标准解读
《JJF 1724-2018 时码发生器校准规范》是一项针对时码发生器的计量技术规范,由国家市场监督管理总局于2018年发布。该规范主要适用于输出时间信息以数字或模拟形式表示的时间编码设备(即时码发生器)的校准工作。其内容涵盖了时码发生器校准的基本要求、环境条件、校准项目及方法、数据处理等多个方面。
在基本要求部分,明确了进行校准时所需遵循的一般原则和技术要求,包括但不限于对测试设备的选择与配置、校准过程中应保持的工作状态等。对于环境条件,则规定了温度、湿度等外部因素的具体范围,确保在校准期间能够获得准确可靠的结果。
校准项目主要包括频率稳定性、相位噪声、短期稳定度以及长期稳定度等方面,这些参数直接关系到时码发生器性能的好坏。此外,还涉及到了时间间隔误差和日差等关键指标。对于每一项具体的校准项目,《JJF 1724-2018》都给出了详细的测量步骤、所用仪器及其精度等级的要求,并且提供了相应的计算公式来指导实验人员如何正确地处理采集到的数据。
整个校准过程强调了重复性和再现性的重要性,通过多次独立测量来验证结果的一致性。同时,在不确定度评估方面也给予了充分的关注,要求根据GUM(Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement)指南来进行全面而系统的分析,从而保证最终提供的校准证书具有高度可信度。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2018-12-25 颁布
- 2019-03-25 实施
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文档简介
中华人民共和国国家计量技术规范J J F1 7 2 42 0 1 8时码发生器校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rT i m e c o d eG e n e r a t o r s 2 0 1 8 - 1 2 - 2 5发布2 0 1 9 - 0 3 - 2 5实施国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 发 布市场监管总局市场监管总局时码发生器校准规范C a l i b r a t i o nS p e c i f i c a t i o nf o rT i m e c o d eG e n e r a t o r sJ J F1 7 2 42 0 1 8 归 口 单 位:全国时间频率计量技术委员会 主要起草单位:北京无线电计量测试研究所 参加起草单位:工业和信息化部电信研究院中国计量科学研究院上海市计量测试技术研究院中国电子科技集团十所 本规范委托全国时间频率计量技术委员会负责解释J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局本规范主要起草人:张 明 ( 北京无线电计量测试研究所)张 然 ( 北京无线电计量测试研究所) 参加起草人:宋 跃 ( 北京无线电计量测试研究所)周 波 ( 工业和信息化部电信研究院)张爱敏 ( 中国计量科学研究院)董 莲 ( 上海市计量测试技术研究院)杨 林 ( 中国电子科技集团十所)J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局目 录引言()1 范围(1)2 引用文件(1)3 术语和计量单位(1)4 概述(1)5 计量特性(2)5 . 1 输出1 P P S相对于标准时间偏差(2)5 . 2 输出B码相对于标准时间偏差(2)5 . 3 时间保持偏差(2)5 . 4 内时基性能(2)6 校准条件(2)6 . 1 环境条件(2)6 . 2 测量标准及其他设备(2)7 校准项目和校准方法(3)7 . 1 校准项目(3)7 . 2 校准方法(3)8 校准结果表达(6)9 复校时间间隔(7)附录A 测量不确定度评定示例(8)附录B 原始记录格式(1 4)附录C 校准证书 ( 内页)格式(1 7)J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局引 言 本规范依据J J F1 0 7 12 0 1 0 国家计量校准规范编写规则编制。