表爬距为1 000 mm、1 200 mm和1 500 mm的产品。5 技术要求5.1 绝缘子应按本标准及规定程序批准的图样制造。5.2 绝缘子瓷件外观质量应符合GB 772的规定。绝缘子瓷件外露表面应均匀地上一层瓷釉，釉色由供需双方商定。5.3 绝缘子主要尺寸的偏差为： H：20 mm； d1、d2：mm； a：1 mm； b：mm。 对未注偏差的所有尺寸（包括爬电距离）为： 当E300 mm时，（0.04E1.5）mm； 当E300 mm时，（0.025E6.0）mm。 E为被检查的尺寸，单位mm。5.4 绝缘子形位公差应符合如下规定： a）绝缘子瓷件轴线直线度应不超过其长度的1%； b）悬挂、定位用绝缘子上、下金属附件安装面应在同一平面内，其平行度不超过5 mm；c）绝缘子上、下金属附件的同轴度应不超过3 mm。5.5 半导体釉绝缘子釉层电阻值应符合工厂产品图样中所做的规定。半导体釉层外观质量及其电阻的测量方法按附录A的规定。5.6 绝缘子瓷件的剖面应是均质的，经孔隙性试验后不应有任何渗透现象。孔隙性试验的压力应不小于20 MPa，压力与时间的乘积应不小于180 MPah。5.7 绝缘子瓷件在胶装前应逐只进行超声波探伤检查，瓷件内部不应有超声波能发现的缺陷（如生烧、氧化、开裂和气孔夹层等）。5.8 绝缘子应使用相当于JB/T 4307规定的类水泥胶合剂进行胶装，瓷件端面与金属附件之间应垫以缓冲衬垫，瓷件及金属附件与水泥接触面应均匀地涂一层缓冲层，外露水泥表面应平整无裂纹，其平面度应不大于3 mm，外露砂层高度不大于10 mm。5.9 绝缘子金属附件表面应全部热镀锌，其锌层质量应符合JB/T 8177的规定。5.10 绝缘子应耐受三次温度循环试验而不损坏，试验温差为70 K。5.11 对于悬挂、定位式绝缘子应能耐受1 min拉伸负荷试验而不损坏，其试验负荷为额定拉伸破坏负荷的60%；对于腕臂支撑式绝缘子应耐受10 s弯曲负荷试验，其试验负荷为额定弯曲破坏负荷的60%。6 检验规则与试验方法6.1 绝缘子应由制造厂质量检查部门检验，并保证出厂的绝缘子符合本标准的要求。6.2 绝缘子应按批进行检验，同批绝缘子的制造工艺及型号应完全相同，每批数量N应不超过1 200只。当绝缘子多于1 200只时，应将其均分成数量为5001 200只绝缘子数批，分别进行试验和考核。6.3 绝缘子的检验分为逐个试验、抽样试验和型式试验，其试验方法按本标准的规定。6.3.1 逐个试验：绝缘子应按表2规定逐个进行检验，如发现有不符合表2中规定的任何一项要求时，则此绝缘子不合格。 表2 绝缘子逐个试验项目项目试验名称试验依据试验方法1 外观检查本标准5.2；5.5；5.8；5.9GB/T 775.1，本标准附录A2 连接尺寸检查本标准4.2GB/T 775.13 瓷件超声波检探伤查本标准5.7JB/T 96744 机械负荷试验本标准5.11GB/T 775.35 半导体釉层电阻测量本标准5.5本标准附录A6.3.2 抽样试验：抽样试验应在逐个试验合格后的绝缘子中按表3规定试品数量随机抽取试品，并按表3的程序进行试验。 表3 绝缘子抽样试验项目项号试验名称试验依据批量N试验方法N150150N500500N1 200样本容量，只3（6）4（8）5（10）1尺寸检查本标准4.2；5.3；5.4；5.8345GB/T 775.12锌层试验本标准5.9345JB/T 81773温度循环试验本标准5.103（6）4（8）5（10）GB/T 755.14拉伸破坏负荷试验本标准4.2345GB/T 775.35弯曲破坏负荷试验本标准4.2345GB/T 775.3和本标准6.46孔隙性试验本标准5.6345GB/T 775.1 注：括号内数量仅适用于腕臂支撑式绝缘子。抽样试验项目中的拉伸、弯曲破坏负荷试验采用计量二次抽样方案；锌层试验按JB/T 8177的规定，其余项目采用计件二次抽样方案。接收质量水平（AQL）均为2.5%，判定按JB/T 3384的规定。在第一轮试验时，如表3仅有一只（第1、3、6项）或仅有一项（第2、4、5项）被判为重复试验时，试验应继续做完。对第1、3、6项所缺试品应重新随机抽取一只进行补试；在继续第一次试验时，除第1项外，如在第3、6项中又有一只不合格，或在第2、4、5项中又被判为重复试验时，则该批绝缘子不合格，但若仅第1项不合格，则仅对第1项进行加倍数量的重复试验，如重复试验仍不合格，则允许逐只精选。如果在第一轮试验时，仅有一项（第2、4、5项）不合格或计量抽样方案被判为拒收时，则该批绝缘子不合格。在首轮全部试验做完后，如总计仅有一只试品不合格或仅有一项被判为重复试验时，则按以下三种情况进行加倍数量的重复试验：a）如若仅表3中第3、6项中任何一项不合格，仅对不合格项单独进行加倍数量的重复试验，如重复试验不合格，则该批绝缘子不合格。