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2020/6/8,版权所有,2000(c)TRI德律泰电子（苏州）有限公司.,在线测试仪应用原理篇,制作WinchlChengTraining(R)forTR-518FSeriesDate:12/01/2000,应用教程（二）,Http:/E-Mail:winchl,2020/6/8,電阻測試,系统依标准值（STD_V）选取相应大小的电流源。被測電阻愈大,測試電流須更小,以確保量回被測電阻兩端的電壓VO在規定的範圍(0.151.5V)之內.,2020/6/8,GUARDING原理,（隔離點的選擇,通過按F7或ALT+F7,或者加適當延時等修改後再按F7或ALT+F7由系統自動完成,絕大多數可達到效果.經驗表明,隔離點太多,測量值可能不穩定.一般選擇02個隔離點可以滿足要求,並且隔離點的選擇一般僅隔離一面.如果按F7或ALT+F7後,系統選擇的隔離點太多,則要重新作自動隔離,以找到一種隔離點較少且測量效果最好的方案.）,2020/6/8,RX/R,量回的阻值Rm=Rx*R/(Rx+R)Rx.量回的阻值Rm=Rx*R/(Rx+R)Rx.,2020/6/8,Rx/C,2020/6/8,Rx/C,測試順序是:放電,充電和電壓測試.如FIGURE4示.,考慮到電容的分流,要先對其充電,經過T2以后,Ic0.此時可量回准確的阻值.故遇到R/C的情形,釆用定電流源測試時,須加DELAYTIME.且電容越大,延遲要更久,才能得到准確值.,2020/6/8,當C較大(級以上)時,當C較大(級以上)時,若仍釆用定電流源方式,則電容會將電流源分流,直至電容充飽時才成斷路,這樣會消耗太久測量時間.此時改以電壓源(0.2VDC)對電容充電,迅速將電容加至0.2VDC(斷路),再量回電流Ix值,即可求得Rx,(RX=0.2VDC/IX),在TR-518F系列测试仪中,選擇MODE2:HIGHSPEEDFORR/C,再加适量延時即可。,2020/6/8,EXAMPLE：,如果在被測電阻RX的相關電路中有電容存在,如FIGURE10示.通過設置虛地隔離點,可以提高測試速度,見FIGURE11,12.,2020/6/8,Comparation：,2020/6/8,RX/D(FIGURE6),推而廣之,電阻與帶PN結的零件并聯.(包括D,ZEN,TR,FET,IC,etc).,2020/6/8,MODE0MODE1,假設RX=2k若IS=500A則VR=IS*R=500*10-6(A)*2*103()=1(V)此時D已導通,將Rx兩端限壓至約0.7V.那么RM=0.7(V)/(500*10-6(A)=1.4*103()=1.4kRx.,此時,要改以低一檔電流源測試.在TR-518F系列测试仪中為MODE1.若IS=50A則VR=IS*R=50*10-6(A)*2*103()=0.1(V)此時D仍處于截止狀態,故可量得正確的Rx值.即RM=0.1(V)/(50*10-6(A)=2*103()=2(K)=Rx.,结论：釆用低一檔電流源,可避免D的“限壓”.,2020/6/8,另外,互換高低點(HI-PINLO-PIN).即IS從DIODE的陰極注入,亦可避免D的“限壓”.互換高低點不可行的情況可能出現在以下連接電路.,2020/6/8,RX/D/C,而對于RX/D/C,見FIGURE7.在TR-518F系列测试仪中,選擇MODE2:HIGHSPEEDFORR/C,因電壓源為0.2VDC,故D仍處于截止狀態,亦可避開D的“限壓”.,2020/6/8,RX/L(FIGURE13),2020/6/8,RX/L,若仍以電流源量測Rx.由于L的暫態為由“OPEN”至“SHORT”,其暫態時間不易控制,而穩態時電感相當于“SHORT”,將電流源完全分流,致Vx0,此時,須以AC來測量,使得L呈現一阻抗值(愈大愈好).再利用相位差即可計算出Rx,見FIGURE14.,2020/6/8,四點測量,適用于小電阻的精確測量.