本规范为首次发布。J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局时码发生器校准规范1 范围本规范适用于产生1 P P S、B(D C)码、B(A C)码时间信号的时码发生器的校准。2 引用文件本规范引用了下列文件:J J G1 8 0 电子测量仪器内石英晶体振荡器J J G2 9 2 铷原子频率标准J J G2 0 0 7 时间频率计量器具检定系统表J J F1 1 8 0 时间频率计量名词术语及定义G J B2 9 9 1 A B时间码接口终端通用规范凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本 ( 包括所有的修改单)适用本规范。3 术语和计量单位3 . 1 时间保持偏差 t i m e - k e e p i n ge r r o r时码发生器在正常跟踪锁定外部标准时间信号并达到产品说明书规定的伺服时间后,断开外部标准时间信号,使时码发生器工作在保持模式下,在其技术指标说明书规定的保持时间内输出的1 P P S信号与标准时间的偏差最大值。单位为秒 (s) 。4 概述时码发生器由标准时间信号接收单元、时间保持单元和时间频率信号产生单元组成。时码发生器通过接收B D S、G P S、G L ONA S S等GN S S信号解调解码获取标准时间信息,对本地时钟进行同步,并利用内时基进行时间保持,对外输出1 P P S、B(A C)码、B(D C)码等时间信号。图1为时码发生器原理框图。图1 时码发生器原理框图1J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局时码发生器广泛应用于通信基站、智能变电站、铁路车辆段等民用部门,以及指挥所、技术阵地、靶场等军用部门,为用户提供准确的时间信号,保证各系统之间的时间统一。5 计量特性5 . 1 输出1 P P S相对于标准时间偏差(1 0 0n s 2 0s)5 . 2 输出B码相对于标准时间偏差B(D C)码:(1 0 0n s 2 0s)B(A C)码:(1s 2 0s)5 . 3 时间保持偏差(5s 1s)( 保持时间2 4h)5 . 4 内时基性能内时基为晶体振荡器时: 相对频率偏差:(11 0-511 0-1 0) 1s频率稳定度:11 0-811 0-1 2 日老化率:(11 0-611 0-1 1)内时基为铷原子钟时: 相对频率偏差:(21 0-1 051 0-1 1) 1s频率稳定度:51 0-1 121 0-1 2 日频率漂移率:(11 0-1 111 0-1 3)6 校准条件6 . 1 环境条件6 . 1 . 1 环境温度:内时基为晶体振荡器时,(1 53 0),校准过程中,环境温度波动在2 内;内时基为铷原子钟时,(1 82 5),校准过程中,环境温度波动在1内。6 . 1 . 2 环境相对湿度:8 0%。6 . 1 . 3 供电电源:交流电源:2 2 0(11 0%)V,5 0(12%)H z。6 . 1 . 4 其他:周围无影响仪器设备正常工作的机械振动和电磁干扰。6 . 2 测量标准及其他设备6 . 2 . 1 参考时间源1 P P S信号相对于标准时间偏差:优于被校时码发生器1 P P S信号相对于标准时间偏差的1/3。6 . 2 . 2 参考频率源相对频率偏差:优于被校时码发生器相对频率偏差1个数量级。1s频率稳定度:优于被校时码发生器1s频率稳定度1/3。日频率漂移率 ( 日老化率) :优于被校时码发生器日频率漂移率 ( 日老化率)1个2J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局数量级。6 . 2 . 3 时间间隔计数器时间间隔测量范围:1n s 1s。分辨力:1n s。6 . 2 . 4 示波器通道数:2。带宽:3 5 0MH z。采样率:3 5 0M S/s。时间测量最大允许误差:0 . 2%。注:内时基校准所用测量标准及设备参见J J G1 8 0 电子测量仪器内石英晶体振荡器和J J G2 9 2 铷原子频率标准 。7 校准项目和校准方法7 . 1 校准项目校准项目见表1。表1 校准项目表序号校准项目名称校准方法的条款1外观及工作正常性7 . 