ENVI下的统计分析功能

1、.ENVI下的统计分析功能(2011-05-11 14:15:13) 转载标签： envi统计功能感兴趣区统计背景it分类： ENVI ENVI下的统计分析功能图像统计是计算表征图像像元值数理统计特征、空间分布特征和空间结构特征的各种参量。ENVI的统计可对整个图像进行,也可以对某个感兴趣区或某一类地物分布区进行统计，统计结果以数字报表或文件形式给出。1. 图像像素统计统计单波段影像的最大、最小值、均值、标准差、协方差和直方图；多波段之间波段间的统计特征包括协方差矩阵、相关系数矩阵、本征向量和散点分布图等1) 直接统计(1) 快速统计快速统计可以快速的统计图像的最大值、最小值、均值、标准差和直

2、方图分布。在Available Band List下相应的文件或波段列表上点击右键菜单，点击Quick Statics即可弹出统计界面。基本统计界面见图，可设置不同的绘图显示、统计信息查看等操作。选择绘图函数左键的曲线信息查看中键（滚轮）按下拉框放大右键弹出图像绘制参数设置功能菜单可绘制图例、曲线紧凑、恢复原始显示、打开文件、绘图参数和设置绘图函数等功能。设置绘图显示参数查看统计报表(2) 完整统计选择菜单Basic Tools-Statistics-Compute Statistics，选择文件后弹出统计界面。统计类型包括Basic Stats（基本统计：最大值、最小值、均值和标准差）His

3、tograms：直方图；Covariance：协方差矩阵、相关系数矩阵和本征向量；Covariance Image：生成协方差、相关系数和本征向量文件；Output to a Statistics File：生成.sta文件，可通过主菜单Basic-Statics-View Statics File查看；Output to a Text Report File：统计结果输出为文本文件；Report Precision：设置统计精度（浮点数小数点个数）；2) 去除背景值很多时候，实际统计只需要统计部分区域，ENVI可通过感兴趣区或掩膜的方式来实现。(1) 感兴趣区统计ENVI的感兴趣区工具启动点

4、击image窗口的Overlay-Region Of Interest。对已有的ROI进行统计可直接点击ROI工具上的Statics按钮。需要注意，点击Basic Tools-Statistics-Compute Statistics功能选择文件时，若选择ROI，则统计的是ROI的最小外包矩形范围内的图像。(2) 掩膜统计统计时可以通过掩膜的方式将不想统计的区域“掩掉”。掩膜创建方式：Basic Tools-Masking-Build Mask，选择显示窗体后弹出掩膜定义界面。掩膜创建可选择菜单Options下的选项，可以选择数据范围、注记、ROI、ROI交集、矢量文件等多种创建方式。点击Basic Tools-Statistics-Compute Statistics功能选择文件时，选择掩膜文件即可。3) 统计扩展补丁 如需要单独忽略特定值的统计，可以使用统计扩展补丁。4) 多波段统计多波段影像的波段间统计可以点击主菜单Basic Tools-Statistics-Sum Data Bands，弹出操作界面。可选择波段间的计算函数，有Sum（求和）、Sum2（平方和）、Mean（波段平均值）、Standard Deviation（标准差