(如為兩點測量,則RM=RABRX),2020/6/8,電容測試,由OSC分別產生1kHZ/10kHZ/100kHZ/1MHZ的AC輸出信號,其振幅均為固定(40mVrms)(FIGURE16)VS/IX=XC=1/(jCX)=1/(2fCX)量回IX的振幅,即可求得CX.,2020/6/8,DC法(3F以上),對于大電容,若使用上述AC電壓源模式測試時,將需要較低頻率來測試,從而增加ICT的測試時間.另外,大電容交流阻抗很小,如此無法判斷電容內部是否有短路發生.,2020/6/8,此時須以DC測量,見FIGURE17.測試順序(FIGURE18):,在被測電容上加載定電流,然后通過測量其積分電壓,計算其電容值.,2020/6/8,CX/C,CM=CX+CCX,2020/6/8,CX/R(FIGURE19),釆用AC常規法,則因R的分流會使CMCX.,相位分離法(FIGURE20),2020/6/8,電感測試,AC法(FIGURE21)FIGURE21AC信號源與電容同.VS/IX=XL=jLX=2fLX量回IX振幅,即可求得LX,2020/6/8,DC法,此時,電感相當于一個非常小的電阻,在TR-518F系列测试仪中,將TYPE設為R,即將其當作小電阻測試,這樣亦可測出電感的漏件和斷路情形,但對于內部短接則不可測出,比如TRANSFORMER內部相鄰的兩匝線圈因絕緣不良而短接或者線圈匝數改變,如仍以R方式,則無法測試,此時仍須用L方式較為有效.R方式可作為電感的一種輔助測試方式.,2020/6/8,LX/R(FIGURE22),相位分離法(FIGURE23),2020/6/8,DIODE,D(各種零件的PN結,包括D,ZEN,LED,TR,FET,SCR,TRIAC,PHOTOCOUPLER,IC,etc).,測試範圍:,2020/6/8,齊納二極體(ZENER)的齊納電壓.,對于大于10V的齊納電壓,當錯成齊納電壓為10V以下的齊納二極體時,應在可測之列.TR-518FR的最大测试电压则为48V。,對于TR-518F，TR-518FE测试仪,由于系統最大僅提供10V以下電壓,故齊納電壓的測試範圍為0.010V.,2020/6/8,LED,此時,將ACT_V及STD_V均設為2V或更高,這樣可看到LED發光.不然,要適當延時,亦可看見發光.,2020/6/8,電容極性測試,測試方式:以可程式電壓源,對電容充電,直至充飽后,再測量正向漏電流.正常情況下,反向漏電流會很大.據此可測插反情形.但實際中,由于大量主,被動元件對電流的分流作用,對電容的極性測試比較有限,須小心試之。,電容極性測試的另一方法是三端測試,須在上方加一探針觸及殼體.在電容的正負極加載直流電壓,至充飽后測量殼體電壓.由于正負極與殼體間的阻抗差異,故對于插反的電容所測量到的殼體電壓會與正確時不同.據此可判別電容的極性.,2020/6/8,DX/D,如FIGURE24示,兩個二極體(推而廣之,指PN結)異向并聯,這時正,反兩方向所測量到的電壓均約為0.7V.如以單步測試,則可能出現其中一顆DIODE漏件(或開路)或插反不可測的情況,故須釆用正,反向雙步測試.這樣,如有一顆漏件或插反,則兩步當中必有一步測量結果遠大于0.7V.而對于同向并聯,雖然漏件(或開路)必不可測,但增加一步反向測試,則插反必可以測.,請注意:釆用正,反向雙步測試有時甚至可偵出D錯件或元件不良.因此,建議在編制測試資料時,所有二極體均釆用正,反向雙步測試.方法如下:按CTRL+ENTER插入一步後,分別將Stand_V設置為9.9V,MODE為1,RPT為5/D,如并聯大電容,則要足夠延時.再按F8得Meas_V,然后以Meas_V修改Stand_V,設+/-Lm%為2030(不提倡使用-1),2020/6/8,DX/D,2020/6/8,DX/C(FIGURE25),測試方式:以可程式電壓源加載電流,對電容進行充電,在充飽后測量其電壓.TR-518F系列测试仪提供