2 . 12输出1 P P S相对于标准时间偏差7 . 2 . 23输出B(D C)码相对于标准时间偏差7 . 2 . 34输出B(A C)码相对于标准时间偏差7 . 2 . 45时间保持偏差7 . 2 . 5678内时基性能相对频率偏差1s频率稳定度日频率漂移率 ( 日老化率)7 . 2 . 67 . 2 校准方法7 . 2 . 1 外观及工作正常性检查目测被校时码发生器的外观及附件。仪器上应有仪器名称、型号、生产商、出厂编号和电源要求。电源开关、输入输出端口、功能设置开关和旋钮应有明确的识别标志。开关和旋钮应灵活、可靠。输入输出端口牢固。专用接口、通讯线、转接头及电缆线应齐全。按照要求将GN S S天线架设在开阔区域,周围高度角1 0 以上无障碍物遮挡;通电后,按其技术说明书规定的时间预热,被校时码发生器显示GN S S信号锁定正常后,用示波器观察各输出端口波形。结果记入附录B表B . 1中。7 . 2 . 2 输出1 P P S相对于标准时间偏差7 . 2 . 2 . 1 按图2所示连接被校时码发生器和校准系统。参考时间源输出1 P P S信号与3J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局被校时码发生器输出1 P P S信号的连接线缆长度相同。图2 输出1 P P S信号相对于标准时间偏差校准系统连接框图7 . 2 . 2 . 2 设置被校时码发生器工作在锁定B D S状态。7 . 2 . 2 . 3 由时间间隔计数器测量被校时码发生器与参考时间源1 P P S时差Ti,连续测量10 0 0次。7 . 2 . 2 . 4 计算平均值T,即为输出1 P P S相对于标准时间偏差To f f s e t_1 P P S的测量结果T1 P P S,填写在附录B的表B . 2中。7 . 2 . 2 . 5 如果被校时码发生器具有G P S、G L ONA S S接收功能,分别设置其工作在G P S、G L ONA S S接收模式下,待被校时码发生器锁定G P S、G L ONA S S信号后,重复步骤7 . 2 . 2 . 3、7 . 2 . 2 . 4。7 . 2 . 3 输出B(D C)码相对于标准时间偏差7 . 2 . 3 . 1 按图3所示连接校准系统。参考时间源输出1 P P S信号与被校时码发生器输出B(D C)码的连接线缆长度相同。图3 输出B(D C)码相对于标准时间偏差校准系统连接框图7 . 2 . 3 . 2 设置被校时码发生器工作在锁定B D S状态。7 . 2 . 3 . 3 用示波器测量通道1的1 P P S上升沿与通道2的B(D C)码基准码元上升沿之间的时间间隔Ti,如图4所示,连续测量1 0次。图4 B(D C)码偏差示意图4J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局7 . 2 . 3 . 4 计算平均值T,即为输出B(D C)码相对于标准时间偏差To f f s e t_B(D C)的测量结果TB(D C),填写在附录B的表B . 3中。7 . 2 . 3 . 5 如果被校时码发生器具有G P S、G L ONA S S接收功能,分别设置其工作在G P S、G L ONA S S接收模式下,待被校时码发生器锁定G P S、G L ONA S S信号后,重复步骤7 . 2 . 3 . 3、7 . 2 . 3 . 4。7 . 2 . 4 输出B(A C)码相对于标准时间偏差7 . 2 . 4 . 1 按图5所示连接校准系统。参考时间源输出1 P P S信号与被校时码发生器输出B(A C)码的连接线缆长度相同。图5 输出B(A C)码相对于标准时间偏差校准系统连接框图7 . 2 . 4 . 2 设置被校时码发生器工作在锁定B D S状态。7 . 2 . 4 . 3 用示波器测量通道1的1 P P S上升沿与通道2的B(A C)码基准码元的第一个高幅调制正弦波过零点之间的时间间隔Ti,如图6所示,测量1 0次。图6 B(A C)码偏差示意图7 . 2 . 4 . 4 计算平均值T,即为输出B(A C)码相对于标准时间偏差To f f s e t_B(A C)的测量结果TB(A C),填写在附录B的表B . 