b）如若仅表3中4、5项按照JB/T 3384被判为重复试验时，则应按该项加倍数量进行重复试验。重复试验时，应先进行温度循环试验。但如果在第一轮试验时纯属金属附件强度不合格，则可不进行温度循环试验，如重复试验不合格，则该批绝缘子不合格。c）如若仅表3中第2项在第一轮试验被判为重复试验时，应单独进行加倍数量的重复试验，其试验按JB/T 8177的规定，如重复试验不合格，则该批绝缘子不合格。如果能够清楚地识别出产品不合格的原因，制造厂可以在该批绝缘子中剔除具有这种缺陷的所有绝缘子（如一批绝缘子已分成较小批量，如果小批量中有一个绝缘子不合格，则应扩大到其他小批量）。然后精选后的各批量或部分绝缘子可重新提交试验。此时抽取试品的数量是第一次抽取试品数量的三倍，在进行重复试验时，如有任何一个绝缘子不合格，则认为整批（包括已分成所有的小批）绝缘子不合格。6.3.3 型式试验：新产品试制定型或正常生产的产品修改结构，改变原材料配方及工艺方法时，必须按型式试验的全部项目或根据改变的性质涉及的型式试验项目进行试验。其中机械破坏负荷试验采用计量一次抽样方案，尺寸检查、半导体釉层电阻测量、温度循环试验和孔隙性试验采用计件一次抽样方案，接收质量水平（AQL）均为2.5%，判定均按JB/T 3384相应的规定。锌层试验按JB/T 8177的规定，釉阻测量按本标准附录A的规定。型式试验应在逐个试验合格后，按表4规定进行。若某种绝缘子已进行过型式试验，并提供了有效的型式试验报告，则与其相比，能满足下述条件a）或（和）b）的绝缘子，即可认为其电气或（和）机械性能不低于该种绝缘子，可不必再进行相应项目的型式试验。但对供需双方另有协议的绝缘子除外。a）电气上等效的绝缘子是在同一工厂制造的，具有相同材料，采用相同工艺，且具有下列特征：公称杆体直径相同或略小；公称伞间距相同，差异在5%之内；伞伸出相同，差异在5%之内；伞形相同；公称电弧距离相同，差异在5%之内。b）机械上等效的绝缘子是同一工厂制造的，采用相同工艺，且具有下列特征：公称杆体直径相同；强度等级相同或较小；绝缘件与金属附件之间连接结构及尺寸相同； 公称电弧距离相同或较小。表4 绝缘子型式试验项目项号试验名称试验依据试品数量，只试验方法1尺寸检查本标准4.2；5.3；5.4；5.85GB/T 775.12锌层试验本标准5.95JB/T 81773半导体釉层电阻测量本标准5.55本标准附录A4雷电全波冲击耐受电压试验本标准4.23GB/T 775.25工频湿耐受电压试验本标准4.23GB/T 775.26人工污秽耐受电压试验本标准4.23GB/T 4585.27温度循环试验本标准5.105（10）GB/T 775.18拉伸破坏负荷试验本标准4.2经项7试后5GB/T 775.3和本标准6.59弯曲破坏负荷试验本标准4.2经项7试后5GB/T 775.3和本标准6.410孔隙性试验本标准5.6经项8或项9试后5GB/T 775.1 注：括号内的数量为腕臂支撑式绝缘子。6.4 弯曲破坏负荷试验：试验时将上帽孔套在试验夹具的芯棒上，并用U形卡箍压板固定，然后在下帽单耳孔内穿销钉，用钢丝绳套在销钉上施加弯曲负荷，加负荷方向应与上帽缺口的朝向相反，负荷方向应与试品的轴线垂直且和试品轴线在同一平面内，如图5所示，试验程序按GB/T 775.3的规定。P受力方向芯棒 固定架销钉图56.5 拉伸破坏负荷试验：将腕臂支撑式绝缘子铁帽插孔套在相应直径的芯棒上，芯棒应加工有适当尺寸的孔，紧固好U形卡箍（凸压板的销钉应插在芯棒孔内）。然后在下铁帽单耳上配合适当的试验夹具，沿绝缘子轴线方向施加拉伸负荷，试验程序按GB/T 775.3的规定。7 包装、标志、运输与贮存7.1 绝缘子的包装推荐采用JB/T 9673的规定，在包装体上应标明：a）制造厂名称；b）绝缘子名称，型号；c）绝缘子数量；d）包装体总重量；e）“小心轻放”、“瓷件”等字样或指示标记。7.2 绝缘子瓷件上应按图样规定的部位清楚而牢固地标出制造厂商标和制造年份。7.3 绝缘子的包装必须保证在正常运输中，不至因包装不良而使绝缘子损坏。7.4 绝缘子应储存在通风良好、干燥的仓库或场地上，不宜放在潮湿或有腐蚀气体的附近，以防止附件镀锌层被腐蚀。7.5 送交的每批绝缘子应附有加盖制造厂检验部门印章的产品检验合格证。附 录 A(标准的附录)半导体釉层外观质量及其电阻的测量方法本附录规定了半导体釉绝缘子的半导体釉层外观质量及其电阻的测量方法。A1 绝缘子瓷件全部上半导体釉，其表面缺釉总面积不超过1.5 cm2，单个缺陷面积不超过0.5 cm2。当釉层电阻值合格时，半导体釉瓷件允许有轻微的色调不均，其余应符合GB 772的规定。A2 半导体釉层电阻的测量一般可