SD卡检验标准[1]

1、.SD CARD检验程序及检验标准SD CARD检验程序及检验标准：1.包装是否按照PO要求设计制作包装2.配件是否按照PO要求提供。（不可以少件，错件）。3.检查外观尺寸。A外壳颜色是否与PO要求相符。BSD CARD PIN脚不可以有脏污。C外壳不可以有毛边，缩水、脏污、刮伤、接合处不可以有裂缝（尤其是PIN脚处）。E尺寸是否是24*32*2.1（MM），W*L*H。 4.功能检查：A将SD CARD 插入USB2.0读卡器连电脑/手提电脑檢驗以下項目：項次檢驗 項目不 良 描 述檢驗工具/方式缺點等級CRIMAJMIN1连电脑检查项目电脑找不到SD CARD盘符电脑/目視 无法进入此盘符

2、目視 无法COPY资料到SD CARD，或者资料丢失目視插卡不顺、卡死（在读卡器良好的前提下）目視2格式化、连电脑格式化后无法工作，或无法格式化目視3防写保护将防写保护开关至LOCK，不显示卡已经写保护且还可以删除、存储资料。目視4存储无法正常存储资料，断电后资料丢失目視 5删除无法正常删除SD CARD内的资料目視6坏区用闪存检测软件（ATTO DISK BENCHMARK）检查SD CARD，发现有坏区现象。目視7老化1. 取5PCS，（根据定单数量来定）格式化50次，存储，删除 ，测试操作2H后SD CARD无法正常工作2. 闪存检测软件（ATTO DISK BENCHMARK）连续读写

3、工作2H后无法正常工作。目視B将SD CARD 插入现有各型号数码相机（确保相机功能都是OK），检查以下项目：項次檢驗 項目不 良 描 述檢驗工具/方式缺點等級CRIMAJMIN1连数码相机数码相机无法开机，或开机后出现错误提示目視无法拍照存储照片目視 拍照若干后，无法预览照片，或者照片出现马赛克，目視插卡不顺、卡死目視2格式化、用相机格式化菜单格式化后无法工作，或无法格式化目視3防写保护将防写保护开关至LOCK，不显示卡已经写保护且还可以删除、存储照片。目視4存储无法存储照片，断电后照片丢失目視 5删除无法删除SD CARD 照片目視6老化连续拍照、摄影、格式化操作2H后SD CARD无法正

4、常工作目視C连电脑SD CARD 容量/读写速度检查。用闪存检测软件（ATTO DISK BENCHMARK）测试读写速度，测试没有在此范围内均为MAJ。型号标准范围64MB128MB256MB512MB1GB实际标准容量范围591MB1232MB2452MB4932MB9782MB读写速度范围写入速率7.71MB/s，读取速率8.21MB/s。（在不同电脑测试结果不一样，此数据是与LEXAR牌子SD CARD相比较得出）D. COPY文件测试： COPY一个与SD CARD 实际显示可用容量一样大小的文件到SD CARD。如果不可以完全COPY文件到SD CARD显示磁盘已满或COPY完成后

5、不能够读取SD CARD 内的资料或资料出错，均为MAJ。 5环境测试：（因为无测试设备，现在无法在我司完成此测试，需工厂测试并提供测试结果）5.1低溫儲存測試 目的：驗証SD CARD在低溫環境放置后是否正常 范圍：適用于本公司所有SD CARD產品。 測試設備：恆溫恆濕箱（型號：THS-B4H150）樣品數量： SD CARD：5PCS 測試方法：將恆溫恆溫濕箱設定為下述條件，其中濕度可不作控制。步驟溫度濕度測試時間(單位小時)累計時間(單位小時)125-00225-20-113-20-20-24254-2025-126將SD CARD裝入相机檢查功能正常后，放入恆溫恆濕箱且處于關機狀態。

6、試驗結束后取出樣品，在常溫放置2小時后，再進行全功能檢查。 判定標准：SD CARD在上述條件下于試驗結束后測試其基本功能及外觀、結構均無變異。5.2高溫存储测试： 目的 ：驗証SD CARD在高溫環境放置后是否正常 范圍：用于本公司所有SD CARD產品。 測試設備： 恆溫恆濕箱 測試數量：SD CARD：5PCS 測試方法：將恆溫恆溫濕箱設定為下述條件，其中濕度可不作控制。步驟溫度濕度測試時間(單位小時)累計時間(單位小時)125-0022540-1134040-2425 將SD CARD裝入相机檢查功能正常后，放入恆溫恆濕箱且處于關機狀態。試驗結束后取出樣品，在常溫放置2小時后，再進行全

7、功能檢查。判定標准：SD CARD在上述條件下于試驗結束后測試其基本功能及外觀、結構均無變異5.3溫度循环测试： 目的：驗証SD CARD在高低溫交替變化放置后是否正常范圍：適用于本公司SD CARD產品 測試設備：恆溫恆濕箱 樣品數量：SD CARD ：5PCS。 測試方法：將恆溫恆濕箱設定為下述條件且處于工作狀態。步驟溫度濕度測試時間（單位小時）累計時間（單位小時）125-002254090%113404090%2425440-15-1265-15-15-24506-154090%1517404090%2475840-15-1769-15-15-2410010-1525-1101將SD C

8、ARD裝入相机檢查功能正常后，放入恆溫恆濕箱且處于關機狀態。試驗結束后取出樣品，在常溫放置2小時后，再進行全功能檢查。判定標准：SD CARD在上述條件下于試驗結束后測試其基本功能及外觀、結構均無變異。6.拆机工艺检查。（每型号各拆1PCS）A. 重点确认FLASH牌子是否是按PO要求.如果没有按PO要求。通知香港公司作出决定。B. 确认到如果FLASH不是新料，将不接受此批货。7.裸机跌落测试：从1.5M高处自由落下，每个面各跌落一次共6次。完后所有功能需正常。8.整箱跌落测试：以上都测试OK后，按公司跌落标准跌落。完成后检查所有功能需正常。9.注釋定義缺陷定義 CRI（致命缺陷 ）危害制品的使用者及攜帶者的生命或安全之缺點 。MAJ（重點缺陷）不能達成制品的使用目的之缺陷。MIN（次要缺陷）不影響制品使用之缺點。10.抽样计划：1 按照 MIL-STD 105D 普通水平 III级. 正常單次抽樣計划。2 品質允收水准（AQL）CRI0 MAJ1.0 MIN2.5。11.测试条件与设备： 条件： 1.室溫255濕度:30%90%范圍內。2.目視距离是指眼睛到SD CARD本体的距离以30-45cm為准。3.目視時間3秒设备：1. luggable computer.2. USB2.0