4中。7 . 2 . 4 . 5 如果被校时码发生器具有G P S、G L ONA S S接收功能,分别设置其工作在G P S、G L ONA S S接收模式下,待被校时码发生器锁定G P S、G L ONA S S信号后,重复步骤7 . 2 . 4 . 3、7 . 2 . 4 . 4。7 . 2 . 5 时间保持偏差7 . 2 . 5 . 1 按图7所示连接校准系统。参考时间源输出1 P P S信号与被校时码发生器输出1 P P S信号的连接线缆长度相同。5J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局图7 时间保持偏差校准系统连接框图7 . 2 . 5 . 2 在正常锁定GN S S信号并达到产品说明书规定的伺服时间后,断开GN S S天线,使得时码发生器工作在保持模式下。7 . 2 . 5 . 3 由时间间隔计数器测量得到被校时码发生器与参考时间源1 P P S时差,连续测量2 4h( 具体实际的测量时间需按照技术指标说明书规定的保持时间设定) ,根据式(1)计算时间保持偏差。填写在附录B的表B . 5中。Tt i m e - k e e p i n g=Tm a x(1)式中:Tm a x 时间保持期间绝对值最大的时差测量值,s。7 . 2 . 6 内时基性能当内部频率标准为晶体振荡器时,按J J G1 8 0 电子测量仪器内石英晶体振荡器进行校准;当内部频率标准为铷原子钟时,按J J G2 9 2 铷原子频率标准进行校准。校准结果填写在附录B的表B . 6中。8 校准结果表达校准结果应在校准证书 ( 报告)上反映,校准证书 ( 报告)应至少包括以下信息:a)标题,如 “ 校准证书” ;b)实验室名称和地址;c)进行校准的地点 ( 如果与实验室的地址不同) ;d)证书或报告的唯一性标识 ( 如编号) ,每页及总页数的标识;e)客户的名称和地址;f)被校对象的描述和明确标识;g)进行校准的日期;h)对校准所依据的技术规范的标识,包括名称及代号;i)本次校准所用测量标准的溯源性及有效说明;j)校准环境的描述;k)校准结果及其测量不确定度的说明;l)对校准规范的偏离的说明;m)校准证书和校准报告签发人的签名、职务或等效标识;n)校准结果仅对被校对象有效的声明;o)未经实验室书面批准,不得部分复印证书或报告的声明。校准原始记录格式见附录B,校准证书 ( 报告)内页格式见附录C。6J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局9 复校时间间隔复校时间间隔建议为1年。由于复校时间间隔的长短是由仪器的使用情况、使用者、仪器本身质量等诸多因素所决定的,因此,送校单位可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔。7J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局附录A测量不确定度评定示例A . 1 输出1 P P S相对于标准时间偏差A . 1 . 1 测量模型将时间间隔计数器通道1和通道2分别接于参考时间源1 P P S输出端和被校时码发生器1 P P S输出端,连续测量时差10 0 0次,计算平均值,即为输出1 P P S相对于标准时间偏差To f f s e t_1 P P S的测量结果T1 P P S:To f f s e t_1 P P S=T1 P P S(A . 1)式中:To f f s e t_1 P P S 被校对码发生器的输出1 P P S相对于标准时间偏差,n s;T1 P P S 时间间隔计数器测量值,n s。输出1 P P S相对于标准时间偏差的标准不确定度主要有测量重复性,时间间隔计数器测量分辨力和参考时间源输出1 P P S信号相对于标准时间的最大偏差等引入的。各不确定度分量之间不相关,根据不确定度传播律,被校时码发生器输出1 P P S相对于标准时间的合成标准不确定度可表示为:uc(To f f s e t_1 P P S)=u2(D)+u2(T1 P P S)+u2(Tr e f)(A . 2)式中:uc(To f f s e t_1 P P S) 被校时码发生器输出1 P P S相对于标准时间偏差的合成标准不确定度,n s;u(D) 测量重复性引入的标准不确定度,n s;u(T1 P P S) 时间间隔计数器测量分辨力引入的标准不确定度,n s;u(Tr e f) 参考时间源输出1 P P S信号相对于标准时间的最大偏差引入的标准不确定度,n s。A . 1 . 2 标准不确定度评定A . 1 . 2 . 1 测量重复性引入的标准不确定度u(D)被校时码发生器输出1 P P S相对于标准时间偏差测量重复性引入的标准不确定度u(D)按A类方法评定,连续独立测量10 0 0次,用贝塞尔公式计算实验标准偏差为:s(D)=0 . 1 7n s校准时取多次测量的平均值,故测量重复性引入的标准不确定度为:u(D)=s(D)n=0 . 1 7n s10 0 0=0 . 0 0 54n sA . 1 . 2 . 2 时间间隔计数器测量分辨力引入的标准不确定度u(T1 P P S)计数器测量分辨力引入的标准不确定度u(T1 P P S)按B类方法评定,根据5 3 2 3 0 A计数器说明书可知,计数器分辨力为2 0p s,即分散区间半宽度为:a=2=2 0p s2=0 . 0 1n s8J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局服从均匀分布,包含因子k= 3,则计数器测量分辨力引入的标准不确定度为:u(T1 P P S)=ak=0 . 0 1n s3=0 . 0 0 6n sA . 1 . 2 . 3 参考时间源引入的标准不确定度u(Tr e f)参考时间源引入的标准不确定度u(Tr e f)按B类方法评定,参考时间源输出1 P P S信号相对于标准时间的最大偏差为1 0n s,即区间半宽度a=1 0n s,服从均匀分布,包含因子k= 3。则参考时间源引入的标准不确定度为:u(Tr e f)=ak=1 0n s3=5 . 8n sA . 1 . 3 不确定度分量一览表表A . 1 输出1 P P S相对于标准时间偏差测量不确定度分量一览表标准不确定度不确定度来源评定方法分布类型k值不确定度分量u(D)测量重复性引入A正态分布10 . 0 0 54n su(T1 P P S)时间间隔计数器测量分辨力引入B均匀分布30 . 0 0 6n su(Tr e f)参考时间源引入B均匀分布35 . 8n sA . 1 . 4 合成标准不确定度合成标准不确定度按公式 (A . 2)计算。uc(To f f s e t_1 P P S)=u2(D)+u2(T1 P P S)+u2(Tr e f)=5 . 8n sA . 1 . 5 扩展不确定度取包含因子k=2,即扩展不确定度为:U=kuc(To f f s e t_1 P P S)=1 2n sA . 2 输出B(D C)码相对于标准时间偏差A . 2 . 1 测量模型将示波器通道1和通道2分别接于参考时间源1 P P S输出端和被校时码发生器B(D C)码输出端,测量参考时间源1 P P S上升沿与被校时码发生器的B(D C)码基准码元上升沿之间的时间间隔1 0次,计算平均值,即为输出B(D C)码相对于标准时间偏差To f f s e t_B(D C)的测量结果TB(D C):To f f s e t_B(D C)=TB(D C)(A . 3)式中:To f f s e t_B(D C) 被校时码发生器的输出B(D C)码相对于标准时间偏差,n s;TB(D C) 示波器测量的输出B(D C)码相对于标准时间偏差,n s。输出B(D C)码相对于标准时间偏差的标准不确定度主要是测量重要性、示波器时间测量最大允许误差和参考时间源输出1 P P S信号相对于标准时间的最大偏差等引入的。各不确定度分量之间不相关,根据不确定度传播律,被校时码发生器输出B(D C)码相对于标准时间偏差的合成标准不确定度可表示为:9J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局uc(To f f s e t_B(D C)=u2(D)+u2(TB(D C)+u2(Tr e f)(A . 4)式中:uc(To f f s e t_B(D C) 被校时码发生器输出B(D C)码相对于标准时间偏差的合成标准不确定度,n s;u(D) 测量重复性引入的标准不确定度,n s;u(TB(D C) 示波器时间测量最大允许误差引入的标准不确定度,n s;u(Tr e f) 参考时间源输出1 P P S信号相对于标准时间的最大偏差引入的标准不确定度,n s。A . 2 . 2 标准不确定度评定A . 2 . 2 . 1 测量重复性引入的标准不确定度u(D)测量重复性引入的标准不确定度u(D) 按A类方法评定,连续独立测量1 0次,用贝塞尔公式计算实验标准偏差,多次重复测量结果如表A . 2所示。表A . 2 输出B(D C)码相对于标准时间偏差重复性测量数据序号输出B(D C)码相对于标准时间偏差/n s11 8 2 . 621 8 2 . 731 8 2 . 641 8 2 . 551 8 2 . 661 8 2 . 571 8 2 . 281 8 2 . 691 8 2 . 51 01 8 2 . 4根据表A . 2中数据,计算输出B(D C)码相对于标准时间偏差重复测量的实验标准偏差为:s(D)=0 . 1 4n s校准时取多次测量的平均值,故测量重复性引入的标准不确定度为:u(D)=s(D)n=0 . 1 4n s1 0=0 . 0 4n sA . 2 . 2 . 2 示波器测量引入的标准不确定度u(TB(D C)示波器测量时间测量最大允许误差引入的标准不确定度u(TB(D C)按B类方法评定,由D S O 8 0 6 4 A示波器的技术指标得到示波器的时间测量最大允许误差为0 . 2%,输出B(D C)码相对于标准时间偏差多次测量的平均值为1 8 2 . 5 2n s,则分散区间的半宽度为:01J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局a=1 8 2 . 5 2n s 0 . 2%=0 . 3 7n s服从均匀分布,包含因子k= 3,即示波器测量时间测量最大允许误差引入的标准不确定度为:u(TB(D C)=a3=0 . 2 1n sA . 2 . 2 . 3 参考时间源引入的标准不确定度u(Tr e f)参考时间源引入的标准不确定度u(Tr e f)按B类方法评定,参考时间源输出1 P P S信号相对于标准时间的最大偏差为1 0n s,即区间半宽度a=1 0n s,服从均匀分布,包含因子k= 3,则参考时间源引入的标准不确定度为:u(Tr e f)=ak=1 0n s3=5 . 8n sA . 2 . 3 不确定度分量一览表A . 3 输出B(D C)码相对于标准时间偏差测量不确定度分量一览表标准不确定度标准不确定度来源评定方法分布类型k值不确定度分量u(D)测量重复性引入A正态分布10 . 0 4n su(TB(D C)示波器测量引入B均匀分布30 . 2 1n su(Tr e f)参考时间源引入B均匀分布35 . 8n sA . 2 . 4 合成标准不确定度合成标准不确定度按公式 (A . 4)计算。uc(To f f s e t_B(D C)=u2(D)+u2(TB(D C)+u2(Tr e f)=5 . 8n sA . 2 . 5 扩展不确定度取包含因子k=2,即扩展不确定度为:U=kuc(To f f s e t_B(D C)=1 2n sA . 3 输出B(A C)码相对于标准时间偏差不确定度评定A . 3 . 1 测量模型将示波器通道1和通道2分别接于参考时间隙1 P P S输出端和被校时码发生器B(A C)码输出端,测量参考时间源1 P P S上升沿与被校时码发生器的B(A C)码基准码元的第一个高幅调制正弦波过零点之间的时间间隔1 0次,计算平均值,即为输出B(A C)码相对于标准时间偏差To f f s e t_B(A C)的测量结果TB(A C)。To f f s e t_B(A C)=TB(A C)(A . 5)式中:To f f s e t_B(A C) 被校时码发生器的输出B(A C)码相对于标准时间偏差,n s;TB(A C) 示波器测量的输出B(A C)码相对于标准时间偏差,n s。输出B(A C)码相对于标准时间偏差的标准不确定度主要是测量重复性、示波器时间测量最大允许误差和参考时间源输出1 P P S信号相对于标准时间的最大偏差等引入的。11J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局各不确定度分量之间不相关,根据不确定度传播律,被校时码发生器输出B(A C)码相对于标准时间偏差的合成标准不确定度可表示为:uc(To f f s e t_B(A C)=u2(D)+u2(TB(A C)+u2(Tr e f)(A . 6)式中:uc(To f f s e t_B(A C) 被校时码发生器输出B(A C)码相对于标准时间偏差的合成标准不确定度,n s;u(D) 测量重复性引入的标准不确定度,n s;u(TB(A C) 示波器时间测量最大允许误差引入的标准不确定度,n s;u(Tr e f) 参考时间源输出1 P P S信号相对于标准时间的最大偏差引入的标准不确定度,n s。A . 3 . 2 标准不确定度评定A . 3 . 2 . 1 测量重复性引入的标准不确定度u(D)测量重复性引入的标准不确定度u(D)按A类方法评定,连续独立测量1 0次,用贝塞尔公式计算实验标准偏差,多次重复测量结果如表A . 4所示。表A . 4 输出B(A C)码相对于标准时间偏差重复性测量数据序号输出B(A C) 码相对于标准时间偏差/s11 7.6 5 3 221 7.6 5 3 331 7.6 5 3 341 7.6 5 3 451 7.6 5 3 661 7.6 5 3 471 7.6 5 3 881 7.6 5 4 091 7.6 5 4 31 01 7.6 5 4 6根据表A . 4中数据,计算输出B(A C)码相对于标准时间偏差重复测量的实验标准偏差为:s(D)=0 . 4 8n s校准时取多次测量的平均值,故测量重复性引入的标准不确定度为:u(D)=s(D)n=0 . 4 8n s1 0=0 . 1 5n sA . 3 . 2 . 2 示波器测量引入的标准不确定度u(TB(A C)示波器测量时间测量最大允许误差引入的标准不确定度u(TB(A C)按B类方法评定,由D S O 8 0 6 4 A示波器的技术指标得到示波器的时间测量最大允许误差为0 . 2%,21J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局输出B(A C)码相对于标准时间偏差多次测量的平均值为1 7 . 6 5 37s,则分散区间的半宽度为:a=1 7 . 6 5 37s 0 . 2%=3 5n s服从均匀分布,包含因子k= 3,即示波器测量时间测量最大允许误差引入的标准不确定度为:u(TB(A C)=a3=2 0n sA . 3 . 2 . 3 参考时间源引入的标准不确定度u(Tr e f)参考时间源引入的标准不确定度u(Tr e f)按B类方法评定,参考时间源输出1 P P S信号相对于标准时间的最大偏差为1 0n s,即区间半宽度a=1 0n s,服从均匀分布,包含因子k= 3,则参考时间源引入的标准不确定度为:u(Tr e f)=ak=1 0n s3=5 . 8n sA . 3 . 3 不确定度分量一览表表A . 5 输出B(A C)码相对于标准时间偏差测量不确定度分量一览表标准不确定度标准不确定度来源评定方法分布类型k值不确定度分量u(D)测量重复性引入A正态分布10 . 1 5n su(TB(A C)示波器测量引入B均匀分布32 0n su(Tr e f)参考时间源引入B均匀分布35 . 8n sA . 3 . 4 合成标准不确定度合成标准不确定度按公式 (A . 6)计算。uc(To f f s e t_B(A C)=u2(D)+u2(TB(A C)+u2(Tr e f)=2 1n sA . 3 . 5 扩展不确定度取包含因子k=2,即扩展不确定度为:U=kuc(To f f s e t_B(A C)=4 2n sA . 4 时间保持偏差不确定度评定时间保持偏差不确定度评定与输出1 P P S相对于标准时间偏差不确定度评定相同。31J J F1 7 2 42 0 1 8市场监管总局市场监管总局附录B原始记录格式校准地点校准时间校准仪器被校设备校准人员校准项目外观及工作正常性检查输出1 P P S相对于标准时间偏差输出B(D C)码相对于标准时间偏差输出B(A C)码相对于标准时间偏差时间保持偏差内时基性能B
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